JPS6035229A - 放射温度計 - Google Patents
放射温度計Info
- Publication number
- JPS6035229A JPS6035229A JP14464983A JP14464983A JPS6035229A JP S6035229 A JPS6035229 A JP S6035229A JP 14464983 A JP14464983 A JP 14464983A JP 14464983 A JP14464983 A JP 14464983A JP S6035229 A JPS6035229 A JP S6035229A
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- temperature
- signals
- wavelength
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/60—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature
- G01J5/601—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature using spectral scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(lン発明の分野
この発明は、CODのようなイメージセンサ等を用いた
放射温度針に関するものである。
放射温度針に関するものである。
(2)従来技術
従来、放射温度針の出力は、入射エネルギーの変化幅が
大きく、リニア2イズのためのアナログ演算回路は、複
雑で調整を多く必要としていた。
大きく、リニア2イズのためのアナログ演算回路は、複
雑で調整を多く必要としていた。
また、デジタル信号を得るには、16ビツト程度の高価
、高分解能のA−D変換器を必要としていた。
、高分解能のA−D変換器を必要としていた。
(3)発明の目的
この発明の目的は1以上の点に鑑み、イメージセンナ等
を利用し、安価、高精度、高信頼性に被測定対象の温度
をデジタル的に測定できる放射温度針を提供することで
ある。
を利用し、安価、高精度、高信頼性に被測定対象の温度
をデジタル的に測定できる放射温度針を提供することで
ある。
(4)発明の実施例
この発明の原理は次のようである。
熱放射の分光放射輝度L(λ、Tンと波長λ。
熱力学的温度Tとの間には、ブランクの放射剤が成り立
ち、第1図で示すように温度Tに対し、一定の曲線とな
る。所定の波長領域においで、L(λ。
ち、第1図で示すように温度Tに対し、一定の曲線とな
る。所定の波長領域においで、L(λ。
T)が一定値LOとなる点について、波長λl、・・・
、λnに対して温度Tl、・・・、Tnは一義的に定ま
る。つまり、複数の波長についての複数の検出信号のう
ち。
、λnに対して温度Tl、・・・、Tnは一義的に定ま
る。つまり、複数の波長についての複数の検出信号のう
ち。
どの波長についての出力が一定値となるかを検出し、そ
の波長から被測定対象の温度がまることになる。
の波長から被測定対象の温度がまることになる。
つまり、ブランクの放射剤は。
で与えられ(CI、C2;定数)2例えば放射エネルギ
ーを分光器で分光してCODのようなイメージセンサ(
撮像素子)に入射させると、イメージセンサの各素子(
画素)の出力■λは、対応する波長λと温度Tの関数と
なり9次式となる。
ーを分光器で分光してCODのようなイメージセンサ(
撮像素子)に入射させると、イメージセンサの各素子(
画素)の出力■λは、対応する波長λと温度Tの関数と
なり9次式となる。
■λ−A(λ)・L(λ、T) ・・・・・・川・・川
・・・・(2)(A(λ);光学系および素子を含めた
分光感度)イメージセンサの各画素と波長とは1対1に
対応しており、波長λは2画素番号Nの関数となるため
2画素番号Nの画素出力■は2画素番号Nと温度Tの関
数となり次式であられされる。
・・・・(2)(A(λ);光学系および素子を含めた
分光感度)イメージセンサの各画素と波長とは1対1に
対応しており、波長λは2画素番号Nの関数となるため
2画素番号Nの画素出力■は2画素番号Nと温度Tの関
数となり次式であられされる。
V(N、T)=A(!(H)−L(J(N)、T)2C
11 =A(J(N))λ(N)5exp(02/J (N)
T)−1°−(3)(3)式は1分光感度や分光放射輝
度の波長特性により第2図で示すように多くの場合2価
関数となるが、適当な波長範囲では1価関数とみなせる
。
11 =A(J(N))λ(N)5exp(02/J (N)
T)−1°−(3)(3)式は1分光感度や分光放射輝
度の波長特性により第2図で示すように多くの場合2価
関数となるが、適当な波長範囲では1価関数とみなせる
。
(3)式を変形すると、温度Tは、N番目の画素出力V
(N)と、対応する波長λ(N)により次式となる。
(N)と、対応する波長λ(N)により次式となる。
T=f(V(N)、λ(N))
(4)式で一定値Vsとなる条件を与えれば、Tは波長
λ、つまり画素番号Nのみの1価関数となり。
λ、つまり画素番号Nのみの1価関数となり。
次式となる。
T= g (N)
乙
をめれば、その時の温度T−P−義的に定めるこが゛
とをできることを示す。
第3図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
。
図において、lは被測定対象、2は、被測定対象lから
の放射エネルギーを集光するレンズ等よりなる光学系、
Sは光束を絞るスリット、3は光学系2よりの光を分光
するプリズム、回折格子等の分光手段、4は分光手段3
により分光されレンズ2′で集光された光を各素子に入
射させ複数の波長λ1.・・・、λnに対応した出力信
号を発生するCODのようなイメージセンサ、5はイメ
ージセンサ4の各素子の画素出力と一定電圧値Vsとを
比較し。
の放射エネルギーを集光するレンズ等よりなる光学系、
Sは光束を絞るスリット、3は光学系2よりの光を分光
するプリズム、回折格子等の分光手段、4は分光手段3
により分光されレンズ2′で集光された光を各素子に入
射させ複数の波長λ1.・・・、λnに対応した出力信
号を発生するCODのようなイメージセンサ、5はイメ
ージセンサ4の各素子の画素出力と一定電圧値Vsとを
比較し。
一致したとき出力信号を発生する比較器、6はイメージ
センサ4を駆動するパルス信号を発生するパルス信号発
生器7のパルスをカウントし、比較器5の出力により素
子番号Nを出力するカウンタ。
センサ4を駆動するパルス信号を発生するパルス信号発
生器7のパルスをカウントし、比較器5の出力により素
子番号Nを出力するカウンタ。
8はカウンタ6の素子番号出力に対応して温度出力を発
生するROMのようなメモリである。このメモリ8には
、あらかじめ、一定値Vs、 波長で定まる温度Tのテ
ーブルが記憶されており、これら比較器5.カウンタ6
等で演算手段を構成し、この演算手段はマイクロコンビ
ーータにより構成しでもよい。
生するROMのようなメモリである。このメモリ8には
、あらかじめ、一定値Vs、 波長で定まる温度Tのテ
ーブルが記憶されており、これら比較器5.カウンタ6
等で演算手段を構成し、この演算手段はマイクロコンビ
ーータにより構成しでもよい。
つまり、光学系29分光手段3により集光φ分介六れた
被測♀対mlからの放射エネルギーはイメージセンサ4
の各素子に入射し、各素子は入射波長λl、・・・、λ
nに対応した出力信号を発生し、パルス信号発生器7の
パルス信号により順次読み出されるとともに、このパル
ス信号に同期してカウンタ6はカウントを行う。比較器
5はイメージセンサ4の出力を順次比較し、一定値Vs
と一致したとき、カウンタ6にカウントを停止させ、そ
の時のカウント値N(イメージセンサ4の各素子位置に
対応する)をメモリ8に出力する。メモリ8は。
被測♀対mlからの放射エネルギーはイメージセンサ4
の各素子に入射し、各素子は入射波長λl、・・・、λ
nに対応した出力信号を発生し、パルス信号発生器7の
パルス信号により順次読み出されるとともに、このパル
ス信号に同期してカウンタ6はカウントを行う。比較器
5はイメージセンサ4の出力を順次比較し、一定値Vs
と一致したとき、カウンタ6にカウントを停止させ、そ
の時のカウント値N(イメージセンサ4の各素子位置に
対応する)をメモリ8に出力する。メモリ8は。
このカウント値Nに対応した波長についでの出力が一定
値Vsとなる温度Tを出力する。なお、この温度Tは計
算によりめることもでき、カウンタ6の出力から直接温
度に対応したデジタル出力信号が得られる。
値Vsとなる温度Tを出力する。なお、この温度Tは計
算によりめることもでき、カウンタ6の出力から直接温
度に対応したデジタル出力信号が得られる。
以上の例では、検出器としてイメージセンサを用いたも
のを示したが、1個の素子に対し、連続的に分光された
放射エネルギーを入射させてもよい。
のを示したが、1個の素子に対し、連続的に分光された
放射エネルギーを入射させてもよい。
(5)発明の要約
以上述べたように、この発明は、被測定対象からの放射
エネルギーを受光し複数波長に対応した出力信号を発生
する検出器と、この検出器の複数えた放射温度計である
。
エネルギーを受光し複数波長に対応した出力信号を発生
する検出器と、この検出器の複数えた放射温度計である
。
(6)発明の効果
多波長信号を利用して一定値出力から温度をめるように
しているので、演算装置は簡単で済み。
しているので、演算装置は簡単で済み。
直接デジタル信号が得られるので高価なA−D変換器は
不要で、安価、高信頼性のものとなる。
不要で、安価、高信頼性のものとなる。
また、放射温度計の出力V中のノイズをΔVとすると、
ノイズΔ■により定まる温度分解能ΔTとその時の温度
Tの比は次のようにしてまる。
ノイズΔ■により定まる温度分解能ΔTとその時の温度
Tの比は次のようにしてまる。
分光放射輝度L(λ、T)を(1)式の代わりに指数n
を用いて近似すると次式となる。
を用いて近似すると次式となる。
L−kT”(kは定数ン ・・・・・・・・・・・・・
・・(6)また(2)式より次式を得る。
・・(6)また(2)式より次式を得る。
V=AL ・・曲回・川C2)′
(6ン式より
Δl、=nkT ΔT
となる。また、 (2)’式よりΔV=AΔLより、(
7)式は。
7)式は。
となる。また、ウィーンの公式から
n=C2/λT ・・・・・・・・・・・・・・・(9
)が成り立つことが知られている。
)が成り立つことが知られている。
つまり、この発明では、■が一定として測定を行ってい
るので、温度TによりΔVは温度によらず一定で、ΔV
/Vは一定となる。
るので、温度TによりΔVは温度によらず一定で、ΔV
/Vは一定となる。
また、第1図等を参照しても分るように、温度Tが高く
なると、測定波長λも短い方向へ動くので、(9)式よ
り2通常の放射温度計よF)n値の変化幅は少ない。
なると、測定波長λも短い方向へ動くので、(9)式よ
り2通常の放射温度計よF)n値の変化幅は少ない。
これよ’l 、 (8)式においで、右辺のn値、ΔV
/Vは、はぼ一定となり、ΔT/Tは1通常の放射温度
計に比べ、測定温度範囲で変化が小さく、温度分解能の
変化の影響が少なく、高精度の測温が可能となる。
/Vは、はぼ一定となり、ΔT/Tは1通常の放射温度
計に比べ、測定温度範囲で変化が小さく、温度分解能の
変化の影響が少なく、高精度の測温が可能となる。
第1図、第2図は、この発明の説明図、第3図は、この
発明の一実施例を示す構成説明図である。 1・・・被測定対象、2・・・光学系、3・・・分光手
段。 4・・・イメージセンサ、5・・・比較器、6・・・カ
ウンタ。 7・・・パルス信号発生器、8・・・メモリ特昨出願人
株式会社 千野製作所
発明の一実施例を示す構成説明図である。 1・・・被測定対象、2・・・光学系、3・・・分光手
段。 4・・・イメージセンサ、5・・・比較器、6・・・カ
ウンタ。 7・・・パルス信号発生器、8・・・メモリ特昨出願人
株式会社 千野製作所
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被測定対象からの放射エネルギーを受光し複数の波
長に対応した出力信号を発生する検出器と、この検出器
の複数波長に対応した出力信号が所定の値となる波長に
基き被測定対象の温度を演算する演算手段とを備えたこ
とを特徴とする放射温度計。 2、 前記検出器として2分光手段により分光された放
射エネルギーを入射し複数波長に対応した出力信号を発
生するイメージセンサを用いたことを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の放射温度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14464983A JPS6035229A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14464983A JPS6035229A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 放射温度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6035229A true JPS6035229A (ja) | 1985-02-23 |
| JPH0464016B2 JPH0464016B2 (ja) | 1992-10-13 |
Family
ID=15366987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14464983A Granted JPS6035229A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 放射温度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6035229A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63111266U (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-16 | ||
| JPH0367135A (ja) * | 1989-08-04 | 1991-03-22 | Chino Corp | 放射温度計 |
-
1983
- 1983-08-08 JP JP14464983A patent/JPS6035229A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63111266U (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-16 | ||
| JPH0367135A (ja) * | 1989-08-04 | 1991-03-22 | Chino Corp | 放射温度計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0464016B2 (ja) | 1992-10-13 |
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