JPS6029199B2 - 放射線発生装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、Ｘ線あるいは電子線等の放射線を発生する
線形電子加速装置を備えた放射線発生装置に関し、放射
線強度を検出することにより、装置の設定パラメータを
安定化を行うようにしたものである。

従釆この種の装置の例を第１図に示す。

第１図の例においては、電子ビームを偏向する偏向電磁
石を搭載し、電子ビームを偏向する装置を用いたものを
示しており、そしてこの偏向角が９０ｏの例を示してい
るが、偏向角はこの他１１０ｏ，２７００およびその他
のものも同様である。第１図において、１は電子ビーム
の加速部を示す。

この加速部には、電子ビームを発生する電子銃、加速機
能を有する加速管の他、加速するためのマイクロ波源、
およびそのための、高圧パルス変調器、マイクロ波伝送
系真空保持機構、冷却機構を有している。又、電子銃か
らの発生電子ビームを収束させるための電磁レンズビー
ム軌道補正用のステアリングコイル、加速された電子ビ
ームを収束させる四極電磁石等を備えていることもある
。２は偏向電磁石で、電子ビームを適宜の角度偏向させ
る機能を有している。

３は偏向された電子ビームによりＸ線あるいは電子線等
の放射線を発生する放射線発生機構で、通常Ｘ線を発生
させる場合には重金属によるターゲットを用い、電子線
を発生させる場合には、スキャッタリングフオィルを用
いる。

４は電子ビームの軌道を示す。

Ａは放射線発生機構３により発生した放射線、５は平坦
化フィル夕で放射線ＡがＸ線の場合に用いられ、電子線
の場合には取除かれる。６は放射線Ａの強度のを測定す
る放射線検出器で、通常放射線により電離電流を発生す
る透過形あるいは指頭形イオンチャンバが多く用いられ
る。７は放射線検出器６と同様の放射線検出器であるが
、放射線Ａによる照射野内の異つた領域の強度を検出す
るためのもので７ａ，７ｂの様に２個又はそれ以上の数
が設置される。

８は放射線検出器６の信号を増中する増中器、９は放射
線強度を安定化するための制御機構、１０ａ，１０ｂは
増中器８と同様の増中器、１１は増中器１０ａ，１０ｂ
の出力を差動増中する差動増中器である。

１２は差動増中器１１の出力により照射野の放射線強度
分布を一定に保っための制御機構で加速部１を制御する
。

１３ａ，１３ｂは野射野限定機構で、１３ａ，１３ｂの
一対となり更にこの直角方向にも一対ある。

（図示せず）又、矩形以外の照射野を構成できる多分割
の限定機構もある。照射野限定機構１３ａ，１３ｂは主
にＸ線の場合に野射野を定める機能を有し、電子線の場
合には１４の電子線照射筒（電子線用アプリケータ）を
用いる。次に従来の装置の動作について説明する。

加速部１で所定のエネルギーに加速された電子ビームは
そのエネルギーに対応して、所定の磁場を発生している
偏向電磁石２により偏向され、放射線発生機構３に導か
れ、Ｘ線あるいは電子線等の放射線Ａを発生する。放射
線Ａは照射野限定機構１３ａ，１３ｂあるいは電子線照
射筒で定められる照射野内に照射される。Ｘ線の場合に
は平坦化フィル夕５により放射線強度の分布を平坦にす
るが、電子線の場合には平坦化フィル夕５は照射野内か
ら取除かれる機構を有している。照射される放射線の強
度は、放射線検出器６で検出され、強度に比例した電離
電流が発生する。

これは増中器８により、電流−電圧変換されて、更に増
中される。通常この装置はパルス運転され、放射線強度
はこのパルス繰り返し周波数や、パルス中に依存するた
め、増中器８の出力で放射線強度の表示を行うと同時に
、放射線強度の制御機構９に信号を送り、パルス繰り返
し周波数又はパルス中を制御する機構を有している。所
で、偏向電磁石により電子ビームを偏向するため、加速
された電子ビームエネルギーが所定の値よりずれたり、
軌道がずれたりすると、放射線発生機構３への電子ビー
ムの入射角や、入射位置が、ずれる現象が通常現われる
。

このため、照射野内の放射線強度の分布が、第１図に示
す様に、理想的な分布Ｂから放射線強度分布の平坦性が
失われるＣの様な分布にずれる。Ｃは平坦性の失われた
場合の一例である。しかし、装置には平坦な分布Ｂの様
な平坦性を保つことが要求されるため、以下のような制
御機構が通常用いられている。即ち、野射野内の異った
領域の放射線強度を検出する放射線検出器７ａ，７ｂが
設置され、各々の領域の放射線強度を測定している。電
子ビームエネルギーが変化すると、偏向電磁石で偏向さ
れる時のビーム軌道が変わり、採用されている偏向電磁
石の系に特有の軌道変化のため、放射線発生機構３への
入射角あるいは入射位置又はその双方が変化するため放
射線が有する指向性の中心軸が変化するため第１図のＣ
に示す様な強度の不均一性が生じる。このため放射線検
出器７ａ，７ｂの各々の電離電流が増加又は減少するこ
とにより放射線検出装置７ａ，７ｂの出力に差が生じる
。これらが各々増中器１０ａ，１０ｂで増中され、差動
増中器１１によって両者の差分が符号も含めて検出ある
いは増中これる。そこで差敷増中器１１の出力が十分４
・さくなる様（±０）に制御機構９を動作ごせ元の平坦
な放射線強度分布に回復させる。この時電子ビームエネ
ルギーに強度平坦性を維持させる場合には、加速マイク
ロ波周波数、加速マイクロ波電力、加速ビーム電流等の
いずれかあるいは複数のもを制御対象として制御する。
加速電子ビーム軌道が変動する様な装置あるいは制御可
能な装置にあっては、加速管の出力部に軌道修正用のス
テアリングコイルを装備してこのステアリングコイルの
電流値を制御し、電子ビームの軌道を修正することもあ
る。この時は偏向電磁石２へのビームの入射位置が変化
し平坦性が失われたことに対する補正ができる。この制
御機構を用いる場合は通常電子ビームエネルギーの補正
のための制御機構と並行して運転する場合が多い。第２
図にその動作の基本となる関係を示す。第２図において
Ｄ。は放射線検出器６による検出値でＤ，，Ｄ２は各々
７ａ，７ｂによる検出値である。×は、制御対象となっ
ている電子ビームエネルギーを設定する量で装置が所定
の電子ビームエネルギーで加速するための最適状態に保
たれると、通常×ｍに設定されている。任意に設定でき
る放射線強度を調整する機構を不変に保った場合、通常
ＸｍにおいてＤｏは最大値Ｄｍを得る。この時、Ｄ，＝
Ｄ２となって平坦性が得られている。ＸがＸｍから変化
するとＤｏはＤｍから減少すると同時に、Ｄ，≠Ｄ２と
なり平坦性が失われるため、Ｄ，＝Ｄ２に復帰する様に
Ｘを制御するのである。従来の線形電子加速装置による
放射線発生装置においては以上の様な構成と動作を行う
ため、第１図のＣの様な照射野の放射線強度の不均一性
を生じた場合、制御動作がいくつか並行するため、複雑
で相互に干渉し合う結果となり、安定な出力と平坦な放
射線強度分布を得るのに難しさがあり、第２図のＤ，．
Ｄ２がＤｏと相似の特性を示す装置や電子線にあっては
電子ビームエネルギーの制御は、放射線の出力により行
うことはできなくなる等の欠点があった。この発明は従
来の装置の上記のような欠点を除去するためになされた
もので、正規化した放射線強度の最大値制御を行なうも
のであり、微分回路を用いずに最大値制御を行わしめ、
電子ビームエネルギーと放射線出力の安定化を持たらす
ことのできる制御装置を提供することを目的としたもの
である。

先づ、本発明の原理について説明する。

即ち第２図に示されるように、放射線強度の調整機構を
不変に保った場合、所定の電子ビームエネルギーを得る
最適状態にパラメータを保てば（第２図のＸで代表され
る設定パラメータの量をＸ：×ｍに設定する）、放射線
検出器６で検出される放射線の強度Ｐｏは最大値Ｄｍと
なり、かつＤ，＝Ｄ２の様に放射線強度分布は平坦にな
るという性能を利用してＤｏがＤｍになる様な制御方式
を彩用する。

この時、Ｄｏは放射線強度調整機構で設定される量（こ
れをｙで代表する）に無関係にするため、ＤＮ＝Ｄｏ／
ｙという正規化を行い、ＤＮが最大値ＤＮｍになる様に
する。第３図はこれを達成するための基本的な構成を示
す。第３図において、放射線検出器６の出力を増中器８
で増中しその出力を正規化回路１６で正規化する。

正規化には放射線強度調整機構１５で放射線強度を設定
する量により行われ、既に示したＤＮ＝Ｄｏ／ｙとする
。これを微分回路１７で微分し皿Ｎ／ｄｔを発生させる
が、これは１８のタイミング回路１８で発生させるゲー
ート信号によって行い、このゲート信号は△ｔの間隔で
発生する。したがってｄＤＮ／ｄｔは△ｔ間隔で発生し
、△ｔの間維持される。１９は微分回路１７の出±幻Ｄ
Ｎ／ｄｔを増中する増中器で、その出力を絶対値回路２
０に入力する。

絶対値回路２０はｌ山ＤＮ／ｄｔｌに相当する量を出力
し、制御量が定められる。一方増中器１９の出力は制御
パラメータ変化率弁別回路２２に入力され、皿Ｎ／ｄｔ
＞０ならば、Ｘの変化する方向を維持し、皿Ｎ／ｄｔ＜
０ならば、Ｘの変化する方向を反転する機能を有してそ
れに相当する信号を発生する。絶対値回路２０の出力が
虹ＤＮ／ｄｔ＝０となると制御弁別回路２３のゲートを
閉じ、制御パラメータ変化率弁別回路２２の出力を制御
信号発生回路２５に伝達されるのを停止する。以上の様
に制御信号発生回路２５は功ＤＮ／ｄｔ＝０の時Ｘの変
化すべき方向と制御量をを発生し皿Ｎ／ｄｔ＝０の時は
Ｘの現在の値を保持する様に動作してＤＮ最大値となっ
ている。但照射を開始した初期においては山ＤＮ／ｄｔ
＝０のため制御信号が発生しないので、初期条件設定回
路２４により最初の△ｔ間は絶対値回路２川こ適宜の制
御量を設定し、又制御パラメータ変化率弁別回路２２の
変化の方向を設定する。同時に開始と同時にタイミング
回路１８がゲート信号を発生する信号をタイミング回路
１８に送る。以上のようにして制御信号発生回路２５が
加速部の電子ビームエネルギー設定のパラメータを制御
することにより、第２図のＸｍに×を制御し、安定な電
子ビームエネルギーと放射線出力を得ようとするもので
ある。ここで第３図の回路では微分回路１７を用いてい
るが、通常増中器を利用した微分回路はノイズが発生し
やすいため、装置が誤動作しやすいという危険性を内包
している。本発明は、正規化した放射線強度の最大値制
御を微分回路を用いずに達成するものである。

以下本発明の一実施例を図について説明する。第４図に
おいて、２６は照射開始信号ゲート発生回路、２７はタ
イミングパルス発生回路、２８ａ，２８ｂ，２８ｃは夫
々サンプリング・ホールド回路、２９ａ，２９ｂ，２９
ｃはサンプリング・ホールド回路２８ａ，２８ｂ，２８
ｃの出力をインピーダンス変換により出力を構成する増
中器で、サンプリング・ホールド回路２８ａ，２８ｂ，
２８ｃの各々に対応して設置されている。増中器２９ａ
，２９ｂ，２９ｃの入力側はサンプリング・ホールド回
路２８ａ，２８ｂ，２８ｃの出力を十分長い時間の間保
持できるように高入力インピーダンスとなっており、出
力側は低出力インピーダンスである。３０は差動増中器
、３１は増中器２９ｃの出力の絶対値を構成するための
絶対値回路、３２はフｌｉッブフ。

ップで、照射開始信号ゲート発生回路２６の出力ゲート
により、その出力は初期設定され、増中器２９ｃの出力
が正の時は出力は反転せず、増中器２９ｃの出力が負に
なった時、出力が反転する。２３は、加速部の電子ビー
ムエネルギーを決定する制御対象となるパラメータの制
御部である。

フリップフ。ップ３２の出力によりこの制御対象となる
量の増加、減少の方向を決定すると共に絶対値回路３１
の出力により制御量が定められる。次に本発明による装
置の動作を説明する。

Ｘ線又は電子線等の放射線が放射線発生機構３により発
生し、その出力強度が放射線検出器６で検出され、増中
器８で増中これ同時にパルス的に発生している検出値を
平均化する。この出力により放射線強度や積算の放射線
の量が表示できる。一方、放射線強度調整機構１５によ
り設定されている放射線強度調整値に比例する量で増中
器８の出力が正規化される。

正規化された値又はそれに比例した値をＤＮとする。２
７はタイミングパルス発生回路２７は周期△ｔの間にタ
イミングの異なる３種類のパルスを発生する。

パルス中は△ｔに対して十分小さく、かつサンプリング
・ホールド回路２８ａ，２８ｂ，２８ｃのサンプリング
ホールド‘こよりその入力が応答するのに十分長い値を
有している。最初のパルスＳ，が時刻し‘こおいて発生
するとこれに△ｔ．遅れて次のパルスＳ２が時刻ｔ２に
発生する。更に△ｔ２遅れて第３のパルスＳ３が時刻ｔ
３において発生しこの後△ｔ３後に再びＳ，が発生する
。したがって１周期は△ｔ：△ら＋△ｔ２十△らとなる
。これらＳ，，Ｓ２，Ｓ３の各パルスは各々サンプリン
グホールド回路２８ａ，２８ｂ，２８ｃに加えられ、各
々のパルスにより開かれたゲートの間、サンプリングホ
ールド回路２８ａ，２８ｂ，２８ｃはその入力の値を出
力側に伝達する。サンプリングホールド回路２８ａ，２
８ｂ，２８ｃの出力の値を十分長い時間保つためその出
力側には高入力インピーダンスの増中器２９ａ，２９ｂ
，２９ｃが設置され周期△ｔの間この値を保っている。
増中器２９ａ，２９ｂ，２９ｃの出力を各々Ｄ側ＤＮ２
，ＤＮ３とする。ＤＮ・，ＤＮ２の出力は差動増中器３
０により両者の差が検出される。差動増中器３０の出力
をＤｄとし、Ｄｄは例えばＤｄ＝ＤＮ２−ＤＮ，とする
。Ｄｄはサンプリング・ホールド回路２８ｃにより再び
サンプリングホールドされ、高入力インピーダンスであ
る増中器２９ｃにより出力が保持される。増中器２９ｃ
の出力がＤＮ３である。そこでこれらの関係を第５図を
用いて説明する。

今、△ｔの周期が照射を開始してからｎ番目のにあった
とするとパルスＳ，，Ｓ２，Ｓ３は各々ｔｎ・，ｔｎ２
，ｔｎ３，の時刻に発生し次の（ｎ＋１）番目の周期で
はｔ（ｎ川，，ｔ（ｎ＋，）２，ｔ（ｎ川３の時刻に発
生するとする。今、制御対象Ｘが変化しており、正規化
された放射線強度ＤＮが漸増しているとするのが第５図
のｎ番目の周期で、その結果最大値に十分近い位置にＸ
が変化してＤＮの変化がほとんどなくなったのが（ｎ＋
１）番目の周期である。

ｔｎ，の時刻に発生したパルスＳ，により、増中器２９
ａの出力はその時のＤＮの値ＤＮ，を読み込んで時刻ｔ
（ｎ川，までホールドしている。次にｔｎ２の時刻に発
生したパルスＳ２により、増中器２９ｂの出力はその時
のＤＮの値ＤＮ２を読み込んで時刻ｔ（川，）２までホ
ールドしている。したがって、差動増中器３０はＤｄ＝
ＤＮ２−ＤＮ，を出力するので、ＤＮが増加している時
はＤＮ２がｔ（ｎ−，）２の時点の値が記憶されている
ため、△ｔ，の間は負となり、ｔ舵によりＤＮ２が更新
されるとＤＮ２＞ＤＮ，となってＤｄは正の値に変化す
る。こうして時刻ｔｎ３においてＤｄの値がパルスＳ３
により増中器２９ｃの出力ＤＮ３となって表われる。ｔ
ｎ３までは増中器２９ｃの出力はｔ（ｎ−，）３の時刻
のＤｄの値が記憶され、ＤＮが増加しているため正であ
った。ＤＮが最大値により近づいたためＤＮ２とＤＮ・
の差は次第に小さくなるため、ｔｎ３で更新されたＤＮ
３の値はそれ以前に比して小さくなった。時刻ｔｎ３ま
でのＤＮ３の値によりフリップフロップ３２はＤＮ３が
正のため制御対象Ｘの値をある方向に変化させており、
又絶対値回路３１で制御量が定められ、制御部３３が時
刻ｔｎ３まで制御駆動信号を発して来た。時刻ｔｎ３に
おいて新たにＤＮ３が発生したが、依然正の値であるの
でフリップフロップ３２はＸの変化の方向を変えず、絶
対値回路３１により定められた制御量で引き続きｔ（帆
）３まで制御部３３は制御駆動信号を発生する。（ｎ＋
１）番目の周期も同じ様な方法でＤＮ，，ＤＮ２，ＤＮ
３が発生するのであるが最大値に十分近くなったため、
△ｔ，の間隔で検出されたＤＮ，とＤＮ２がほぼ等しい
値になるとｔ（ｎ川３の時刻のＤｄはほぼＤｄ＝０とな
っているため、ＤＮ３＝０となり、ｔ（ｎ川３以後は制
御量が０となって制御部３３はＸを変化させる駆動信号
を停止し、現在の値を保持するのである。

この後状態が変化しなければ、△ｔの周期を繰り返して
もＤＮ３こ０でＸを変化させる駆動信号が生じないので
最適状態が維持されている。もし、何らかの原因でＤＮ
が変化し始めるとＤＮ３がＤＮ３≠０即ちＤＮ３＜０と
なってこれまでの状態で設定されていたフリップフロッ
プ３２が指示するＸの変化の方向は反転して、×が変化
させられる。この結果ＤＮが増加してＤＮ３が正になれ
ば再びＤＮ３＝０となるまでＸを制御する。しかし、こ
の結果やはりＤＮ３が負であると再びフリップフロップ
３２が指示する×の変化の方向は反転して、ＤＮが増加
する方向にＸを変化させる駆動信号が発生する。この様
にして、ＤＮが最大値となる制御が達成されるのである
。以上の説明は照射を開始した後にＤＮが一度変化し始
めた場合の動作である。開始時点においてＤＮが変化し
しない、即ちＸが変化しなければその時のＸの値が最大
値であるかどうかは判明しない。そこで初期条件を設定
する照射開始信号ゲート発生回路２６が必要となる。第
６図において時刻ら，において照射が開始され、ら，か
ら△ｔ後の時刻ら，から上記説明のパルス周期が繰り返
される。即ちｔ，．，ｔ，２，Ｌ３において各々パルス
Ｓ，，Ｓ２，Ｓ３が発生する。時刻ら，から△ｔのパル
ス周期は開始されるのであるが照射開始信号ゲート発生
回路２６のゲートＳｏをｔｏ，から△ｔｏの間遅らせて
Ｓ，，Ｓ２，Ｓ３が出力する様に開く。従ってｔｏ，に
おけるパルスＳ．はマスクされてサンプリング・ホール
ド回路２８ａには印加されない。ここで△ｔｏ＜△りこ
しておけばｔｏ２におけるパルスＳ２はサンプリング・
ホールド回路２８ｂに印加されて、この時のＤＮが読み
込まれるのである。そしてＳ，，Ｓ２，Ｓ３は照射開始
前はゲートが開かれたままになっており、開始と同時に
ゲートを閉じる論理回路により制御されている。したが
って、照射開始前はＤＮ，，ＤＮ２，ＤＮ３はいずれも
０にリセットされているので、照射開始後の最初の△ｔ
の間はＤＮは造中器２９Ｍこのみ読み込まれることにな
り、ｔｏ３において、ＤＮ３には正の値が表われる。し
たがって×を変化させる駆動信号の制御量が得られた訳
で、この時照射開始信号ゲート発生回路２６により照射
開始前のフリップフロップ３２の出力を定められた方向
に設定しておけば、ｔ■からｔ，３の間までの制御部３
３の制御信号が定められてＸを変化させる。以後の制御
の動作については既に説明した通りである。以上の様に
して制御対象を制御する信号が得られることになり最適
状態にパラメータを制御する。

しかも微分の原理を応用しながら、微分・回路を用いる
ことなく、通常使用されているパルス発生回路と、増中
器およびサンプリング・ホール‐ドのみで回路を構成し
たために、微分回路に付随するノイズによる誤動作を防
ぐことができるのである。以上述べたこの発明の実施例
では制御対象を電子ビームエネルギーとしているが電子
ビームエネルギーが他の制御方法で安定化できる装置に
あっては、電子ビーム軌道によっても同様な制御を行う
ことができ電子ビーム軌道修正のため、ステアリングコ
イルや、偏向電磁石電流を制御しても良い。

又、サンプリング・ホールド回路２８ａ，２８ｂを用い
たが、時定数の異なる遅延回路ををこれに代えて設けて
もよい。放射線発出器６は出力強度をモニタする検出器
を共有しているがこの制御回路のため別個の検出器を設
けても良く、例えば照射野の中心での放射線強度を検出
して制御回路の入力信号としても同様な効果が得られる
。更に、第４図においては、タイミングパルス発生回路
２７から発生するパルスＳ，，Ｓ２，Ｓ３の発生するタ
イミングをｔ，，ｔ２，上３の様にあたかも固定してあ
るかの様に実施例を示した。所で線形電子加速装置はパ
ルス運転されるのでこのパルスに同期させてＳ，，Ｓ２
，Ｓ３を発生することもできる。

通常、増中器８ではパルス的な放射線検出器６の出力電
離電流は平均化されて増中されることが多い。この平均
化により回路時定数で定められるリップルが生ずること
がある。したがって、装置の運転パルスに同期（運転パ
ルスに対して一定の時間遅れを持つものも同期として）
ごせてパルスＳ，，Ｓ２，Ｓ３を発生させれば、増中器
２９ａ，２９ｂ，２９ｃの出力はリップルによる変動を
除くことができる。第７図にその回路例を示す。

第７図ではＳ，，Ｓ２のみ示す。運転パルスのトリガパ
ルス発生回路３４により線形電子加速装置運転パルスと
タイミングが一致したパルスあるいは一定の時間遅れの
あるパルスが発生する。タイミングトリガ発生回路３５
からは△ｔの周期でし，ｔ２のタイミングにトリガパル
スが発生している。勿論、Ｓ３用にｔ３のタイミングで
更にトリガパルスがここから発生してもよい。３６ａ，
３６ｂはフリツプフｏツプ回路、３７ａ，３７ｂはゲー
ト回路であるが、これらは夫々Ｓ，，Ｓ２用に設けられ
ている。

ｔｌのタイミングでタイミングトリガ発生回路３５から
発生したトリガパルスはフリツプフロツプ３６ａに印加
されて、これを動作させ、ゲート回路３７ａのゲートを
開く信号が発生する。ゲート回路３７ａのゲートが開か
れている時にトリガパルス発生回路３４からパルスが入
力するとこれは出力側に伝達されてパルスＳ，となる。
パルスＳ，は同時にフリツプフロツプ３６ａに帰還され
、パルスＳ，の終了時にフリップフロップ３６ａはゲー
トを閉じる様に動作させる。したがって周期△ｔの間に
唯一のパルスがＳ，として発生する。一方ｔ２のタイミ
ングでタイミングトリガ発生回路３５から発生したトリ
ガパルスは以上と同様な機能を持ったフリップフロツプ
３６ｂ、ゲート回路３７ｂによりＳ２が発生する。以上
の様にして周期△ｔ間に線形電子加速装置の運転パルス
に周期したＳ，，Ｓ２が得られる。

Ｓ３に関しては同様に同期させても良いし、Ｓ２に適宜
の△らだけ遅れたパルスであっても良い。第８図でＰは
トリガパルス発生回路３４の出力パルス、○，，Ｇ２は
各々フリッブフロップ３６ａ，３６ｂの出力ゲート信号
で第８図により以上の動作が理解できる。又、この発明
による回路は放射線強度の最大値を求めるばかりでなく
、所定の線量を得るためにパルス繰り返し周波数、パル
ス中、ビーム電流等を最低にする様な制御を行う場合の
制御機構にも応用できる。この場合求める制御点が最大
点であるものを最低点にする様にフリップフロップ３２
が反転出力となる時を増中器２９ｃの出力が正となった
時とすれば良い。以上の様にこの発明によれば線形電子
加速装置を用いた放射線発生装置の放射線出力を正規化
して、その値の最大値（又は最小値）を求める制御回路
を備え、かつ微分回路を用いずパルス発生回路、増中器
サンプリングホールド回路等の通常使用している構成で
これと同等の機能を得る様に構成したため、微分回路特
有のノイズによる誤動作が防止でき、安定した動作を行
うため、電子ビームエネルギー放射線出力が安定で信頼
度の高い装置を提供できる効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の線形電子加速装置の一例を示すフロック
図、第２図は電子ビームエネルギーを定めるパラメー外
こ対する放射線出力の関係を示す説明図、第３図は本発
明の基本となる装置のブロック図、第４図はこの発明の
一実施例による装置を示すブロック図、第５図は第４図
の装置の通常の動作を示すタイミングチャート、第６図
は第４図の制御機構の初期条件を定める動作のタイミン
グチャート、第７図はこの発明の装置の一部の変形例を
示すブ。 ック図、第８図は第７図による回路の動作を示すタイミ
ングチャートである。図に於て、１・・・・・・加速部
、６…・・・放射線検出器、８…・・・増中器、１５…
…放射線強度調整機構、１６・・・・・・正規化回路、
２６・・・・・・照射開始信号ゲート発生回路、２７・
・・・・・タイミングパルス発生回路、２８ａ，２８ｂ
，２８ｃ…・・・サンプリングホールド回路、２９ａ，
２９ｂ，２９ｃ・・…・増中器、３０…・・・差動増中
器、３１・・・・・・絶対値回路、３２・・・・・・フ
リップフロツプ、３３・・・・・・制御部、３４……運
転パルス用のトリトリガパルス発生回路、３５・・・・
・・タイミングトリガ発生回路、３６ａ，３６ｂ……フ
リツプフｏツプ、３７ａ，３７ｂ・・・・・・ゲート回
路である。尚、図中同一符号は同一又は相当部分を示す
。第１図 第２図 第７図 第３図 第５図 第４図 第６図 第８図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 電子ビームを加速する加速装置を備え、この加速装
   置により加速された電子ビームにより放射線を発生する
   ようにした装置に於て、放射線の出力強度を調整する調
   整機構と、発生した放射線の強度を検出する放射線検出
   器と、上記調整機構により設定された量に応じた値を基
   準値として上記放射線検出器により検出された出力放射
   線強度を正規化する正規化手段と、この正規化手段の出
   力の任意の時点における値とその時点より前の時点にお
   ける値との差分を検出し、この差分を用いて上記正規化
   された量が最大値又は最小値となるように上記加速装置
   を制御する制御装置とを備えたことを特徴とする放射線
   発生装置。 ２ 正規化された量が最大値又は最小値となるように加
   速装置を制御する制御装置は、正規化手段の任意の時点
   における出力値を保持する第１のサンプリング・ホール
   ド回路と、正規化手段の上記時点より後の時点における
   出力値を保持する第２のサンプリング・ホールド回路と
   、上記第１及び第２のサンプリング・ホールド回路の出
   力の差に応じた出力を生ずる差動増巾器と、この差動増
   巾器の出力値をサンプリングして保持する第３のサンプ
   リング・ホールド回路とを有し、この第３のサンプリン
   グ・ホールド回路の出力値が正となるよう加速装置を制
   御するものであることを特徴とする特許請求の範囲第１
   項に記載の放射線発生装置。 ３ 正規化された量が最大値又は最小値となるように加
   速装置を制御する制御装置は、第１、第２、及び第３の
   サンプリング・ホールド回路にサンプリング動作を行な
   わせるタイミングパルスを与えるタイミングパルス発生
   回路を有することを特徴とする特許請求の範囲第２項に
   記載の放射線発生装置。 ４ 放射線発生の初期において第１又は第２のサンプリ
   ング・ホールド回路が新たに正規化出段の出力をサンプ
   リングしないように動作する手段を制御装置に備えたこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第２項又は第３項に記載
   の放射線発生装置。