JPS6025435A - 車両の制動性能測定装置 - Google Patents
車両の制動性能測定装置Info
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- JPS6025435A JPS6025435A JP58134666A JP13466683A JPS6025435A JP S6025435 A JPS6025435 A JP S6025435A JP 58134666 A JP58134666 A JP 58134666A JP 13466683 A JP13466683 A JP 13466683A JP S6025435 A JPS6025435 A JP S6025435A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- routine
- vehicle
- switch
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L5/00—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes
- G01L5/28—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for testing brakes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本光明は車両の制動性能を測定する制動性能測定８Ａ置
に関するものである。
に関するものである。
車両の制動性能に関する実車試験データを収集する場合
、従来はドライバーが運転操作をしながら各種計測器に
り測定データを読みとってデータシー１〜に記入し、試
験終了後に上記データシー１−の測定データに基づいて
グラフ等を作成している。
、従来はドライバーが運転操作をしながら各種計測器に
り測定データを読みとってデータシー１〜に記入し、試
験終了後に上記データシー１−の測定データに基づいて
グラフ等を作成している。
このような方法ではドライバーはｍｍに多数の計測器の
データを読み取る必要があるため、短時間に生起づる現
象が往々にして見落とされる。また、測定データの欠陥
が試験路ｒ後グラフ等を作成しＣ発見されることも多く
、この場合には試験状態を再現して再試験を行なう等の
無駄が生じる。
データを読み取る必要があるため、短時間に生起づる現
象が往々にして見落とされる。また、測定データの欠陥
が試験路ｒ後グラフ等を作成しＣ発見されることも多く
、この場合には試験状態を再現して再試験を行なう等の
無駄が生じる。
さらに、膨大な試験データをグラフ化するについて【、
１多人な手間を要づる上に、人手で（よグラフ作成の精
度も高くない。
１多人な手間を要づる上に、人手で（よグラフ作成の精
度も高くない。
本発明は上記従来の問題点に鑑み、実り（試験中に多数
の測定データを入力して即座に演綽処裡１ｊるとともに
処理γ−タ（１′３よび上記測定データと合け−Ｃ］ｌ
Ｉ！論予測データの表示も可能な制動性（１ヒ測定装置
を提供することを目的とづるらので、本装置によれば短
時間・の現象す確実に捕１１ｆされ、かつ測定データの
妥当性も直ちに判明する。これにＪ二り、ドライバーは
制動操作時の操作フィーリング等のＩｔｌｒ ｔ＆に専
念することができる。
の測定データを入力して即座に演綽処裡１ｊるとともに
処理γ−タ（１′３よび上記測定データと合け−Ｃ］ｌ
Ｉ！論予測データの表示も可能な制動性（１ヒ測定装置
を提供することを目的とづるらので、本装置によれば短
時間・の現象す確実に捕１１ｆされ、かつ測定データの
妥当性も直ちに判明する。これにＪ二り、ドライバーは
制動操作時の操作フィーリング等のＩｔｌｒ ｔ＆に専
念することができる。
づ−なわち、本発明の制動性能測定に’＜Ｍは車両の各
部に配設され、車両の制動状態に関係する物理用を測定
する測定手段ど、上記測定手段により得られた測定デー
タをあらかじめ定められた手順に従って入力し、かつ演
停処理づるデータ処理手段と、あらかじめ理論予測デー
タか記憶され、かつ付せで上記処理データ、および測定
データを記憶づるカセット式記憶手段ど、上記記憶され
た理論予測データ、処ｊ１ｐデータおにび測定データを
表示覆る表示手段とを具備している。
部に配設され、車両の制動状態に関係する物理用を測定
する測定手段ど、上記測定手段により得られた測定デー
タをあらかじめ定められた手順に従って入力し、かつ演
停処理づるデータ処理手段と、あらかじめ理論予測デー
タか記憶され、かつ付せで上記処理データ、および測定
データを記憶づるカセット式記憶手段ど、上記記憶され
た理論予測データ、処ｊ１ｐデータおにび測定データを
表示覆る表示手段とを具備している。
以下、図示の実施例により本発明を説明づる。
第１図は本発明の測定装置１の構成を示１しのＣ，装置
１は試験車両に搭載される。図中、マイクロコンビコー
タ１１には図略のデータバスにより［ニタインターフェ
ース回路１２、ＯＲ−１−インターフェース回路１３、
磁気テープインターノエース回路１４、パネルコン１〜
ロール回路１５、速度検出回路１Ｇ、アナログ入力回路
１７、ブレーキ作動検出回路１８の各回路および半導体
メモリ１９が接続しである。
１は試験車両に搭載される。図中、マイクロコンビコー
タ１１には図略のデータバスにより［ニタインターフェ
ース回路１２、ＯＲ−１−インターフェース回路１３、
磁気テープインターノエース回路１４、パネルコン１〜
ロール回路１５、速度検出回路１Ｇ、アナログ入力回路
１７、ブレーキ作動検出回路１８の各回路および半導体
メモリ１９が接続しである。
しニタインターフコース回路１２には第１を二り２０△
おＪζび第２モニタ２０Ｂが接続しである。
おＪζび第２モニタ２０Ｂが接続しである。
両’Ｅニタ’ ２ ＯＡ、２０ ｔ３ ハト”／ イハ
ーカ胃１１２１ｉｆｆｉしｍるダツシュボードに設置さ
れ、第１モニタ２ｏ△は制動操作に密接に関係するアナ
ログ信号を指釧式メータで表示する。また第２モニタ２
０Ｂは制動操作に補助的に関係づるアブ［」グ侶号、車
両の制動初速、タイ１７が［コックされた順序、Ｒ置の
異常ａ３よび後述する試験モードの表示を行なう。上記
装置異常にはメモリ容」Ａ−バー、入ノルベルＡ−バー
、測定線路のｌ１７ｉ線等がある。
ーカ胃１１２１ｉｆｆｉしｍるダツシュボードに設置さ
れ、第１モニタ２ｏ△は制動操作に密接に関係するアナ
ログ信号を指釧式メータで表示する。また第２モニタ２
０Ｂは制動操作に補助的に関係づるアブ［」グ侶号、車
両の制動初速、タイ１７が［コックされた順序、Ｒ置の
異常ａ３よび後述する試験モードの表示を行なう。上記
装置異常にはメモリ容」Ａ−バー、入ノルベルＡ−バー
、測定線路のｌ１７ｉ線等がある。
ＣＲＴインターフェース回路１３には市販のビデＡ人力
喘子（＝Ｊボータブルカラーデレビを利用し１ｃＣＲ下
デイスプレイ２１が接続Ｉ〕であり、測定された生デー
タあるいはフ゛−タ間の相関関係を承りクラ７等が表示
される。
喘子（＝Ｊボータブルカラーデレビを利用し１ｃＣＲ下
デイスプレイ２１が接続Ｉ〕であり、測定された生デー
タあるいはフ゛−タ間の相関関係を承りクラ７等が表示
される。
磁気テーゾインターフＪ−ス回路１／ｌにはノＪＬ／ッ
１−磁気ｊ−ブ装置２２が接続してあり、測定されたテ
゛−夕は装置２２内の磁気テープ２２１に記憶される。
１−磁気ｊ−ブ装置２２が接続してあり、測定されたテ
゛−夕は装置２２内の磁気テープ２２１に記憶される。
車速検出回路１６には車輪の各々に設置された発電型速
度センサ２４△、２４Ｂ、２／１−Ｃ１２／ＩＤが接続
し−である。上記検出回路１６はセンυ２４Ａ〜２４．
Ｄの出ノｊ信号を波型整形し、内蔵するカウンタでカ
ウントシてコンピュータ゛１１に出力でる。
度センサ２４△、２４Ｂ、２／１−Ｃ１２／ＩＤが接続
し−である。上記検出回路１６はセンυ２４Ａ〜２４．
Ｄの出ノｊ信号を波型整形し、内蔵するカウンタでカ
ウントシてコンピュータ゛１１に出力でる。
アナログ入力回路１７は１０′ｆ−ｐ＞ネルのアブ１」
グミ圧（０〜ｔ ２ Ｖ ）入力用ヂ１７ンネルと４ヂ
ヤンネルのＣＡ熱電対入力用チＶンネルを右している。
グミ圧（０〜ｔ ２ Ｖ ）入力用ヂ１７ンネルと４ヂ
ヤンネルのＣＡ熱電対入力用チＶンネルを右している。
各アナログ信号は２０Ｈ７のローパスフィルタ通過後８
ピツ１へのデジタルデータに変換されて＝１ンビ：Ｉ−
タ１１に送出される。図中アナログ信号２６ａは車両減
速度検出器２６からの出力信号である。
ピツ１へのデジタルデータに変換されて＝１ンビ：Ｉ−
タ１１に送出される。図中アナログ信号２６ａは車両減
速度検出器２６からの出力信号である。
ブレーキ作動検出回路１８にはブレーキに付設されたブ
レーキスイッヂ２５がらの信＠２５ａが入力しである。
レーキスイッヂ２５がらの信＠２５ａが入力しである。
信号２５ａは波形整形後コンピュータ１１に送出される
。
。
パネルコントロール回路１５には単室のフロントパネル
２３に設置された各種スイッチや表示灯が接続しである
。スイッチは第１表ないし第５表に示すように八〜Ｅの
５グループに区別される。
２３に設置された各種スイッチや表示灯が接続しである
。スイッチは第１表ないし第５表に示すように八〜Ｅの
５グループに区別される。
△クル−プにはプログラムモードと入力信号較正モード
を選択するモード切換スイッチ、上記アナグし１入力回
路１７に入力する１４種のアナログ信号を選択する選択
スイッチＡｊよび上記速度検出回路′１６に人力する速
度信号を選択プる選択スイッチが含まれる。アナログ信
号選択スイッチおよび速度信号選択スイッチは後述の如
く人力信号較正モードで有効になる。
を選択するモード切換スイッチ、上記アナグし１入力回
路１７に入力する１４種のアナログ信号を選択する選択
スイッチＡｊよび上記速度検出回路′１６に人力する速
度信号を選択プる選択スイッチが含まれる。アナログ信
号選択スイッチおよび速度信号選択スイッチは後述の如
く人力信号較正モードで有効になる。
ＢグループにはＥ、Ｆ−Ｐ、Ｂ、Ｆの４秤の試験モード
すなわちデータ入力手順に関するモードを選択するスイ
ッチ、磁気アープ装置２２の操作上−ドであるＭＴＵモ
ードを選択Ｊるスイッチ、データの区切りを示すＦＩＮ
マークを磁気アー１２２１に書き込むスイッチ−および
後述する予想データを磁気テープ２２１より半導体メー
しり′１９に転送するスイッチが含まれる、。
すなわちデータ入力手順に関するモードを選択するスイ
ッチ、磁気アープ装置２２の操作上−ドであるＭＴＵモ
ードを選択Ｊるスイッチ、データの区切りを示すＦＩＮ
マークを磁気アー１２２１に書き込むスイッチ−および
後述する予想データを磁気テープ２２１より半導体メー
しり′１９に転送するスイッチが含まれる、。
Ｃグループの各スイッチはＣＲＴディスプレイ２１の表
示［−ドを選択するもので、上記１４種のアナ［１グ信
号おＪ、び速庶信号の各信号間の相関関係を示すグラフ
の表示あるいは各イを号の生波形の表示のいづ゛れかを
選択づる。
示［−ドを選択するもので、上記１４種のアナ［１グ信
号おＪ、び速庶信号の各信号間の相関関係を示すグラフ
の表示あるいは各イを号の生波形の表示のいづ゛れかを
選択づる。
Ｄグループは測定装置１による測定の開始あるいは終了
を指示りるスター１〜スイツヂおよびストップスイッチ
である。
を指示りるスター１〜スイツヂおよびストップスイッチ
である。
［グループはパルス数と速麿を設定する３桁のデジタル
スイッチＣある。
スイッチＣある。
上記半導体メモリ１９はマイクロコンピュータ１１の制
御プログラムを記入したＲＯＭと、測定データのストア
や演紳中の一時記憶として使用°するＲＡＭとにり構成
されている。
御プログラムを記入したＲＯＭと、測定データのストア
や演紳中の一時記憶として使用°するＲＡＭとにり構成
されている。
上記構成を有づる測定装置１の作動を以下第２図ないし
第６図の制御プログラムモ−ドｖ −ｔ−に従って説明
する。まず、図示しない電源スイッチをＡンすると、メ
インルーチン１１０１が起動づる。最初、イニシャライ
ズＡ １１０２にて］ンピ〕−夕１１の初期設定、周辺
ＬＳＩの初期設定が行なわれ、次にイニシャライズＢ１
１０３にてフロントパネル２３上のランプ、第２モニタ
２０Ｂ、ＣＲＴインタノ１．イス回路１３、半導体メモ
リ１９内のＲＡＭ、カセット磁気テーブ装躍２２を初期
化する。この時フロントパネル２３上のランプ、第２モ
ニタ２０Ｂのランプはすべて消灯し数字表示器類はＯ（
ゼ［１）を示し、ＣＲｌ−ディスプレイ２１の画面」：
には何も表示されない。次にＳ ／ Ｗ状態人力１１０
４に−Ｃフロン１〜パネル２３上の各スイッチ（第１表
〜第５表参照）の状態をすベーＣ読み込む。第１表に示
したΔグループのスイッチの内容が最初に調べられ、ス
テップ１１Ｑ５にてプログラムモードがあるいは入ノｊ
（ｆｆｉ号較正し一ドが判定される。入）〕較正モード
の場合には較正ルーチン１１２５に入る。較正ルーチン
１１２５ではΔグループのスイッチにて選択された１４
種のアナログ信号又は４ ｌＩの速度信号のうちの一つ
がフロンミーパネル２３上の図示しないデジタルパネル
メータ上に表示される。アナ［１グ信号の場合、アナロ
グ入力回路１７に設置した図示しないぜ口調ポテンショ
メータ及びゲイン調ポテンショメータによってデジタル
パネルメータの数値を見ながら入力レベルを調整できる
。車速入力の場合はＥグループのスイッチ（第５表参照
）によって設定されｌこパルス数と車速より２０００Ｘ
車速く１伽／ｈ）／パルス数（ＲＰ Ｓ ）の計棹をし
た結果がデジタルパネルメークに表示される。この動作
を終了すると再びＳ／Ｗ状態入力１１０４にもどる。」
二記Ａグループのスイッチがプログラムピードになると
パネルメータ消灯１１０６が選択され、較正モードでは
何らかの数値を示し−Ｃいた上記デジタルパネルメータ
が消灯づる。でして紋いＴ Ｂグループのスイッチ（第
２表参照）の状態をチェックづる。、Ｂグループのスイ
ッチの内Ｅモー１−’ １１０７が選択されていればプ
ログラムはＥルーチン１１０８に入る。Ｅ（−ドか選択
されて、：１５らｆ Ｆ −ｒ”七−ド１１１０か選択
されていればＦ−Ｐルーチン１１１１に入る。以下同様
にしてＢルーチン１１１４．Ｆルーチン１１．１７、Ｍ
ＴＵルーヂン１１２０、Ｆ’ＩＮルーヂン１１２２、入
力ルーチン１１２４が選択される。上記の内Ｅルーチン
、Ｆ−Ｐルーチン、Ｂルーチン、Ｆルーチンはそれぞれ
データを４制する為のルーチンで、それぞれ独白の試験
手順が決め１うれている。プログラムはその独自のシー
ケンスにしたがって進行する。第６図にしたがってＥル
ーチンを説明する。
第６図の制御プログラムモ−ドｖ −ｔ−に従って説明
する。まず、図示しない電源スイッチをＡンすると、メ
インルーチン１１０１が起動づる。最初、イニシャライ
ズＡ １１０２にて］ンピ〕−夕１１の初期設定、周辺
ＬＳＩの初期設定が行なわれ、次にイニシャライズＢ１
１０３にてフロントパネル２３上のランプ、第２モニタ
２０Ｂ、ＣＲＴインタノ１．イス回路１３、半導体メモ
リ１９内のＲＡＭ、カセット磁気テーブ装躍２２を初期
化する。この時フロントパネル２３上のランプ、第２モ
ニタ２０Ｂのランプはすべて消灯し数字表示器類はＯ（
ゼ［１）を示し、ＣＲｌ−ディスプレイ２１の画面」：
には何も表示されない。次にＳ ／ Ｗ状態人力１１０
４に−Ｃフロン１〜パネル２３上の各スイッチ（第１表
〜第５表参照）の状態をすベーＣ読み込む。第１表に示
したΔグループのスイッチの内容が最初に調べられ、ス
テップ１１Ｑ５にてプログラムモードがあるいは入ノｊ
（ｆｆｉ号較正し一ドが判定される。入）〕較正モード
の場合には較正ルーチン１１２５に入る。較正ルーチン
１１２５ではΔグループのスイッチにて選択された１４
種のアナログ信号又は４ ｌＩの速度信号のうちの一つ
がフロンミーパネル２３上の図示しないデジタルパネル
メータ上に表示される。アナ［１グ信号の場合、アナロ
グ入力回路１７に設置した図示しないぜ口調ポテンショ
メータ及びゲイン調ポテンショメータによってデジタル
パネルメータの数値を見ながら入力レベルを調整できる
。車速入力の場合はＥグループのスイッチ（第５表参照
）によって設定されｌこパルス数と車速より２０００Ｘ
車速く１伽／ｈ）／パルス数（ＲＰ Ｓ ）の計棹をし
た結果がデジタルパネルメークに表示される。この動作
を終了すると再びＳ／Ｗ状態入力１１０４にもどる。」
二記Ａグループのスイッチがプログラムピードになると
パネルメータ消灯１１０６が選択され、較正モードでは
何らかの数値を示し−Ｃいた上記デジタルパネルメータ
が消灯づる。でして紋いＴ Ｂグループのスイッチ（第
２表参照）の状態をチェックづる。、Ｂグループのスイ
ッチの内Ｅモー１−’ １１０７が選択されていればプ
ログラムはＥルーチン１１０８に入る。Ｅ（−ドか選択
されて、：１５らｆ Ｆ −ｒ”七−ド１１１０か選択
されていればＦ−Ｐルーチン１１１１に入る。以下同様
にしてＢルーチン１１１４．Ｆルーチン１１．１７、Ｍ
ＴＵルーヂン１１２０、Ｆ’ＩＮルーヂン１１２２、入
力ルーチン１１２４が選択される。上記の内Ｅルーチン
、Ｆ−Ｐルーチン、Ｂルーチン、Ｆルーチンはそれぞれ
データを４制する為のルーチンで、それぞれ独白の試験
手順が決め１うれている。プログラムはその独自のシー
ケンスにしたがって進行する。第６図にしたがってＥル
ーチンを説明する。
［ルーチンに入るとまずフラグ類がリセツ１〜される（
ステップＥＯ１＞ｏＳＴＡ、ＲＴＦ （スタートフラグ
）はぞれそれ第３図、第４図に示づスタート割込みルー
チン１１３１及びス１ヘツブ割込みルーチン１１３３に
てｒｒＶｒにセラ１−される。５ＴＯＰＩ三（ストップ
［フラグ）はＥ）ルーチンにおりるｉ１測が終了したｕ
１冒′１″にレッｌ〜される。次に［ルーチンが起動し
°（いる事を示ｔ Ｆランプ（］［］１ントパネル２に
設りてｃ１５るが図示していない）及びｉｔ ａｌｌｌ
準備完了を示ηＲ（ＥΔＤＹランプ〈同じく図示してい
ない）が点灯Ｊる（スー戸ツブＥＯ２、［０３）。その
後スター［・割込み及びストップ割込みを；Ｈ′１１■
シ（ステップＥＯ４＞、Ｄグループ（第４表参照）のス
タート又はストツゾスイッチの入ツノ待ちとなる。
ステップＥＯ１＞ｏＳＴＡ、ＲＴＦ （スタートフラグ
）はぞれそれ第３図、第４図に示づスタート割込みルー
チン１１３１及びス１ヘツブ割込みルーチン１１３３に
てｒｒＶｒにセラ１−される。５ＴＯＰＩ三（ストップ
［フラグ）はＥ）ルーチンにおりるｉ１測が終了したｕ
１冒′１″にレッｌ〜される。次に［ルーチンが起動し
°（いる事を示ｔ Ｆランプ（］［］１ントパネル２に
設りてｃ１５るが図示していない）及びｉｔ ａｌｌｌ
準備完了を示ηＲ（ＥΔＤＹランプ〈同じく図示してい
ない）が点灯Ｊる（スー戸ツブＥＯ２、［０３）。その
後スター［・割込み及びストップ割込みを；Ｈ′１１■
シ（ステップＥＯ４＞、Ｄグループ（第４表参照）のス
タート又はストツゾスイッチの入ツノ待ちとなる。
この時同時にＣＲＴ表示り一ドの選択ス−７−ツブＥＯ
６及び測定線路の断線及び入力オーバーのチェックステ
ップＥＯ７を行ない、第３表に示したＣグループのスイ
ッチのチ’Ｊｉ−ンクも行なうゎスター１〜又はストッ
プのスイッチがオンされない間プ］コグラムはステップ
ＥＯ５〜Ｅ Ｏ８のループを回るのＣ１この間ならばＣ
ＲＴ表示モードの変更は何度でもできる。この時ＣＲＴ
ディスプレイ２１土にはＣグループのスイッチで選択さ
れた表示モードに従ってタイトル及びグラフの縦軸及び
横軸が表示される。スター１−及びスＩ−ツプスイッヂ
はスター１〜及びストップ割込みルーチンの割込み原因
となる。スタート及びストップ割込みルーチンを第３図
、第４図に示す。それぞれＳ Ｔ Ａ ＲＴ Ｆ（スタ
ー１−フラグ）、５ＴＯＦ）ＦＬ ＜ス（−ツブフラグ
）をＪＩＶＩにセラ１〜、リターンづる。さてステップ
ＦＯ５にてＳ ｌ−ＯＰ Ｆ ｔ、 ＝ １が判定され
ると［ランプｄ３Ｊ：び５Ｔ−ＯＰクランプ消灯しくス
テップＥ１９）ステップＥ２２にジャンプする。ステッ
プＦ０８にてＳＴΔＲ−ｒ Ｆ ＝ １が判定されると
、ステップＥＯ９でＲＥＡＤＹランプは計測中を示ＬＲ
’Ｕ Ｎランプ（フロントパネル２３に設（プであるが
図示１〕でいない）に変わる。次にステップＥ １０で
半導体メモリの記憶容量オーバーを示ｔ Ｍ ＩＥ Ｍ
ＯＯＶ Ｅ Ｒ−ｙ ン７ （７ロンｔ−パネル２３
おＪ：び第２王二タ２０Ｂに設りであるが図示しくいイ
１い）、Ｓ’Ｔ−０１〕ランプを消灯し、ステップ［１
１Ｃ′リンブリング割込みとストップ割込みを５′［可
りる。リンブリング割込みルーチン１１３５を第５図に
示す。リンブリング割込みはマイクロ：コンビコータ１
１にて発生するｏ、１ｓｅｃ毎のリンブリング信号が割
込み原因となる。リンブリング割込みルーチン１１３５
に入るどまずレジスタがセーブされ割込みがリセットさ
れる（スーｉッグ１１３６．１１３７）。次いでステッ
プ１１３８で半導体メモリ１９の記憶容、ＰＪを越え゛
（いないがブ１−ツタし、越えていればステップ１１３
９でＩ） Ａ１−「（）［二（ゲータ７ルフラグ）を７
１″どしスｊ・ツブ１１５９にジトンブづる。、記憶容
岱内であればスーアップ１１４０にてサンプルしＩこデ
ータを格納でべぎメモリのアドレスをｉｔ Ｉし、ステ
ップ１１／１１で△／Ｄ変］匁リベす？ナログデータを
選択する。次にステップ１１４２にて△／Ｄコンバータ
（アナＵグ入力１７に含まれるが図示していない。）に
変換スタート命令を出し直ちに変換終了信号のチェック
に入る（ステップ１１４２）。ステップ１１４３にて△
／Ｄコンバータの変換終了信号が検出されたらステップ
１１４４にて変換後のデータを入ツノしステップ１１４
５にて先に作成したデータ格納番地にデータを格納リ−
る。でして次のｆ−夕に備えてスーアップ１１４６にて
次のデータを格納するメ七りのアドレスを計ｎ′？Ｉる
。ステップ１１４７では全でのΔ／Ｄ変換ずべきデータ
が終了したかチェックし、終了ならばステップ１１４８
に、終了していな（）ればステップ１１４１にジャンプ
する。アナｆ」グ信号の収録が終了したら次は車速信号
を収録する。ステップ１１４８に’Ｕ（ノンプルずへき
車速信号をまず選択し、ステップ１１ ／’ｌ ９．１
１５０にて入ツノし、メ七り１９へ格納づる。そしてス
テップ１１５１では収録（〕たデータよりタイＡ７がロ
ックしＣいるか否かを判定しＣ、ロックしていればステ
ップ１１５２にて第２モニタ２０Ｂへロック状態を出力
表示する。
６及び測定線路の断線及び入力オーバーのチェックステ
ップＥＯ７を行ない、第３表に示したＣグループのスイ
ッチのチ’Ｊｉ−ンクも行なうゎスター１〜又はストッ
プのスイッチがオンされない間プ］コグラムはステップ
ＥＯ５〜Ｅ Ｏ８のループを回るのＣ１この間ならばＣ
ＲＴ表示モードの変更は何度でもできる。この時ＣＲＴ
ディスプレイ２１土にはＣグループのスイッチで選択さ
れた表示モードに従ってタイトル及びグラフの縦軸及び
横軸が表示される。スター１−及びスＩ−ツプスイッヂ
はスター１〜及びストップ割込みルーチンの割込み原因
となる。スタート及びストップ割込みルーチンを第３図
、第４図に示す。それぞれＳ Ｔ Ａ ＲＴ Ｆ（スタ
ー１−フラグ）、５ＴＯＦ）ＦＬ ＜ス（−ツブフラグ
）をＪＩＶＩにセラ１〜、リターンづる。さてステップ
ＦＯ５にてＳ ｌ−ＯＰ Ｆ ｔ、 ＝ １が判定され
ると［ランプｄ３Ｊ：び５Ｔ−ＯＰクランプ消灯しくス
テップＥ１９）ステップＥ２２にジャンプする。ステッ
プＦ０８にてＳＴΔＲ−ｒ Ｆ ＝ １が判定されると
、ステップＥＯ９でＲＥＡＤＹランプは計測中を示ＬＲ
’Ｕ Ｎランプ（フロントパネル２３に設（プであるが
図示１〕でいない）に変わる。次にステップＥ １０で
半導体メモリの記憶容量オーバーを示ｔ Ｍ ＩＥ Ｍ
ＯＯＶ Ｅ Ｒ−ｙ ン７ （７ロンｔ−パネル２３
おＪ：び第２王二タ２０Ｂに設りであるが図示しくいイ
１い）、Ｓ’Ｔ−０１〕ランプを消灯し、ステップ［１
１Ｃ′リンブリング割込みとストップ割込みを５′［可
りる。リンブリング割込みルーチン１１３５を第５図に
示す。リンブリング割込みはマイクロ：コンビコータ１
１にて発生するｏ、１ｓｅｃ毎のリンブリング信号が割
込み原因となる。リンブリング割込みルーチン１１３５
に入るどまずレジスタがセーブされ割込みがリセットさ
れる（スーｉッグ１１３６．１１３７）。次いでステッ
プ１１３８で半導体メモリ１９の記憶容、ＰＪを越え゛
（いないがブ１−ツタし、越えていればステップ１１３
９でＩ） Ａ１−「（）［二（ゲータ７ルフラグ）を７
１″どしスｊ・ツブ１１５９にジトンブづる。、記憶容
岱内であればスーアップ１１４０にてサンプルしＩこデ
ータを格納でべぎメモリのアドレスをｉｔ Ｉし、ステ
ップ１１／１１で△／Ｄ変］匁リベす？ナログデータを
選択する。次にステップ１１４２にて△／Ｄコンバータ
（アナＵグ入力１７に含まれるが図示していない。）に
変換スタート命令を出し直ちに変換終了信号のチェック
に入る（ステップ１１４２）。ステップ１１４３にて△
／Ｄコンバータの変換終了信号が検出されたらステップ
１１４４にて変換後のデータを入ツノしステップ１１４
５にて先に作成したデータ格納番地にデータを格納リ−
る。でして次のｆ−夕に備えてスーアップ１１４６にて
次のデータを格納するメ七りのアドレスを計ｎ′？Ｉる
。ステップ１１４７では全でのΔ／Ｄ変換ずべきデータ
が終了したかチェックし、終了ならばステップ１１４８
に、終了していな（）ればステップ１１４１にジャンプ
する。アナｆ」グ信号の収録が終了したら次は車速信号
を収録する。ステップ１１４８に’Ｕ（ノンプルずへき
車速信号をまず選択し、ステップ１１ ／’ｌ ９．１
１５０にて入ツノし、メ七り１９へ格納づる。そしてス
テップ１１５１では収録（〕たデータよりタイＡ７がロ
ックしＣいるか否かを判定しＣ、ロックしていればステ
ップ１１５２にて第２モニタ２０Ｂへロック状態を出力
表示する。
１」ツタしていなければステップ１１５３ヘジＶンブづ
る。ステップ１１５３では次のデータに備えて格納番地
を剖粋し、ステップ１１５／Ｉで全ＣのＪｆｆ目か終了
していればステップ”′ｌ １５５へ、ｔ４７しＣいな
（Ｊればステップ１１４８’＼ジトンブする。
る。ステップ１１５３では次のデータに備えて格納番地
を剖粋し、ステップ１１５／Ｉで全ＣのＪｆｆ目か終了
していればステップ”′ｌ １５５へ、ｔ４７しＣいな
（Ｊればステップ１１４８’＼ジトンブする。
ステップ１１５５では４輪平均中速を訓篩し７、スーツ
ツブ１１５６でブレーキＯＦＦならば申ＫＭ ＩｉＱを
第２七−タ２０’Ｂに出）Ｊする。ＯＮならばステップ
１１５８ヘジＶンブＪる。スーｔツブ１１５８ではデー
タカウンタ（半導体メモリ１９のＲＡＭ領域内に存在覆
る）を１だけインクリメン）−Ｌ、１／ジスタ復帰後（
ステップ１１５９）リターンする。
ツブ１１５６でブレーキＯＦＦならば申ＫＭ ＩｉＱを
第２七−タ２０’Ｂに出）Ｊする。ＯＮならばステップ
１１５８ヘジＶンブＪる。スーｔツブ１１５８ではデー
タカウンタ（半導体メモリ１９のＲＡＭ領域内に存在覆
る）を１だけインクリメン）−Ｌ、１／ジスタ復帰後（
ステップ１１５９）リターンする。
上記フゞ−タカウンタは次のザンブリングＶ］込み時の
データ格納番地を１綽づる為のものである。
データ格納番地を１綽づる為のものである。
第６図のステップ［１１にてリンーｆリング及び）（・
ツブ割込みがγｆ可されてから、ステップＥ２０にて割
込みがマスクされるまでの間前期の→）゛ンブリング割
込みが０．１ｓｅｃｆｍに入つくデータのリンプリング
をりる。また、１ｌｌｌ＋定線路の断線及び人力Ａ−バ
ーのチェックがステップＥ １４ にてされる。スーｊ
ツブ１三１２に−（＋）ＡＩ−ＦＬＪＦを調べ、ｎＶｒ
ならばメしり容量満杯であるから、ステップＥ１６にて
Ｍ Ｆ Ｍｏ ６ Ｖ ［Ｅ ｌでランプを点灯し、ス
ラーツブＥ１７にて５ＴＯＰランプを点灯してステップ
Ｆ２０ヘジＩＩンブする。Ｄ Ａ Ｔ Ｆ Ｕ ＦがＯ
ｕならばステップ「１３でヌトップ割込みの有無を調べ
、入っていればステップＥ１ＢにＵＳＴＯＰランプを点
灯してスーアップＥ２１ヘジ（７ンプする。ストップ割
込みが入っていなけ１＋ば断線、入〕〕Ａ−バーヂ］−
ツタ後ステップＥ１５にて［モード固有の開側終了条件
が成立しているかどうかをチェックし、成立していなけ
れば再びステップ「１２へ戻る。この条イ！ｌの要因と
してはブレーギ信号、減速度、車速などがある。成立し
ている場合には一連の目測を終了する為ステップＥ２０
にて割込みをマスクする。この時点よりザンブリング割
込みは入らなくなるので、データの１ノンシリングは行
なわれなくなる。次にステップＥ２１でＳ １’ ＯＰ
フラグをｎ −１＃どする。このフラグ【よ１−を−ド
に（データ４ノンブリングが綻イした事を示１ＪＬ次に
スーｊツｌ［２２にて、［ｔ−ドに−（何［ａｊ目の制
動操作が行なわれたかを示り−ＴＲＩ△１−力ウンタく
半導体メ〔す１９の［ぐΔＭ領領域存右する）を１だ（
づインクリメントシ、リターンづる。。
ツブ割込みがγｆ可されてから、ステップＥ２０にて割
込みがマスクされるまでの間前期の→）゛ンブリング割
込みが０．１ｓｅｃｆｍに入つくデータのリンプリング
をりる。また、１ｌｌｌ＋定線路の断線及び人力Ａ−バ
ーのチェックがステップＥ １４ にてされる。スーｊ
ツブ１三１２に−（＋）ＡＩ−ＦＬＪＦを調べ、ｎＶｒ
ならばメしり容量満杯であるから、ステップＥ１６にて
Ｍ Ｆ Ｍｏ ６ Ｖ ［Ｅ ｌでランプを点灯し、ス
ラーツブＥ１７にて５ＴＯＰランプを点灯してステップ
Ｆ２０ヘジＩＩンブする。Ｄ Ａ Ｔ Ｆ Ｕ ＦがＯ
ｕならばステップ「１３でヌトップ割込みの有無を調べ
、入っていればステップＥ１ＢにＵＳＴＯＰランプを点
灯してスーアップＥ２１ヘジ（７ンプする。ストップ割
込みが入っていなけ１＋ば断線、入〕〕Ａ−バーヂ］−
ツタ後ステップＥ１５にて［モード固有の開側終了条件
が成立しているかどうかをチェックし、成立していなけ
れば再びステップ「１２へ戻る。この条イ！ｌの要因と
してはブレーギ信号、減速度、車速などがある。成立し
ている場合には一連の目測を終了する為ステップＥ２０
にて割込みをマスクする。この時点よりザンブリング割
込みは入らなくなるので、データの１ノンシリングは行
なわれなくなる。次にステップＥ２１でＳ １’ ＯＰ
フラグをｎ −１＃どする。このフラグ【よ１−を−ド
に（データ４ノンブリングが綻イした事を示１ＪＬ次に
スーｊツｌ［２２にて、［ｔ−ドに−（何［ａｊ目の制
動操作が行なわれたかを示り−ＴＲＩ△１−力ウンタく
半導体メ〔す１９の［ぐΔＭ領領域存右する）を１だ（
づインクリメントシ、リターンづる。。
以Ｊ−Ｅルーチンとリンプリング割込みルーチンのｖ）
作について説明しＩＣ，、Ｆ−Ｐルーチン、Ｂルーチン
、「ルーチンはそれぞれＦルーチンどは異なった独自の
処理シーケンスを持ってｄ３す、す゛ンブリング＾′１
］込みによりデータがリン１リングさ札る条イ′［は少
しずつ屓なる。◇Ｅシル−ンよりリターンしてくると次
にステップ１１０９にてｓ −ｒ ｏ ｐ１三フラグを
調べる。ここでＳ Ｔ Ｏｌ） Ｅかｕ Ｏｒｒの用台
はデータリンプリングをする前にストラプス−（ツヂを
押しｌζ場合であり、１丁モードを解除づる意思がある
と判定してイニシＩＪライズＢ １１０３へジャンプ覆
る。Ｓ Ｔ ＯＰ ｂが７１″の場合一応すンアリング
はなされているが、次にスーｉツブ１１２６にてＳ Ｔ
ＯＩ〕Ｆ Ｌが１“の■在は、（ノン・プリング途中
にストツゾスイップを押した場合であり、この時は不要
データとみなしＣＲ１−ディスプレイ２１への表示、磁
気チー１２２１への記録を行な４つずステップ１１３０
’＼ジトンプづる。ＳＴＯＰ Ｆ Ｌがｎｏｎの時は正
常な目測が行なわれた場合であり次にステップ１１２７
の演算ルーチンへ入る。？Ｉｉ算ルーチン１１２７では
リンプリングしｌＣｆ−夕のスフ−リングが行なわれる
。次にステップ１１２８のＣＲｌ−表示ルーチンに−Ｃ
１計測データのＣＲＴ上への表示が行なわれる。この時
表示されるデータは、前述のＣＲ１表示を一ドの選択ス
テップＥＯ６＜第６図参照）にて選択されたデータであ
り、Ｆ−Ｐ、８１Ｆの各モードもそれぞれの訓測ルーヂ
ンの中にこのプログラムを持っている。次にステップ１
１２９のＭＴＵ出力ルーヂンで上記リンプリングしたデ
ータをカセツ１ヘテーブインタフェイス回路′１４を介
してカレッ１〜テープ装買２２へ転送し、カセットテー
プ装置２２内のカセッ１〜磁気デープ２２１に記録する
。記録１ノ式（よデジタル記録方式である。最後に３１
測中を示ずＲＬＪ Ｎランプを、準備ＯＫを示すＲＥ△
ＤＹランプに変え（ステップ１１３０） 、スラーツブ
１１０’ｌのスイッチ状態入力へ戻る。
作について説明しＩＣ，、Ｆ−Ｐルーチン、Ｂルーチン
、「ルーチンはそれぞれＦルーチンどは異なった独自の
処理シーケンスを持ってｄ３す、す゛ンブリング＾′１
］込みによりデータがリン１リングさ札る条イ′［は少
しずつ屓なる。◇Ｅシル−ンよりリターンしてくると次
にステップ１１０９にてｓ −ｒ ｏ ｐ１三フラグを
調べる。ここでＳ Ｔ Ｏｌ） Ｅかｕ Ｏｒｒの用台
はデータリンプリングをする前にストラプス−（ツヂを
押しｌζ場合であり、１丁モードを解除づる意思がある
と判定してイニシＩＪライズＢ １１０３へジャンプ覆
る。Ｓ Ｔ ＯＰ ｂが７１″の場合一応すンアリング
はなされているが、次にスーｉツブ１１２６にてＳ Ｔ
ＯＩ〕Ｆ Ｌが１“の■在は、（ノン・プリング途中
にストツゾスイップを押した場合であり、この時は不要
データとみなしＣＲ１−ディスプレイ２１への表示、磁
気チー１２２１への記録を行な４つずステップ１１３０
’＼ジトンプづる。ＳＴＯＰ Ｆ Ｌがｎｏｎの時は正
常な目測が行なわれた場合であり次にステップ１１２７
の演算ルーチンへ入る。？Ｉｉ算ルーチン１１２７では
リンプリングしｌＣｆ−夕のスフ−リングが行なわれる
。次にステップ１１２８のＣＲｌ−表示ルーチンに−Ｃ
１計測データのＣＲＴ上への表示が行なわれる。この時
表示されるデータは、前述のＣＲ１表示を一ドの選択ス
テップＥＯ６＜第６図参照）にて選択されたデータであ
り、Ｆ−Ｐ、８１Ｆの各モードもそれぞれの訓測ルーヂ
ンの中にこのプログラムを持っている。次にステップ１
１２９のＭＴＵ出力ルーヂンで上記リンプリングしたデ
ータをカセツ１ヘテーブインタフェイス回路′１４を介
してカレッ１〜テープ装買２２へ転送し、カセットテー
プ装置２２内のカセッ１〜磁気デープ２２１に記録する
。記録１ノ式（よデジタル記録方式である。最後に３１
測中を示ずＲＬＪ Ｎランプを、準備ＯＫを示すＲＥ△
ＤＹランプに変え（ステップ１１３０） 、スラーツブ
１１０’ｌのスイッチ状態入力へ戻る。
次にＭ Ｔ Ｕルーチン１１２０を説明する。Ｅ、１：
Ｆ〕、１３、「の泪ｍｌｌ ／ルーチンにおいてはカセ
ット磁気デープ装＠２２は自動的に作動（る。しかしテ
ープの記録消去とか、デーブ十に７−タを入れる（幾能
が手動で可能′Ｃ−ｄうれば使用上便利℃ある。
Ｆ〕、１３、「の泪ｍｌｌ ／ルーチンにおいてはカセ
ット磁気デープ装＠２２は自動的に作動（る。しかしテ
ープの記録消去とか、デーブ十に７−タを入れる（幾能
が手動で可能′Ｃ−ｄうれば使用上便利℃ある。
Ｍ Ｔ ＩＪルーヂン１１２０はこれを可能とりるもの
で、動作は第２表に示した（３グループのスイッチの内
Ｍ １’ Ｕモードとして示したＩ Ｎ Ｉ −１’
、 ＲＩ：Ｗ、ＭＡＲＫ、５ＲＣＨ，ＣＡＮの各スイッ
チに応じて行なわれる。］ Ｎ Ｉ ｌ−（Ｉ Ｉ Ｎ
Ｉ ｒ ｌ△１−）スイッチを押づとテープが初期ポ
ジションにセラ１〜される。Ｍ Ａ ＲＫスイッチを押
でと７−ｊ′−１−にテープマークが記入される。これ
は試験の区切りなどに目印として挿入力ると便利（ある
。Ｓ ＲＣｌ−１（Ｓ［三△ＲＣｌ−１）スイッチ−を
１甲づとアープマーク合捜しアーーブマークを検出した
位置（”７−１を止める。ＣＡＮ（０△Ｎ ＣＬ： Ｌ
）スイッチを押−４と、テープに記録された内容がク
リアされる。
で、動作は第２表に示した（３グループのスイッチの内
Ｍ １’ Ｕモードとして示したＩ Ｎ Ｉ −１’
、 ＲＩ：Ｗ、ＭＡＲＫ、５ＲＣＨ，ＣＡＮの各スイッ
チに応じて行なわれる。］ Ｎ Ｉ ｌ−（Ｉ Ｉ Ｎ
Ｉ ｒ ｌ△１−）スイッチを押づとテープが初期ポ
ジションにセラ１〜される。Ｍ Ａ ＲＫスイッチを押
でと７−ｊ′−１−にテープマークが記入される。これ
は試験の区切りなどに目印として挿入力ると便利（ある
。Ｓ ＲＣｌ−１（Ｓ［三△ＲＣｌ−１）スイッチ−を
１甲づとアープマーク合捜しアーーブマークを検出した
位置（”７−１を止める。ＣＡＮ（０△Ｎ ＣＬ： Ｌ
）スイッチを押−４と、テープに記録された内容がク
リアされる。
次にＦＩＮルーチン１１２２を説明づると、１３グルー
プのＩＩＮスイッヂを押すと、テープ」二にＦ Ｅ Ｎ
ｖ−りを記入する。前述のテープマークはノｊｔ？ツ
１〜時期テープ装置２２自身が管理しＣいるもので゛、
テープを読み出し時テープマークは自動的に削除されて
データの力が読み出される。これに対してＦＩＮマーク
はＦＩＮ″という文字がデータとし゛Ｃデテーに書き込
まれるため、再生する事が可能ぐある。一連の試験の区
切りに目印どして挿入覆る。
プのＩＩＮスイッヂを押すと、テープ」二にＦ Ｅ Ｎ
ｖ−りを記入する。前述のテープマークはノｊｔ？ツ
１〜時期テープ装置２２自身が管理しＣいるもので゛、
テープを読み出し時テープマークは自動的に削除されて
データの力が読み出される。これに対してＦＩＮマーク
はＦＩＮ″という文字がデータとし゛Ｃデテーに書き込
まれるため、再生する事が可能ぐある。一連の試験の区
切りに目印どして挿入覆る。
入力ルーチン１１２４は理論予測データを入力する為の
ものである。予測データは図示しない別置の大型コンピ
ュータＪ：リカレッ１〜磁気テープ２２ ′ｌにあらか
じめ記録されている。Ｃグループの入力エードスイッヂ
を押Ｊと、半導体メモリ１９に上記予測データが転送さ
れる。転送された予測データはＣＲＴ表示−し−ドの選
択ステップＥＯ６（第６図参照）にてＣグループのスイ
ッチ（第３表参照）のうち相関Ａ又はＢを選択したとき
、ＣＲＴディスプレイ２１のグラフ士に測定データとと
もに表示される。
ものである。予測データは図示しない別置の大型コンピ
ュータＪ：リカレッ１〜磁気テープ２２ ′ｌにあらか
じめ記録されている。Ｃグループの入力エードスイッヂ
を押Ｊと、半導体メモリ１９に上記予測データが転送さ
れる。転送された予測データはＣＲＴ表示−し−ドの選
択ステップＥＯ６（第６図参照）にてＣグループのスイ
ッチ（第３表参照）のうち相関Ａ又はＢを選択したとき
、ＣＲＴディスプレイ２１のグラフ士に測定データとと
もに表示される。
’Ｊ Ｊ、）、前）！Ｉ！の「、ＩニーＰ、［３、［の
各泪測モードで測定されてカセッ１〜磁気デーブ２２１
に記憶きれた測定ｊ゛−夕は別置のインターノェースを
介して上記大型コンビコータに入力され、さらに詳細な
解析処１１ｐが行なわれる。
各泪測モードで測定されてカセッ１〜磁気デーブ２２１
に記憶きれた測定ｊ゛−夕は別置のインターノェースを
介して上記大型コンビコータに入力され、さらに詳細な
解析処１１ｐが行なわれる。
このにうに本発明の制動測定装（αは車両の各部に設置
された検出器より得られた測定データを演算処理覆るデ
ータ処理手段たるマイクロ：］ンビ」−夕と、上記測定
データ、処理データｄ３よひ理論予測データを記１（ｉ
するカセッ１〜磁気デーブ装置と、測定データ、処理）
２−夕ｄＪ Ｊ：び予測ｊ’−夕を表示するＣ ＲＴデ
ィスプレイとを貝悼１りることにより、大中試験時の膨
大な測定データをＷ４Ｉ１．′ｌに処理表示づることを
可能ど４１シｌこものて、本装ｒによれば短時間に生起
りる現象もｌｌＴ「実に捕促され、また測定データのグ
ラフ化の手間も不要である十に、測定データと予測デー
タを対照ゴることにＪ：り測定データの妥当性も即座に
判定（ることかできる。
された検出器より得られた測定データを演算処理覆るデ
ータ処理手段たるマイクロ：］ンビ」−夕と、上記測定
データ、処理データｄ３よひ理論予測データを記１（ｉ
するカセッ１〜磁気デーブ装置と、測定データ、処理）
２−夕ｄＪ Ｊ：び予測ｊ’−夕を表示するＣ ＲＴデ
ィスプレイとを貝悼１りることにより、大中試験時の膨
大な測定データをＷ４Ｉ１．′ｌに処理表示づることを
可能ど４１シｌこものて、本装ｒによれば短時間に生起
りる現象もｌｌＴ「実に捕促され、また測定データのグ
ラフ化の手間も不要である十に、測定データと予測デー
タを対照ゴることにＪ：り測定データの妥当性も即座に
判定（ることかできる。
これにより、車両の制動測定にＪ３【プる試験り間の大
幅イ１知縮Ａ＞よび試験結宋の正確な把握を可能とづる
とともにドライバーの負担も大幅に軽減りるｂのひある
。
幅イ１知縮Ａ＞よび試験結宋の正確な把握を可能とづる
とともにドライバーの負担も大幅に軽減りるｂのひある
。
Ｅむ圃
（第２表）
（第３表）
（第１表）
〈第５表）
第１図は測定装置の仝体椙成図、第２図ないし第６図は
コンビ二ノ、−夕の制御ブ［１グラムフローヂ１−−１
〜である。 １・・・・・・測定装置 １１・・・・・・データ処理手段（マイクロコンビコル
夕） ２１・・・・・・表示手段（ＣＲＴディスプレイ）２２
・・・・・・カセッＩ−磁気テープ装置２４Δ、２・Ｉ
Ｂ、２＝ＩＣ１２４１）・・・・・・速麻センリ 第３図 第４図
コンビ二ノ、−夕の制御ブ［１グラムフローヂ１−−１
〜である。 １・・・・・・測定装置 １１・・・・・・データ処理手段（マイクロコンビコル
夕） ２１・・・・・・表示手段（ＣＲＴディスプレイ）２２
・・・・・・カセッＩ−磁気テープ装置２４Δ、２・Ｉ
Ｂ、２＝ＩＣ１２４１）・・・・・・速麻センリ 第３図 第４図
Claims (1)
- 車両の各部に配設され、車両の制動状態に関係づる物理
量を測定する測定手段と、上記測定手段ににり得られた
測定データをあらかじめ定めら４１だ手順にしたがって
入力し、かつ演粋処理するデータ処理手段と、あらかじ
め理論予測γ−夕が記憶され、かつ１）１せで上記処理
データおよび測定データを記憶するカセツ１〜式記憶手
段と、上記記憶された理論予測データ、処理データＪ５
よひ測定データを表示する表示手段とを具備する車両の
制動ｔ’ｌ能測定刻Ｌ
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58134666A JPS6025435A (ja) | 1983-07-22 | 1983-07-22 | 車両の制動性能測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58134666A JPS6025435A (ja) | 1983-07-22 | 1983-07-22 | 車両の制動性能測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6025435A true JPS6025435A (ja) | 1985-02-08 |
Family
ID=15133715
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58134666A Pending JPS6025435A (ja) | 1983-07-22 | 1983-07-22 | 車両の制動性能測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6025435A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1042511C (zh) * | 1992-12-08 | 1999-03-17 | 易通公司 | 用于估算车辆制动系统效率的方法和装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52106502A (en) * | 1976-02-27 | 1977-09-07 | Applied Power Ind Inc | Vehicle brake testing device |
-
1983
- 1983-07-22 JP JP58134666A patent/JPS6025435A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52106502A (en) * | 1976-02-27 | 1977-09-07 | Applied Power Ind Inc | Vehicle brake testing device |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1042511C (zh) * | 1992-12-08 | 1999-03-17 | 易通公司 | 用于估算车辆制动系统效率的方法和装置 |
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