JPS6025977U - 耐電圧試験装置 - Google Patents

耐電圧試験装置

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JPS6025977U
JPS6025977U JP11793983U JP11793983U JPS6025977U JP S6025977 U JPS6025977 U JP S6025977U JP 11793983 U JP11793983 U JP 11793983U JP 11793983 U JP11793983 U JP 11793983U JP S6025977 U JPS6025977 U JP S6025977U
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Japan
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voltage
test equipment
voltage test
withstanding voltage
probe
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修 堀田
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菊水電子工業株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来の耐電圧試験装置による耐圧試験を説明す
るブロック図、第２図は本考案の一実施例を示す要部の
ブロック図、第３図は上記実施例の比較器を示すブロッ
ク−図である。 ＴＥ・・・試験装置、Ｔｓ・・・高圧トランス、ｐｂ・
・・プローブ、Ｔｅ・・・被試験体、Ｒ１，Ｒ２・・・
抵抗、Ｒｆ・・・全波整流器、ＡＤＣ・・・Ａ／Ｄ変換
器、ＣＭＰ・・・コンノマレータ

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 高圧トランスの２次巻線の一端を電流検出抵抗を介して
    接地電位に接続するとともに他端を一対の接触子を有す
    るプローブの一方の接触子に接続した試験装置と、この
    高圧トランスの２次巻線の端子間に介挿されこの端子間
    電圧を分圧した分圧電圧を上記プローブの他方の接触子
    へ与える直列に接続した２個の抵抗と、この２個の抵抗
    による分圧電圧を予め設定した一定電圧と比較し上記一
    対の接触子間の開閉による上記分圧電圧の変化を比較結
    果として出力する比較器とを具備する耐電圧試験装置。
JP11793983U 1983-07-28 1983-07-28 耐電圧試験装置 Granted JPS6025977U (ja)

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JP11793983U JPS6025977U (ja) 1983-07-28 1983-07-28 耐電圧試験装置

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JPS6025977U true JPS6025977U (ja) 1985-02-21
JPH0245825Y2 JPH0245825Y2 (ja) 1990-12-04

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01180782U (ja) * 1988-06-03 1989-12-26

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JPH01180782U (ja) * 1988-06-03 1989-12-26

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JPH0245825Y2 (ja) 1990-12-04

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