JPS6025199A - デイジタルフルオログラフイ装置の定線量照射装置 - Google Patents
デイジタルフルオログラフイ装置の定線量照射装置Info
- Publication number
- JPS6025199A JPS6025199A JP13191583A JP13191583A JPS6025199A JP S6025199 A JPS6025199 A JP S6025199A JP 13191583 A JP13191583 A JP 13191583A JP 13191583 A JP13191583 A JP 13191583A JP S6025199 A JPS6025199 A JP S6025199A
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- Japan
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- ray
- rays
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- subject
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/60—Circuit arrangements for obtaining a series of X-ray photographs or for X-ray cinematography
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はディジタルフルオログラフィ装置の定線量照射
装置に関するものである。
装置に関するものである。
最近、被検体の血管や心機能の検査、診断にディジタル
フルオログラフィ(以下、DFと記す)装置が実用化さ
れてきた。このDF装置は、被検体の血管への造影剤の
注入の前後に亘り、あるいは注入後に複数回、被検体に
X線を照射し、各々、透過したX線を光に変換してTV
カメラで電気値、号に変換し、これをA/D変換器でデ
ィジタル化した後、少なくとも時間的に先行する画像信
号による像をマスク像とすると共に、後続の画像信号に
よる像をライブ像として両像間でサブトラクションを行
い、ザブトラクション像を得るものである。
フルオログラフィ(以下、DFと記す)装置が実用化さ
れてきた。このDF装置は、被検体の血管への造影剤の
注入の前後に亘り、あるいは注入後に複数回、被検体に
X線を照射し、各々、透過したX線を光に変換してTV
カメラで電気値、号に変換し、これをA/D変換器でデ
ィジタル化した後、少なくとも時間的に先行する画像信
号による像をマスク像とすると共に、後続の画像信号に
よる像をライブ像として両像間でサブトラクションを行
い、ザブトラクション像を得るものである。
ところで、このよりなりF装置において、精度が高く、
画質のよい画像を得るためには、被検体への各X線照射
が一定時間内に一定線量でパルス照射されなければなら
ない。
画質のよい画像を得るためには、被検体への各X線照射
が一定時間内に一定線量でパルス照射されなければなら
ない。
このため従来、定線tX線パルス照射を行うために、被
検体の透過X線を検出し、X線発生器へフィードバック
する制御方法が考えられ友。
検体の透過X線を検出し、X線発生器へフィードバック
する制御方法が考えられ友。
しかしこの方法では、正規の被検体撮影をしなから定線
敗照射制御しようとするので、■ DF装置の撮影モー
ドによっては、特に撮影(X線照射)時間が極めて短か
いときには、予めcl 設定され友一定時間内に一定線量に達しない場合があり
得、 ■ 従って、高性能、高速動作のフィードバック制御系
を用いなければならず、構成が複雑で高価なものとなる
一ヒに、被検体や使用する造影剤等が変わることによる
ビデオ信号のレンジやピークの調整、設定等が比較的離
かしい。
敗照射制御しようとするので、■ DF装置の撮影モー
ドによっては、特に撮影(X線照射)時間が極めて短か
いときには、予めcl 設定され友一定時間内に一定線量に達しない場合があり
得、 ■ 従って、高性能、高速動作のフィードバック制御系
を用いなければならず、構成が複雑で高価なものとなる
一ヒに、被検体や使用する造影剤等が変わることによる
ビデオ信号のレンジやピークの調整、設定等が比較的離
かしい。
■ また、使用するX@装置によっては、偏磁等−の電
気的な影響により、フィードバック制御系からのX線し
ゃ断信号で即座にX線発生が停止せず、電源波形が0位
相となるまでの時間、X線発生が継続されてしまう。そ
してこの時間は前記X線しゃ断信号発生時点により変化
するため、これがサブトラクション像を得るために多く
の像を撮影するDF装置にあって、各像の画質を不均一
にする。
気的な影響により、フィードバック制御系からのX線し
ゃ断信号で即座にX線発生が停止せず、電源波形が0位
相となるまでの時間、X線発生が継続されてしまう。そ
してこの時間は前記X線しゃ断信号発生時点により変化
するため、これがサブトラクション像を得るために多く
の像を撮影するDF装置にあって、各像の画質を不均一
にする。
従って、得られるサブトラクション像の画質や精度を低
下させてしまう等の欠点があった。
下させてしまう等の欠点があった。
本発明は上記のような欠点を除去するためになされたも
ので、各撮影(Xiljl照射)等について予め設定さ
れた一定時間内に一定線量のX線照射が特開昭Go−2
5199(2) 可能で、また、その調整や設定も簡単かつ正確に行い得
、得られる各像の画質が均一化できてサブトラクション
像の画質や精度が高められ、しかも比較的、簡単かつ安
価に構成できるDF装置の定線量照射装置を提供するこ
とを目的とする。
ので、各撮影(Xiljl照射)等について予め設定さ
れた一定時間内に一定線量のX線照射が特開昭Go−2
5199(2) 可能で、また、その調整や設定も簡単かつ正確に行い得
、得られる各像の画質が均一化できてサブトラクション
像の画質や精度が高められ、しかも比較的、簡単かつ安
価に構成できるDF装置の定線量照射装置を提供するこ
とを目的とする。
以下第1図および第2図を参照して本発明の詳細な説明
する。第1図は本発明によるDF装置の定線量照射装置
の一実施例を示すブロック図である。この第1図におい
て、1はX′MA発生器、2はX線管、3はイメージイ
ンテンシファイア(I。
する。第1図は本発明によるDF装置の定線量照射装置
の一実施例を示すブロック図である。この第1図におい
て、1はX′MA発生器、2はX線管、3はイメージイ
ンテンシファイア(I。
I)、4ハ絞り、5はTVカメラ、6は増幅器、7はA
D変換器であって、これらはDF装置に備わるものであ
る。なお、DF装置には、さらに、AD変換器7の出力
側に、図示しないがメモリ、画像処理装置、演算装置、
DA変換器およびTVモニタ等を備えている。
D変換器であって、これらはDF装置に備わるものであ
る。なお、DF装置には、さらに、AD変換器7の出力
側に、図示しないがメモリ、画像処理装置、演算装置、
DA変換器およびTVモニタ等を備えている。
8は被検体、9はピーク値検出器で、前記DF装置Wに
より、正規の被検体撮影に先立って調定短時間Δt(第
2図参照)だけ被検体8にX線をテスト照射した時の前
記DF装置のAD変換器7の出5(1 方何の信号のビークflfを検出する。ピーク値検出方
法としては、例えば、単にXIVilテスト照射時のA
D変換器7の出力(M号のうちの最大11aを検出する
方法や、多分割された画面のうちの特定範囲に対応する
AD変換器7の出力信号のうちの最大値を検出する方法
等がある。10は制御器で、上記検出器9で検出された
ピーク値に応じて正規の被検体撮影時の前記DF装置t
でのTV右カメラからのビデオ信号が所望の大きさく最
適値)、通常は最大値となるようにそのDF装置のX線
パルス幅T(第2図参照)を制御する。この制御は、X
線テスト照射する毎に、通常は被検体8が変わる毎に行
われ、その間は一定である。例えば、TV右カメラのビ
デオ信号が“25′′なる値以上になるとDF装置の特
性上、飽和等の不都合が生じて画質劣化の原因になる場
合であって、X線テスト照射によりピーク値検出器9で
6゛′なるピーク値が検出され九場合には、25÷6−
4によJIIXIImテスト照射時のテス照射線パルス
幅Δtの4倍のX線パルス幅4Δt(一定)となるべく
X線発生器1を制御する。
より、正規の被検体撮影に先立って調定短時間Δt(第
2図参照)だけ被検体8にX線をテスト照射した時の前
記DF装置のAD変換器7の出5(1 方何の信号のビークflfを検出する。ピーク値検出方
法としては、例えば、単にXIVilテスト照射時のA
D変換器7の出力(M号のうちの最大11aを検出する
方法や、多分割された画面のうちの特定範囲に対応する
AD変換器7の出力信号のうちの最大値を検出する方法
等がある。10は制御器で、上記検出器9で検出された
ピーク値に応じて正規の被検体撮影時の前記DF装置t
でのTV右カメラからのビデオ信号が所望の大きさく最
適値)、通常は最大値となるようにそのDF装置のX線
パルス幅T(第2図参照)を制御する。この制御は、X
線テスト照射する毎に、通常は被検体8が変わる毎に行
われ、その間は一定である。例えば、TV右カメラのビ
デオ信号が“25′′なる値以上になるとDF装置の特
性上、飽和等の不都合が生じて画質劣化の原因になる場
合であって、X線テスト照射によりピーク値検出器9で
6゛′なるピーク値が検出され九場合には、25÷6−
4によJIIXIImテスト照射時のテス照射線パルス
幅Δtの4倍のX線パルス幅4Δt(一定)となるべく
X線発生器1を制御する。
Yf
これにより、正規の被検体撮影を行えば必要最少限のX
@照射量で最も画質の良い画像が得られることになる。
@照射量で最も画質の良い画像が得られることになる。
本実施例では、制御器10は正規の被検体撮影時1のX
線パルス幅Tの制御の他に、絞シ4をも制御可能に構成
されている。この絞シ制御は、通常は行わないが、一旦
、X線テスト照射によ請求められたX線パルス幅Tでは
DF装置の設定された撮影モード上、例えば設定された
全撮影時間、各撮影時間間隔および撮影回数上から全回
数の撮影が不能となるとき等にその設定撮影モードを変
更させることなく、X+wパルス幅Tのみを変えて満足
させたい場合に行われる。この際の撮影不能か否かの演
算はDF装置のCPUで行わせることが可能である。ま
た、制御器10は、このように設定撮影モード上、求め
られたX線パルス幅4Δtでは撮影不能となる場合、そ
の旨の表示が行われるようにも構成されている。
線パルス幅Tの制御の他に、絞シ4をも制御可能に構成
されている。この絞シ制御は、通常は行わないが、一旦
、X線テスト照射によ請求められたX線パルス幅Tでは
DF装置の設定された撮影モード上、例えば設定された
全撮影時間、各撮影時間間隔および撮影回数上から全回
数の撮影が不能となるとき等にその設定撮影モードを変
更させることなく、X+wパルス幅Tのみを変えて満足
させたい場合に行われる。この際の撮影不能か否かの演
算はDF装置のCPUで行わせることが可能である。ま
た、制御器10は、このように設定撮影モード上、求め
られたX線パルス幅4Δtでは撮影不能となる場合、そ
の旨の表示が行われるようにも構成されている。
次に上述本発明装置の動作について説明する。
まず、制御器10またはDF装置の操作盤によシ、ZL
I X線発生器1をΔを時間作1ifJさせてX&i管2よ
りパルス幅Δtなるテス)X線パルスpt(第2図参照
)を発生させて被検体8にX線テスト照射をする。
I X線発生器1をΔを時間作1ifJさせてX&i管2よ
りパルス幅Δtなるテス)X線パルスpt(第2図参照
)を発生させて被検体8にX線テスト照射をする。
これによるAD変換器7の出力信号のピーク(+fiは
検出器9で検出され、制御器10に送られる。制御器1
0は、入力されたピーク値に応じて予め実験や計算等に
よってめられ九T時間、X線発生器1を作動させ、Xl
1liI管2よりパルス幅TなるX線パルスPa(第2
図参照)を発生させて被検体8に正規の撮影のためのX
線照射をする。この1時間のxm照射は、DF装置Wに
おいて予め設定された撮影モードに従い、所定の撮影時
間間隔で所定の撮影回数について行われる。D F装置
は、この撮影結果(画像)について適宜演算を行い、サ
ブトラクション像を得る。
検出器9で検出され、制御器10に送られる。制御器1
0は、入力されたピーク値に応じて予め実験や計算等に
よってめられ九T時間、X線発生器1を作動させ、Xl
1liI管2よりパルス幅TなるX線パルスPa(第2
図参照)を発生させて被検体8に正規の撮影のためのX
線照射をする。この1時間のxm照射は、DF装置Wに
おいて予め設定された撮影モードに従い、所定の撮影時
間間隔で所定の撮影回数について行われる。D F装置
は、この撮影結果(画像)について適宜演算を行い、サ
ブトラクション像を得る。
以上述べたように本発明は、正規の被検体撮影に先立っ
て正規の被検体撮影時でのDF装置のX線パルス幅を制
御するので、その制御を正規の被検体撮影中に行う従来
のフィードバック制御による場合に比べて、高性能、高
速動作の、換首すれ特開昭GO−25199(3) は構成複雑かつ高価な制御機器を用いることなく、一定
時間に一定線量のX線照射(定線量照射)が可能となる
。また、DF装置による正規の被検体撮影に先立って一
定短時間、被検体にX線を照射した時の前記DF装置の
AD変換器出力側の信号のピーク値を検出し、このピー
ク値に応じて正規の被検体撮影時の前記DF装置でのビ
デオ信号が所望の大きさとなるようにDF装置のX線パ
ルス幅を制御するようにしたので、その制御後、所望・
の時間を経て、前記制御された一定のパルス幅で正規の
被検体撮影をすれば、各撮影時間、すなわち各X線照射
時間が均一化され、得られる各像の画質が均一となって
画質や精度に優れるサブトラクション像をDF装置よυ
出力させ得る。さらに、X線パルス幅を制御する制御器
に演算部を設け、X線テスト照射によりめられたX線パ
ルス幅がDF装置の設定撮影モードとの関連で不適当で
あるか否かを判断させるようにすれば、正規の被検体撮
影前に条件設定の変更等を行い得、無駄な被検体撮影を
しないで済む等の効果がある。なお、9.1 このように制御器に演算部を設ける場合には、その演算
部をDF装置の演算装置と共通に構成すれば構成の簡易
化が計れる。
て正規の被検体撮影時でのDF装置のX線パルス幅を制
御するので、その制御を正規の被検体撮影中に行う従来
のフィードバック制御による場合に比べて、高性能、高
速動作の、換首すれ特開昭GO−25199(3) は構成複雑かつ高価な制御機器を用いることなく、一定
時間に一定線量のX線照射(定線量照射)が可能となる
。また、DF装置による正規の被検体撮影に先立って一
定短時間、被検体にX線を照射した時の前記DF装置の
AD変換器出力側の信号のピーク値を検出し、このピー
ク値に応じて正規の被検体撮影時の前記DF装置でのビ
デオ信号が所望の大きさとなるようにDF装置のX線パ
ルス幅を制御するようにしたので、その制御後、所望・
の時間を経て、前記制御された一定のパルス幅で正規の
被検体撮影をすれば、各撮影時間、すなわち各X線照射
時間が均一化され、得られる各像の画質が均一となって
画質や精度に優れるサブトラクション像をDF装置よυ
出力させ得る。さらに、X線パルス幅を制御する制御器
に演算部を設け、X線テスト照射によりめられたX線パ
ルス幅がDF装置の設定撮影モードとの関連で不適当で
あるか否かを判断させるようにすれば、正規の被検体撮
影前に条件設定の変更等を行い得、無駄な被検体撮影を
しないで済む等の効果がある。なお、9.1 このように制御器に演算部を設ける場合には、その演算
部をDF装置の演算装置と共通に構成すれば構成の簡易
化が計れる。
第1図は本発明によるDF装置の電線量照射装置の一実
施例を示すブロック図、第2図は本発明装置を備えたD
F装置のX線パルス波形の一例を示す図である。 1・・・X線発生器、2・・・X線管、3・・・イメー
ジインテンシファイア、5・・・TV右カメラ7・・・
AD変換器、8・・・被検体、9・・・ピーク値検出器
、1o・・・制御器、Pビ・・テス)X線パルス、P雪
・・・正規の被検体撮影時のX線パルス。 特許出願人 株式会社日立メデイコ 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第1図 P、P2P2 L4ALJ I吟4’CJ
施例を示すブロック図、第2図は本発明装置を備えたD
F装置のX線パルス波形の一例を示す図である。 1・・・X線発生器、2・・・X線管、3・・・イメー
ジインテンシファイア、5・・・TV右カメラ7・・・
AD変換器、8・・・被検体、9・・・ピーク値検出器
、1o・・・制御器、Pビ・・テス)X線パルス、P雪
・・・正規の被検体撮影時のX線パルス。 特許出願人 株式会社日立メデイコ 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第1図 P、P2P2 L4ALJ I吟4’CJ
Claims (1)
- ディジタルフルオログラフィ装置による正規の被検体撮
影に先立って一定短時間、被検体にX線を照射した時の
前記ディジタルフルオログラフィ装置のAD変換器出力
側の46号のピーク値を検出するピーク値検出器と、こ
の検出器で検出されたピーク値に応じて正規の被検体撮
影時の前記ディジタルフルオログラフィ装置でのビデオ
信号が所望の大きさとなるようにそのディジタルフルオ
ログラフィ装置のX線パルス幅を制御する制御器とを具
備することを特徴とするディジタルフルオログラフィ装
置の定線1′照射装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13191583A JPS6025199A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | デイジタルフルオログラフイ装置の定線量照射装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13191583A JPS6025199A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | デイジタルフルオログラフイ装置の定線量照射装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6025199A true JPS6025199A (ja) | 1985-02-07 |
Family
ID=15069158
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13191583A Pending JPS6025199A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | デイジタルフルオログラフイ装置の定線量照射装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6025199A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50117387A (ja) * | 1974-02-26 | 1975-09-13 | ||
| JPS5464486A (en) * | 1977-10-31 | 1979-05-24 | Shimadzu Corp | X-ray tomogram unit |
| JPS55141658A (en) * | 1979-04-20 | 1980-11-05 | Toshiba Corp | Xxray fluoroscopic inspecting apparatus |
-
1983
- 1983-07-21 JP JP13191583A patent/JPS6025199A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50117387A (ja) * | 1974-02-26 | 1975-09-13 | ||
| JPS5464486A (en) * | 1977-10-31 | 1979-05-24 | Shimadzu Corp | X-ray tomogram unit |
| JPS55141658A (en) * | 1979-04-20 | 1980-11-05 | Toshiba Corp | Xxray fluoroscopic inspecting apparatus |
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