JPS60249352A - 沸騰冷却型回路基板の実装構造 - Google Patents
沸騰冷却型回路基板の実装構造Info
- Publication number
- JPS60249352A JPS60249352A JP59105890A JP10589084A JPS60249352A JP S60249352 A JPS60249352 A JP S60249352A JP 59105890 A JP59105890 A JP 59105890A JP 10589084 A JP10589084 A JP 10589084A JP S60249352 A JPS60249352 A JP S60249352A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- circuit
- modules
- elements
- semiconductor element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W40/00—Arrangements for thermal protection or thermal control
- H10W40/70—Fillings or auxiliary members in containers or in encapsulations for thermal protection or control
- H10W40/73—Fillings or auxiliary members in containers or in encapsulations for thermal protection or control for cooling by change of state
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/721—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
- H10W90/724—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(al 発明の技術分野
本発明は半導体素子やその他の発熱素子等の回路素子が
搭載される沸騰冷却型回路基板の実装構造に関する。
搭載される沸騰冷却型回路基板の実装構造に関する。
山)技術の背景
周知のように、半導体素子はIC,LSIとなって著し
く高密度化、高集積化されてきたが、そのため、半導体
素子はその集積度に比例して単位面積当たりの発熱量が
増加してきた。また、同じ集積度の半導体素子であって
も、高速動作する型式の半導体素子は、電流を多く消費
して発生熱量が大きい傾向にある。例えば、バイポーラ
型素子はモス型素子よりも発熱量が大きくなる。更に、
抵抗素子なども小型化して単位面積当たりの発生熱量が
増加している。
く高密度化、高集積化されてきたが、そのため、半導体
素子はその集積度に比例して単位面積当たりの発熱量が
増加してきた。また、同じ集積度の半導体素子であって
も、高速動作する型式の半導体素子は、電流を多く消費
して発生熱量が大きい傾向にある。例えば、バイポーラ
型素子はモス型素子よりも発熱量が大きくなる。更に、
抵抗素子なども小型化して単位面積当たりの発生熱量が
増加している。
このような電子回路において、従前からも素子や回路基
板を冷却する手段が考えられており、例えば強制的に空
気を送り込む強制空冷法がある。
板を冷却する手段が考えられており、例えば強制的に空
気を送り込む強制空冷法がある。
この冷却の必要な理由は、例えばシリコン素子の場合に
は85℃以上に加熱されると、素子が破壊されて動作が
不能になるからである。しかし、空冷には限界があって
、半導体素子の高集積化と共に1ワン)/ca+以上の
発熱量がある半導体素子には適用が困難である。
は85℃以上に加熱されると、素子が破壊されて動作が
不能になるからである。しかし、空冷には限界があって
、半導体素子の高集積化と共に1ワン)/ca+以上の
発熱量がある半導体素子には適用が困難である。
一方、効率の良い冷却法として古くから液冷法が知られ
ているが、半導体素子の液冷は構造が複雑になるために
、従前は余り使用されていなかった。ところが、上記の
ように、空冷法の限界から液冷法が注目されはじめ、ま
た、半導体素子も液冷以外では冷却が不可能な程、高集
積化されてきた。
ているが、半導体素子の液冷は構造が複雑になるために
、従前は余り使用されていなかった。ところが、上記の
ように、空冷法の限界から液冷法が注目されはじめ、ま
た、半導体素子も液冷以外では冷却が不可能な程、高集
積化されてきた。
このような液冷法のうち、本発明に係わりのある液冷法
は、フロオロカーボンのような沸点の低い溶媒に半導体
素子を実装した回路基板を浸漬し、沸騰循環させて冷却
する方式、所謂沸騰冷却型であり、その回路基板の実装
構造に関している。
は、フロオロカーボンのような沸点の低い溶媒に半導体
素子を実装した回路基板を浸漬し、沸騰循環させて冷却
する方式、所謂沸騰冷却型であり、その回路基板の実装
構造に関している。
沸騰冷却型液冷法は液体が蒸発する潜熱を利用するため
、最も冷却効率が良くて、15〜20ワット/ed程度
の発熱量がある半導体素子にも適用できる。且つ、最近
に開発されたHEMTは液体窒素(−196℃)の中で
、その高速動作が約束されるトランジスタであり、この
HEMTにも沸騰冷却型が応用される。
、最も冷却効率が良くて、15〜20ワット/ed程度
の発熱量がある半導体素子にも適用できる。且つ、最近
に開発されたHEMTは液体窒素(−196℃)の中で
、その高速動作が約束されるトランジスタであり、この
HEMTにも沸騰冷却型が応用される。
(C1従来技術と問題点
第1FI!Jは半導体素子を実装した沸騰冷却型電子回
路装置の概要断面図を例示しており、1は回路基板収容
容器、2は冷媒液、3は同容器の空間。
路装置の概要断面図を例示しており、1は回路基板収容
容器、2は冷媒液、3は同容器の空間。
4は冷却器、5は回路基板、6は半導体素子(あるいは
その他の回路素子〉である。このような回路基板の冷却
原理は、まず、回路をスイッチオンすると半導体素子が
発熱して、そのために液温か上昇し、沸点の低い冷媒(
例えば沸点47.6°Cのフロオロカーボン)は沸騰し
て泡立つ。そうすると、冷媒の攪拌作用が起こり、又、
空間3に蒸発した冷媒は冷却器4で冷やされて液体に還
えり、液中に戻される。かくして、冷媒の沸点温度以上
に半導体素子が昇温されるのが抑止されるのである。
その他の回路素子〉である。このような回路基板の冷却
原理は、まず、回路をスイッチオンすると半導体素子が
発熱して、そのために液温か上昇し、沸点の低い冷媒(
例えば沸点47.6°Cのフロオロカーボン)は沸騰し
て泡立つ。そうすると、冷媒の攪拌作用が起こり、又、
空間3に蒸発した冷媒は冷却器4で冷やされて液体に還
えり、液中に戻される。かくして、冷媒の沸点温度以上
に半導体素子が昇温されるのが抑止されるのである。
第2図は1つの回路基板の斜視図を示しており、回路基
板5はセラミック製が多く、且つ、高密度に実装される
多数の回路素子は殆んどが半導体素子6である。第3図
は半導体素子6を装着した回路基板の部分断面図を示し
ており、半導体素子6は通當、電極バッド6pによって
回路基板5に接続されているから、半導体素子6と回路
基板5との間隔は極めて狭<、0.1〜0.3w程度の
間隙しか設けられていない。即ち、フリップチップ(半
導体素子)の電極パッド6p (半田バンブ)自体の高
さがOy1〜0.3鶴程度である。
板5はセラミック製が多く、且つ、高密度に実装される
多数の回路素子は殆んどが半導体素子6である。第3図
は半導体素子6を装着した回路基板の部分断面図を示し
ており、半導体素子6は通當、電極バッド6pによって
回路基板5に接続されているから、半導体素子6と回路
基板5との間隔は極めて狭<、0.1〜0.3w程度の
間隙しか設けられていない。即ち、フリップチップ(半
導体素子)の電極パッド6p (半田バンブ)自体の高
さがOy1〜0.3鶴程度である。
一方、泡立つ気泡は0.5mmないし1mmの太きさで
あるため、上記した半導体素子と回路基板との対向面の
間隙からは泡立つこと(気泡処理)ができず、この対向
面からの冷却は行なわれていない。そのため、半導体素
子6は背面からのみ沸騰し泡立って冷却されており、そ
れでは半導体素子6の冷却効率は不十分で、冷却効率は
半導体素子の両面が冷却される場合の50%位に過ぎな
い。
あるため、上記した半導体素子と回路基板との対向面の
間隙からは泡立つこと(気泡処理)ができず、この対向
面からの冷却は行なわれていない。そのため、半導体素
子6は背面からのみ沸騰し泡立って冷却されており、そ
れでは半導体素子6の冷却効率は不十分で、冷却効率は
半導体素子の両面が冷却される場合の50%位に過ぎな
い。
従って、回路基板に細工を加え、半導体素子6が回路基
板に対向する面からも気泡を泡立たせ、素子の背面と対
向面との両面から冷却する方式が検討されており、第4
図にその回路基板の実装構造例を示している。本例は、
回路基板7の半導体素子6と対向する面に凹形溝8を設
け、半導体素子6はその溝を跨いで搭載される構造であ
る。また、その他の構造例も考案されているが、これと
同じく回路基板を複雑な形状に形成する方式であり、こ
のような形状の回路基板の作成は大変厄介で、歩留が悪
く高値になる欠点がある。
板に対向する面からも気泡を泡立たせ、素子の背面と対
向面との両面から冷却する方式が検討されており、第4
図にその回路基板の実装構造例を示している。本例は、
回路基板7の半導体素子6と対向する面に凹形溝8を設
け、半導体素子6はその溝を跨いで搭載される構造であ
る。また、その他の構造例も考案されているが、これと
同じく回路基板を複雑な形状に形成する方式であり、こ
のような形状の回路基板の作成は大変厄介で、歩留が悪
く高値になる欠点がある。
(dl 発明の目的
本発明は、冷却効率が是正されると共に、作成の容易な
回路基板からなる沸騰冷却型回路基板の実装構造を提案
するものである。
回路基板からなる沸騰冷却型回路基板の実装構造を提案
するものである。
tel 発明の構成
その目的は、複数の回路モジュールを直交させた、格子
状の回路基板上に、隣り合った前記短冊形回路モジュー
ルの間に跨って回路素子が実装されている構造を有する
沸騰冷却型回路基板の実装構造によって達成される。
状の回路基板上に、隣り合った前記短冊形回路モジュー
ルの間に跨って回路素子が実装されている構造を有する
沸騰冷却型回路基板の実装構造によって達成される。
ffl 発明の実施例
以下1図面を参照して実施例によって詳細に説明する。
第5図は本発明にかかる実装した回路基板の斜視図を示
しており、一方向に短冊状回路モジュールlla、 l
lb、 llc、 lidが並列され、それら回路モジ
ュールの相互間隔は半導体素子60幅より狭い幅に形成
させである。これに直交する方向に、他の短冊状回路モ
ジュール12a、 12bが並列して、図のような格子
状の回路基板13の構造となっている。
しており、一方向に短冊状回路モジュールlla、 l
lb、 llc、 lidが並列され、それら回路モジ
ュールの相互間隔は半導体素子60幅より狭い幅に形成
させである。これに直交する方向に、他の短冊状回路モ
ジュール12a、 12bが並列して、図のような格子
状の回路基板13の構造となっている。
そうして、半導体素子6は短冊状回路モジュール11a
、 llb、 Ilc、 lidの相互の間に跨がって
、回路モジュール12a、 12bと同方向に搭載され
、回路モジュールと半導体素子とは素子の電極パッド6
pで接続され、保持されている。
、 llb、 Ilc、 lidの相互の間に跨がって
、回路モジュール12a、 12bと同方向に搭載され
、回路モジュールと半導体素子とは素子の電極パッド6
pで接続され、保持されている。
半導体素子の大きさを10mm角程度にすれば、回路モ
ジゴールは幅1011回路モ回路モジゴール相互隔は5
〜8mM位にして、2つの回路モジュールの間を跨いで
、半導体素子6を搭載させる。
ジゴールは幅1011回路モ回路モジゴール相互隔は5
〜8mM位にして、2つの回路モジュールの間を跨いで
、半導体素子6を搭載させる。
このように3−れば、半導体素子6の両面から気泡が泡
立って冷媒が攪拌され、攪拌によって冷媒が循環して、
素子が冷却される。そうすると、冷却効率は約2倍に上
がる。第6図は第5図のAA方向の部分断面図を示して
おり、その効果を図に示したものである。
立って冷媒が攪拌され、攪拌によって冷媒が循環して、
素子が冷却される。そうすると、冷却効率は約2倍に上
がる。第6図は第5図のAA方向の部分断面図を示して
おり、その効果を図に示したものである。
回路基板13の作成法は、回路モジュール相互の電極を
半田付けして接続すれば良く、第7図に示すように半導
体素子6の電極バッド6pを半田付けする際、同時に半
田付けして組み立てることができる。従って、その作成
は簡単である。なお、多数個を同時に半田付けすること
が面倒であれば、予め回路モジュールの電極だけ高融点
半田で半田付けして作成し、次いで半導体素子を低励点
半田で半田付すする方法で作成しても良い。
半田付けして接続すれば良く、第7図に示すように半導
体素子6の電極バッド6pを半田付けする際、同時に半
田付けして組み立てることができる。従って、その作成
は簡単である。なお、多数個を同時に半田付けすること
が面倒であれば、予め回路モジュールの電極だけ高融点
半田で半田付けして作成し、次いで半導体素子を低励点
半田で半田付すする方法で作成しても良い。
(gl 発明の効果
以上の説明から明らかなように、本発明によれば冷媒液
の沸騰攪拌による冷却が半導体素子の両面で生じ、冷却
効率が約2倍になって、且つ回路基板の作成も簡単であ
る。
の沸騰攪拌による冷却が半導体素子の両面で生じ、冷却
効率が約2倍になって、且つ回路基板の作成も簡単であ
る。
従って、本発明を適用すれば、安価な回路基板を使用し
て、且つ高密度な電子回路が作成され、回路の高性能化
に大きな効果を与えるものである。
て、且つ高密度な電子回路が作成され、回路の高性能化
に大きな効果を与えるものである。
第1図は沸騰冷却型の電子回路装置の概要断面図、第2
図は従来の回路基板の斜視図、第3図はその部分断面図
、第4図は他の従来例の回路基板の斜視図、第5図は本
発明にかかる回路基板の斜視図、第6図はその部分断面
図、$7図はその組立方法を示す斜視図である。 図中、1は回路基板収容容器、2は冷媒液、3は同容器
の空間、4は冷却器、5は従来の回路基板、6は半導体
素子(またはその他の回路素子)。 6pは接続バンド、 11.12は回路モジュール、1
3は本発明にかかる回路基板を示している。 第1図 第2図 第3図 第 4 図
図は従来の回路基板の斜視図、第3図はその部分断面図
、第4図は他の従来例の回路基板の斜視図、第5図は本
発明にかかる回路基板の斜視図、第6図はその部分断面
図、$7図はその組立方法を示す斜視図である。 図中、1は回路基板収容容器、2は冷媒液、3は同容器
の空間、4は冷却器、5は従来の回路基板、6は半導体
素子(またはその他の回路素子)。 6pは接続バンド、 11.12は回路モジュール、1
3は本発明にかかる回路基板を示している。 第1図 第2図 第3図 第 4 図
Claims (1)
- 複数の短冊形回路モジュールを直交させた、格子状の回
路基板上に、隣り合った前記短冊形回路モジュールの間
に跨って回路素子が実装されている構造を有することを
特徴とする沸騰冷却型回路基板の実装構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59105890A JPS60249352A (ja) | 1984-05-24 | 1984-05-24 | 沸騰冷却型回路基板の実装構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59105890A JPS60249352A (ja) | 1984-05-24 | 1984-05-24 | 沸騰冷却型回路基板の実装構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60249352A true JPS60249352A (ja) | 1985-12-10 |
Family
ID=14419510
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59105890A Pending JPS60249352A (ja) | 1984-05-24 | 1984-05-24 | 沸騰冷却型回路基板の実装構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60249352A (ja) |
-
1984
- 1984-05-24 JP JP59105890A patent/JPS60249352A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6319756B2 (en) | Heat sink for chip stacking applications | |
| US7579687B2 (en) | Circuit module turbulence enhancement systems and methods | |
| JP2901835B2 (ja) | 半導体装置 | |
| WO1999053255A1 (fr) | Conduit thermique a plaques et structure de refroidissement comprenant ce dernier | |
| JP2025532846A (ja) | 放熱器 | |
| KR20010070141A (ko) | 전자모듈 | |
| JPS60249352A (ja) | 沸騰冷却型回路基板の実装構造 | |
| CN115379726A (zh) | 一种散热模组及移动终端 | |
| JPH02214147A (ja) | 冷却装置 | |
| JPH02114597A (ja) | 電子素子の冷却方法 | |
| JPS58114500A (ja) | 高密度実装基板 | |
| JPH038587B2 (ja) | ||
| JP2610492B2 (ja) | 半導体装置の冷却実装構造 | |
| JPH05251600A (ja) | 浸漬噴流冷却用ヒートシンク | |
| JP2002026214A (ja) | 電子部品冷却装置 | |
| JPH11237193A (ja) | 板型ヒートパイプとそれを用いた実装構造 | |
| JPH01133338A (ja) | ヒートシンク | |
| JPH065750A (ja) | 半導体素子の冷却機構 | |
| JPH03209859A (ja) | 半導体冷却装置 | |
| JPS60249353A (ja) | 沸騰冷却型回路基板の実装構造 | |
| JPH03273669A (ja) | 冷却機構付き半導体装置 | |
| JPH03139899A (ja) | 冷却構造 | |
| JPS61176141A (ja) | 固体集積回路部品の冷却装置 | |
| JPH0442931Y2 (ja) | ||
| JPH037960Y2 (ja) |