JPS6031735A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
- Publication number
- JPS6031735A JPS6031735A JP58139815A JP13981583A JPS6031735A JP S6031735 A JPS6031735 A JP S6031735A JP 58139815 A JP58139815 A JP 58139815A JP 13981583 A JP13981583 A JP 13981583A JP S6031735 A JPS6031735 A JP S6031735A
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- JP
- Japan
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- ray
- rays
- pulse
- amount
- subject
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- Granted
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、被検体を透過したＸ線量に関するデータか
ら断層像を再構成するＸ線ＣＴ装Ｍ（コンピユーテッド
昏トモグラフィ装置）に関し、特にこの装置におけるＸ
線発生の制御の改善に関する。
ら断層像を再構成するＸ線ＣＴ装Ｍ（コンピユーテッド
昏トモグラフィ装置）に関し、特にこの装置におけるＸ
線発生の制御の改善に関する。
（ロ）従来技術
Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線管球より被検体に対してＸ線を照
射し、被検体を透過したＸ線をｘ！ｌ検出器で検出して
データを得、このＸ線管球とＸ線検出器とを被検体に対
してスキャニングさせて多数のデータを収集し、このデ
ータを画像再構成処理することによって断層像を得るも
のであるが、従来では、スキャニング直前に決められた
Ｘ線条件（たとえばＸ線管電圧１２０ＫＶ、Ｘ線管電流
３００ｍＡ、パルス幅３ｍ５ｅｃ）でスキャニングが行
なわれ、通常０．６°毎にＸ線ノ々ルスを発生し、３６
０°まで回転してスキャニングが終了する。１パルス当
りのＸ線量は、Ｘ線管電圧をＫｖ、Ｘ線管電流をＭＡ、
パルス幅をＰＷとしたとき、（ＫＶ）” ＸＭＡＸＰＷ
に比例する（ｎは３〜４程度）が、Ｘ線条件の設定にあ
たっては６００パルス（３６０°１０，６°）のうちど
のパルスにおいても被検体を透過したＸ線量が測定する
のに充分な程の大きさとなるようにする必要がある。そ
のため、人体のように楕円形の断面の被検体では長軸方
向での透過Ｘ線量を基準にＸ線条件が決定され、短軸方
向では過剰なＸ線量となり、患者に対する被曝線量が多
くなってしまう。
射し、被検体を透過したＸ線をｘ！ｌ検出器で検出して
データを得、このＸ線管球とＸ線検出器とを被検体に対
してスキャニングさせて多数のデータを収集し、このデ
ータを画像再構成処理することによって断層像を得るも
のであるが、従来では、スキャニング直前に決められた
Ｘ線条件（たとえばＸ線管電圧１２０ＫＶ、Ｘ線管電流
３００ｍＡ、パルス幅３ｍ５ｅｃ）でスキャニングが行
なわれ、通常０．６°毎にＸ線ノ々ルスを発生し、３６
０°まで回転してスキャニングが終了する。１パルス当
りのＸ線量は、Ｘ線管電圧をＫｖ、Ｘ線管電流をＭＡ、
パルス幅をＰＷとしたとき、（ＫＶ）” ＸＭＡＸＰＷ
に比例する（ｎは３〜４程度）が、Ｘ線条件の設定にあ
たっては６００パルス（３６０°１０，６°）のうちど
のパルスにおいても被検体を透過したＸ線量が測定する
のに充分な程の大きさとなるようにする必要がある。そ
のため、人体のように楕円形の断面の被検体では長軸方
向での透過Ｘ線量を基準にＸ線条件が決定され、短軸方
向では過剰なＸ線量となり、患者に対する被曝線量が多
くなってしまう。
また、このように過剰なＸ線量を出力することはＸ線管
球にとっても負荷が大きくなりＸ線管球の寿命Ｉｊｉｔ
ｉｌ？ｔの原因となっている。
球にとっても負荷が大きくなりＸ線管球の寿命Ｉｊｉｔ
ｉｌ？ｔの原因となっている。
（ハ）目的
この発明は、Ｘ線量をＸ線パルス毎に必要な最小値に抑
え、もって患者のＸ線被曝線量を減少させるとともにＸ
線管球の負荷を軽減し寿命を延ばすよう改善したＸ線Ｃ
Ｔ装置を提供することを目的とする。
え、もって患者のＸ線被曝線量を減少させるとともにＸ
線管球の負荷を軽減し寿命を延ばすよう改善したＸ線Ｃ
Ｔ装置を提供することを目的とする。
（ニ）構成
この発明によるＸ線ＣＴ装置では、Ｘ線パルスの発生毎
に被検体を透過したＸ線量の最小値を検出し、この検出
したＸ線量最小値と測定可能な透過Ｘ！！量の下限値と
の偏差をめてこの偏差に応じてつぎに発生すべきＸ線パ
ルスのＸ線条件を決定するようにしている。
に被検体を透過したＸ線量の最小値を検出し、この検出
したＸ線量最小値と測定可能な透過Ｘ！！量の下限値と
の偏差をめてこの偏差に応じてつぎに発生すべきＸ線パ
ルスのＸ線条件を決定するようにしている。
（ホ）実施例
第１図はこの発明を第３世代のスキャニング方式のＸ線
ＣＴ装置に適用した実施例を示すもので、第１図におい
て、Ｘ線管球ｌからＸ線が被検体２に対してパルス照射
されこの被検体２を透過したＸ線が多数のＸ線検出器か
らなるＸ線検出器群３に入射し、Ｘ線検出器群３からの
出力はデータ収集装置４に送られてディジタル化され、
透過Ｘ線量に関するデータが得られる。このデータはＣ
ＰＵとメモリとを含む画像再構成処理装置（図示しない
）に送られ記憶される。そしてＸ線管ｌとＸ線検出器群
３とを被検体２の周囲に１回転させたときの００から３
６０°までの例えば０．６°毎に角度が異なる６００の
各角度においてＸ線パルスの発生を繰返えして、このデ
ータ収集が行なわれる。こうして収集されたデータは画
像再構成処理装置で画像再構成処理され、再構成された
断層像が表示装置（図示しない）で表示される。ここま
での構成は通常のＸ線ＣＴ装置と同様である。
ＣＴ装置に適用した実施例を示すもので、第１図におい
て、Ｘ線管球ｌからＸ線が被検体２に対してパルス照射
されこの被検体２を透過したＸ線が多数のＸ線検出器か
らなるＸ線検出器群３に入射し、Ｘ線検出器群３からの
出力はデータ収集装置４に送られてディジタル化され、
透過Ｘ線量に関するデータが得られる。このデータはＣ
ＰＵとメモリとを含む画像再構成処理装置（図示しない
）に送られ記憶される。そしてＸ線管ｌとＸ線検出器群
３とを被検体２の周囲に１回転させたときの００から３
６０°までの例えば０．６°毎に角度が異なる６００の
各角度においてＸ線パルスの発生を繰返えして、このデ
ータ収集が行なわれる。こうして収集されたデータは画
像再構成処理装置で画像再構成処理され、再構成された
断層像が表示装置（図示しない）で表示される。ここま
での構成は通常のＸ線ＣＴ装置と同様である。
各Ｘ線パルス発生における透過Ｘ線量は被検体２の断面
が円形でない限り異なり、図に示すような楕円形の断面
の被検体２の場合Ｘ線管球ｌがＰ位置にあるとき透過厚
さが厚くなるので透過Ｘ線ｊ１１が小さくなり、Ｑ位置
にあるとき透過厚さが薄くなるので大きくなる。すなわ
ち、透過Ｘ線量はＰ位置で第２図の曲線Ｐのようになり
、Ｑ位置で曲線Ｑのようになる。この各Ｘ線パルスにお
けるデータが最小４ｆｉ判別回路５に送られ、透過Ｘ線
量の最小値Ｘｏが最小値判別回路５で検出される。
が円形でない限り異なり、図に示すような楕円形の断面
の被検体２の場合Ｘ線管球ｌがＰ位置にあるとき透過厚
さが厚くなるので透過Ｘ線ｊ１１が小さくなり、Ｑ位置
にあるとき透過厚さが薄くなるので大きくなる。すなわ
ち、透過Ｘ線量はＰ位置で第２図の曲線Ｐのようになり
、Ｑ位置で曲線Ｑのようになる。この各Ｘ線パルスにお
けるデータが最小４ｆｉ判別回路５に送られ、透過Ｘ線
量の最小値Ｘｏが最小値判別回路５で検出される。
゛ト限イ１１（出力回路６は透過Ｘ線量の測定可能な下
限値に対応する出力Ｚを生じており、このＸｏとＺの４
ｉＩｔ号が減算及び乗算器７に送られてＸｏからＺが差
し引かれ、偏差量Ｋ（Ｘｏ−Ｚ）が得られる（Ｋは比例
定数）。
限値に対応する出力Ｚを生じており、このＸｏとＺの４
ｉＩｔ号が減算及び乗算器７に送られてＸｏからＺが差
し引かれ、偏差量Ｋ（Ｘｏ−Ｚ）が得られる（Ｋは比例
定数）。
パルス幅格納レジスタ８には、今回発生されたＸ線パル
スのパルス幅ＦＷが格納されている。減ｑ器９ではこの
パルス幅ＰＷから偏差量Ｋ（Ｘ。
スのパルス幅ＦＷが格納されている。減ｑ器９ではこの
パルス幅ＰＷから偏差量Ｋ（Ｘ。
−２）が差し引かれ、このＦＷ−Ｋ（Ｘｏ−Ｚ）の値に
より次回のＸ線パルスのパルス幅が決定される。この値
を表わす信号がＸ線発生回路１０に送られ、この値に対
応するパルス幅のＸ線パルスがＸ線管球ｌより次に発生
される。したがって、次に発生されるＸ線パルスにおけ
る透過ｘｌ量の最小値Ｘｏが上記の下限値Ｚに近くなる
ような制御がなされることになり、このような制御を行
なわなかった場合に第２図の曲線Ｑのようになる筈のと
ころが曲線Ｈのようになる。そしてこのときのパルス幅
がパルス幅格納レジスタ８に格納され、次のＸ線パルス
発生におけるパルス幅決定のために使用される。こうし
て次々に今回のパルス幅を参照しながら次回のパルス幅
を決定して順次Ｘ線パルスが発生される。ここで、現に
今発生しているＸ線パルス自体のＸ線量を制御しなかっ
たのは、普通の患者の身体等の被検体２では厚さの変化
がなめらかであるからである。
より次回のＸ線パルスのパルス幅が決定される。この値
を表わす信号がＸ線発生回路１０に送られ、この値に対
応するパルス幅のＸ線パルスがＸ線管球ｌより次に発生
される。したがって、次に発生されるＸ線パルスにおけ
る透過ｘｌ量の最小値Ｘｏが上記の下限値Ｚに近くなる
ような制御がなされることになり、このような制御を行
なわなかった場合に第２図の曲線Ｑのようになる筈のと
ころが曲線Ｈのようになる。そしてこのときのパルス幅
がパルス幅格納レジスタ８に格納され、次のＸ線パルス
発生におけるパルス幅決定のために使用される。こうし
て次々に今回のパルス幅を参照しながら次回のパルス幅
を決定して順次Ｘ線パルスが発生される。ここで、現に
今発生しているＸ線パルス自体のＸ線量を制御しなかっ
たのは、普通の患者の身体等の被検体２では厚さの変化
がなめらかであるからである。
こうして次々に減算器９から発生されるパルス幅に対応
するＦＷ−Ｋ （Ｘｏ−Ｚ）の伯はアキュムレータＩＩ
に送られ、そのパルス幅が積算される。スキャニング終
了後に得られる積算値はＣＰＵに送られる。したがって
、Ｃ’ＰＵは１回のスキャニングにおけるＸ線発生時間
の総計からＸ線？庁球１に蓄積された熱量を知ることが
でき、次にスキャニング開始する迄のＸ線管球ｌの冷却
時間を算出し、これに応じた冷却時間制御が可能となる
。
するＦＷ−Ｋ （Ｘｏ−Ｚ）の伯はアキュムレータＩＩ
に送られ、そのパルス幅が積算される。スキャニング終
了後に得られる積算値はＣＰＵに送られる。したがって
、Ｃ’ＰＵは１回のスキャニングにおけるＸ線発生時間
の総計からＸ線？庁球１に蓄積された熱量を知ることが
でき、次にスキャニング開始する迄のＸ線管球ｌの冷却
時間を算出し、これに応じた冷却時間制御が可能となる
。
さらに、第１図に示すようにＸ線管球ｌから発生される
Ｘ線が照射される適宜な位置にレファレンス検出器１２
が設けられており、実際に照射されるＸ線量を検出する
ようになっている。そのため、データ収集回路４から出
力されるデータを画像再構成のためにレファレンス検出
器１２の出力でノーマライズすることができ、上記のよ
うにＸ線パルス発生毎にＸ線条件が変更されても画像再
構成に支障は生じない。
Ｘ線が照射される適宜な位置にレファレンス検出器１２
が設けられており、実際に照射されるＸ線量を検出する
ようになっている。そのため、データ収集回路４から出
力されるデータを画像再構成のためにレファレンス検出
器１２の出力でノーマライズすることができ、上記のよ
うにＸ線パルス発生毎にＸ線条件が変更されても画像再
構成に支障は生じない。
なお、」−記ではパルス幅を制御するようにしたが、フ
ィラメン１の加熱電流（ｍ Ａ ）を同様にしてＸ線パ
ルス発生毎に制御しＸ線量を変えるという構成も採用で
きる。
ィラメン１の加熱電流（ｍ Ａ ）を同様にしてＸ線パ
ルス発生毎に制御しＸ線量を変えるという構成も採用で
きる。
上記の実施例は第３世代のスキャニング方式のＸ１ｉＣ
Ｔ装置に適用したものであるが、他のスキャニング方式
のＸ線ＣＴ装置にも適用できることは勿論である。、 （へ）効果 この発明によるＸ線ＣＴ装置では、Ｘ線パルス毎のＸ線
量が必要にして充分な、最小値に保たれることになり、
患者のＸ線被曝線量を減少させるとともにＸ線管球の負
荷を軽減し寿命を延ばすことができる。また、Ｘ線管球
の負荷が軽減するため、患者処理能力が向上する。すな
わち負荷が大きいとｘ！ＪｉＩｖ球のアノードの温度が
−１するのでその冷却が必要となり、そのため現在では
患者処理能力がＸ線管球の負荷によって制限されている
が、負荷を軽減しＸ線管球のアノード温度を下げその冷
却時間を短くすることによって患者処理能力を向上する
ことができる。
Ｔ装置に適用したものであるが、他のスキャニング方式
のＸ線ＣＴ装置にも適用できることは勿論である。、 （へ）効果 この発明によるＸ線ＣＴ装置では、Ｘ線パルス毎のＸ線
量が必要にして充分な、最小値に保たれることになり、
患者のＸ線被曝線量を減少させるとともにＸ線管球の負
荷を軽減し寿命を延ばすことができる。また、Ｘ線管球
の負荷が軽減するため、患者処理能力が向上する。すな
わち負荷が大きいとｘ！ＪｉＩｖ球のアノードの温度が
−１するのでその冷却が必要となり、そのため現在では
患者処理能力がＸ線管球の負荷によって制限されている
が、負荷を軽減しＸ線管球のアノード温度を下げその冷
却時間を短くすることによって患者処理能力を向上する
ことができる。
第１図はこの発明の二実施例のブロック図、第２（４は
動作を説明するための透過Ｘ線量のグラフである。 １・・・ｘ！ｌ管球 ２・・・被検体 ３・・・Ｘ線検出′ｘ；群 ４・・・データ収集回路５
・・・最小値判別回路 ６・・・下限値出方回路７・・
・減算及び乗算器 ８・・・パルス幅格納レジスタ９・
・・減算器 １ｏ・・・Ｘ線発生回路１１・・・アキュ
１、レーク １２・・・レファレンス検出器 出願人 株式会社島津製作所
動作を説明するための透過Ｘ線量のグラフである。 １・・・ｘ！ｌ管球 ２・・・被検体 ３・・・Ｘ線検出′ｘ；群 ４・・・データ収集回路５
・・・最小値判別回路 ６・・・下限値出方回路７・・
・減算及び乗算器 ８・・・パルス幅格納レジスタ９・
・・減算器 １ｏ・・・Ｘ線発生回路１１・・・アキュ
１、レーク １２・・・レファレンス検出器 出願人 株式会社島津製作所
Claims (1)
- （１）Ｘ線管球より被検体に対してＸ線をパルス照射し
、被検体を透過したＸ線をｘ！１検出器で検出してデー
タを得、このＸ！１管球とＸ線検出器とを被検体に対し
てスキャニングさせて多数のデータを収集し、このデー
タを画像再構成処理することによって断層像を得るＸ線
ＣＴ装置において、Ｘ線パルスの発生毎に被検体を透過
したＸ線量の最小値を検出する手段と、この検出したｘ
Ｉｉ量最小ｆ１／］と測定ｎ（能な透過Ｘ線量の下限値
との偏差をめる手段と、この偏差に応じてつぎに発生す
べきＸ線パルスのＸ線条件を決定する手段とを備えるこ
と特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58139815A JPS6031735A (ja) | 1983-07-30 | 1983-07-30 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58139815A JPS6031735A (ja) | 1983-07-30 | 1983-07-30 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6031735A true JPS6031735A (ja) | 1985-02-18 |
| JPH0432659B2 JPH0432659B2 (ja) | 1992-05-29 |
Family
ID=15254093
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58139815A Granted JPS6031735A (ja) | 1983-07-30 | 1983-07-30 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6031735A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004208713A (ja) * | 2002-12-26 | 2004-07-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔシステムならびに画像処理装置および方法 |
| JP2005058774A (ja) * | 2003-08-18 | 2005-03-10 | Siemens Ag | 対象物の構造データの取得装置 |
| JP2012034901A (ja) * | 2010-08-09 | 2012-02-23 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置、方法およびプログラム |
-
1983
- 1983-07-30 JP JP58139815A patent/JPS6031735A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004208713A (ja) * | 2002-12-26 | 2004-07-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔシステムならびに画像処理装置および方法 |
| JP2005058774A (ja) * | 2003-08-18 | 2005-03-10 | Siemens Ag | 対象物の構造データの取得装置 |
| JP2012034901A (ja) * | 2010-08-09 | 2012-02-23 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置、方法およびプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0432659B2 (ja) | 1992-05-29 |
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