JPS60253930A - 受光装置 - Google Patents
受光装置Info
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- JPS60253930A JPS60253930A JP11151584A JP11151584A JPS60253930A JP S60253930 A JPS60253930 A JP S60253930A JP 11151584 A JP11151584 A JP 11151584A JP 11151584 A JP11151584 A JP 11151584A JP S60253930 A JPS60253930 A JP S60253930A
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- JP
- Japan
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- light
- diffraction grating
- substrate
- wavelength
- semiconductor
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- Pending
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
-
- G—PHYSICS
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
-
- G—PHYSICS
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- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
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- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4228—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は特定波長の光出力を電気信号の形で検出するた
めの受光装置に関する。
めの受光装置に関する。
近年，長波長帯において直接変調時にも安定に単一軸姿
態で動作する分布帰還型半導体レーザ（Ｋ． Ｕｔａｋ
ａ ｅｔ ８ｉ， Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ａｔｔ． ｐｐ
９６１ − ９６２ 、 １９８１ ）。
態で動作する分布帰還型半導体レーザ（Ｋ． Ｕｔａｋ
ａ ｅｔ ８ｉ， Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ａｔｔ． ｐｐ
９６１ − ９６２ 、 １９８１ ）。
分布反射型半導体レーザ（Ｙ． Ａｂｅ ｅｔ ａ４
Ｅｌｅｃｔｒｏｎノｅｔｔ− ｐｐ ４１０−４１１
、１９８２）、 Ｃｌｅａｖｅｄ−Ｃｏｕｐｌｅｄ−Ｃ
ａｖｉｔｙ半導体レーザ（Ｗ．Ｔ．Ｔｓａｒｙｅｔａ４
Ｉ００Ｃ’８３ ２９Ｂ５ −４ＰＤ，１９８３）等の
動的単一波長半導体レーザと総称されるものが実現され
，その発振波長を電気的に変化させることにも成功する
ようになった。
Ｅｌｅｃｔｒｏｎノｅｔｔ− ｐｐ ４１０−４１１
、１９８２）、 Ｃｌｅａｖｅｄ−Ｃｏｕｐｌｅｄ−Ｃ
ａｖｉｔｙ半導体レーザ（Ｗ．Ｔ．Ｔｓａｒｙｅｔａ４
Ｉ００Ｃ’８３ ２９Ｂ５ −４ＰＤ，１９８３）等の
動的単一波長半導体レーザと総称されるものが実現され
，その発振波長を電気的に変化させることにも成功する
ようになった。
（１００Ｃ’８３， ２９８−ＩＰＤ， ２９Ｂ−３Ｐ
Ｄ． ２９Ｂ−４ＰＤ）この様な波長可変型動的単一波
長半導体レーザの実現によシ，高密度波長多重光通信や
光へテロダイン通信等に必要不可欠な特定単一波長で安
定動作する半導体レーザ装置の実現が期待できるように
なった。
Ｄ． ２９Ｂ−４ＰＤ）この様な波長可変型動的単一波
長半導体レーザの実現によシ，高密度波長多重光通信や
光へテロダイン通信等に必要不可欠な特定単一波長で安
定動作する半導体レーザ装置の実現が期待できるように
なった。
特定単一波長で安定動作する半導体レーザ装置は、第１
図に示す様に、波長可変型動的単一波長半導体レーザ１
．制御部２１１発振波長び光出力監視部３の３つの部分
より構成され１発振波長と光出力を常に監視して変動が
生じた場合には直ちに発振波長及び光出力の修正を行う
機能を有している。
図に示す様に、波長可変型動的単一波長半導体レーザ１
．制御部２１１発振波長び光出力監視部３の３つの部分
より構成され１発振波長と光出力を常に監視して変動が
生じた場合には直ちに発振波長及び光出力の修正を行う
機能を有している。
現在までに報告されているものは、この中で波長可変型
動的単一波長半導体レーザに関するものだけであり、制
御部２は電気的集積回路で実現するとしても、波長と光
出力の監視部３については実用的な小型のものは報告さ
れておらず、実験には専ら大型の分光器と受光器を合せ
て用いる状態であった。
動的単一波長半導体レーザに関するものだけであり、制
御部２は電気的集積回路で実現するとしても、波長と光
出力の監視部３については実用的な小型のものは報告さ
れておらず、実験には専ら大型の分光器と受光器を合せ
て用いる状態であった。
本発明の目的は、特定波長の光出力をモニタすることが
できる受光装置を実用的な形で実現することにある。
できる受光装置を実用的な形で実現することにある。
上記目的を達成するだめの本発明の構成は、透明基板上
に同心円状に設けられた複数の溝又は複数の屈折率段差
を有する回折格子形レンズと、該レンズと所定間隔をお
いて光学的に結合するように設けられ、二個以上の半導
体受光素子を有する基板とからなることを特徴とする。
に同心円状に設けられた複数の溝又は複数の屈折率段差
を有する回折格子形レンズと、該レンズと所定間隔をお
いて光学的に結合するように設けられ、二個以上の半導
体受光素子を有する基板とからなることを特徴とする。
本発明では特定波長の光出力をモニタするために、波長
選択性を有する回折格子形レンズと複数の半導体受光素
子を組み合せて用いている。回折格子形レンズは、焦点
距離が波長によって変化するため、第２図に示す様に２
発光源２１と回折格子形レンズ２２とスクリーン２３と
をある間隔に固定配置すると、波長（λ１ 、λ２ ）
に依ってスクリーン２３土の光の強度分布がＰ１＋Ｐ２
のように変化する。
選択性を有する回折格子形レンズと複数の半導体受光素
子を組み合せて用いている。回折格子形レンズは、焦点
距離が波長によって変化するため、第２図に示す様に２
発光源２１と回折格子形レンズ２２とスクリーン２３と
をある間隔に固定配置すると、波長（λ１ 、λ２ ）
に依ってスクリーン２３土の光の強度分布がＰ１＋Ｐ２
のように変化する。
このスクリーン２３上に複数の半導体受光素子を配置す
れば、各半導体受光素子の出力電流の比率の分布により
規格化された光の強度分布が表わされる。その結果、こ
の出力電流の比率の分布から波長を識別することが可能
となり、また出力電流の絶対値から光出力強度を検出す
るととが可能となる。よって、この構成により特定波長
の光出力を検出することができる。
れば、各半導体受光素子の出力電流の比率の分布により
規格化された光の強度分布が表わされる。その結果、こ
の出力電流の比率の分布から波長を識別することが可能
となり、また出力電流の絶対値から光出力強度を検出す
るととが可能となる。よって、この構成により特定波長
の光出力を検出することができる。
以下１本発明の実施例について述べる。
第３図はリング状の半導体受光素子Ｄｉ ＋ Ｄ２＋Ｄ
３を同心円状にモノリシックに集積した基板２４と２回
折格子形レンズ２２とを組み合せた構成例であシ、軸対
称の光を検出するのに適した例である。２５はリード端
子である。
３を同心円状にモノリシックに集積した基板２４と２回
折格子形レンズ２２とを組み合せた構成例であシ、軸対
称の光を検出するのに適した例である。２５はリード端
子である。
第４図は別の半導体受光素子の配列例であり。
軸対称の光を検出する場合には１つの半径方向だけの光
強度分布を検出すれば十分という考え方を反映させたも
のである。すなわち、半導体受光素子Ｄ４〜Ｄ９が光軸
を中心とする円の半径方向に配設されている。
強度分布を検出すれば十分という考え方を反映させたも
のである。すなわち、半導体受光素子Ｄ４〜Ｄ９が光軸
を中心とする円の半径方向に配設されている。
上記２例は光の軸対称性を活用した特別な形のものであ
るが、同一形状の半導体受光素子を縦横に配列しても、
同心円状に配置してもよいことは言う丑でもない。捷だ
、半導体素子の個数はこの受光装置の波長感度を決める
一つの要因であり。
るが、同一形状の半導体受光素子を縦横に配列しても、
同心円状に配置してもよいことは言う丑でもない。捷だ
、半導体素子の個数はこの受光装置の波長感度を決める
一つの要因であり。
個数をできるだけ増やすことが感度を高める効果のある
ことは明白である。更に、実施例においては、すべての
半導体受光素子を同一基板上にモノリシックに集積した
ものを用いているが、特にモノリシック集積せずとも１
個別の半導体受光素子を別の一枚の基板上に配置しても
同様の効果の得られることは明らかである。
ことは明白である。更に、実施例においては、すべての
半導体受光素子を同一基板上にモノリシックに集積した
ものを用いているが、特にモノリシック集積せずとも１
個別の半導体受光素子を別の一枚の基板上に配置しても
同様の効果の得られることは明らかである。
上述の様に１本発明により特定波長の光出力を電気信号
に交換する受光装置を実用化に適した型で提供すること
ができ、その工業的利益は大きい。
に交換する受光装置を実用化に適した型で提供すること
ができ、その工業的利益は大きい。
特に、これにより特定単一波長で安定動作する半導体レ
ーザ装置を実用化に適した大きさで構成するととを可能
ならしめたことの意義は大きなものがある。
ーザ装置を実用化に適した大きさで構成するととを可能
ならしめたことの意義は大きなものがある。
第１図は特定単一波長で安定動作する半導体レーザ装置
のプロ、り構成例であシ、第２図は本発明における回折
格子形レンズの機能の説明図であシ、第３図、第４図は
それぞれ本発明の第１．第２の実施例である。 図において。 １・・波長可変型動的単一波長半導体レーザ、２・・制
御部、３・波長及び光出力監視部、２１・・・発光源、
２２・・・回折格子形レンズ、２３・・・スクリーン。 ２４・・・基板、２５・・リード端子＋ ＤＩ〜Ｄ９・
・・半導第１図 第４図
のプロ、り構成例であシ、第２図は本発明における回折
格子形レンズの機能の説明図であシ、第３図、第４図は
それぞれ本発明の第１．第２の実施例である。 図において。 １・・波長可変型動的単一波長半導体レーザ、２・・制
御部、３・波長及び光出力監視部、２１・・・発光源、
２２・・・回折格子形レンズ、２３・・・スクリーン。 ２４・・・基板、２５・・リード端子＋ ＤＩ〜Ｄ９・
・・半導第１図 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 透明基板上に同心円状に設けられた複数の溝又は
複数の屈折率段差を有する回折格子形レンズと、該レン
ズと所定間隔をおいて光学的に結合するように設けられ
、１個以上の半導体受光素子を有する基板とから構成さ
れることを特徴とする受光装置。 ２、特許請求の範囲第１項記載の受光装置において、前
記半導体受光素子として、リング状のものを同心円状に
前記基板に配設して成る受光装置。 ３、特許請求の範囲第１項記載の受光装置において、前
記基板に、複数の前記半導体受光素子が光軸を中心とす
る円の半径方向に配設されて成る受光装置。 以下余白
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11151584A JPS60253930A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | 受光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11151584A JPS60253930A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | 受光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60253930A true JPS60253930A (ja) | 1985-12-14 |
Family
ID=14563266
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11151584A Pending JPS60253930A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | 受光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60253930A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5486951A (en) * | 1993-12-16 | 1996-01-23 | Eastman Kodak Company | Gradial zone lens and method of fabrication |
| US20150340396A1 (en) * | 2014-05-24 | 2015-11-26 | Vladislav Blayvas | Image sensor with dispersive color separation |
-
1984
- 1984-05-31 JP JP11151584A patent/JPS60253930A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5486951A (en) * | 1993-12-16 | 1996-01-23 | Eastman Kodak Company | Gradial zone lens and method of fabrication |
| US5629800A (en) * | 1993-12-16 | 1997-05-13 | Eastman Kodak Company | Gradial zone lens and method of fabrication |
| US20150340396A1 (en) * | 2014-05-24 | 2015-11-26 | Vladislav Blayvas | Image sensor with dispersive color separation |
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