JPS6029704Y2 - 分析用測光装置 - Google Patents
分析用測光装置Info
- Publication number
- JPS6029704Y2 JPS6029704Y2 JP17787076U JP17787076U JPS6029704Y2 JP S6029704 Y2 JPS6029704 Y2 JP S6029704Y2 JP 17787076 U JP17787076 U JP 17787076U JP 17787076 U JP17787076 U JP 17787076U JP S6029704 Y2 JPS6029704 Y2 JP S6029704Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- incident
- rectangle
- mirror
- photometric
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は螢光又は散乱測定と2光束分光測定との両用に
使用できる測光装置に関する。
使用できる測光装置に関する。
本考案は一つの測光装置を多目的に利用できるようにす
ることを目的とし、併せて使用モードの変更がきわめて
簡単にできるようにしようとするものである。
ることを目的とし、併せて使用モードの変更がきわめて
簡単にできるようにしようとするものである。
以下実施例によって本考案を説明する。
図で1は両面が鏡になったセクターミラーで奇数枚の羽
根よりなっており光路を時分割的に2つに分け、A、
B点で光路の向きが変り、上記セクターミラーにより2
つの光速が時系列的に一光束に会せしめられ測光部りに
入るようになっている。
根よりなっており光路を時分割的に2つに分け、A、
B点で光路の向きが変り、上記セクターミラーにより2
つの光速が時系列的に一光束に会せしめられ測光部りに
入るようになっている。
こ)でセクターミラー1への光の入射側において光路は
C,E点で直角に曲るようになっており、0点に置く素
子の種類により使用モードが変えられる。
C,E点で直角に曲るようになっており、0点に置く素
子の種類により使用モードが変えられる。
E点には平面鏡が置かれている。Cへ置かれる素子は鏡
或は試料等を入れたセルである。
或は試料等を入れたセルである。
全体として光路はコ字形をなし、最後の一辺が2光束に
分れて四辺形となっている。
分れて四辺形となっている。
この基本的光路の途中には使用モードによりフィルター
、偏光子、試料等のセル、光量調節板等が適宜出入せら
れる。
、偏光子、試料等のセル、光量調節板等が適宜出入せら
れる。
次に上記装置の種々な使用モードについて述べる。
(1)螢光偏光解消度測定
第2図に示すように0点に試料セルCを置く。
m9m′は平面鏡である。入射光は試料セルCを透過す
るが、試料から出る螢光のうち入射光と直角のものがセ
クターミラー1の方へ送られる。
るが、試料から出る螢光のうち入射光と直角のものがセ
クターミラー1の方へ送られる。
試料セルCの入射側に偏光子p1が置かれる。
試料から出た螢光はセクターミラー1で2光束に分かれ
各光束内に夫々偏光子p2゜p3が置かれる。
各光束内に夫々偏光子p2゜p3が置かれる。
p2tp3のうち一方は前記plと偏光方向が同じで他
は直交させである。
は直交させである。
螢光の偏光方向は一般に入射光の偏光方向と等しいが、
試料分子の励起から螢光発射までの間に若干分子が動く
ので螢光の偏光方向は入射光のそれよりわづか広がって
いる。
試料分子の励起から螢光発射までの間に若干分子が動く
ので螢光の偏光方向は入射光のそれよりわづか広がって
いる。
この広がりは分子の動き易さに関係しているので分析上
の一つの情報となる。
の一つの情報となる。
螢光の偏光成分のうち励起光と平行なものの測光値をF
p、垂直なものの測光値をFVとするとき、偏光解消度
は(Fp−FV) / (Fp十FV)で表わされる。
p、垂直なものの測光値をFVとするとき、偏光解消度
は(Fp−FV) / (Fp十FV)で表わされる。
螢光の偏光の2戊分はセクターミラー1により時系列的
に一本の光路に乗って測光部りに入射するので、これを
同期的に分離して上tpt Fvを測定すれは偏光解消
度が求まる。
に一本の光路に乗って測光部りに入射するので、これを
同期的に分離して上tpt Fvを測定すれは偏光解消
度が求まる。
レンズL1は励起光を試料セルCの中心に収束させるも
のであり、L2.L3はCの中心C点をA、 B点に結
象させるレンズ、L4.L4’及びL5はA、 Bの像
を測光部の入射スリットS上に結ばせるレンズである。
のであり、L2.L3はCの中心C点をA、 B点に結
象させるレンズ、L4.L4’及びL5はA、 Bの像
を測光部の入射スリットS上に結ばせるレンズである。
(2)吸収差スペクトル測定
第3図に示すように0点に平面鏡moを置き、m9m′
の入射側に試料セルaと参照セルbを置き偏光子p1〜
p3は光路から外しておく。
の入射側に試料セルaと参照セルbを置き偏光子p1〜
p3は光路から外しておく。
上記各使用例より判るように0点にはセル又は45°の
平面鏡が置かれる。
平面鏡が置かれる。
特に鏡はセットの際位置が正しく定まることが必要であ
る。
る。
装置においてCの所は第4図に示すように正方形の凹所
Qになっていて光路が直角に折曲するとき外側になる隅
角eをはさむ2辺L gが案内面となっており、他の2
辺には板ばねSpが設けである。
Qになっていて光路が直角に折曲するとき外側になる隅
角eをはさむ2辺L gが案内面となっており、他の2
辺には板ばねSpが設けである。
他方セル及び平面鏡には正方形の座があってこの凹みに
嵌入されると座の2辺が板ばねSpに押されて凹みの案
内面L gに押しつけられて固定されかつ位置が定まる
ようになっている。
嵌入されると座の2辺が板ばねSpに押されて凹みの案
内面L gに押しつけられて固定されかつ位置が定まる
ようになっている。
セクターミラー1の他の例は第5図に示すように円周方
向に6等分され、相対する一対のセクションX、Xが不
反射不透明、X、Xの一方をはさんで窓になった■、■
の部分があり、残りの部分H,Hは両面が鏡になってい
る。
向に6等分され、相対する一対のセクションX、Xが不
反射不透明、X、Xの一方をはさんで窓になった■、■
の部分があり、残りの部分H,Hは両面が鏡になってい
る。
セクターミラー1は4辺形をなす2光路の対角線に置か
れ、一方の角で光を反射しているとき他方の角では光を
通過させているようになっている必要があるので窓の部
分と鏡の部分とが相対するセクションにあってはいけな
いのである。
れ、一方の角で光を反射しているとき他方の角では光を
通過させているようになっている必要があるので窓の部
分と鏡の部分とが相対するセクションにあってはいけな
いのである。
不反射、不透明のセクションX、Xは2光路とも光を断
ち測光部に光を入れないようにして測光部の暗電流レベ
ルを測定できるようにするために設けられた部分である
。
ち測光部に光を入れないようにして測光部の暗電流レベ
ルを測定できるようにするために設けられた部分である
。
セクターミラーの周辺には測光出力を同期的に弁別する
同期信号を得るため不透明反射の鍔Fが設けられており
、これをはさんで同期信号発生用光電装置PHが設けら
れている。
同期信号を得るため不透明反射の鍔Fが設けられており
、これをはさんで同期信号発生用光電装置PHが設けら
れている。
鍔Fの部分は第5図に示すようにセクターミラーの6等
分の各セクションに対応する位置に孔り、 h、こちら
側が反射面になっているq。
分の各セクションに対応する位置に孔り、 h、こちら
側が反射面になっているq。
q1向う側が反射面になっているr、 rの各部があ
る。
る。
第6図に示すように光電装置PHはFをはさんで設けら
れ、一方側には発光ダイオードLD、 LD’とホトダ
イオードPDがあり、反対側にはホトダイオードPD
’PD“と発光ダイオードLD“がある。
れ、一方側には発光ダイオードLD、 LD’とホトダ
イオードPDがあり、反対側にはホトダイオードPD
’PD“と発光ダイオードLD“がある。
今PHの間に孔りが来ているとホトダイオードPDとP
D’には光が入らない。
D’には光が入らない。
次にFの左側面が反射面になっている所が来るとPDの
光がLDに入り、LD’、 LD“には光が入らない。
光がLDに入り、LD’、 LD“には光が入らない。
またFの右側が反射面になっている部分が来るとLD’
にPD“の光が入射し、PDには光が入らない。
にPD“の光が入射し、PDには光が入らない。
これらPD−PD“の出力の有無の組合せより論理判定
によって測光回路の暗電流、一方の光束の測光値、他方
の光束の測光値の3者が弁別できる。
によって測光回路の暗電流、一方の光束の測光値、他方
の光束の測光値の3者が弁別できる。
論理回路の形式は任意である。
本考案測光装置は上述したようにセクターミラーによる
2光束分割部に入射する光路の折曲する点に交換自在に
45°の鏡或はセルを配置することにより、2光束を利
用した種々な測定モードが簡単に切換え実現でき、一つ
の装置に応用範囲の拡大と、一つの試料の各種分析を一
個所で引続いて実行できると言う分析実務面での能率性
向上と云う大なる効果が得られるのである。
2光束分割部に入射する光路の折曲する点に交換自在に
45°の鏡或はセルを配置することにより、2光束を利
用した種々な測定モードが簡単に切換え実現でき、一つ
の装置に応用範囲の拡大と、一つの試料の各種分析を一
個所で引続いて実行できると言う分析実務面での能率性
向上と云う大なる効果が得られるのである。
第1図は本考案の一実施例装置の光路を示す平面図、第
2図及び第3図までは上記の各種使用モードにおける光
学素子の配置を示す平面図、第4図は素子をセットする
場所の斜視図、第5図はセクターミラーの一例の正面図
、第6図は同期信号を得る構成の側面図を示す。 1・・・・・・セクターミラー、 m、m。 mo=45’ の平面鏡、D・・・・・・測光部、 9 b。 C・・・・・・試料等 を入れるセル。
2図及び第3図までは上記の各種使用モードにおける光
学素子の配置を示す平面図、第4図は素子をセットする
場所の斜視図、第5図はセクターミラーの一例の正面図
、第6図は同期信号を得る構成の側面図を示す。 1・・・・・・セクターミラー、 m、m。 mo=45’ の平面鏡、D・・・・・・測光部、 9 b。 C・・・・・・試料等 を入れるセル。
Claims (1)
- 光の入射位置と出射位置になる方形の一対の対角位置に
、方形の各辺に対して45°傾いた回転面を有し、円周
方向に反射部と透光部とが配置されて、一方の隅角に反
射部があるとき他方の隅角には透光部があるようにした
セクターミラーと、方形の他の一対の対角位置の隅角に
各辺に対し45゜傾けて配置された鏡とで入射光を方形
をなす二光路に分割し再び一光路に会合させる二光路分
割部を有し、上記方形をなす三光路のうち、セクターミ
ラーをはさんで隣り合う二辺の光路上に試料セル等を配
置し得るようにすると共に、光源からの光が上記二光路
分割部への入射側で少なくとも一回折曲し、その後方形
をなす上記二光路に分割され、−光束に会して測光部に
入射する構成で、上記入射側の折曲点に交換可能に鏡及
び試料等を入れるセルを配置した分析用測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17787076U JPS6029704Y2 (ja) | 1976-12-29 | 1976-12-29 | 分析用測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17787076U JPS6029704Y2 (ja) | 1976-12-29 | 1976-12-29 | 分析用測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5394684U JPS5394684U (ja) | 1978-08-02 |
| JPS6029704Y2 true JPS6029704Y2 (ja) | 1985-09-07 |
Family
ID=28785129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17787076U Expired JPS6029704Y2 (ja) | 1976-12-29 | 1976-12-29 | 分析用測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6029704Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63108993U (ja) * | 1986-12-30 | 1988-07-13 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH083444B2 (ja) * | 1986-01-30 | 1996-01-17 | 横浜油脂工業株式会社 | 表面光分析用セクタ−装置 |
-
1976
- 1976-12-29 JP JP17787076U patent/JPS6029704Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63108993U (ja) * | 1986-12-30 | 1988-07-13 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5394684U (ja) | 1978-08-02 |
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