JPS6027376U - 集積回路試験装置 - Google Patents
集積回路試験装置Info
- Publication number
- JPS6027376U JPS6027376U JP12002483U JP12002483U JPS6027376U JP S6027376 U JPS6027376 U JP S6027376U JP 12002483 U JP12002483 U JP 12002483U JP 12002483 U JP12002483 U JP 12002483U JP S6027376 U JPS6027376 U JP S6027376U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- circuit testing
- testing equipment
- measurement
- preparations
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図は本考案の一実施例の斜視図、第２図は第１図の
別の使い方を示す斜視図である。 １・・・・・・試験台、２，９・・・・・パ試験開始ス
イッチ、３．１１・・・・・・初期状態設定スイッチ、
４，１０・・・・・・ソケット、５・・・・・・蝶番、
６・・・・・・蓋、７・・・・・・接触子。
別の使い方を示す斜視図である。 １・・・・・・試験台、２，９・・・・・パ試験開始ス
イッチ、３．１１・・・・・・初期状態設定スイッチ、
４，１０・・・・・・ソケット、５・・・・・・蝶番、
６・・・・・・蓋、７・・・・・・接触子。
Claims (1)
- 集積回路の良否を判定する試験装置において、二台の測
定部を隣り合わせに配置し、一方の測定部を使用する時
に他方の測定の準備ができるようにしたことを特徴とす
る集積回路試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12002483U JPS6027376U (ja) | 1983-08-01 | 1983-08-01 | 集積回路試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12002483U JPS6027376U (ja) | 1983-08-01 | 1983-08-01 | 集積回路試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6027376U true JPS6027376U (ja) | 1985-02-23 |
Family
ID=30275228
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12002483U Pending JPS6027376U (ja) | 1983-08-01 | 1983-08-01 | 集積回路試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6027376U (ja) |
-
1983
- 1983-08-01 JP JP12002483U patent/JPS6027376U/ja active Pending
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