JPS6029755A - 光導電部材 - Google Patents
光導電部材Info
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- JPS6029755A JPS6029755A JP13875883A JP13875883A JPS6029755A JP S6029755 A JPS6029755 A JP S6029755A JP 13875883 A JP13875883 A JP 13875883A JP 13875883 A JP13875883 A JP 13875883A JP S6029755 A JPS6029755 A JP S6029755A
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- layer
- photoconductive
- gas
- smoothed
- conductive substrate
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は電子写真感光体などに適用される光導電部材に
、関するものである。
、関するものである。
[発明の技術卿背甲とその問題点]
電子写真感光体1.一固体W1a素子などに適用される
光導電部材に関しては、長野命感光波長域がセレンなど
と比較して長波長まで延び、しかも無公害で回収不要で
あって大面積化が容易である非晶質シリコン(以下アモ
ルファスシリコン又はa −8iとも称する)が注目さ
れている。
光導電部材に関しては、長野命感光波長域がセレンなど
と比較して長波長まで延び、しかも無公害で回収不要で
あって大面積化が容易である非晶質シリコン(以下アモ
ルファスシリコン又はa −8iとも称する)が注目さ
れている。
a−8iはシリコン多結晶をターゲットに用いてのスパ
ッタリングでも製造することができるが、通常はSi
Haなどの、シリコン原子を含む原料ガスをグロー放電
分解するグロー放電法により製造されている。このよう
にして製造されたアモルファスシリコンはシリコンネッ
トワーク中に多量の水素を含み、この水素がシリコンの
未結合手(dungling bond)を補償するの
に役立っている。しかし、それでも?Ii償しきれなか
ったり或いは5IH2等の結合の存在などによってバン
ドギャップ(band gap)中にかなり密度が高く
単位が存在しているので、暗中での比抵抗が小さい。す
なわち、伝導帯(conduction bancl)
中に熱的に励起された電子が多く存在する。このような
ものを電子写真感光体などに適用して使用した場合には
、コロナfi電などによって帯電された表面の電荷は上
記の励起された電子によって相殺されて現像まで保持さ
れないという問題がありk。
ッタリングでも製造することができるが、通常はSi
Haなどの、シリコン原子を含む原料ガスをグロー放電
分解するグロー放電法により製造されている。このよう
にして製造されたアモルファスシリコンはシリコンネッ
トワーク中に多量の水素を含み、この水素がシリコンの
未結合手(dungling bond)を補償するの
に役立っている。しかし、それでも?Ii償しきれなか
ったり或いは5IH2等の結合の存在などによってバン
ドギャップ(band gap)中にかなり密度が高く
単位が存在しているので、暗中での比抵抗が小さい。す
なわち、伝導帯(conduction bancl)
中に熱的に励起された電子が多く存在する。このような
ものを電子写真感光体などに適用して使用した場合には
、コロナfi電などによって帯電された表面の電荷は上
記の励起された電子によって相殺されて現像まで保持さ
れないという問題がありk。
このため従来にあっては、導電性基体から光導電性口た
るアモルファスシリコン厄への電子あるいは正孔の注入
を防ぐためにブロッキング唐を両者間に設けていた。こ
のブロッキング店は非常に高抵抗であり、電荷の流れを
抑止するもの、又はP型、n型といわれる半導体すなわ
ちギャップ中に多くのアクセプタ単位、ドナー準位を有
しここで電子又は正孔を捕17M (trap)するも
のによって形成されている。さらに光導電性層の安定化
のためにその表面には表面被覆層が段けられている。
るアモルファスシリコン厄への電子あるいは正孔の注入
を防ぐためにブロッキング唐を両者間に設けていた。こ
のブロッキング店は非常に高抵抗であり、電荷の流れを
抑止するもの、又はP型、n型といわれる半導体すなわ
ちギャップ中に多くのアクセプタ単位、ドナー準位を有
しここで電子又は正孔を捕17M (trap)するも
のによって形成されている。さらに光導電性層の安定化
のためにその表面には表面被覆層が段けられている。
この表面被TR層は比抵抗が高く光の透過率の高い材質
が良いが、浮くすると電荷の扱けが悪くなったり、光を
吸収してしまうなどの理由により残留電位が高くなった
り光感度が低くなるため、表面P1覆層の厚さは通常数
百h〜数千A程度とされていた。
が良いが、浮くすると電荷の扱けが悪くなったり、光を
吸収してしまうなどの理由により残留電位が高くなった
り光感度が低くなるため、表面P1覆層の厚さは通常数
百h〜数千A程度とされていた。
ところで前記グロー放電法によって製造されるa−3i
は心電性基体表面の凹凸、序などによって異常成長し、
光導電性層の表面には半球状の突起ができてしまう。し
かしながらこの突起は通常0.5μIIl〜5μ蒙程度
であり、前記表面被覆層のn厚はこれよりも酵い。この
ため、光導電性層は均一に?l!!iされず繰返し使用
に対して感光特性が劣化し、しかも表面被覆層の欠陥部
分には余分な現像剤が付着して現像剤のフィルミング現
象を生じ易くなるという問題があった。
は心電性基体表面の凹凸、序などによって異常成長し、
光導電性層の表面には半球状の突起ができてしまう。し
かしながらこの突起は通常0.5μIIl〜5μ蒙程度
であり、前記表面被覆層のn厚はこれよりも酵い。この
ため、光導電性層は均一に?l!!iされず繰返し使用
に対して感光特性が劣化し、しかも表面被覆層の欠陥部
分には余分な現像剤が付着して現像剤のフィルミング現
象を生じ易くなるという問題があった。
[発明の目的]
本発明は上記事情に基づいてなされたものであり、その
目的とするところは、繰返し使用に対する感光特性の劣
化を防止することができるとともに、現像剤のフィルミ
ング現象が容易に生じてしまうことを防止することので
きる光導電部材を提供することである。
目的とするところは、繰返し使用に対する感光特性の劣
化を防止することができるとともに、現像剤のフィルミ
ング現象が容易に生じてしまうことを防止することので
きる光導電部材を提供することである。
[発明の概要]
本発明は上記目的を達成するために、導電性基体上に設
けられかつこの導電性基体からの電荷の注入を防止する
ブロッキングnと、シリコン原子を母体として水素を含
み表面が平滑化された光導電性層と、表面被覆層とを順
次積層して光導電部材を借成したものである。
けられかつこの導電性基体からの電荷の注入を防止する
ブロッキングnと、シリコン原子を母体として水素を含
み表面が平滑化された光導電性層と、表面被覆層とを順
次積層して光導電部材を借成したものである。
[発明の実施例]
以下図面を参照しながら本発明の実施例について説明す
る。
る。
第1図は本発明の第1の実施例である光導電部材を示す
断面図である。図において1で示すものは6911性基
体であり、例えばアルミニウム製の平板やアルミニウム
製のドラムなどによって形成されている。そしてこの導
電性基体1の表面にはこの1s電性基体1からの電荷の
注入を防止するためのブロッキング!!!2が設けられ
、例えばB2Heガスと5iHiガスとを混合した原料
ガスがグロー放電分解されることにより又はy9電性基
体1が酸化されること(よって形成されている。さらに
ブロッキング居2の表面にはシリコン原子を母体として
水素を含み表面が平滑化された光導電@層3が設けられ
、例えばB21−16ガスと、5iHaガスとを混合し
た原料ガスがグロー放電分解されることによって形成さ
れた第1光尋電性F?3’Aと少なくともフッ素原子を
含む原料ガスとしてSiH4ガスと81 F4ガスとを
混合した原料ガスがグロー放電分解されることによって
前記第1光導電性口3Aに積層形成された第2光亦電性
11!43Bとによって形成されている。またこの光導
電性層3の表面には例えば透光性の表面被覆層4が設け
られ、例えば5iHaガスとCHaガスとを混合した原
料ガスがグロー放電分解されることによって形成されて
いる。
断面図である。図において1で示すものは6911性基
体であり、例えばアルミニウム製の平板やアルミニウム
製のドラムなどによって形成されている。そしてこの導
電性基体1の表面にはこの1s電性基体1からの電荷の
注入を防止するためのブロッキング!!!2が設けられ
、例えばB2Heガスと5iHiガスとを混合した原料
ガスがグロー放電分解されることにより又はy9電性基
体1が酸化されること(よって形成されている。さらに
ブロッキング居2の表面にはシリコン原子を母体として
水素を含み表面が平滑化された光導電@層3が設けられ
、例えばB21−16ガスと、5iHaガスとを混合し
た原料ガスがグロー放電分解されることによって形成さ
れた第1光尋電性F?3’Aと少なくともフッ素原子を
含む原料ガスとしてSiH4ガスと81 F4ガスとを
混合した原料ガスがグロー放電分解されることによって
前記第1光導電性口3Aに積層形成された第2光亦電性
11!43Bとによって形成されている。またこの光導
電性層3の表面には例えば透光性の表面被覆層4が設け
られ、例えば5iHaガスとCHaガスとを混合した原
料ガスがグロー放電分解されることによって形成されて
いる。
上記光導電部材は例えば第2図に示す製造装置によって
製造することができる。この製造装置は、反応容器12
とガス供給部14と図示しない排気装置とを有する。反
応容器12内には、導電性基体1(例えば鏡面研摩した
1 50+nmx 200mmのアルミニウム板)を装
着することができると共に前記導電性基体1を所定温度
たとえG;I” 100〜400℃に加熱するためのヒ
ータ18を有する支持体20が設けられ、また、支持体
20の上方にこれと対向配置されると共に多数のガス吹
出孔22を有する電極24が設けられている。電極24
と支持体20とには、これら両者の間に高周波電界を生
ずることができるように、自助整合装膜26を介して高
周波電源28(たとえば13.56MH2)が電気的に
接続されている。また、電極24は、全体としてガス吹
出装置ともなっていて、ガス供給部14より供給される
ガスを電極24と導電性基体1との間に吹き出すことが
できる。したがって、?!!極2極上4ガスを吹き出し
ながら電極24と導電性基体1との間に高周波電界を印
加すると、グロー放電により励起されてなるプラズマガ
スを発生させることができる。なお、電極24は、反応
容器12およびガス供給部14に対し、絶縁体30.3
2により電気的に絶縁されている。
製造することができる。この製造装置は、反応容器12
とガス供給部14と図示しない排気装置とを有する。反
応容器12内には、導電性基体1(例えば鏡面研摩した
1 50+nmx 200mmのアルミニウム板)を装
着することができると共に前記導電性基体1を所定温度
たとえG;I” 100〜400℃に加熱するためのヒ
ータ18を有する支持体20が設けられ、また、支持体
20の上方にこれと対向配置されると共に多数のガス吹
出孔22を有する電極24が設けられている。電極24
と支持体20とには、これら両者の間に高周波電界を生
ずることができるように、自助整合装膜26を介して高
周波電源28(たとえば13.56MH2)が電気的に
接続されている。また、電極24は、全体としてガス吹
出装置ともなっていて、ガス供給部14より供給される
ガスを電極24と導電性基体1との間に吹き出すことが
できる。したがって、?!!極2極上4ガスを吹き出し
ながら電極24と導電性基体1との間に高周波電界を印
加すると、グロー放電により励起されてなるプラズマガ
スを発生させることができる。なお、電極24は、反応
容器12およびガス供給部14に対し、絶縁体30.3
2により電気的に絶縁されている。
また、反応容器12は、反応容112内より排気するガ
スの流量を1g節する流百円S装匠33を介して図示し
ない排気装置を結合する。ガス供給部14は、たとえば
少なくともシリコン原子を母体として水素を含むガス例
えばSi Heガス(又は5i21−1sガス)が充電
された5iHaガスボンベ34と、Bz Heガスが充
填されたB2 H6ガスボンベ35と、CHeガスが充
填されたCHeガスボンベ36と、少なくともフッ素原
子を含むガス例えば5iFaガスが充填された3i F
4ガスボンベ37と、同様に少なくともフッ素原子を含
むガス例えばCF4ガスが充填されたCF4ガスボンベ
38と、各ガスボンベに取付けられたバルブ39などを
有し、各種ガスを任意に反応容器12内に供給すること
ができるように1成されている。
スの流量を1g節する流百円S装匠33を介して図示し
ない排気装置を結合する。ガス供給部14は、たとえば
少なくともシリコン原子を母体として水素を含むガス例
えばSi Heガス(又は5i21−1sガス)が充電
された5iHaガスボンベ34と、Bz Heガスが充
填されたB2 H6ガスボンベ35と、CHeガスが充
填されたCHeガスボンベ36と、少なくともフッ素原
子を含むガス例えば5iFaガスが充填された3i F
4ガスボンベ37と、同様に少なくともフッ素原子を含
むガス例えばCF4ガスが充填されたCF4ガスボンベ
38と、各ガスボンベに取付けられたバルブ39などを
有し、各種ガスを任意に反応容器12内に供給すること
ができるように1成されている。
そして第2図に示す製造装置を使用して第1図に示す光
wj電部材を製造するときには、先ず流量n節装訂33
と図示しない排気装置とを使用して前記反応容器12内
を10゛3〜10−’ torrの真空にし、かつ前記
導電性基体1の温度を前記ヒータ18により100〜4
00℃に保持する。モしてBz Heガスボンベ35内
のB2 Heガスを81H4ガスボンベ34内の5iH
aガスに対して流指比で10−4〜10′2程度混合し
て反応容器12内に供給し、n厚0.2〜2.5μI1
1程度のブロッキング門をグロー放電分解によって形成
する。
wj電部材を製造するときには、先ず流量n節装訂33
と図示しない排気装置とを使用して前記反応容器12内
を10゛3〜10−’ torrの真空にし、かつ前記
導電性基体1の温度を前記ヒータ18により100〜4
00℃に保持する。モしてBz Heガスボンベ35内
のB2 Heガスを81H4ガスボンベ34内の5iH
aガスに対して流指比で10−4〜10′2程度混合し
て反応容器12内に供給し、n厚0.2〜2.5μI1
1程度のブロッキング門をグロー放電分解によって形成
する。
次に82 H1lガスボンベ35内のB2 Heガスを
5IHaガスボンベ34内のSi Heガスに対して流
青比で104〜10−2程度混合して反応容器12内に
供給しながらグロー放電□分解し、」I2μm程度の第
1光導電性層3八を形成する。尚a−3iから成るこの
第1の光導電性ff13Aは導電性基体1などの表面の
凹凸、聾などによって異常成長し、その第1光導電性l
N5Aの表面には半球状の突起が生ずることになる。そ
のl5iFaガスボンベ37内のSi FaガスをSt
Heガスボンベ34内の5iHaガスに対して10%
混合して反応容器12内に供給しながら5〜10分程度
グロー放電分解し、!!厚が0.5〜1.0μm程度の
jff2光導電性n3Bを形成する。この第2光専電性
WJ3Bが形成されるときには、前記第1光心電性門3
Aの表面が凹凸であっても逐次その上にa−8iが堆積
されると同時にHI稍されたa−81の表面の突起がエ
ツチングされるので、第2光轡電性鼎3Bの表面は平滑
化され、第1光尋電性1ffi3Aと第2光sti性f
f13Bとから成る光導電性W33の表面は結果的に平
滑化されることになる。このような表面平滑化のメカニ
ズムは、一般にa−3iの堆積メカニズムは成膜された
貌の表面近傍にあるシリコンと結合する水素をグロー放
電によって生じた水素ラジカルがはぎとり次の堆積が起
るということであるので、水素ラジカルよけもはるかに
活性なフッ素ラジカルが存在すればこの反応はさらに促
進され、かつフッ素ラジカルはシリコンをもエツチング
することがらa −8iの成膜時には堆積とエツチング
とが同時に生ずるというものである。したがって5iH
aガス(又は3128sガス)にフッ素を含むガスを混
入して成膜した場合には堆積したi表面の突起がエツチ
ングされるとともにエツチングされた表面にはさらにa
−8iが堆積し、結果的には表面の平滑性に骨れた光導
電性βが得られることになる。なおこの第2光導電性層
3BのIl!厚は前述のごとく0.5〜1.0μm程度
が最も良好であり、浮過ぎると感光特性が悪化すること
になる。このようにして光導電性1!J3が形成された
後には3i Haガスボンベ34内の5iHaガスに対
してCHaガスボンベ36内のCF−Itガスをその3
倍混合して反応容器12内に供恰しながらグロー放電分
解し、a/!iIが数百へ〜数千へ程度の表面?!!!
覆屈4を形成する。この表面波m Fff 4は炭素を
含むa−8i口となる。なお、上記ブロッキング唐2、
光導電住居3及び表面波I?JFl!14を反応容器1
2内で形成するときには、反応容器12内の圧力を0.
1〜1.0torr程度になるように排気系の排気速度
を調整して定常状態を保持しておいた。
5IHaガスボンベ34内のSi Heガスに対して流
青比で104〜10−2程度混合して反応容器12内に
供給しながらグロー放電□分解し、」I2μm程度の第
1光導電性層3八を形成する。尚a−3iから成るこの
第1の光導電性ff13Aは導電性基体1などの表面の
凹凸、聾などによって異常成長し、その第1光導電性l
N5Aの表面には半球状の突起が生ずることになる。そ
のl5iFaガスボンベ37内のSi FaガスをSt
Heガスボンベ34内の5iHaガスに対して10%
混合して反応容器12内に供給しながら5〜10分程度
グロー放電分解し、!!厚が0.5〜1.0μm程度の
jff2光導電性n3Bを形成する。この第2光専電性
WJ3Bが形成されるときには、前記第1光心電性門3
Aの表面が凹凸であっても逐次その上にa−8iが堆積
されると同時にHI稍されたa−81の表面の突起がエ
ツチングされるので、第2光轡電性鼎3Bの表面は平滑
化され、第1光尋電性1ffi3Aと第2光sti性f
f13Bとから成る光導電性W33の表面は結果的に平
滑化されることになる。このような表面平滑化のメカニ
ズムは、一般にa−3iの堆積メカニズムは成膜された
貌の表面近傍にあるシリコンと結合する水素をグロー放
電によって生じた水素ラジカルがはぎとり次の堆積が起
るということであるので、水素ラジカルよけもはるかに
活性なフッ素ラジカルが存在すればこの反応はさらに促
進され、かつフッ素ラジカルはシリコンをもエツチング
することがらa −8iの成膜時には堆積とエツチング
とが同時に生ずるというものである。したがって5iH
aガス(又は3128sガス)にフッ素を含むガスを混
入して成膜した場合には堆積したi表面の突起がエツチ
ングされるとともにエツチングされた表面にはさらにa
−8iが堆積し、結果的には表面の平滑性に骨れた光導
電性βが得られることになる。なおこの第2光導電性層
3BのIl!厚は前述のごとく0.5〜1.0μm程度
が最も良好であり、浮過ぎると感光特性が悪化すること
になる。このようにして光導電性1!J3が形成された
後には3i Haガスボンベ34内の5iHaガスに対
してCHaガスボンベ36内のCF−Itガスをその3
倍混合して反応容器12内に供恰しながらグロー放電分
解し、a/!iIが数百へ〜数千へ程度の表面?!!!
覆屈4を形成する。この表面波m Fff 4は炭素を
含むa−8i口となる。なお、上記ブロッキング唐2、
光導電住居3及び表面波I?JFl!14を反応容器1
2内で形成するときには、反応容器12内の圧力を0.
1〜1.0torr程度になるように排気系の排気速度
を調整して定常状態を保持しておいた。
このようにして製造された光導電部材は上述のごとく光
導電性豹3の表面が平滑であるので、その上に形成され
る表面?LMlffi 4は感光特性を良好に保持する
ことのできる数百へ〜数千へ程度の膜厚であってもその
表面は均一である。
導電性豹3の表面が平滑であるので、その上に形成され
る表面?LMlffi 4は感光特性を良好に保持する
ことのできる数百へ〜数千へ程度の膜厚であってもその
表面は均一である。
このような平滑化処理が行われた光導電部材を用いて帯
電、露光、現像のサイクルを春返しその特性の変化を調
べた結果、平滑化処理を行わなかった光導電部材につい
ては初期帯電能力が0.4μC/c1の電荷邑で500
Vの表面電位が青られたものが50回程度の桿返しでそ
の表面電位が300V程度にまで減少してしまったのに
対し、平滑化処理を行った光導電部材については初WJ
表面電位が550vとややQれ、かつ10万回の帯電、
露光、現像サイクルの緑返しにも感光特性の劣化は何ら
生じず、しかも現像剤のフィルミング現像も起こりにく
く10万回のii!ii像形成後像形雨後の良好な画像
を得ることができた。
電、露光、現像のサイクルを春返しその特性の変化を調
べた結果、平滑化処理を行わなかった光導電部材につい
ては初期帯電能力が0.4μC/c1の電荷邑で500
Vの表面電位が青られたものが50回程度の桿返しでそ
の表面電位が300V程度にまで減少してしまったのに
対し、平滑化処理を行った光導電部材については初WJ
表面電位が550vとややQれ、かつ10万回の帯電、
露光、現像サイクルの緑返しにも感光特性の劣化は何ら
生じず、しかも現像剤のフィルミング現像も起こりにく
く10万回のii!ii像形成後像形雨後の良好な画像
を得ることができた。
次に他の実施例について説明する。第3図は本発明の第
2の実施例である光導電部材を示す断面図である。第1
図に示すものと同一のものには同符号を付してその詳細
な説明を省略するつ異なる構成は前記ブロッキング門2
の表面に形成されていてシリコン原子を母体として水素
を含み表面が平滑化された光導電性53を次のようにb
で構成したことである。即ち82F−1sガスと5IH
tガスとを混合した原料ガスをグロー放電分mしてa−
81の門を形成し、その後Si Fa又はCFlなどの
ようにフッ素を含むガスを使用してグロー放電を起しa
−3iの前の表面の突起をこのグロー放電で生じたフッ
素ラジカルによりエツチングして表面が平滑な一層から
成る光導電性唐3を構成したものである。
2の実施例である光導電部材を示す断面図である。第1
図に示すものと同一のものには同符号を付してその詳細
な説明を省略するつ異なる構成は前記ブロッキング門2
の表面に形成されていてシリコン原子を母体として水素
を含み表面が平滑化された光導電性53を次のようにb
で構成したことである。即ち82F−1sガスと5IH
tガスとを混合した原料ガスをグロー放電分mしてa−
81の門を形成し、その後Si Fa又はCFlなどの
ようにフッ素を含むガスを使用してグロー放電を起しa
−3iの前の表面の突起をこのグロー放電で生じたフッ
素ラジカルによりエツチングして表面が平滑な一層から
成る光導電性唐3を構成したものである。
このような光り電部材も第2図に示す製造@訂によって
製造することができ、光導電性−3の表面をエツチング
して平滑化する場合にはSi F!ガスタンク37内の
St Faガス又はc F aガスタンク38内のCF
&ガスを使用することになる。
製造することができ、光導電性−3の表面をエツチング
して平滑化する場合にはSi F!ガスタンク37内の
St Faガス又はc F aガスタンク38内のCF
&ガスを使用することになる。
なお本実施例の1合には第1の実M例の場合と異なり、
Si F4ガス又はCFaF2ガス3i)inガスを混
合しないのでa−8i表面の突起がエツチングされるだ
けで新たなa−3iの堆積は生じない。
Si F4ガス又はCFaF2ガス3i)inガスを混
合しないのでa−8i表面の突起がエツチングされるだ
けで新たなa−3iの堆積は生じない。
このようにして製造された光導電部材も光1717性1
!t3が平滑化されているので、第1の実施例で説明し
た光導電部材と同様の実験結果を得ることができた。
!t3が平滑化されているので、第1の実施例で説明し
た光導電部材と同様の実験結果を得ることができた。
なお上記実施例は一例であり本発明の要旨の範囲内にお
いて種々の変形実施ができること1ま言うまでもない。
いて種々の変形実施ができること1ま言うまでもない。
例えば両実施例においてはプロ・ンキング廐、光尋電性
居及び表面被覆層をa−3iをペニスにして構成したが
少な(とも光導m牲層のみがSi原子を母体としていれ
ばよい、また光導電性n表面の平滑化は上記実施例で説
明したフッ素ラジカルによるエツチング作用によるもの
のみに限定されるものではなく、ラップ剤を使用したラ
ッピング仕上げ又はその個の秤々の研摩材を使用した研
摩仕上げなどのようにn械的研摩によって平滑化された
ものであっても良い。なお、放電加工は逆に表面が荒れ
てしまうので応用することはできない。
居及び表面被覆層をa−3iをペニスにして構成したが
少な(とも光導m牲層のみがSi原子を母体としていれ
ばよい、また光導電性n表面の平滑化は上記実施例で説
明したフッ素ラジカルによるエツチング作用によるもの
のみに限定されるものではなく、ラップ剤を使用したラ
ッピング仕上げ又はその個の秤々の研摩材を使用した研
摩仕上げなどのようにn械的研摩によって平滑化された
ものであっても良い。なお、放電加工は逆に表面が荒れ
てしまうので応用することはできない。
[発明の効果]
以上の説明から明らかなように本発明の光導電部材にあ
っては、表面が平滑な光導電性層上に表面71覆層が積
府されているのでその外表面は平滑かつ均一であり、繰
返し使用に対する感光特性の劣化を防止することができ
、しかも現像剤のフィルミング現象が容易に生じてしま
うことを防止することができるなどの優れた効果を有J
るものである。
っては、表面が平滑な光導電性層上に表面71覆層が積
府されているのでその外表面は平滑かつ均一であり、繰
返し使用に対する感光特性の劣化を防止することができ
、しかも現像剤のフィルミング現象が容易に生じてしま
うことを防止することができるなどの優れた効果を有J
るものである。
第1図は本発明の第1実施例である光導電部材を示す断
面図、第2図は光導電部材の製造装置の一例を示す概略
説明図、第3図は本発明の第2の実施例である光導電部
材を示す断面図である。 1・・・・・・導電性基体、2・・・・・・10ッキン
グ層、3・・・・・・光導電性層、4・・・・・・表面
被引り第1図 第3図
面図、第2図は光導電部材の製造装置の一例を示す概略
説明図、第3図は本発明の第2の実施例である光導電部
材を示す断面図である。 1・・・・・・導電性基体、2・・・・・・10ッキン
グ層、3・・・・・・光導電性層、4・・・・・・表面
被引り第1図 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)導電性基体上に設けられかつこの導電性基体から
の電荷の注入を防止するブロッキング層と、シリコン原
子を母体として水素を含み表面が平滑化された光導電性
層と、表面波W1nとが順次ff1li( されて成ることを特徴とする光導電部材。 (′2J 前記ブロッキング艷よ、シリコン原子を母体
として水素を含む特許請求の範囲第1項に記載の光導電
部材。 (3)前記表面被覆層は、シリコン原子を母体として水
素を含む特許請求の範囲第1項又は第2項に(4)前記
光導電性層は、光導電性n形成途上において少なくとも
フッ素原子を含む原料ガスがグロー放電分解されること
によってその表面が平滑化されている特許請求の範囲第
1項に記載の光導電部材。 (5)前記光導電性層は、表面被覆層積層前にその表面
が機婢的研摩により平滑化されている特許請求の範囲第
1項に記載の光導電部材。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13875883A JPS6029755A (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 光導電部材 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13875883A JPS6029755A (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 光導電部材 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6029755A true JPS6029755A (ja) | 1985-02-15 |
Family
ID=15229492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13875883A Pending JPS6029755A (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 光導電部材 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6029755A (ja) |
-
1983
- 1983-07-28 JP JP13875883A patent/JPS6029755A/ja active Pending
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