JPS6025219A - 固体電解コンデンサの製造方法 - Google Patents
固体電解コンデンサの製造方法Info
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- JPS6025219A JPS6025219A JP58133953A JP13395383A JPS6025219A JP S6025219 A JPS6025219 A JP S6025219A JP 58133953 A JP58133953 A JP 58133953A JP 13395383 A JP13395383 A JP 13395383A JP S6025219 A JPS6025219 A JP S6025219A
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- electrolytic capacitor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は固体電解コンデンサの製造方法に関する。
従来例の構成とその問題点
従来の固体電解コンデンサ(以下タンク/l/固体電解
コンデンサを例にとる)は第1図に示すような構成から
なる。タンク/I/1を金属基体としその表面上に誘電
性陽極金属酸化物としての酸化タンタル2を、さらに半
導′rrr、pH:金属酸化物(固体電解質〕としての
二酸化マンガン3を積層後、対向電極としてのカーボン
層4の上に銀べ、インド層5、はんだ層6を形成し、さ
らにはんだ層6上にクリームはんだ7等を使用し陰極リ
ード8を接続している。
コンデンサを例にとる)は第1図に示すような構成から
なる。タンク/I/1を金属基体としその表面上に誘電
性陽極金属酸化物としての酸化タンタル2を、さらに半
導′rrr、pH:金属酸化物(固体電解質〕としての
二酸化マンガン3を積層後、対向電極としてのカーボン
層4の上に銀べ、インド層5、はんだ層6を形成し、さ
らにはんだ層6上にクリームはんだ7等を使用し陰極リ
ード8を接続している。
このような構造のコンデンサでは、カーボン層4と銀ペ
イント層5との接着強度が十分満足できるものではなく
、はんだ耐熱性や周波数特性に大きな影響をあたえてい
る。
イント層5との接着強度が十分満足できるものではなく
、はんだ耐熱性や周波数特性に大きな影響をあたえてい
る。
また、クリームはんだ7を介して陰極リード8がスポ9
ト溶接されていたシ、チップ型のコンデンサでは、銀ペ
イントを介して陰極端子へ物理的に結合されていたシす
るが、このような構成による陰極の取シ出し法では次の
点で問題がある。
ト溶接されていたシ、チップ型のコンデンサでは、銀ペ
イントを介して陰極端子へ物理的に結合されていたシす
るが、このような構成による陰極の取シ出し法では次の
点で問題がある。
fil 6mリード8取シ出しに銀ペイント、クリーム
はんだ7を使用しなければならず、銀ペイントを使用す
ると、銀ペイントと下地となるカーボン層4との接着強
度が十分でないため、第2図の+a+、 [blに示し
たように10 KHz以上の周波数領域で容量が著しく
低下し誘電正接−δの増大が見られる。
はんだ7を使用しなければならず、銀ペイントを使用す
ると、銀ペイントと下地となるカーボン層4との接着強
度が十分でないため、第2図の+a+、 [blに示し
たように10 KHz以上の周波数領域で容量が著しく
低下し誘電正接−δの増大が見られる。
また、銀ペイントのバインダーであるツウ素あるいはア
クリ/I/樹脂の自然酸化による特注の経時変化、高温
高湿雰囲気下で特に顕著な銀のマイグV−Vヨン(原子
の移動)が見られ、この銀のマイグレーションは漏れ電
流LC不艮の大きな要因となる、 [21銀ペイントの耐熱性が艮ぐないし、陰極金属との
熱膨張係数の相違によシはんだの耐熱性、も良くない。
クリ/I/樹脂の自然酸化による特注の経時変化、高温
高湿雰囲気下で特に顕著な銀のマイグV−Vヨン(原子
の移動)が見られ、この銀のマイグレーションは漏れ電
流LC不艮の大きな要因となる、 [21銀ペイントの耐熱性が艮ぐないし、陰極金属との
熱膨張係数の相違によシはんだの耐熱性、も良くない。
従来、上記以外の陰極取シ出し法として、Fl(Pコン
デンサで電極に亜鉛かはんだのメタリコン(金属を溶融
してこれを素子に吹きつけて電極とする操作〕を施しリ
ード線を溶接し接続していた。このような構成では、リ
ード線と溶接しうる金属が低融点で容易にリード線と接
続可能な金属しか使用できないし、また作業効率も艮く
ない。
デンサで電極に亜鉛かはんだのメタリコン(金属を溶融
してこれを素子に吹きつけて電極とする操作〕を施しリ
ード線を溶接し接続していた。このような構成では、リ
ード線と溶接しうる金属が低融点で容易にリード線と接
続可能な金属しか使用できないし、また作業効率も艮く
ない。
なお、「陰極として金属材料の溶射層をもうける」とい
う記載が特開昭52−58859号公報にあるが、この
公報には陰極リードを具体的にどのようにして取り出す
かについてはまったく触れていない。
う記載が特開昭52−58859号公報にあるが、この
公報には陰極リードを具体的にどのようにして取り出す
かについてはまったく触れていない。
以上のように、従来の陰極リード取シ出しには陰極リー
ドを接触させる下地の層、あるいはその接続方法などが
大きく関係して十分に優れたコングンサ特性を得ること
ができないでいる。
ドを接触させる下地の層、あるいはその接続方法などが
大きく関係して十分に優れたコングンサ特性を得ること
ができないでいる。
発明の目的
この発明は、上記のような問題に鑑み、固体電解コンデ
ンサの陰極および陰極リード取シ出し法を改善し、周波
数特性、はんだ耐熱性、漏れ電流LC特性の艮好な、し
かも生産性の高い固体電解コンデンサの製造方法を提供
することを目的とする。
ンサの陰極および陰極リード取シ出し法を改善し、周波
数特性、はんだ耐熱性、漏れ電流LC特性の艮好な、し
かも生産性の高い固体電解コンデンサの製造方法を提供
することを目的とする。
発明の構成
本発明の固体電解コンデンサの製造方法は、上記の目的
を達成するため、金属基体上に誘電性陽極酸化皮膜と半
導電注金屈酸化物層とを順次設け、前記半導電性金属酸
化物層上に対向電極としてカーボン層を形成し、そのカ
ーボン層の表面に陰極リード端部を接触または近接させ
た状態で前記カーボン層上に溶射法により陰極金属層を
形成し、同時に溶射金属中に前記陰極リード端子をうめ
込み、上記陰極金属層と陰極リードの取シ出しを一挙に
行うものでおる。このような構成では、溶射法によシカ
−ボン層と陰極金属層との接着強度が強く、周波数特性
、はんだ耐熱性の向上が図れる他、従来使用していた銀
ペイントやはんだを使用しないため、銀のマイグレーシ
ョン対策等を考える必要が外(、LC特注の改善ができ
る。
を達成するため、金属基体上に誘電性陽極酸化皮膜と半
導電注金屈酸化物層とを順次設け、前記半導電性金属酸
化物層上に対向電極としてカーボン層を形成し、そのカ
ーボン層の表面に陰極リード端部を接触または近接させ
た状態で前記カーボン層上に溶射法により陰極金属層を
形成し、同時に溶射金属中に前記陰極リード端子をうめ
込み、上記陰極金属層と陰極リードの取シ出しを一挙に
行うものでおる。このような構成では、溶射法によシカ
−ボン層と陰極金属層との接着強度が強く、周波数特性
、はんだ耐熱性の向上が図れる他、従来使用していた銀
ペイントやはんだを使用しないため、銀のマイグレーシ
ョン対策等を考える必要が外(、LC特注の改善ができ
る。
なお、前記溶射法としては、プラズマ溶射、ガス溶射、
アークM射、爆裂溶射、線爆溶射の何れもが使える。丑
だ、溶射層Jf7gとしては銅、鉛、アル、ミニツムな
どが適している。
アークM射、爆裂溶射、線爆溶射の何れもが使える。丑
だ、溶射層Jf7gとしては銅、鉛、アル、ミニツムな
どが適している。
実施例の説明
この発明の固体電解コンデンサのt¥4準的選的製造方
法す。
法す。
■ まず200メツシュ程度のタンクμの粉本を型に入
れ、1〜5ton/d程度の圧力で成形する。。
れ、1〜5ton/d程度の圧力で成形する。。
その後10 tmnHg 、 1,800〜2,000
℃程度の61度で焼結して多孔性素体に布り上げる。
℃程度の61度で焼結して多孔性素体に布り上げる。
■ さらに硫酸、リン酸などを用いて焼結体を陽極酸化
し誘電体酸化皮膜を形成させる。
し誘電体酸化皮膜を形成させる。
■ 続いて硝酸マンガン溶液中に紫体を浸漬後炉中で水
分を蒸発させたのち、亜硝酸ガスが生成しなくなるまで
熱分解し、酸化皮膜上に二酸化マンガン層を形成する。
分を蒸発させたのち、亜硝酸ガスが生成しなくなるまで
熱分解し、酸化皮膜上に二酸化マンガン層を形成する。
■ さC)にカーボンの微粒子を分散させたコロイダル
カーボン水溶液に浸漬し、熱風乾燥によりカーボン層を
形成する。
カーボン水溶液に浸漬し、熱風乾燥によりカーボン層を
形成する。
■ 次に第3図の(at、lイ)に示すように、カーボ
ン層4上に陰極・す2−ド!8・を置くかまきつけ陽極
側番マスク9し短絡を防止する。
ン層4上に陰極・す2−ド!8・を置くかまきつけ陽極
側番マスク9し短絡を防止する。
■ 陰極金属層10として、アルミニウムをアルゴンガ
ス雰囲気下でプラズマ溶射法によυ溶射し、陰極金属層
lOの形成と、陰(瓦リード8の取シ出しとを同時に行
う、プラズマ溶射法により高密度、高引張9強度および
高結合力を有する陰極金属層10が得られる。
ス雰囲気下でプラズマ溶射法によυ溶射し、陰極金属層
lOの形成と、陰(瓦リード8の取シ出しとを同時に行
う、プラズマ溶射法により高密度、高引張9強度および
高結合力を有する陰極金属層10が得られる。
■ さらに素子を樹脂にデ・・ノブしたシ、モールドし
たりして外装した後、素子の特性安定をはかるため、温
度と電圧を加えエージングする。
たりして外装した後、素子の特性安定をはかるため、温
度と電圧を加えエージングする。
上記工程により製造されたコンデンサの構成断面図を第
4図に示す。第4図は直方体状のものの新訂図であり、
図中1〜4は第1図と同じであシ、8は陰極リード、1
0は溶射による陰極金属層である。
4図に示す。第4図は直方体状のものの新訂図であり、
図中1〜4は第1図と同じであシ、8は陰極リード、1
0は溶射による陰極金属層である。
第5図のコンデンサはガラス等を基盤12としてスバ、
フタリング法によりタンタIV層1を形成し、その後は
前記製法によシ素子を製造した′も・のであシ、素子の
薄膜化、小型軽量化を目ざしたものである0図中1〜4
は第1図と同じであり、8は陰極リード、11が陽極と
9出し、12はガラスあるいはセラミ・ツク基板、10
は溶射による陰極金属層である。
フタリング法によりタンタIV層1を形成し、その後は
前記製法によシ素子を製造した′も・のであシ、素子の
薄膜化、小型軽量化を目ざしたものである0図中1〜4
は第1図と同じであり、8は陰極リード、11が陽極と
9出し、12はガラスあるいはセラミ・ツク基板、10
は溶射による陰極金属層である。
次にこの発明の具体的な実施例を示す。
(実施例1)
20wvのタンタμ焼結体表面を196Vユウ酸水溶液
を用い陽極酸化法によシ酸化タンタ/l’膜を形成す、
る、この基体に比重1.5の硝酸マンガン水浴液を含ま
せ、300℃で熱分解し二酸化マンガン層を形成させる
。この含浸、熱分解操作を3回くり返し、再びシュウ酸
196液で酸化タンクyvHを電気化学的に修復させた
後、コロイダルカーボンへ浸漬し、乾燥し、カーボン層
4を形成する。
を用い陽極酸化法によシ酸化タンタ/l’膜を形成す、
る、この基体に比重1.5の硝酸マンガン水浴液を含ま
せ、300℃で熱分解し二酸化マンガン層を形成させる
。この含浸、熱分解操作を3回くり返し、再びシュウ酸
196液で酸化タンクyvHを電気化学的に修復させた
後、コロイダルカーボンへ浸漬し、乾燥し、カーボン層
4を形成する。
さらに、このカーボン層4上に、カーボン層4にうまく
接続できるような空間的位置を保てるような形状に加工
した陰極リード8をおき、アルゴンガスをキャリアとし
て用いてアルミニウムをプラズマ層射し、陰極金属層1
0を形成するとともに陰極リード8の取り出しを行う。
接続できるような空間的位置を保てるような形状に加工
した陰極リード8をおき、アルゴンガスをキャリアとし
て用いてアルミニウムをプラズマ層射し、陰極金属層1
0を形成するとともに陰極リード8の取り出しを行う。
このような工程を経て製造されたタンタル固体電解コン
デンサの特性と、従来の銀ペイント、はんだを用いたコ
ンデンサの特性を比較する。
デンサの特性と、従来の銀ペイント、はんだを用いたコ
ンデンサの特性を比較する。
第6図[al、 tblは、1201とIKHz にお
けるこの発明1alと従来tblのタンタル固体電解コ
ンデンサの―δ値を示したものである0図ニジ明らかに
この発明のコンデンサの方が−δ変化が小さいが、それ
は素子構成材料間が強固に接着しているために接触抵抗
が小さく、−δの周波数依存性も小さくなったと考えら
れる。
けるこの発明1alと従来tblのタンタル固体電解コ
ンデンサの―δ値を示したものである0図ニジ明らかに
この発明のコンデンサの方が−δ変化が小さいが、それ
は素子構成材料間が強固に接着しているために接触抵抗
が小さく、−δの周波数依存性も小さくなったと考えら
れる。
第7図はこの発明1alと従来1blのタンタル固体電
解コンデンサの周波数依存性を示したものである。
解コンデンサの周波数依存性を示したものである。
縦軸は100比での容量を基準とした時の各周波数にお
ける容量減少率を示す、第6図の−δの周波数依存性か
らも推察されるように、この発明(alのコンデンサは
、従来1blのものと比べ極めて良好な容認の周波数特
性を示している。さらに25℃で測定した漏れ電流LC
は第1表のようになfi、LC特性も従来よシ改善でき
る。
ける容量減少率を示す、第6図の−δの周波数依存性か
らも推察されるように、この発明(alのコンデンサは
、従来1blのものと比べ極めて良好な容認の周波数特
性を示している。さらに25℃で測定した漏れ電流LC
は第1表のようになfi、LC特性も従来よシ改善でき
る。
第1表
さらに完成した素子を260℃のはんだ槽中に5秒、3
0秒間浸漬し、1201−1xでtanδを測定しその
変化を調べ第8図[al、 [blに示した。同図よシ
この発明1alのコンデンサ素子は、従来1blのもの
と比べはんだ耐熱特性に優れていることがわかる。
0秒間浸漬し、1201−1xでtanδを測定しその
変化を調べ第8図[al、 [blに示した。同図よシ
この発明1alのコンデンサ素子は、従来1blのもの
と比べはんだ耐熱特性に優れていることがわかる。
以上のようにこの発明のコンデンサは従来のものと比較
して、周波数特性、はんだ耐熱特性ルC特性ともに著し
く改善されている。これは、この発明の陰極形成法であ
るプラズマ俗射技術によシ、■ 陰極層が従来のものと
比べ物理的に強固に接着しているため界面間の接触抵抗
が小さくなっていること、 @ 銀ペイントを使用していないだめ、銀のマイグレー
シづンがないこと、 θ また溝成材料四での熱膨張係数の違いによる熱的歪
が小さくなっていることによるためであると考えられる
・ (実施例2) アルミナ基板の上にスバ・’Jタリノグによりグンタル
膜を5X10(訂)の大きさで形成し、(実施例1)と
同様に1%シュウ酸氷水浴液陽極酸化し、酸化タンタμ
膜を形成する。この基体を比重1.5の硝酸マンガン水
廖液に浸漬し、300℃で品分解し二酸化マンガン層を
形成する。この言浸、熱分解操作を3回〈シ返し、再び
シェラ酸1%液で酸化タンタル膜を電気化学的に修復後
、素子をアクアダ・ツクカーボンに浸漬しカーボン層を
形成する。
して、周波数特性、はんだ耐熱特性ルC特性ともに著し
く改善されている。これは、この発明の陰極形成法であ
るプラズマ俗射技術によシ、■ 陰極層が従来のものと
比べ物理的に強固に接着しているため界面間の接触抵抗
が小さくなっていること、 @ 銀ペイントを使用していないだめ、銀のマイグレー
シづンがないこと、 θ また溝成材料四での熱膨張係数の違いによる熱的歪
が小さくなっていることによるためであると考えられる
・ (実施例2) アルミナ基板の上にスバ・’Jタリノグによりグンタル
膜を5X10(訂)の大きさで形成し、(実施例1)と
同様に1%シュウ酸氷水浴液陽極酸化し、酸化タンタμ
膜を形成する。この基体を比重1.5の硝酸マンガン水
廖液に浸漬し、300℃で品分解し二酸化マンガン層を
形成する。この言浸、熱分解操作を3回〈シ返し、再び
シェラ酸1%液で酸化タンタル膜を電気化学的に修復後
、素子をアクアダ・ツクカーボンに浸漬しカーボン層を
形成する。
アルゴンガスをキャリアガスに用いアルミニウムをプラ
ズマ溶射すると同時に浴射金属中に陰極リード端子をう
め込み陰極の取り出しを行う。
ズマ溶射すると同時に浴射金属中に陰極リード端子をう
め込み陰極の取り出しを行う。
このようにして作製されたタンタル固体電解コンデンサ
は、非常に薄くかつ大容量を得ることができる。さらに
(実施例1)で述べた理由によシ、周波数特性、はんだ
耐熱特性が従来のものよシ向上する。第2表にこの発明
の素子の25℃における代表的特性例を示しておく。
は、非常に薄くかつ大容量を得ることができる。さらに
(実施例1)で述べた理由によシ、周波数特性、はんだ
耐熱特性が従来のものよシ向上する。第2表にこの発明
の素子の25℃における代表的特性例を示しておく。
第2表
(試験例1)
(実施例1)で述べた方法によシ製直したコンデンサの
信頼性試験を行い、従来のものと比較した。試験方法は
各素子を100個任意に選択し、55℃、90%RHの
多湿雰囲気下に1000時間放置後の特性変化を初期値
と比べ第3表に示した。
信頼性試験を行い、従来のものと比較した。試験方法は
各素子を100個任意に選択し、55℃、90%RHの
多湿雰囲気下に1000時間放置後の特性変化を初期値
と比べ第3表に示した。
この発明のコンデンサは従来のものに比べ周波数特性、
はんだ耐熱性が著しく改善されたことを(実施例1)で
述べたが、多湿雰囲気下の信頼性試験においても第3表
の結果を得、LC,―δ値の変化が従来のものと比べ小
さく、この発明のコンデンサの性能の良さ全ものがたっ
ている。これハ銀(7)−qイグレーションによるLC
の増大や銀ペイントの界面間でのはく離によるーδの増
大がないためである。
はんだ耐熱性が著しく改善されたことを(実施例1)で
述べたが、多湿雰囲気下の信頼性試験においても第3表
の結果を得、LC,―δ値の変化が従来のものと比べ小
さく、この発明のコンデンサの性能の良さ全ものがたっ
ている。これハ銀(7)−qイグレーションによるLC
の増大や銀ペイントの界面間でのはく離によるーδの増
大がないためである。
第3表
(試験例2)
(実施例1)で述べた方法により製造したコンデンサの
信頼性試験の一環として温度サイクル試験を行った。す
なわち85℃雰囲気下に10時間放置、−55℃雰囲気
下に10時間放置を1サイクルとし、これを5サイクル
〈υ返し行った後の一δ、LC,容量の値を初期値と比
べ第4表に示す結果を得た。表よりこの発明のコンデン
サは、銀ペイントを用いていないため温度サイクルにも
非常に強いことがわかる。
信頼性試験の一環として温度サイクル試験を行った。す
なわち85℃雰囲気下に10時間放置、−55℃雰囲気
下に10時間放置を1サイクルとし、これを5サイクル
〈υ返し行った後の一δ、LC,容量の値を初期値と比
べ第4表に示す結果を得た。表よりこの発明のコンデン
サは、銀ペイントを用いていないため温度サイクルにも
非常に強いことがわかる。
第4表
発明の効果
本発明の固体電解コンデンサの製造方法によれば、溶射
技術を用い陰極金属と同時に陰極リードのと9だしを行
ったため、カーボン層と陰極金属層との物理的接着強度
が改善され、従来の固体電解コンデンサに比べ、周波数
特注、はんだ耐iti。
技術を用い陰極金属と同時に陰極リードのと9だしを行
ったため、カーボン層と陰極金属層との物理的接着強度
が改善され、従来の固体電解コンデンサに比べ、周波数
特注、はんだ耐iti。
LC特性の良好なしかも高湿雰囲気、温度サイクp試験
にも強い固体電解コンデンサを得ることができるという
効果がある。
にも強い固体電解コンデンサを得ることができるという
効果がある。
第1図は従来のグンタル固体電解−lンデンサの1成断
面図、■2図+a+、 (blは従来のタンタル固体電
解コンデンサの周波数特性を示す図、第3図(a)。 lbl A−よびff1. ttflの夫々はこの発明
の固体電解コンデンサの陰極とりだし工程図、第4図は
この発明の固体電解コンデンサの断面図、第5図はこの
発明の同伴電解コンデンサの薄膜形の構成図、第6図t
a1. [blはこの発明と従来のコンデンサの誘電正
接と周波数の関係を示す図、第7図はこの発明と従来の
コンデンサの周波数特性図、第8図[al、 tblは
この発明と従来のコンデンサのはんだ耐熱性性を示す図
である。 1・・・タノタル基体(金属基体)、2・・・酸化タン
ク/I/(誘電性陽極酸化皮膜)、3・・・二酸化マン
ガン(半4電注金属酸化物1i )、4・・・カーボン
層、第1図 一浸淘聯(s e c ) −浸漬時順5ec)(a)
(b) 第8図 −思 支数 (にHz) 第2図 212 (a) (a’) 第3図 10812 第5図 一膳友殻(にHz) −目:!L設(にHz)(a)
(b) 第6図 第7図 手続補正書(方式) 1、事件の表示 昭和58年 特 許 願第133953号2、発明の名
称 固体電解コンデンサの製造方法 3、補正をする者 ・II−件との関係 出力;!l′i人住 所 大阪府
門真市大字門真1006番地名 称 (582)松下電
器産業株式会社代表者 山 下 俊 彦 4、代 理 人 ノー1 1’、;−”i 胆 5、?lll’!Bii令ノ日付昭和58 年10 月
1 口6.1山正の文→象 明細蕾および図面 7、補正の内容 (1)明m普第7頁第8行目、r (a) 、 (a’
) jとあるを「(a)または(C)」と訂正する。 (2)明細備=第7頁第9行目、「まきつけ」とあるつ
ぎに「、次いで第3図の0〕)または(d)に示すよう
に」と加入する。 (3)明細缶第15頁第7行目、「(給、(団」とある
を[忙) 、 (d) Jと訂正する。 (4)図面の第3図を別紙のとおシ訂正する。 代 理 人 弁理士 官 井 暎 夫1.−。 j−1,:、)、・、″、 (a) 第 3 (c) (d) 図
面図、■2図+a+、 (blは従来のタンタル固体電
解コンデンサの周波数特性を示す図、第3図(a)。 lbl A−よびff1. ttflの夫々はこの発明
の固体電解コンデンサの陰極とりだし工程図、第4図は
この発明の固体電解コンデンサの断面図、第5図はこの
発明の同伴電解コンデンサの薄膜形の構成図、第6図t
a1. [blはこの発明と従来のコンデンサの誘電正
接と周波数の関係を示す図、第7図はこの発明と従来の
コンデンサの周波数特性図、第8図[al、 tblは
この発明と従来のコンデンサのはんだ耐熱性性を示す図
である。 1・・・タノタル基体(金属基体)、2・・・酸化タン
ク/I/(誘電性陽極酸化皮膜)、3・・・二酸化マン
ガン(半4電注金属酸化物1i )、4・・・カーボン
層、第1図 一浸淘聯(s e c ) −浸漬時順5ec)(a)
(b) 第8図 −思 支数 (にHz) 第2図 212 (a) (a’) 第3図 10812 第5図 一膳友殻(にHz) −目:!L設(にHz)(a)
(b) 第6図 第7図 手続補正書(方式) 1、事件の表示 昭和58年 特 許 願第133953号2、発明の名
称 固体電解コンデンサの製造方法 3、補正をする者 ・II−件との関係 出力;!l′i人住 所 大阪府
門真市大字門真1006番地名 称 (582)松下電
器産業株式会社代表者 山 下 俊 彦 4、代 理 人 ノー1 1’、;−”i 胆 5、?lll’!Bii令ノ日付昭和58 年10 月
1 口6.1山正の文→象 明細蕾および図面 7、補正の内容 (1)明m普第7頁第8行目、r (a) 、 (a’
) jとあるを「(a)または(C)」と訂正する。 (2)明細備=第7頁第9行目、「まきつけ」とあるつ
ぎに「、次いで第3図の0〕)または(d)に示すよう
に」と加入する。 (3)明細缶第15頁第7行目、「(給、(団」とある
を[忙) 、 (d) Jと訂正する。 (4)図面の第3図を別紙のとおシ訂正する。 代 理 人 弁理士 官 井 暎 夫1.−。 j−1,:、)、・、″、 (a) 第 3 (c) (d) 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 +1) 金属基体上に誘電性陽極酸化皮膜を形成する工
程と、前記酸化皮膜上に半導電性金属酸化物層を形成す
る工程と、前記牛導電性金属酸化物層上に対向電極とし
てのカーボン層を形成する工程と、前記カーボン層の表
面に陰極リードの端部を接触または近接させた状態で前
記カーボン層上に溶射法によシ陰極金属層を形成すると
同時に溶射陰極金属層中に前記陰極リードの端部をうめ
込み固定する工程とを含む固体電解コンデンサの製造方
法。 (21前記陰極リードの端部をカーボン層上に単に置い
た状態で金属溶射を行う特許請求の範囲第(1)項記載
の固体電解」ンデンサの製造方法。 (31前記陰極リードの端部をカーボン層上にまきつけ
た状態で金属溶射を行う特許請求の範囲第i11項記載
の固体電解コンデンサの製造方法。 (41前記溶射法として、グヲズマ溶射、ガス溶射、ア
ーク溶射、爆裂溶射、線爆溶射のうちの何れかの方法を
用いる特許請求の範囲第(1)項記載の固体電解コンデ
ンサの製造方法。 (51前記プラズマ洛射法によシ溶射する金属としての
銅、鉛、アルミニウムのうちの何れかを用いる特許請求
の範囲第(4)項記載の固体電解コンデンサの製造方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58133953A JPS6025219A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58133953A JPS6025219A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6025219A true JPS6025219A (ja) | 1985-02-08 |
Family
ID=15116933
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58133953A Pending JPS6025219A (ja) | 1983-07-21 | 1983-07-21 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6025219A (ja) |
-
1983
- 1983-07-21 JP JP58133953A patent/JPS6025219A/ja active Pending
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