JPS60261213A - パルス発生回路 - Google Patents
パルス発生回路Info
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- JPS60261213A JPS60261213A JP11867484A JP11867484A JPS60261213A JP S60261213 A JPS60261213 A JP S60261213A JP 11867484 A JP11867484 A JP 11867484A JP 11867484 A JP11867484 A JP 11867484A JP S60261213 A JPS60261213 A JP S60261213A
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- 238000003708 edge detection Methods 0.000 claims description 45
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
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- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はパルス発生回路に係り、特にVTR編集用パイ
フェーズ変調方式のタイムコードの復調に必要なウィン
ドパルスを発生する回路に関する。
フェーズ変調方式のタイムコードの復調に必要なウィン
ドパルスを発生する回路に関する。
従来の技術
従来よりVTRにおいて電子編集を行なう場合には、高
速再生による画像検索や低速再生によるシーンの確認な
どの種々の変速再生をするが、磁気テープの絶対番地と
してタイムコードが記録されている場合は、自動編集の
編集精度や信頼性を向上し得る。このVTR編集用タイ
ムコードとしては、米国の映画テレビ技術者協会(SM
PTE)によって規格化された、磁気テープ上のオーデ
ィオキュートラック、オーディオトラックに記録され再
生されるバイラニーズマーク変調方式のタイムコードが
用いられる。ここで、バイフェーズマーク変調方式は、
ビット情報(データ)が′1″のときはビット周期Tの
半分の所で極性が反転すると共に、°“0″、“1″の
いずれの場合も各ビット周期の始めで必ず1回反転させ
る変調方式で、磁化の最小反転間隔はT/2で、最大反
転間隔は王である変調方式であることは周知の通りであ
る。
速再生による画像検索や低速再生によるシーンの確認な
どの種々の変速再生をするが、磁気テープの絶対番地と
してタイムコードが記録されている場合は、自動編集の
編集精度や信頼性を向上し得る。このVTR編集用タイ
ムコードとしては、米国の映画テレビ技術者協会(SM
PTE)によって規格化された、磁気テープ上のオーデ
ィオキュートラック、オーディオトラックに記録され再
生されるバイラニーズマーク変調方式のタイムコードが
用いられる。ここで、バイフェーズマーク変調方式は、
ビット情報(データ)が′1″のときはビット周期Tの
半分の所で極性が反転すると共に、°“0″、“1″の
いずれの場合も各ビット周期の始めで必ず1回反転させ
る変調方式で、磁化の最小反転間隔はT/2で、最大反
転間隔は王である変調方式であることは周知の通りであ
る。
従って、上記のタイムコードは少なくとも各ビットの初
めでトランジション(レベル変化)を起こし、そのトラ
ンジションを検出して得たパルス(トランジションパル
ス又はエツジ検出パルス)から、ウィンドパルスを用い
てクロック成分を抽出し、更にそのクロックの中間での
トランジションの有無を検出することにより、ビット情
報の復調ができる。
めでトランジション(レベル変化)を起こし、そのトラ
ンジションを検出して得たパルス(トランジションパル
ス又はエツジ検出パルス)から、ウィンドパルスを用い
てクロック成分を抽出し、更にそのクロックの中間での
トランジションの有無を検出することにより、ビット情
報の復調ができる。
従来、上記のタイムコードを復調するためには、アナロ
グ信号として処理する方式とディジタル信号として処理
する方式の2つの方式が考□えられてきた。前者はシリ
アルに伝送されるタイムコードからウィンドパルスを検
出して鋸歯状波を生成し、この波形の中のトランジショ
ンの有無を判定してビットII Q II 、1111
+を復調する方式である。これに対して、後者は十分高
い周波数でタイムコードをサンプリングし、この処理に
よってウィンドパルスを生成して、ウィンドパルスの中
のトランジションの有無を検出してビットのIQIZ1
′1″を復調する方式である。この2つの方式の中では
、現在、高精度の得られる後者のディジタル信号処理を
利用した方式が使用されることが多い。
グ信号として処理する方式とディジタル信号として処理
する方式の2つの方式が考□えられてきた。前者はシリ
アルに伝送されるタイムコードからウィンドパルスを検
出して鋸歯状波を生成し、この波形の中のトランジショ
ンの有無を判定してビットII Q II 、1111
+を復調する方式である。これに対して、後者は十分高
い周波数でタイムコードをサンプリングし、この処理に
よってウィンドパルスを生成して、ウィンドパルスの中
のトランジションの有無を検出してビットのIQIZ1
′1″を復調する方式である。この2つの方式の中では
、現在、高精度の得られる後者のディジタル信号処理を
利用した方式が使用されることが多い。
第7図は上記のディジタル信号処理を利用した、本出願
人が先に特願昭58−106485号にて提案したパル
ス発生回路の一例の回路系統図を示す。同図中、入力端
子1に入来したタイムコードはエツジ検出回路2に供給
され、ここでその立上りと立下りの両エツジが検出され
た後、ゲート回路3及び条件設定回路4に夫々供給され
る。ゲート回路3は条件設定回路4の出力信号をゲート
パルスとして供給され、初期状態(例えばVTRの磁気
テープが所定の走行速度に達する前の状態)では、エツ
ジ検出回路2の出力エツジ検出パルスを無条件で選択出
力させ、定常状態においてはドロップアウト発生期間を
除き、出力ウィンドパルスに基づいてエツジ検出パルス
をゲート出力する。
人が先に特願昭58−106485号にて提案したパル
ス発生回路の一例の回路系統図を示す。同図中、入力端
子1に入来したタイムコードはエツジ検出回路2に供給
され、ここでその立上りと立下りの両エツジが検出され
た後、ゲート回路3及び条件設定回路4に夫々供給され
る。ゲート回路3は条件設定回路4の出力信号をゲート
パルスとして供給され、初期状態(例えばVTRの磁気
テープが所定の走行速度に達する前の状態)では、エツ
ジ検出回路2の出力エツジ検出パルスを無条件で選択出
力させ、定常状態においてはドロップアウト発生期間を
除き、出力ウィンドパルスに基づいてエツジ検出パルス
をゲート出力する。
ゲート回路3より取り出されたエツジ検出パルスはイン
バータ5により極性反転されてカウンタ6のクリア端子
に供給される一方、ラッチ回路7にラッチパルスとして
供給される。一方、発振器8より取り出された高周波の
発振パルスはエツジ検出回路2.カウンタ6及び9に夫
々供給される。
バータ5により極性反転されてカウンタ6のクリア端子
に供給される一方、ラッチ回路7にラッチパルスとして
供給される。一方、発振器8より取り出された高周波の
発振パルスはエツジ検出回路2.カウンタ6及び9に夫
々供給される。
カウンタ6の計数値を示すnビットディジタル信号はラ
ッチ回路7に供給され、ここでラッチされた後、その出
力端子よりしSB(リースト・シグニフイカント・ビッ
ト)方向に2ビツトシフトされたnビットディジタル信
号が取り出されて比較器10に供給される。従って、ラ
ッチ回路7の出力信号はカウンタ6の計数値の1/4を
示す。比較器10はカウンタ6の計数値とラッチ回路の
出力信号とを夫々比較し、両者が一致したときに例えば
ローレベルとなるT/4i1!延パルスを発生して、カ
ウンタ9をクリアする一方、インバータ11を通してラ
ッチ回路12に供給され、ラッチ回路12をしてカウン
タ9のクリア直前の計数値をラッチさせる。
ッチ回路7に供給され、ここでラッチされた後、その出
力端子よりしSB(リースト・シグニフイカント・ビッ
ト)方向に2ビツトシフトされたnビットディジタル信
号が取り出されて比較器10に供給される。従って、ラ
ッチ回路7の出力信号はカウンタ6の計数値の1/4を
示す。比較器10はカウンタ6の計数値とラッチ回路の
出力信号とを夫々比較し、両者が一致したときに例えば
ローレベルとなるT/4i1!延パルスを発生して、カ
ウンタ9をクリアする一方、インバータ11を通してラ
ッチ回路12に供給され、ラッチ回路12をしてカウン
タ9のクリア直前の計数値をラッチさせる。
ラッチ回路12からは入力nビットのディジタル信号を
そのLSB方向に1ビツトシフトされたnビットディジ
タル信号、すなわちカウンタ9の計数値の1/2の値を
示す信号が取り出される。
そのLSB方向に1ビツトシフトされたnビットディジ
タル信号、すなわちカウンタ9の計数値の1/2の値を
示す信号が取り出される。
比較器13はカウンタ9及びラッチ回路12の百出力信
号が供給され、両者が一致したときに、例えば一定期間
ローレベルの信号を出力する。RSフリップフロップ1
4は比較器10.13の両出力信号がそのリセット端子
、セット端子に供給される。これにより、フリップフロ
ップ14のQ出力端子からは、ゲート回路3の出力エツ
ジ検出パルスの前縁からT/4(ただし、■は入力端子
1の入力タイムコードのビット周期)後に立下り、かつ
、ゲート回路3の出力エツジ検出パルスの前縁から37
/4 (= (T/4)+−(T/2))後に立上る、
周期Tの略対称方形波が取り出され、ウィンドパルスW
Pとして出力端子15へ出力される一方、条件設定回路
4へ供給される。
号が供給され、両者が一致したときに、例えば一定期間
ローレベルの信号を出力する。RSフリップフロップ1
4は比較器10.13の両出力信号がそのリセット端子
、セット端子に供給される。これにより、フリップフロ
ップ14のQ出力端子からは、ゲート回路3の出力エツ
ジ検出パルスの前縁からT/4(ただし、■は入力端子
1の入力タイムコードのビット周期)後に立下り、かつ
、ゲート回路3の出力エツジ検出パルスの前縁から37
/4 (= (T/4)+−(T/2))後に立上る、
周期Tの略対称方形波が取り出され、ウィンドパルスW
Pとして出力端子15へ出力される一方、条件設定回路
4へ供給される。
発明が解決しようとする問題点
上記のパルス発生回路は、発振器8の出力発振パルスの
繰り返し周波数が入力タイムコードの上限周波数の2倍
以上の周波数に選定する必要があり、また精度向上のた
めにはこの発振周波数は高い方が望ましい。しかるに、
上記の発振周波数が短いと、同じ期間T内におけるカウ
ンタ6及び9の計数値が大となるから、カウンタ6及び
9として多くの計数値を計数できるものが必要となり、
またカウンタが2回路必要であるため、回路規模が大規
模となってしまい、回路の簡易化や将来の大規模集積回
路(’LSI)化などの点で問題であった。
繰り返し周波数が入力タイムコードの上限周波数の2倍
以上の周波数に選定する必要があり、また精度向上のた
めにはこの発振周波数は高い方が望ましい。しかるに、
上記の発振周波数が短いと、同じ期間T内におけるカウ
ンタ6及び9の計数値が大となるから、カウンタ6及び
9として多くの計数値を計数できるものが必要となり、
またカウンタが2回路必要であるため、回路規模が大規
模となってしまい、回路の簡易化や将来の大規模集積回
路(’LSI)化などの点で問題であった。
そこで、本発明はカウンタを単一回路で構成することに
より、上記の提案になるパルス発生回路の基本性能や回
路の安定性を失うことな(上記の問題点を解決したパル
ス発生回路を提供することを目的とする。
より、上記の提案になるパルス発生回路の基本性能や回
路の安定性を失うことな(上記の問題点を解決したパル
ス発生回路を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
第1図は本発明の構成を示すブロック系統図で、第7図
と同一構成部分には同一符号を付しである。
と同一構成部分には同一符号を付しである。
同図中、入力端子1に入来したパイフェーズ変調方式で
変調された入力パルス列はエツジ検出回路2を通してゲ
ート回路3及び条件段、定回路4に夫々供給される。ゲ
ート回路3及び条件設定回路4はゲート回路手段を構成
しており、前記した如く初期状態においてはエツジ検出
パルスを無条件で通過させ、定常状態においては出力ウ
ィンドパルスに基づいて上記エツジ検出パルスをゲーナ
出力。
変調された入力パルス列はエツジ検出回路2を通してゲ
ート回路3及び条件段、定回路4に夫々供給される。ゲ
ート回路3及び条件設定回路4はゲート回路手段を構成
しており、前記した如く初期状態においてはエツジ検出
パルスを無条件で通過させ、定常状態においては出力ウ
ィンドパルスに基づいて上記エツジ検出パルスをゲーナ
出力。
する。ゲート回路3の出力パルスは後述する第1及び第
2の遅延回路手段22及び23に夫々ラッチパルスとし
て供給される一方、インバータ5及びAND回路20を
夫々通して単一のカウンタ21のクリア端子CLに印加
され、これをクリアする。
2の遅延回路手段22及び23に夫々ラッチパルスとし
て供給される一方、インバータ5及びAND回路20を
夫々通して単一のカウンタ21のクリア端子CLに印加
され、これをクリアする。
AND回路20は第1の遅延回路手段22の出力パルス
とインバータ5よりの極性反転エツジ検出パルスとの論
理積をとって得たパルスをカウンタ21のクリア端子C
,Lへ供給する。ここで、定常状態時には、インバータ
5の出力パルスがハイレベルのときは第1の遅延回路手
段22の出力パルスは後述する如くハイレベルとなって
いるから、少なくともインバータ5よりの極性反転エツ
ジ検出パルスによってカウンタ21はクリアされる。
とインバータ5よりの極性反転エツジ検出パルスとの論
理積をとって得たパルスをカウンタ21のクリア端子C
,Lへ供給する。ここで、定常状態時には、インバータ
5の出力パルスがハイレベルのときは第1の遅延回路手
段22の出力パルスは後述する如くハイレベルとなって
いるから、少なくともインバータ5よりの極性反転エツ
ジ検出パルスによってカウンタ21はクリアされる。
カウンタ21は発振器8よりの高周波のパルスを計数し
、その計数値を示すnビットディジタル信号を第1及び
第2の遅延回路手段22及び23の夫々に供給する。
、その計数値を示すnビットディジタル信号を第1及び
第2の遅延回路手段22及び23の夫々に供給する。
第1の遅延回路手段22は定常状態になると、入力端子
1の入力パルス列のビット周期Tの略0.2倍の期間遅
延された第1の遅延パルスを発生してRSフリップフロ
ップ24のリセット端子RとAND回路20に夫々供給
する。このとき、定常状態では後述の如くインバータ5
の出力パルスはハイレベルとなっているため、上記第1
の遅延パルスはAND回路20を通してカウンタ21の
クリア端子OLに印加され、これをクリアする。
1の入力パルス列のビット周期Tの略0.2倍の期間遅
延された第1の遅延パルスを発生してRSフリップフロ
ップ24のリセット端子RとAND回路20に夫々供給
する。このとき、定常状態では後述の如くインバータ5
の出力パルスはハイレベルとなっているため、上記第1
の遅延パルスはAND回路20を通してカウンタ21の
クリア端子OLに印加され、これをクリアする。
また、第2の遅延回路手段23は定常状態になると、入
力端子1の入力パルス列のビット周期Tの略0.6倍の
期間遅延された第2の遅延パルスを発生し、これをフリ
ップフロップ24のセット端子Sに印加する一方、第1
の遅延回路手段22にもインヒビット解除信号として供
給する。これにより、フリップフロップ24のQ出力端
子からは、ゲート回路3の出力エツジ検出パルスの例え
ば前縁から約0.2T経過した時点で立下り、かつ、上
記前縁から約0.67経過した時点で立上る方形波が取
り出され、この方形波はウィンドパルスとして出力端子
25へ出力される一方、条件設定回路4へ供給される。
力端子1の入力パルス列のビット周期Tの略0.6倍の
期間遅延された第2の遅延パルスを発生し、これをフリ
ップフロップ24のセット端子Sに印加する一方、第1
の遅延回路手段22にもインヒビット解除信号として供
給する。これにより、フリップフロップ24のQ出力端
子からは、ゲート回路3の出力エツジ検出パルスの例え
ば前縁から約0.2T経過した時点で立下り、かつ、上
記前縁から約0.67経過した時点で立上る方形波が取
り出され、この方形波はウィンドパルスとして出力端子
25へ出力される一方、条件設定回路4へ供給される。
作用
第1の遅延回路手段22はゲート回路3の出力エツジ検
出パルスの前縁でカウンタ21の計数値をラッチし、ラ
ッチしたその計数値を示すnビットディジタル信号をL
SB方向へ2ビツトシフトして得た、ラッチした計数値
の1/4倍の計数値のディジタル信号と、インバータ5
の出力パルスでクリアされた後のカウンタ21からのデ
ィジタル信号とを夫々比較器にて比較し、両者が一致し
たときに一致信号を発生し、これを第1の遅延パルスと
して出力する。カウンタ21はゲート回路3の出力エツ
ジ検出パルスの後縁でクリアされ、また上記第1の遅延
パルスでクリアされる。また、第2の遅延回路手段23
はゲート回路3の出力エツジ検出パルスの前縁でカウン
タ21の計数値をラッチし、ラッチしたその計数値を示
すnビットディジタル信号をLSB方向へ1ビツトシフ
トして得た、ラッチしたM数値の1/2倍の計数値のデ
ィジタル信号と、カウンタ21からのディジタル信号と
を夫々比較器にて比較し、両者が一致したときに一致信
号を発生し、これを第2の遅延パルスとして出力する。
出パルスの前縁でカウンタ21の計数値をラッチし、ラ
ッチしたその計数値を示すnビットディジタル信号をL
SB方向へ2ビツトシフトして得た、ラッチした計数値
の1/4倍の計数値のディジタル信号と、インバータ5
の出力パルスでクリアされた後のカウンタ21からのデ
ィジタル信号とを夫々比較器にて比較し、両者が一致し
たときに一致信号を発生し、これを第1の遅延パルスと
して出力する。カウンタ21はゲート回路3の出力エツ
ジ検出パルスの後縁でクリアされ、また上記第1の遅延
パルスでクリアされる。また、第2の遅延回路手段23
はゲート回路3の出力エツジ検出パルスの前縁でカウン
タ21の計数値をラッチし、ラッチしたその計数値を示
すnビットディジタル信号をLSB方向へ1ビツトシフ
トして得た、ラッチしたM数値の1/2倍の計数値のデ
ィジタル信号と、カウンタ21からのディジタル信号と
を夫々比較器にて比較し、両者が一致したときに一致信
号を発生し、これを第2の遅延パルスとして出力する。
この結果、カウンタ21には第1の遅延パルス出力時点
からゲート回路3よりのエツジ検出パルス出力時点まで
の時間間隔が、VTRが早送りモード9巻戻しモードま
たは定常走行モード時でも発振器8の出力パルスを計数
する(サンプリングする)ことで常に計測され、第1の
遅延回路手段22からはこの時間間隔の1/4倍の期間
(定常状態では約0.2Tの期間)、ラッチパルス入来
時点より遅延された第1の遅延パルスが取り出され、か
つ、第2の遅延回路手段23からは上記時間間隔の3/
4 (=’(1/2>+ (1/4))倍の期間(定常
状態では約0.6丁の期間)、ラッチパルス入来時点よ
り遅延された第2の遅延パルスが取り出される。これに
より、カウンタ21は1個だけで、フリップフロップ2
4より所要のウィンドパルスを発生出力することができ
る。以下、本発明について実施例と共に更に詳細に説明
する。
からゲート回路3よりのエツジ検出パルス出力時点まで
の時間間隔が、VTRが早送りモード9巻戻しモードま
たは定常走行モード時でも発振器8の出力パルスを計数
する(サンプリングする)ことで常に計測され、第1の
遅延回路手段22からはこの時間間隔の1/4倍の期間
(定常状態では約0.2Tの期間)、ラッチパルス入来
時点より遅延された第1の遅延パルスが取り出され、か
つ、第2の遅延回路手段23からは上記時間間隔の3/
4 (=’(1/2>+ (1/4))倍の期間(定常
状態では約0.6丁の期間)、ラッチパルス入来時点よ
り遅延された第2の遅延パルスが取り出される。これに
より、カウンタ21は1個だけで、フリップフロップ2
4より所要のウィンドパルスを発生出力することができ
る。以下、本発明について実施例と共に更に詳細に説明
する。
実施例
第2図は本発明回路の一実施例の回路系統図を示す。同
図中、第1図と同一構成部分には同一符号を伺しである
。第2図において、入力端子1に入来した第3図(A)
に示す如き被変調パルス(タイムコード信号)(まエツ
ジ検出回路2内のDフリップフロップ26のデータ入力
端子に供給される。ここで、入力被変調パルスは、第4
図(A>に示す周期2丁の対称方形波である例えば2.
4kHzの搬送波を、ディジタルデータでバイフェーズ
マーク変調して得られた同図(B)に示す如きパルス列
である。この被変調パルスは第4図(B)に示すように
、その波形上部に示すデータが” 1 ”のときはビッ
ト周期下の中央部でトランジション(レベル変化)を生
じ、データが” o ”のときはビット周期T内ではト
ランジションは生ぜず、かつ、データがIQI+ 、1
1111に関係なく、常に各ビット周期Tの各開始位置
でトランジションを生ずる。
図中、第1図と同一構成部分には同一符号を伺しである
。第2図において、入力端子1に入来した第3図(A)
に示す如き被変調パルス(タイムコード信号)(まエツ
ジ検出回路2内のDフリップフロップ26のデータ入力
端子に供給される。ここで、入力被変調パルスは、第4
図(A>に示す周期2丁の対称方形波である例えば2.
4kHzの搬送波を、ディジタルデータでバイフェーズ
マーク変調して得られた同図(B)に示す如きパルス列
である。この被変調パルスは第4図(B)に示すように
、その波形上部に示すデータが” 1 ”のときはビッ
ト周期下の中央部でトランジション(レベル変化)を生
じ、データが” o ”のときはビット周期T内ではト
ランジションは生ぜず、かつ、データがIQI+ 、1
1111に関係なく、常に各ビット周期Tの各開始位置
でトランジションを生ずる。
エツジ検出回路2は第2図に示すように、Dフリップフ
ロップ26及び27が2段縦続接続されており、かつ、
フリップフロップ26及び27の各Q出力端子が2人力
排他的論理和回路28の入力端子に各別に接続された構
成とされている。また、フリップフロップ26及び27
の各クロック端子には発振器8よりの高周波発振パルス
(例えば4MHz )が供給される。これにより、排他
的論理和回路28からは、パノ〕端子1の入力被変調パ
ルスの立上り及び立下りの両エツジに位相同期して立上
り、かつ、発振器8の出力発振パルスの一周期分のパル
ス幅を有する、第3図(B)に示す如きエツジ(トラン
ジション)検出パルスが取り出され、ゲート回路3及び
条件設定回路4に夫々供給される。
ロップ26及び27が2段縦続接続されており、かつ、
フリップフロップ26及び27の各Q出力端子が2人力
排他的論理和回路28の入力端子に各別に接続された構
成とされている。また、フリップフロップ26及び27
の各クロック端子には発振器8よりの高周波発振パルス
(例えば4MHz )が供給される。これにより、排他
的論理和回路28からは、パノ〕端子1の入力被変調パ
ルスの立上り及び立下りの両エツジに位相同期して立上
り、かつ、発振器8の出力発振パルスの一周期分のパル
ス幅を有する、第3図(B)に示す如きエツジ(トラン
ジション)検出パルスが取り出され、ゲート回路3及び
条件設定回路4に夫々供給される。
条件設定回路4は上記エツジ検出パルスによりトリガさ
れる如きり(〜リガラブルな回路構成とされており、エ
ツジ検出パルスのパルス間隔が正規の状態になる定常状
態に達するまでの前記初期状態、又はドロップアウト発
生時には、常にハイレベルの信号を発生出力してゲート
回路3をゲート「開」状態として無条件にエツジ検出パ
ルスを通過させる。しかし、例えば、第5図(A>に示
すエツジ検出パルスが破線で示す位置で欠落したものと
すると、定常状態であってもビット周期Tの例えば2倍
以上の期間、エツジ検出パルスが入来しなかった場合は
、条件設定回路4内の時定数回路の充放電用コンデンサ
の端子電圧が第5図(B>に示す如くスレシホールドレ
ベルL以下となるので、このレベルし以下となった時点
toで、条件設定回路4内のスイッチング信号が第5図
(C)に示す如く、ローレベルとなり、その出力信号を
ハイレベルとし、ゲート回路3をしてゲート「開」状態
とする。
れる如きり(〜リガラブルな回路構成とされており、エ
ツジ検出パルスのパルス間隔が正規の状態になる定常状
態に達するまでの前記初期状態、又はドロップアウト発
生時には、常にハイレベルの信号を発生出力してゲート
回路3をゲート「開」状態として無条件にエツジ検出パ
ルスを通過させる。しかし、例えば、第5図(A>に示
すエツジ検出パルスが破線で示す位置で欠落したものと
すると、定常状態であってもビット周期Tの例えば2倍
以上の期間、エツジ検出パルスが入来しなかった場合は
、条件設定回路4内の時定数回路の充放電用コンデンサ
の端子電圧が第5図(B>に示す如くスレシホールドレ
ベルL以下となるので、このレベルし以下となった時点
toで、条件設定回路4内のスイッチング信号が第5図
(C)に示す如く、ローレベルとなり、その出力信号を
ハイレベルとし、ゲート回路3をしてゲート「開」状態
とする。
一方、条件設定回路4は、VTRが定常状態にあるとき
は、前記充放電用コンデンサの端子電圧がスレシホール
ドレベルLiX上であるから、そ゛の内部のスイッチン
グ信号が第5図(C)のto以前の波形で示すように常
にハイレベルであり、これにより後述する第3図(F)
に示す如きウィンドパルスを通過させてゲート回路3へ
出力する。従って、定常状態時にはゲート回路3はウィ
ンドパルスのハイレベル期間のみゲート「開」状態とな
り、ウィンドパルスのローレベル期間は入力エツジ検出
パルスの通過を阻止する。従って、定常状態において第
3図(A>に示す如き被変調パルス(タイムコード信号
)が入力端子1に入来した場合は、ゲート回路3の出力
信号は同図(C)に示す如くになる。このゲート回路3
の出力信号は第1の遅延回路手段22内のラッチ回路2
9及び第2の遅延回路手段23内のラッチ回路31に夫
々ラッチパルスとして供給される一方、インバータ5及
びAND回路20を夫々通してカウンタ21のクリア端
子CLに印加される。
は、前記充放電用コンデンサの端子電圧がスレシホール
ドレベルLiX上であるから、そ゛の内部のスイッチン
グ信号が第5図(C)のto以前の波形で示すように常
にハイレベルであり、これにより後述する第3図(F)
に示す如きウィンドパルスを通過させてゲート回路3へ
出力する。従って、定常状態時にはゲート回路3はウィ
ンドパルスのハイレベル期間のみゲート「開」状態とな
り、ウィンドパルスのローレベル期間は入力エツジ検出
パルスの通過を阻止する。従って、定常状態において第
3図(A>に示す如き被変調パルス(タイムコード信号
)が入力端子1に入来した場合は、ゲート回路3の出力
信号は同図(C)に示す如くになる。このゲート回路3
の出力信号は第1の遅延回路手段22内のラッチ回路2
9及び第2の遅延回路手段23内のラッチ回路31に夫
々ラッチパルスとして供給される一方、インバータ5及
びAND回路20を夫々通してカウンタ21のクリア端
子CLに印加される。
カウンタ21はそのクリア端子Cしに印加される信号が
ローレベルとなり、かつ、その直後にクロック端子に入
来する発振器8よりの発振パルスがローレベルからハイ
レベルに立上った時よりクリア状態となり、それ以降ク
リア端子CLにローレベルの信号が入来している期間は
クリア状態を保持する。従って、カウンタ21は第3図
(C)に示すゲート回路3のエツジ検出パルスのハイレ
ベルの期間、クリア状態とされる。カウンタ21は発振
器8の出力発振パルスを計数して得たnビットのディジ
タル信号(計数値)をラッチ回路29.31.比較器3
0及び32に夫々供給する。
ローレベルとなり、かつ、その直後にクロック端子に入
来する発振器8よりの発振パルスがローレベルからハイ
レベルに立上った時よりクリア状態となり、それ以降ク
リア端子CLにローレベルの信号が入来している期間は
クリア状態を保持する。従って、カウンタ21は第3図
(C)に示すゲート回路3のエツジ検出パルスのハイレ
ベルの期間、クリア状態とされる。カウンタ21は発振
器8の出力発振パルスを計数して得たnビットのディジ
タル信号(計数値)をラッチ回路29.31.比較器3
0及び32に夫々供給する。
ラッチ回路29は第3図(C)に示すエツジ検出パルス
の立上りでラッチされたカウンタ21の計数値を示すn
ビットディジタル信号をLSB方向へ2ビツトシフトし
て得た、ラッチした計数値の1/4倍の計数値のnビッ
トディジタル信号を出力する。一方、ラッチ回路31は
上記第3図(C)に示すエツジ検出パルスの立上りでラ
ッチされたカウンタ21よりのnビットディジタル信号
を、LSB方向へ1ビツトシフトして得た、ラッチした
計数値の1/2倍の計数値のnビットディジタル信号を
出力する。
の立上りでラッチされたカウンタ21の計数値を示すn
ビットディジタル信号をLSB方向へ2ビツトシフトし
て得た、ラッチした計数値の1/4倍の計数値のnビッ
トディジタル信号を出力する。一方、ラッチ回路31は
上記第3図(C)に示すエツジ検出パルスの立上りでラ
ッチされたカウンタ21よりのnビットディジタル信号
を、LSB方向へ1ビツトシフトして得た、ラッチした
計数値の1/2倍の計数値のnビットディジタル信号を
出力する。
比較器30及び32は夫々例えばマグニチュード・コン
パレータにより構成されている。比較器30はラッチ回
路29より取り出されたカウンタ21の計数値の1/4
の値と、カウンタ21で現在計数中の値とを夫々比較し
て、両者が一致したときにローレベルの一致信号を発生
し、それを自らのインヒビット端子■に供給すると共に
、フリップフロップ24のリセット端子とAND回路2
0に夫々供給する。従って、比較器30は一致信号出力
時点直後よりインヒビット状態となり、そのセット端子
Sにローレベルのセット信号が入力されてインヒビット
状態を解除され、その後にその二人万端子の入力値が共
に一致したときに再び一致信号を出力するが、インヒビ
ット状態時においては、たとえその二人万端子の入力値
が一致しても一致信号は出力せず、その出力信号はハイ
レベルの状態を保持する構成とされている。
パレータにより構成されている。比較器30はラッチ回
路29より取り出されたカウンタ21の計数値の1/4
の値と、カウンタ21で現在計数中の値とを夫々比較し
て、両者が一致したときにローレベルの一致信号を発生
し、それを自らのインヒビット端子■に供給すると共に
、フリップフロップ24のリセット端子とAND回路2
0に夫々供給する。従って、比較器30は一致信号出力
時点直後よりインヒビット状態となり、そのセット端子
Sにローレベルのセット信号が入力されてインヒビット
状態を解除され、その後にその二人万端子の入力値が共
に一致したときに再び一致信号を出力するが、インヒビ
ット状態時においては、たとえその二人万端子の入力値
が一致しても一致信号は出力せず、その出力信号はハイ
レベルの状態を保持する構成とされている。
比較器32はラッチ回路31でラッチされたカウンタ2
1の計数値の1/2の値と、カウンタ21で現在計数中
の値とを夫々比較して、両者が一致したときにローレベ
ルの一致信号を発生し、それを7ソツプフロツプ24の
セット端子Sに印加し、かつ、比較器30のセット端子
Sに印加する。比較器30はラッチ回路29と共に第1
の遅延回路手段22を構成しており、その出カ一致信号
はラッチ回路29でラッチした値の約0.2倍の値に相
当する期間遅延した第1の遅延パルスとして出力される
。同様に、比較器32はラッチ回路31と共に第2の遅
延回路手段23を構成しており、その出カ一致信号はラ
ッチ回路31でラッチした値の約0.6倍の値に相当す
る期間遅延した第2の遅延パルスとして出力される。
1の計数値の1/2の値と、カウンタ21で現在計数中
の値とを夫々比較して、両者が一致したときにローレベ
ルの一致信号を発生し、それを7ソツプフロツプ24の
セット端子Sに印加し、かつ、比較器30のセット端子
Sに印加する。比較器30はラッチ回路29と共に第1
の遅延回路手段22を構成しており、その出カ一致信号
はラッチ回路29でラッチした値の約0.2倍の値に相
当する期間遅延した第1の遅延パルスとして出力される
。同様に、比較器32はラッチ回路31と共に第2の遅
延回路手段23を構成しており、その出カ一致信号はラ
ッチ回路31でラッチした値の約0.6倍の値に相当す
る期間遅延した第2の遅延パルスとして出力される。
上記の遅延時間について更に詳細に説明するに、仮にい
まカウンタ21の計数値が、入力タイムコード信号のビ
ット周期Tのときに、ラッチ回路29及び31に夫々ラ
ッチされたものとする。また、入力端子1に定常状態の
タイムコードが入来するものとする。これにより、ラッ
チ回路29から比較器30にT/4なる値のディジタル
信号が供給され、かつ、ラッチ回路31から比較器3・
2にT/2なる値のディジタル信号が供給される。
まカウンタ21の計数値が、入力タイムコード信号のビ
ット周期Tのときに、ラッチ回路29及び31に夫々ラ
ッチされたものとする。また、入力端子1に定常状態の
タイムコードが入来するものとする。これにより、ラッ
チ回路29から比較器30にT/4なる値のディジタル
信号が供給され、かつ、ラッチ回路31から比較器3・
2にT/2なる値のディジタル信号が供給される。
また、ラッチ回路29.31のラッチの直後でカウンタ
21がクリアされ、この第1のクリア時点よりT/4な
る期間経過した時点で比較器30より一致信号が出力さ
れてカウンタ21が再びクリアされる。
21がクリアされ、この第1のクリア時点よりT/4な
る期間経過した時点で比較器30より一致信号が出力さ
れてカウンタ21が再びクリアされる。
このカウンタ21の第2のクリア時点よりT/4経過す
ると比較器30の二人力信号の値は夫々一致するが、比
較器30はインヒビット状態にあるから一致信号を出力
せず、第2のクリア時点よりT/2経過した時点(第1
のクリア時点より3T/4経過した時点)で比較器32
より一致信号が出力され、比較器30はインヒビット状
態を解除される。そして1.第2のクリア時点より3T
/4(第1のクリア時点よりT)経過すると、ゲート回
路3よりエツジ検出パルスが出力され、これによりラッ
チ回路29及び31にそのときのカウンタ21の計数値
3T/4がラッチされた後、カウンタ21がクリアされ
る。従って、ラッチ回路29から比較器30に3T/1
6なる値のディジタル信号が供給され、かつ、ラッチ回
路31がら比較器32に3T/8なる値のディジタル信
号が供給される。これにより、上記と同様にして、上記
の第3のクリア時点より37/16(→ρ、19丁)経
過した時点で比較器30より一致信号が出力されてカウ
ンタ21がクリアされる。このカウンタ21の第4のク
リア時点より3T/8経過した時点(第3のクリア時点
より9T/16、すなわち約0.56 T経過した時点
)で比較器32より一致信号が出力される。そして、第
4のクリア時点より13T/16(第3のクリア時点よ
り王)経過した時点でゲート回路3よりエツジ検出パル
スが出力されるので、ラッチ回路29.31がカウンタ
21のそのときの計数値13T/16をラッチし、その
直後にカウンタ21がエツジ検出パルスによりクリアさ
れる。
ると比較器30の二人力信号の値は夫々一致するが、比
較器30はインヒビット状態にあるから一致信号を出力
せず、第2のクリア時点よりT/2経過した時点(第1
のクリア時点より3T/4経過した時点)で比較器32
より一致信号が出力され、比較器30はインヒビット状
態を解除される。そして1.第2のクリア時点より3T
/4(第1のクリア時点よりT)経過すると、ゲート回
路3よりエツジ検出パルスが出力され、これによりラッ
チ回路29及び31にそのときのカウンタ21の計数値
3T/4がラッチされた後、カウンタ21がクリアされ
る。従って、ラッチ回路29から比較器30に3T/1
6なる値のディジタル信号が供給され、かつ、ラッチ回
路31がら比較器32に3T/8なる値のディジタル信
号が供給される。これにより、上記と同様にして、上記
の第3のクリア時点より37/16(→ρ、19丁)経
過した時点で比較器30より一致信号が出力されてカウ
ンタ21がクリアされる。このカウンタ21の第4のク
リア時点より3T/8経過した時点(第3のクリア時点
より9T/16、すなわち約0.56 T経過した時点
)で比較器32より一致信号が出力される。そして、第
4のクリア時点より13T/16(第3のクリア時点よ
り王)経過した時点でゲート回路3よりエツジ検出パル
スが出力されるので、ラッチ回路29.31がカウンタ
21のそのときの計数値13T/16をラッチし、その
直後にカウンタ21がエツジ検出パルスによりクリアさ
れる。
以下、上記と同様の動作が繰り返され、ラッチ回路2つ
から比較器30へ供給されるディジタル信号の値は最終
的には約0.2Tに収束し、またラッチ回路31から比
較器32へ供給されるディジタル信号の値は約0.4T
に収束する。これにより、比較器30からは第3図(D
)に示す如く、ゲート回路3の出力エツジ検出パルスの
パルス間隔Tの約0.2倍の期間、該エツジ検出パルス
の出力時点より遅延された第1の遅延パルスが取り出さ
れ、一方、比較器32からは同図(E)に示す如く、ゲ
ート回路3の出力エツジ検出パルスのパルス間隔Tの約
0.6倍の期間、該エツジ検出パルスの出力時点より遅
延された第2の遅延パルスが取り出される。
から比較器30へ供給されるディジタル信号の値は最終
的には約0.2Tに収束し、またラッチ回路31から比
較器32へ供給されるディジタル信号の値は約0.4T
に収束する。これにより、比較器30からは第3図(D
)に示す如く、ゲート回路3の出力エツジ検出パルスの
パルス間隔Tの約0.2倍の期間、該エツジ検出パルス
の出力時点より遅延された第1の遅延パルスが取り出さ
れ、一方、比較器32からは同図(E)に示す如く、ゲ
ート回路3の出力エツジ検出パルスのパルス間隔Tの約
0.6倍の期間、該エツジ検出パルスの出力時点より遅
延された第2の遅延パルスが取り出される。
これにより、この第1.第2の遅延パルスがそのリセッ
ト、セット端子に供給されるフリップ70ツブ24のQ
出力端子からは、第3図(F)に示す如く、ゲート回路
3からエツジ検出パルスが取り出された時点より約0.
2T後に立下り、ローレベル期間が約0.4Tで、かつ
、ハイレベル期間が約0.6Tの周期Tのパルス(方形
波)が取り出される。このパルスはウィンドパルスとし
て出力端子25へ出力される一方、条件設定回路4へ出
力される。このウィンドパルスは第3図(A)。
ト、セット端子に供給されるフリップ70ツブ24のQ
出力端子からは、第3図(F)に示す如く、ゲート回路
3からエツジ検出パルスが取り出された時点より約0.
2T後に立下り、ローレベル期間が約0.4Tで、かつ
、ハイレベル期間が約0.6Tの周期Tのパルス(方形
波)が取り出される。このパルスはウィンドパルスとし
て出力端子25へ出力される一方、条件設定回路4へ出
力される。このウィンドパルスは第3図(A)。
(F)かられかるように、そのハイレベル期間内に入力
被変調パルス(タイムコード)の立上りエツジが存在す
る位相関係にある。
被変調パルス(タイムコード)の立上りエツジが存在す
る位相関係にある。
次に、このようにし−C発生されたウィンドパルスを用
いてバイフェーズマーク変調された被変調パルスを復調
する復調回路について説明する。第6図はこの復調回路
の一例の回路系統図を示す。
いてバイフェーズマーク変調された被変調パルスを復調
する復調回路について説明する。第6図はこの復調回路
の一例の回路系統図を示す。
同図中、入力端子34に入来したバイフェーズマーク変
調されたタイムコード信号はエツジ検出回路35を通し
て2人力AND回路36及び37の各一方の入力端子に
夫々供給される。一方、前記したパルス発生回路により
発生されたウィンドパルスは入力端子38に入来し、更
にインバータ39により極性反転された後AND回路3
6の他方の入力端子に印加され、また極性反転されるこ
となく直接にAND回路37の他方の入力端子とシフト
レジスタ41のクロック端子に夫々印加される。
調されたタイムコード信号はエツジ検出回路35を通し
て2人力AND回路36及び37の各一方の入力端子に
夫々供給される。一方、前記したパルス発生回路により
発生されたウィンドパルスは入力端子38に入来し、更
にインバータ39により極性反転された後AND回路3
6の他方の入力端子に印加され、また極性反転されるこ
となく直接にAND回路37の他方の入力端子とシフト
レジスタ41のクロック端子に夫々印加される。
これにより、AND回路36からは入力タイムコード信
号のビット周期Tの中間にトランジションがある場合に
そのトランジションに位相同期したエツジ検出パルスが
取り出されてRSフリツプフOツブ40をセット状態と
する。また、AND回路37からは入力タイムコード信
号のビット周期Tの各始端位置のエツジ検出パルス(ク
ロック成分)が取り出されてフリップフロップ40をリ
セット状態とする。従って、フリップフロップ40のQ
出力端子からは入力タイムコード信号のデータに対応し
た2111i信号が取り出され、次段のシフトレジスタ
41のデータ入力端子にシリアルに入力される。
号のビット周期Tの中間にトランジションがある場合に
そのトランジションに位相同期したエツジ検出パルスが
取り出されてRSフリツプフOツブ40をセット状態と
する。また、AND回路37からは入力タイムコード信
号のビット周期Tの各始端位置のエツジ検出パルス(ク
ロック成分)が取り出されてフリップフロップ40をリ
セット状態とする。従って、フリップフロップ40のQ
出力端子からは入力タイムコード信号のデータに対応し
た2111i信号が取り出され、次段のシフトレジスタ
41のデータ入力端子にシリアルに入力される。
シフトレジスタ41はそのデータ入力端子に印加された
信号を、そのクロック端子に印加されるウィンドパルス
の立上りエツジでサンプリングして得たデータをウィン
ドパルスの入来毎に順次シフトし、そのmビットの出力
端子よりm個のデータを並列に出力する。シフトレジス
タ41により直並列変換されて取り出されたmビットの
ディジタル信号は復調信号として出力端子43へ出力さ
れる一方、シンクワード検出回路42に供給され、ここ
でシンクワードが検出される。シンクワードの検出信号
はシフトレジスタ41をクリア状態とする。
信号を、そのクロック端子に印加されるウィンドパルス
の立上りエツジでサンプリングして得たデータをウィン
ドパルスの入来毎に順次シフトし、そのmビットの出力
端子よりm個のデータを並列に出力する。シフトレジス
タ41により直並列変換されて取り出されたmビットの
ディジタル信号は復調信号として出力端子43へ出力さ
れる一方、シンクワード検出回路42に供給され、ここ
でシンクワードが検出される。シンクワードの検出信号
はシフトレジスタ41をクリア状態とする。
なお、本発明は上記の実施例に限定されるものではなく
、例えばビデオ信号に限らずディジタル信号を利用して
音楽信号を録再するディジタルオーディオシステムなど
のテープ、ディスク等のタイムコードにも適用すること
ができる。更にバイフェーズスペース変調方式などの他
のバイフェーズ変調方式で変調された被変調パルスに適
用することができる。
、例えばビデオ信号に限らずディジタル信号を利用して
音楽信号を録再するディジタルオーディオシステムなど
のテープ、ディスク等のタイムコードにも適用すること
ができる。更にバイフェーズスペース変調方式などの他
のバイフェーズ変調方式で変調された被変調パルスに適
用することができる。
発明の効果
上述の如く、本発明によれば、単一のカウンタを使用し
てウィンドパルスを発生するように構成したので、その
計数入力端子に印加される発振器よりのクロックパルス
の繰り返し周波数を高くしても、カウンタを2個使用す
る従来回路に比し、簡単、かつ、安価に構成することが
でき、よって、将来の大規模集積回路化への実現化も容
易であり、更に特にタイムコード信号復調回路を安定か
つ確実に動作させ得るウィンドパルスを発生することが
できる等の特長を有するものである。
てウィンドパルスを発生するように構成したので、その
計数入力端子に印加される発振器よりのクロックパルス
の繰り返し周波数を高くしても、カウンタを2個使用す
る従来回路に比し、簡単、かつ、安価に構成することが
でき、よって、将来の大規模集積回路化への実現化も容
易であり、更に特にタイムコード信号復調回路を安定か
つ確実に動作させ得るウィンドパルスを発生することが
できる等の特長を有するものである。
第1図は本発明回路の構成を示すブロック系統図、第2
図は本発明回路の一実施例を示す回路系統図、第3図乃
至第5図は夫々第2図図示回路系統の動作説明用信号波
形図、第6図はタイムコード信号復調回路の一例を示す
回路系統図、第7図は本出願人が先に提案したパルス発
生回路の一例を示す回路系統図である。 1.34・・・タイムコード入力端子、2.35・・・
エツジ検出回路、3・・・ゲート回路、4・・・条件設
定回路、6,9.21・・・カウンタ、7.12,29
゜31・・・ラッチ回路、8・・・発振器、10,13
゜30.32・・・比較器、14,24.40・・・R
Sフリップ70ツブ、15.25・・・ウィンドパルス
出力端子、22・・・第1の遅延回路手段、23・・・
第2の遅延回路手段、38・・・ウィンドパルス入力端
子、43・・・復調データ出力端子。
図は本発明回路の一実施例を示す回路系統図、第3図乃
至第5図は夫々第2図図示回路系統の動作説明用信号波
形図、第6図はタイムコード信号復調回路の一例を示す
回路系統図、第7図は本出願人が先に提案したパルス発
生回路の一例を示す回路系統図である。 1.34・・・タイムコード入力端子、2.35・・・
エツジ検出回路、3・・・ゲート回路、4・・・条件設
定回路、6,9.21・・・カウンタ、7.12,29
゜31・・・ラッチ回路、8・・・発振器、10,13
゜30.32・・・比較器、14,24.40・・・R
Sフリップ70ツブ、15.25・・・ウィンドパルス
出力端子、22・・・第1の遅延回路手段、23・・・
第2の遅延回路手段、38・・・ウィンドパルス入力端
子、43・・・復調データ出力端子。
Claims (1)
- パイフェーズ変調方式で変調された入力パルス列のクロ
ック成分を扱き出すためのウィンドパルスを発生するパ
ルス発生回路であって、上記入力パルス列の立上り及び
立下りの両エツジを検出して得たエツジ検出パルスが供
給され、初期状態においては該エツジ検出パルスを無条
件で通過させ、定常状態では上記ウィンドパルスに基づ
いて該エツジ検出パルスをゲート出力するゲート回路手
段と、少なくとも該ゲート回路手段の出力パルスの反転
出力でクリアされる単一のカウンタと、該カウンタにク
ロック信号を供給する発振器と、該ゲート回路手段の出
力パルスにより該カウンタの出力計数値をラッチし、該
ラッチした計数値の略1/4の値と該ゲート回路手段の
出力パルスの反転出力でクリアされた後の該カウンタの
出力計数値とを夫々比較し、両者が一致したときに前記
入力パルス列の該ラッチ直前のパルス間隔の略0.2倍
の期間遅延された第1の遅延パルスを出力して該カウン
タをクリアする第1の遅延回路手段と、該ゲート回路手
段の出力パルスにより該カウンタの出力計数値をラッチ
し、該ラッチした計数値の略1/2の値と該カウンタの
出力計数値とを夫々比較し、両者が一致したときに前記
入力パルス列の該ラッチ直前のパルス間隔の略0.6倍
の期間遅延された第2の遅延パルスを出力する第2の遅
延回路手段と、該第1及び第2の遅延パルスが交互に入
来したとき交互に極性を反転される出力パルスを前記ウ
ィンドパルスとして発生出力する回路とよりなることを
特徴とするパルス発生回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11867484A JPS60261213A (ja) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | パルス発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11867484A JPS60261213A (ja) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | パルス発生回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60261213A true JPS60261213A (ja) | 1985-12-24 |
Family
ID=14742396
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11867484A Pending JPS60261213A (ja) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | パルス発生回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60261213A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62206528A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-11 | Nec Corp | 液晶ライトバルブ書込み方式 |
-
1984
- 1984-06-08 JP JP11867484A patent/JPS60261213A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62206528A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-11 | Nec Corp | 液晶ライトバルブ書込み方式 |
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