JPS6025200A - パノラマｘ線撮影装置における自動露出補償回路 - Google Patents
パノラマｘ線撮影装置における自動露出補償回路Info
- Publication number
- JPS6025200A JPS6025200A JP58134073A JP13407383A JPS6025200A JP S6025200 A JPS6025200 A JP S6025200A JP 58134073 A JP58134073 A JP 58134073A JP 13407383 A JP13407383 A JP 13407383A JP S6025200 A JPS6025200 A JP S6025200A
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- Japan
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- circuit
- sensor
- signal
- ray
- compensation
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/38—Exposure time
- H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
- H05G1/44—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube in which the switching instant is determined by measuring the amount of radiation directly
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この考案は、パノラマＸ線撮影装置、特に歯科診断用Ｘ
線撮影装置における自動露出補償口路に関する。
線撮影装置における自動露出補償口路に関する。
Ｘ線撮影装置において得られるＸ線写真の良否は、被撮
影者の測的性状と、Ｘ線管の管電流および管電圧との平
衡の可否にてめられ、Ｘ線写真側の黒化度（濃度比）に
よって判定される。特に歯科診断におけるパノラマ撮影
用としてのＸ線撮影装置では、成人と子供・性別、また
は同一被撮影者であって４前歯部と小・大臼歯部等の相
違によりフィルム上に到達するＸ線量の変化が生じ、フ
ィルムの成る点で良好なコントラストが得られても他部
では黒化度で最適値よプ大幅に外れて良好なコントラス
トが得られない事態が発生する。
影者の測的性状と、Ｘ線管の管電流および管電圧との平
衡の可否にてめられ、Ｘ線写真側の黒化度（濃度比）に
よって判定される。特に歯科診断におけるパノラマ撮影
用としてのＸ線撮影装置では、成人と子供・性別、また
は同一被撮影者であって４前歯部と小・大臼歯部等の相
違によりフィルム上に到達するＸ線量の変化が生じ、フ
ィルムの成る点で良好なコントラストが得られても他部
では黒化度で最適値よプ大幅に外れて良好なコントラス
トが得られない事態が発生する。
これを解消するため、通常自動露出機構において、被撮
影者およびＸ線フィルムの透過Ｘ線残量を検出し、これ
を帰還してＸ線管の管電圧または管電流を制御するよう
にしている。
影者およびＸ線フィルムの透過Ｘ線残量を検出し、これ
を帰還してＸ線管の管電圧または管電流を制御するよう
にしている。
ところで、このＸ線撮影時の透過Ｘ線量を検出するセン
ナは被撮影者の眼下辺を走査してゆく。
ナは被撮影者の眼下辺を走査してゆく。
これは歯列弓においては補綴物としての金属冠が歯牙に
冠着されていることが当然に予測され、この金属冠の存
在によりセンサの透過Ｘ線検出値が大幅に変Ｕｒするこ
とを避けるためである。第１図（ａｌはこのセンサ出力
信号波形の標準的なパターンを示す、しかるに、被撮影
者によってはセンサ対応部位に生米の青火４１４があっ
たり、また交通１（故等の治療により金属装着物が補綴
されている部会があり、センナがかかる骨欠損や金属装
着物の９１１殊部位にかかると、センナ出力は第１図【
ｂ）（骨欠損にかかった状態）、第１図（ａ） Ｃ金属
装着物にかかった状態）のそれすれ矢視イ、臣に示す如
く急激な変化を示し、過度の帰還制御が加えられ、フィ
ルム上の画像はイ一端に淡くなるか（青火４ｔ’ｌ ）
、極度に濃いものとな−って（金属装着物）、ｈずれの
場合も診１ｖ「に供１．． （ｉない。それ故、骨欠損
ヤ金属装着物を有する被撮影者に対してはマエ二アル操
作による撮影に切１ｖｔ、えざるを得なかった。
冠着されていることが当然に予測され、この金属冠の存
在によりセンサの透過Ｘ線検出値が大幅に変Ｕｒするこ
とを避けるためである。第１図（ａｌはこのセンサ出力
信号波形の標準的なパターンを示す、しかるに、被撮影
者によってはセンサ対応部位に生米の青火４１４があっ
たり、また交通１（故等の治療により金属装着物が補綴
されている部会があり、センナがかかる骨欠損や金属装
着物の９１１殊部位にかかると、センナ出力は第１図【
ｂ）（骨欠損にかかった状態）、第１図（ａ） Ｃ金属
装着物にかかった状態）のそれすれ矢視イ、臣に示す如
く急激な変化を示し、過度の帰還制御が加えられ、フィ
ルム上の画像はイ一端に淡くなるか（青火４ｔ’ｌ ）
、極度に濃いものとな−って（金属装着物）、ｈずれの
場合も診１ｖ「に供１．． （ｉない。それ故、骨欠損
ヤ金属装着物を有する被撮影者に対してはマエ二アル操
作による撮影に切１ｖｔ、えざるを得なかった。
従って、この発明の目的とするところは、骨欠損や金属
装着物のある者、さらにｔ±特殊な骨構造を有する者（
たとえば顔面の特に大きな者）に対しても過度の帰還制
ｈ１（１を抑止して等しく自１）撮影が可能な自１１１
１Ｊ露出浦償回路の提供にある。
装着物のある者、さらにｔ±特殊な骨構造を有する者（
たとえば顔面の特に大きな者）に対しても過度の帰還制
ｈ１（１を抑止して等しく自１）撮影が可能な自１１１
１Ｊ露出浦償回路の提供にある。
即ち、この発明は、被撮影者透過Ｘ線残量をセンサで検
出し、こ扛をＸ線管へ帰還して露出の自動制御を行なう
ものにおいて、上記センナ出力信号とこのセンナが被撮
影者の特殊部位に突入した時の補償信号とを選択帰還す
る出力回路を設けると共に、上記センナの出力信号の変
化量から上記特殊部位突入を検出する回路を設け、この
検出回路の検出信号により上記出力回路から補償信号を
送り出すパノラマＸ線撮影装置における自動露出補償回
路であることを特徴とする。
出し、こ扛をＸ線管へ帰還して露出の自動制御を行なう
ものにおいて、上記センナ出力信号とこのセンナが被撮
影者の特殊部位に突入した時の補償信号とを選択帰還す
る出力回路を設けると共に、上記センナの出力信号の変
化量から上記特殊部位突入を検出する回路を設け、この
検出回路の検出信号により上記出力回路から補償信号を
送り出すパノラマＸ線撮影装置における自動露出補償回
路であることを特徴とする。
この発明によれば、センサの骨欠損等特殊部位突入時に
おける過度の帰還制御を避け、この特殊部位の領域の露
出を補償信号で一定に保つようにできるから、骨欠損・
金属装着物を有する被撮影者に対しても診断に供するに
充分な鮮明な画像のＸ線撮影を自動撮影で施こせるに至
った。
おける過度の帰還制御を避け、この特殊部位の領域の露
出を補償信号で一定に保つようにできるから、骨欠損・
金属装着物を有する被撮影者に対しても診断に供するに
充分な鮮明な画像のＸ線撮影を自動撮影で施こせるに至
った。
以下、この発明の詳細を望ましｂ実施例構成を用いて説
明する。
明する。
第２図はパノラマ歯科Ｘ線撮影装置の帰還系の基本的な
構謬ｔ１ブロック（ａ）はＸ線管駆＃回路および帰還制
御回路で、これに電源（９）とＸ線管（３）が接続され
、被撮影者（１７）およびＸ線フィルム（４）を透過し
九Ｘ線残量セン１＃″（７）が検出され、これがこの発
明にかかる補償回路ｆｌ１６および比較手段（１３１（
１４１を通し上記ブロック（Ａｌに帰還されるようにな
されている。さらに、このような帰還系の具体的な一例
をＩ！８図で説明すると、高圧トラ／ス（１）、フィラ
メントトランス（２）、およびＸ線管（３）の高圧機器
がＸ線照射ヘッドに納められる。このヘッドに対応しこ
の螢光板（５）の発光輝度に対応した電気信号を出力す
る光電変換装置！１． （６）が設けられ、此等（５）
（Ｉｓ）が前述のセンナ（７）を構成する。（８）は
、増幅！Ｉ（８鳳）（８ｂ）でセンサ出力を増幅する回
路である。一方、ヘッド側にあっては高圧トランス（１
）の−次側、およびフィラメントトランス（２）の−次
側がそれぞれ交流電源（９）に電源オン・オフスイッチ
（ＩＪ）を介して結線されているが、それぞれの−次側
に帰還制御用トランジスタ（１１１ｉ１２が備えられ、
此尋帰還制御用トランジスタｆｉｌｌ （１３のベース
バイアス（導通角）を変化させて高圧トランス（１）、
フィラメントトランス（２）に帰還制御がかけられる。
構謬ｔ１ブロック（ａ）はＸ線管駆＃回路および帰還制
御回路で、これに電源（９）とＸ線管（３）が接続され
、被撮影者（１７）およびＸ線フィルム（４）を透過し
九Ｘ線残量セン１＃″（７）が検出され、これがこの発
明にかかる補償回路ｆｌ１６および比較手段（１３１（
１４１を通し上記ブロック（Ａｌに帰還されるようにな
されている。さらに、このような帰還系の具体的な一例
をＩ！８図で説明すると、高圧トラ／ス（１）、フィラ
メントトランス（２）、およびＸ線管（３）の高圧機器
がＸ線照射ヘッドに納められる。このヘッドに対応しこ
の螢光板（５）の発光輝度に対応した電気信号を出力す
る光電変換装置！１． （６）が設けられ、此等（５）
（Ｉｓ）が前述のセンナ（７）を構成する。（８）は
、増幅！Ｉ（８鳳）（８ｂ）でセンサ出力を増幅する回
路である。一方、ヘッド側にあっては高圧トランス（１
）の−次側、およびフィラメントトランス（２）の−次
側がそれぞれ交流電源（９）に電源オン・オフスイッチ
（ＩＪ）を介して結線されているが、それぞれの−次側
に帰還制御用トランジスタ（１１１ｉ１２が備えられ、
此尋帰還制御用トランジスタｆｉｌｌ （１３のベース
バイアス（導通角）を変化させて高圧トランス（１）、
フィラメントトランス（２）に帰還制御がかけられる。
そのため、上記増幅回路（８）の出力は管電圧制御用比
較器（至）と管電流制御用比較器（１４１の双方に送ら
れ、此等比較器（１ｍ （１４１で上記ペースバイアス
が調整される。（１！１ｌ（１！は上記基準信号の設定
器である。
較器（至）と管電流制御用比較器（１４１の双方に送ら
れ、此等比較器（１ｍ （１４１で上記ペースバイアス
が調整される。（１！１ｌ（１！は上記基準信号の設定
器である。
この回路にあっては、まず管電圧値と管電流値との最適
な関係比率を定める。たとえば管電圧６０ＫＶＯ時は管
電流として５！ムが流れるように、またｆ３ Ｑ ＫＶ
である時は１０ｎｉムが流詐るように、管電圧値と管電
流値とが一定の対応関係にあるように設定して回路を製
作し、基準信号設定器（１５＋（１ηを調整する。この
関係比率は臨床データに基づいてなされる。
な関係比率を定める。たとえば管電圧６０ＫＶＯ時は管
電流として５！ムが流れるように、またｆ３ Ｑ ＫＶ
である時は１０ｎｉムが流詐るように、管電圧値と管電
流値とが一定の対応関係にあるように設定して回路を製
作し、基準信号設定器（１５＋（１ηを調整する。この
関係比率は臨床データに基づいてなされる。
動作としては、Ｘ線管（３）の起動に伴ないＸ線が被撮
影者（１７１の歯部を透過してフィルム（４）を感光さ
せ、肢フィルム（４）に歯部像を結像させてゆく、−の
であるから、光’ｉｌｌ変換装置（６）はＸ線強度に応
じたｔ気信号を出力し、これがセンサ出力として増幅回
路（８）を経て比較器（１３＋１４１に送ら扛、この値
と基準信号設定器ｆ＋５１ （Ｉωで予め定めた値との
比較を行ない、此等が一致を見るようにｌ’ｉｌ Ｒｆ
ｉ制御用トランジスタ１１υｆ１７Ｊのペースバイアス
を変化させ、高圧トランス（１）およびフィラメントト
ランス（２）ラドライブする。しかしてＸ線管（５）の
管電圧と管電流の双方が同時＃ｆｃ帰還制御される。
影者（１７１の歯部を透過してフィルム（４）を感光さ
せ、肢フィルム（４）に歯部像を結像させてゆく、−の
であるから、光’ｉｌｌ変換装置（６）はＸ線強度に応
じたｔ気信号を出力し、これがセンサ出力として増幅回
路（８）を経て比較器（１３＋１４１に送ら扛、この値
と基準信号設定器ｆ＋５１ （Ｉωで予め定めた値との
比較を行ない、此等が一致を見るようにｌ’ｉｌ Ｒｆ
ｉ制御用トランジスタ１１υｆ１７Ｊのペースバイアス
を変化させ、高圧トランス（１）およびフィラメントト
ランス（２）ラドライブする。しかしてＸ線管（５）の
管電圧と管電流の双方が同時＃ｆｃ帰還制御される。
このような自動簡出回１．１３において、この発明にか
かる補償回路ｆ１８） ｔよ増幅回路（８）と比較器ｆ
１３１ ＋１４１との間に装備される。第４図回路がそ
の詳細であり、これをｆｉｌ！５図のタイムチャートを
用いて説明すると、この発明はセンサ出力信号と下記す
る補償信号とを選択して出力する回路（図ではアナ關グ
マルチプレクサ）（ＩＩと、センサ（７）が特殊部位に
突入したことを検出する回路圓および補償信号発生回路
（イ）（支）とに大別されセンナ出力信号【第５図（ａ
ｌｌはアナログマルチプレクサロ鰺に送られる他、検出
回路（２）に三股に分岐して入力される。即ち、微分回
路（２１）はセンナ出力信号（ａ）の経時的変化鼠を第
５図（ｂ）の如くとらえ、これを次段の比較器■で予め
設定さｔした電圧ｖｒｅｆ と比較し、変化量が該電圧
ｖｒｅｆを越えた場合のみ、つまり変化量が大きいもの
を第５図（０］の如く取出す。また、センナ出力信号（
ａｌｌは飽和電圧検出回路（たとえばウィンドコンパレ
ータで構成）ｔ２３に入り、該（ＥＴ ９ （ａｌのう
ち飽和レベルＬｍａｘ 、 Ｉ、ｍｉｎ に達した時点
の４ａ−’ＦＪが取出される１第６図ｔａ）３ ％この
場合の飽和レベルとはセンサ出力のピーク１ｒｎａｙと
最低レベルｉ、ｍｉｎを云う。ぞして、信号（Ｑ）と信
号（ｄＪとの論理積がアンド回路（財）でとられる、故
に、第５図（Ｑ）において取出された変化量の大きい信
号（０１）（０２）のうち、（０１）に対しては飽和電
圧が検出されないので、アンド回路（２４）には出力が
出ないが、（０２）に対してはこの時点でｌ＋ｎｉｎ
Ｋ対応する飽和電圧が検出されるためアンド回路（財）
は第５図（ｅ、ｌの信号を出力し、これにてセンサ（７
）が被撮影者（１ηの特殊部位に入ったことが検出され
る。第５図の場合は金属装着物による特殊部位であるが
、これが骨欠損による特殊部位であっても同様に検出さ
れる。この特殊部位突入信号（６）はメモリ（たとえば
双安定マルチバイブレータ）（２）とサンプルホールド
回路（イ）とに送られ、メモリ（ハ）は特殊部位突入時
点を記憶すると共に、＃Ｘ５図（ｆ７の出力をアンド回
路（イ）に送る。サンプルホールド回路（イ）に１土セ
ンサ出力信Ｊｉ！ｒ（ａ）を積分回路（イ）に通し適当
な遅れ要素をもたせ九信号が入力されており、一種のア
ナログ信号メモリとしての回路（支）は特殊部位突入（
？Ｉ号（−３にて該特殊部位に入る直前のレベルの信号
、つ゛まり補償信号【第６図（ｈｌｌをマルチプレクサ
（１１に送る。同時にアンド回路面からは信号（ｄ）と
（ｆ）との論理積により切換え信号【第６１ｇ（ｇ）
）が同じくマルチプレクサ＋１１に送られる。
かる補償回路ｆ１８） ｔよ増幅回路（８）と比較器ｆ
１３１ ＋１４１との間に装備される。第４図回路がそ
の詳細であり、これをｆｉｌ！５図のタイムチャートを
用いて説明すると、この発明はセンサ出力信号と下記す
る補償信号とを選択して出力する回路（図ではアナ關グ
マルチプレクサ）（ＩＩと、センサ（７）が特殊部位に
突入したことを検出する回路圓および補償信号発生回路
（イ）（支）とに大別されセンナ出力信号【第５図（ａ
ｌｌはアナログマルチプレクサロ鰺に送られる他、検出
回路（２）に三股に分岐して入力される。即ち、微分回
路（２１）はセンナ出力信号（ａ）の経時的変化鼠を第
５図（ｂ）の如くとらえ、これを次段の比較器■で予め
設定さｔした電圧ｖｒｅｆ と比較し、変化量が該電圧
ｖｒｅｆを越えた場合のみ、つまり変化量が大きいもの
を第５図（０］の如く取出す。また、センナ出力信号（
ａｌｌは飽和電圧検出回路（たとえばウィンドコンパレ
ータで構成）ｔ２３に入り、該（ＥＴ ９ （ａｌのう
ち飽和レベルＬｍａｘ 、 Ｉ、ｍｉｎ に達した時点
の４ａ−’ＦＪが取出される１第６図ｔａ）３ ％この
場合の飽和レベルとはセンサ出力のピーク１ｒｎａｙと
最低レベルｉ、ｍｉｎを云う。ぞして、信号（Ｑ）と信
号（ｄＪとの論理積がアンド回路（財）でとられる、故
に、第５図（Ｑ）において取出された変化量の大きい信
号（０１）（０２）のうち、（０１）に対しては飽和電
圧が検出されないので、アンド回路（２４）には出力が
出ないが、（０２）に対してはこの時点でｌ＋ｎｉｎ
Ｋ対応する飽和電圧が検出されるためアンド回路（財）
は第５図（ｅ、ｌの信号を出力し、これにてセンサ（７
）が被撮影者（１ηの特殊部位に入ったことが検出され
る。第５図の場合は金属装着物による特殊部位であるが
、これが骨欠損による特殊部位であっても同様に検出さ
れる。この特殊部位突入信号（６）はメモリ（たとえば
双安定マルチバイブレータ）（２）とサンプルホールド
回路（イ）とに送られ、メモリ（ハ）は特殊部位突入時
点を記憶すると共に、＃Ｘ５図（ｆ７の出力をアンド回
路（イ）に送る。サンプルホールド回路（イ）に１土セ
ンサ出力信Ｊｉ！ｒ（ａ）を積分回路（イ）に通し適当
な遅れ要素をもたせ九信号が入力されており、一種のア
ナログ信号メモリとしての回路（支）は特殊部位突入（
？Ｉ号（−３にて該特殊部位に入る直前のレベルの信号
、つ゛まり補償信号【第６図（ｈｌｌをマルチプレクサ
（１１に送る。同時にアンド回路面からは信号（ｄ）と
（ｆ）との論理積により切換え信号【第６１ｇ（ｇ）
）が同じくマルチプレクサ＋１１に送られる。
マルチプレクサ（１１にあっては、通常状態ではこれに
直接入るセンナ出力信号（ｊ１］を選択し、これをその
ま−比較器ｆ１３１ ｆ１４）側に送るが、切換え信号
（ｇ）の入力に伴ない補償・１６号（ｈｌを選択し、こ
れを比較器（１３＋１４１ Ｋ″送り、第す図（１３の
ように飽和範囲１１間、センナ出力信号を補償し、し力
為して過度の帰還制御を抑える。この補償値レベルは特
殊部位に入る直前のレベルである。尚、この説明では特
殊部位が撮影中に一度だけあられれる場合を述べている
が、本（回路は特殊部位が撮影中複数回あられれてもそ
の都度補償を行なう構成になっている。
直接入るセンナ出力信号（ｊ１］を選択し、これをその
ま−比較器ｆ１３１ ｆ１４）側に送るが、切換え信号
（ｇ）の入力に伴ない補償・１６号（ｈｌを選択し、こ
れを比較器（１３＋１４１ Ｋ″送り、第す図（１３の
ように飽和範囲１１間、センナ出力信号を補償し、し力
為して過度の帰還制御を抑える。この補償値レベルは特
殊部位に入る直前のレベルである。尚、この説明では特
殊部位が撮影中に一度だけあられれる場合を述べている
が、本（回路は特殊部位が撮影中複数回あられれてもそ
の都度補償を行なう構成になっている。
＠４図回路は上記のようにサンプルホールド回路（イ）
にて特殊部位に入る直前の信号レベルを記憶し、これを
補償信号（ｈ）の補償値レベルとしているが、この補償
値レベルを予め設定しておき、特殊部位に入った時はこ
の補償信号をマルチプレクｔ＜１１から出力するように
しても良い。この回路を第６図に示す、この回路にお＾
て、メモリ□□□はセンナ（７）が特殊部位に入ったこ
とを記憶し、その突入信号をアンド回路（イ）に送るも
ので、マルチプレクサ（ＩＩには補償信％ Ｖ（１０■
が常時に与えられ、上記特殊部位に入ったことによるア
ンド回路（２）の出力で、この補償信９７ｏｏｒａを選
択出力する。
にて特殊部位に入る直前の信号レベルを記憶し、これを
補償信号（ｈ）の補償値レベルとしているが、この補償
値レベルを予め設定しておき、特殊部位に入った時はこ
の補償信号をマルチプレクｔ＜１１から出力するように
しても良い。この回路を第６図に示す、この回路にお＾
て、メモリ□□□はセンナ（７）が特殊部位に入ったこ
とを記憶し、その突入信号をアンド回路（イ）に送るも
ので、マルチプレクサ（ＩＩには補償信％ Ｖ（１０■
が常時に与えられ、上記特殊部位に入ったことによるア
ンド回路（２）の出力で、この補償信９７ｏｏｒａを選
択出力する。
また、この補償信号ｙａｏｍを常時マルチプレクサ（Ｉ
Ｉに与えるのでは々く、センサ（７）とは別個に特殊部
位を検出する１１ｇ２のセンサを設け、該センナによる
特殊部位検出動作により補償信号ｖｅｏｍを与え、これ
をアンド回路図の出力信号で選択するようにしてもよい
、第７図はそのための回路図を示している。
Ｉに与えるのでは々く、センサ（７）とは別個に特殊部
位を検出する１１ｇ２のセンサを設け、該センナによる
特殊部位検出動作により補償信号ｖｅｏｍを与え、これ
をアンド回路図の出力信号で選択するようにしてもよい
、第７図はそのための回路図を示している。
第１図（ａ）（ｂ） （０）はセンナ出力信号の各パタ
ーンを示し、この発明の技術的課題を説明するためのも
のである。 第２図は帰還系の基本的な構成を示す概略図である。 第３図は第８１勺の具体的な回路例である。 ！４図は仁の発明の−・実施例回路図である。 第５図は第４図回路のタイムチャートである。 第６図および第７図はこの発明のそれぞれ変形例を示す
回路図である。 Ｃ符号の説明） （３）・・・Ｘ線管、（４）・−Ｘ線フィルム、（７）
・・・１７号、Ｏ９・−・出力回路（マルチプレクサ）
、（至）・・・検出回路。 −以上− 代理人弁理士（６２８５） 松 野 英 彦バ ５４４− Ｘ傑創剖
ーンを示し、この発明の技術的課題を説明するためのも
のである。 第２図は帰還系の基本的な構成を示す概略図である。 第３図は第８１勺の具体的な回路例である。 ！４図は仁の発明の−・実施例回路図である。 第５図は第４図回路のタイムチャートである。 第６図および第７図はこの発明のそれぞれ変形例を示す
回路図である。 Ｃ符号の説明） （３）・・・Ｘ線管、（４）・−Ｘ線フィルム、（７）
・・・１７号、Ｏ９・−・出力回路（マルチプレクサ）
、（至）・・・検出回路。 −以上− 代理人弁理士（６２８５） 松 野 英 彦バ ５４４− Ｘ傑創剖
Claims (1)
- （１）被撮影者の透過Ｘ線残量をセンサで検出し、これ
をＸ＠管へ帰還して露出の自動制御を行なうものにおい
て、上記センサ出力信号とこのセンサが被撮影者の特殊
部６ｔに突入した時の補償信号とする回路を設け、この
検出回路の検出信号により上記出力１ｍ路から補償信号
を送り出すようにしてなるパノラマＸ線撮影装置におけ
る自動露出補償回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58134073A JPS6025200A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | パノラマｘ線撮影装置における自動露出補償回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58134073A JPS6025200A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | パノラマｘ線撮影装置における自動露出補償回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6025200A true JPS6025200A (ja) | 1985-02-07 |
| JPH029438B2 JPH029438B2 (ja) | 1990-03-01 |
Family
ID=15119748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58134073A Granted JPS6025200A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | パノラマｘ線撮影装置における自動露出補償回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6025200A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6144002A (ja) * | 1984-08-06 | 1986-03-03 | Agency Of Ind Science & Technol | 能動方向転換可能なキヤスタ |
| JP2008073395A (ja) * | 2006-09-25 | 2008-04-03 | Asahi Roentgen Kogyo Kk | 歯科用パノラマｘ線撮影装置 |
-
1983
- 1983-07-21 JP JP58134073A patent/JPS6025200A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6144002A (ja) * | 1984-08-06 | 1986-03-03 | Agency Of Ind Science & Technol | 能動方向転換可能なキヤスタ |
| JP2008073395A (ja) * | 2006-09-25 | 2008-04-03 | Asahi Roentgen Kogyo Kk | 歯科用パノラマｘ線撮影装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH029438B2 (ja) | 1990-03-01 |
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