JPS6037414B2 - アダマール変換分光計 - Google Patents
アダマール変換分光計Info
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- JPS6037414B2 JPS6037414B2 JP51098820A JP9882076A JPS6037414B2 JP S6037414 B2 JPS6037414 B2 JP S6037414B2 JP 51098820 A JP51098820 A JP 51098820A JP 9882076 A JP9882076 A JP 9882076A JP S6037414 B2 JPS6037414 B2 JP S6037414B2
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- JP
- Japan
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- lens
- photodiode
- hadamard
- spectral
- lens array
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
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- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0208—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
-
- G—PHYSICS
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-
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J3/02—Details
- G01J3/0256—Compact construction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2846—Investigating the spectrum using modulation grid; Grid spectrometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は分光計測技術に関し、特にアダマール変換分光
計に対するフィル夕の改良に関する。
計に対するフィル夕の改良に関する。
普通の分光計において、分析せらるべき個々の波長で合
成されたスペクトルエネルギーのビームはその帯域をス
ペクトルに分散させる分散素子の中を通され、ここでそ
の個々の波長は空間的に拡関される。その波長の或る狭
い帯城だけを通過させるためにスリットが用いられ、そ
の個々の波長は分散素子又はスリットの何れかを機械的
に動かすことにより分析され又は走査される。そのスリ
ットは精細な分解能を達成するために比較的狭いことが
必要であり、そのスリットにより通過せしめられる帯城
幅内に含まれるエネルギーは走査される全スペクトルの
エネルギーに比べて比較的小さい。かくしてこの検出器
は比較的小さい信号を計測し、従って信号対雑音比は比
較的低く、そのため分光計の感度を減小させる。lns
tmment S比ieツ of America 発
行“Anal侭is lnstmmentation
一Volmme l0”49一54頁、JohnA.D
ecker、Jr.による“Ha似mard−Tram
formAM1れicaISpectrometer”
及び米国特許第357898び号−Decker、Jr
.et aそにアダマール・トランスフオーム・スベク
トロメータ(HTS)が記載される。
成されたスペクトルエネルギーのビームはその帯域をス
ペクトルに分散させる分散素子の中を通され、ここでそ
の個々の波長は空間的に拡関される。その波長の或る狭
い帯城だけを通過させるためにスリットが用いられ、そ
の個々の波長は分散素子又はスリットの何れかを機械的
に動かすことにより分析され又は走査される。そのスリ
ットは精細な分解能を達成するために比較的狭いことが
必要であり、そのスリットにより通過せしめられる帯城
幅内に含まれるエネルギーは走査される全スペクトルの
エネルギーに比べて比較的小さい。かくしてこの検出器
は比較的小さい信号を計測し、従って信号対雑音比は比
較的低く、そのため分光計の感度を減小させる。lns
tmment S比ieツ of America 発
行“Anal侭is lnstmmentation
一Volmme l0”49一54頁、JohnA.D
ecker、Jr.による“Ha似mard−Tram
formAM1れicaISpectrometer”
及び米国特許第357898び号−Decker、Jr
.et aそにアダマール・トランスフオーム・スベク
トロメータ(HTS)が記載される。
このHTSは可視及び赤外線の両スペクトル区域共に有
用な分析計器であり、普通の分散式分光計の単純な技術
を用いながらフーリエ変換の干渉計式分光計測作用を行
なう。HTSは多重式計器であり、その意味は一つのス
ペクトル中の全ての波長を同時に観測し従って普通の走
査式モノクロメーク分光計に勝る高い信号対雑音比の知
車利点を有するということである。HTSはまた変成計
器であり、従って多重化が光学的符号化プロセスにより
達成され、測定されたデータ点は入力された分散された
光学的スペクトルの数学的変成である。HTSはスペク
トル識別のために普通の分散光学器(プリズム、格子等
)を使用するものであって、干渉計式計器ではない。ア
ダマール分光作用は普通の分散分光計の出口又は入口の
スリットに一連のマスクを置くことにより行なわれる。
用な分析計器であり、普通の分散式分光計の単純な技術
を用いながらフーリエ変換の干渉計式分光計測作用を行
なう。HTSは多重式計器であり、その意味は一つのス
ペクトル中の全ての波長を同時に観測し従って普通の走
査式モノクロメーク分光計に勝る高い信号対雑音比の知
車利点を有するということである。HTSはまた変成計
器であり、従って多重化が光学的符号化プロセスにより
達成され、測定されたデータ点は入力された分散された
光学的スペクトルの数学的変成である。HTSはスペク
トル識別のために普通の分散光学器(プリズム、格子等
)を使用するものであって、干渉計式計器ではない。ア
ダマール分光作用は普通の分散分光計の出口又は入口の
スリットに一連のマスクを置くことにより行なわれる。
各マスクに対して相異なるスペクトル成分の組合わせが
検出器の上に落ちる。N個の相異なるマスクで測定され
た強度はN価の相異なるスペクトル成分の強度で計算す
るために使用することができる。これは次のようなマト
リックス記号で表わされる一組の連立一次代数方程式に
より表わすことができる。(aij)〔xj〕〔li〕
i=1・・・…Nj=1・・・・・・Nここ
にxjは所望のスペクトル成分の強度を表わし、liは
組合わされた測定強度である。
検出器の上に落ちる。N個の相異なるマスクで測定され
た強度はN価の相異なるスペクトル成分の強度で計算す
るために使用することができる。これは次のようなマト
リックス記号で表わされる一組の連立一次代数方程式に
より表わすことができる。(aij)〔xj〕〔li〕
i=1・・・…Nj=1・・・・・・Nここ
にxjは所望のスペクトル成分の強度を表わし、liは
組合わされた測定強度である。
係数マトリックスの素子〔aij〕は上記方程式を反転
してli値が測定されるとき〔xj〕に対して解くこと
ができるように選定されてよい。かくして符号化マスク
の素子に沿って透明及び不透明の素子を適当に選定する
ことにより、そのような各素子を通過するスペクトル放
射の強度を検出器に到達する放射強度の順々の測定から
推理することが可能である。N個のマスクの代わりに、
(洲‐1)個の素子を有する単一のマスクを使用しても
よい。上記の論文及び特許は従来のHTS技術の更に詳
細な事項について記述している。上記型のHTSは一つ
のマスクを他のマスクに取替えるか又は単一のマスクを
種々の位置に沿って動かす必要があるため比較的のろい
し、またそれに加えてマスクを正確な位置に置き又は単
一のマスクを動かすために比較的高価な機構を使用する
必要があることの故に不利である。
してli値が測定されるとき〔xj〕に対して解くこと
ができるように選定されてよい。かくして符号化マスク
の素子に沿って透明及び不透明の素子を適当に選定する
ことにより、そのような各素子を通過するスペクトル放
射の強度を検出器に到達する放射強度の順々の測定から
推理することが可能である。N個のマスクの代わりに、
(洲‐1)個の素子を有する単一のマスクを使用しても
よい。上記の論文及び特許は従来のHTS技術の更に詳
細な事項について記述している。上記型のHTSは一つ
のマスクを他のマスクに取替えるか又は単一のマスクを
種々の位置に沿って動かす必要があるため比較的のろい
し、またそれに加えてマスクを正確な位置に置き又は単
一のマスクを動かすために比較的高価な機構を使用する
必要があることの故に不利である。
本発明の主たる目的は、可動部分を含まない改良された
フィル夕を持つアダマール変換分光計を提供することに
ある。
フィル夕を持つアダマール変換分光計を提供することに
ある。
本発明の他の目的は、アダマールマスクが多重光学レン
ズの上に、電子的に走査し得る検出器と脇敷するように
、作られている高速の電子−光学的アダマールフィル夕
装置を提供することにある。
ズの上に、電子的に走査し得る検出器と脇敷するように
、作られている高速の電子−光学的アダマールフィル夕
装置を提供することにある。
簡単に言って、本発明の上記及びその他の目的及び利点
が達成される態様はアダマールフィルタを多重レンズの
形で備え、そのうちの或るものはN個の素子のN個の直
線的マスクを提供するために不透明にされることである
。
が達成される態様はアダマールフィルタを多重レンズの
形で備え、そのうちの或るものはN個の素子のN個の直
線的マスクを提供するために不透明にされることである
。
これらのレンズははえの目(フラィズ・アィ)レンズ又
は円柱形レンズであってもよく、それはその中を通って
伝達されるエネルギーをマスクの数に相当する数Nの一
連の直線的ホトダィオード検出器上に焦点を結ばすもの
である。これら検出器の出力は電子的に走査されてよい
。さて図面を参照するに、先ず第1図において、ァダマ
ール変換分光計HTSは広帯域光源10を有する。
は円柱形レンズであってもよく、それはその中を通って
伝達されるエネルギーをマスクの数に相当する数Nの一
連の直線的ホトダィオード検出器上に焦点を結ばすもの
である。これら検出器の出力は電子的に走査されてよい
。さて図面を参照するに、先ず第1図において、ァダマ
ール変換分光計HTSは広帯域光源10を有する。
視準レンズ11は光源10からの光を不透明素子12上
へ向け、これは光の一部を通過させるスリットを有する
。試料13(ここでは容器内の液体として図示される)
は素子12を通過する光東(ビーム)の通路に置かれる
。このビームは試料を通過した後、プリズム14を通過
し、このものはビームを^.から^mまで亘る波長を有
するスペクトル帯城に分散させる分散素子として作用す
る。以下に詳述するアダマールフィルタ15はこの分散
された帯域の通路に、上記波長のスペクトルエネルギー
を受けるように置かれる。このフィル夕はレンズ配列1
6及びホトダイオ−ド配列17を有する。この装置は単
に本発明に対する一つの可能な態様を例示するに過ぎず
、他の基本的光分計装置を使用することができることを
理解すべきである。例えば、任意光源からの光を分析す
ることができ、その場合には光源10及び試料13を省
略することができ、分析されるべき光は単にレンズ11
上に入射し、マスク12のスリットを通過し、プリズム
14を通過してそれにより分散される。第2図で最もよ
く分るように、レンズ配列16は、各列が複数のレンズ
素子20を有する複数の列に配檀ごれたはえの目しンズ
の一配列で構成される。
へ向け、これは光の一部を通過させるスリットを有する
。試料13(ここでは容器内の液体として図示される)
は素子12を通過する光東(ビーム)の通路に置かれる
。このビームは試料を通過した後、プリズム14を通過
し、このものはビームを^.から^mまで亘る波長を有
するスペクトル帯城に分散させる分散素子として作用す
る。以下に詳述するアダマールフィルタ15はこの分散
された帯域の通路に、上記波長のスペクトルエネルギー
を受けるように置かれる。このフィル夕はレンズ配列1
6及びホトダイオ−ド配列17を有する。この装置は単
に本発明に対する一つの可能な態様を例示するに過ぎず
、他の基本的光分計装置を使用することができることを
理解すべきである。例えば、任意光源からの光を分析す
ることができ、その場合には光源10及び試料13を省
略することができ、分析されるべき光は単にレンズ11
上に入射し、マスク12のスリットを通過し、プリズム
14を通過してそれにより分散される。第2図で最もよ
く分るように、レンズ配列16は、各列が複数のレンズ
素子20を有する複数の列に配檀ごれたはえの目しンズ
の一配列で構成される。
ァダマール変換分光計測法の既知の原理によれば、列の
数及び各列中の素子の数は分析せらるべきスペクトル成
分の数に相当する。アダマールマスクを提供するために
、各列中のレンズ素子20のうちの或るものは不透明に
される。かくして第2図に示すレンズ素子20aは透明
であり従って光はそれを通過し、レンズ素子20bは不
透明で光の通過を阻止する。このように不透明にされ又
は透明にされる個々の素子は、既知のように、分析され
るべきスペクトル成分に関係する。前記の特許を参照す
れば、1針固素子の配列又はマスクの詳細な記載があり
、不透明又は透明にされるべき個々のレンズ20は該特
許に与えられた例に従って決定することができる。第3
図ははえの目型レンズに対する変型設計を示し、同図に
おいてレンズ配列16′は一連の円柱形レンズ22から
成る。
数及び各列中の素子の数は分析せらるべきスペクトル成
分の数に相当する。アダマールマスクを提供するために
、各列中のレンズ素子20のうちの或るものは不透明に
される。かくして第2図に示すレンズ素子20aは透明
であり従って光はそれを通過し、レンズ素子20bは不
透明で光の通過を阻止する。このように不透明にされ又
は透明にされる個々の素子は、既知のように、分析され
るべきスペクトル成分に関係する。前記の特許を参照す
れば、1針固素子の配列又はマスクの詳細な記載があり
、不透明又は透明にされるべき個々のレンズ20は該特
許に与えられた例に従って決定することができる。第3
図ははえの目型レンズに対する変型設計を示し、同図に
おいてレンズ配列16′は一連の円柱形レンズ22から
成る。
各円柱形レンズの部分24は適当な不透明材料で被覆す
ることにより不透明にして所望のアダマールマスクを作
ることができる。第3図及び第4図で最もよく分るよう
に、ホトダィオード配列(アレー)17はP又はNレベ
ルにドープされた半導体の基板26と光活性材料で反対
のP又はN状態にドープされて一連の長い直線状ホトダ
ィオードを提供している一連の直線状区域28とで構成
される。
ることにより不透明にして所望のアダマールマスクを作
ることができる。第3図及び第4図で最もよく分るよう
に、ホトダィオード配列(アレー)17はP又はNレベ
ルにドープされた半導体の基板26と光活性材料で反対
のP又はN状態にドープされて一連の長い直線状ホトダ
ィオードを提供している一連の直線状区域28とで構成
される。
レンズ配列16又は16′は配列17に隣接して置かれ
、その際配列16の各列は相異なる区域28と真直ぐ合
うように並べられ、また配列16′のレンズ22は夫々
の区域28と真直ぐ合うように並べられる。これらレン
ズ配列の各素子はそれへの入射光をダィオ−ド配列17
の光活性区域28上に集中させるように設計される。基
板26は電圧源30へ接続され、夫々の区域28は個々
に電子的走査手段34へ接続される。メータ32がこの
回路内に接続され、この回路でベース26Lの一つの列
28により形成される個々のダイオードを選択的に作動
せしめ又は走査することができ、それによりメータ又は
感受装置はダイオードのバイアスの結果として発生する
電流及びその上に落ちる光を指示する。メータ32は電
流を増幅するための或る手段、及び測定値を指示するデ
ジタル表示器に接続されたアナログーデジタル変換器を
具備していてもよいことは極めて明らかである。変型と
して、デジタル表示器の代わりに、変換された信号は測
定結果を分析する計算機へ供給されてもよい。本装置の
概要を述べると、マスク12は光の長くて狭いビームを
与え、これは試料13と分散素子14の中を通される。
この後者素子はビームをフィル夕15上へ分散させる。
このフィル夕は分散されたビームに配置された一連のレ
ンズを有し、それにより分析されるべき波長範囲入,一
入mを受けるようにする。このレンズの各列は相異なる
スペクトル成分を炉過するための相異なるアダマールマ
スクを提供する。ホトダィオード配列17が走査される
と、各ダイオードを流れる電流の値はその配列の各個々
の区域28上に入射する光全体の強度に比例する。その
結果、このようにして導出された信号はアダマール変成
分光計測法の固有の性質の故に信号対雑音比を有するこ
とになる。それに加えて、個々のダイオードは電子的速
度で走査することができ、動く部品を使用する必要がな
い。走査機構の一つの適当な型はスカニスタである。
、その際配列16の各列は相異なる区域28と真直ぐ合
うように並べられ、また配列16′のレンズ22は夫々
の区域28と真直ぐ合うように並べられる。これらレン
ズ配列の各素子はそれへの入射光をダィオ−ド配列17
の光活性区域28上に集中させるように設計される。基
板26は電圧源30へ接続され、夫々の区域28は個々
に電子的走査手段34へ接続される。メータ32がこの
回路内に接続され、この回路でベース26Lの一つの列
28により形成される個々のダイオードを選択的に作動
せしめ又は走査することができ、それによりメータ又は
感受装置はダイオードのバイアスの結果として発生する
電流及びその上に落ちる光を指示する。メータ32は電
流を増幅するための或る手段、及び測定値を指示するデ
ジタル表示器に接続されたアナログーデジタル変換器を
具備していてもよいことは極めて明らかである。変型と
して、デジタル表示器の代わりに、変換された信号は測
定結果を分析する計算機へ供給されてもよい。本装置の
概要を述べると、マスク12は光の長くて狭いビームを
与え、これは試料13と分散素子14の中を通される。
この後者素子はビームをフィル夕15上へ分散させる。
このフィル夕は分散されたビームに配置された一連のレ
ンズを有し、それにより分析されるべき波長範囲入,一
入mを受けるようにする。このレンズの各列は相異なる
スペクトル成分を炉過するための相異なるアダマールマ
スクを提供する。ホトダィオード配列17が走査される
と、各ダイオードを流れる電流の値はその配列の各個々
の区域28上に入射する光全体の強度に比例する。その
結果、このようにして導出された信号はアダマール変成
分光計測法の固有の性質の故に信号対雑音比を有するこ
とになる。それに加えて、個々のダイオードは電子的速
度で走査することができ、動く部品を使用する必要がな
い。走査機構の一つの適当な型はスカニスタである。
第1図は本発明を実施するアダマール変成分光計の一部
分の概略線図である。 第2図はフィル夕のはえの目しンズの平面図である。第
3図は円柱形レンズを有するフィル夕及び走査読取器の
一部を分解した概略図である。第4図は第2図の線4一
4に沿う一部を分解した断面図である。14・・・・・
・分散用プリズム、15・・・・・・アダマールフイル
タ、16・・…・レンズ配列、17・・・・・・ホトダ
ィオード配列、20・・・・・・レンズ素子(20a・
・・・・・透明、20b・・・・・・不透明)、22・
・・・・・円柱形レンズ、24・・・・・・不透明部分
、26・・・・・・半導体基板、28・・…・直線状ホ
トダィオ−ド、30・・・・・・電圧源、32…・・・
メータ、34・・・・・・電子的走査手段。 FIG.lFIG.2 FIG.3 FIG.4
分の概略線図である。 第2図はフィル夕のはえの目しンズの平面図である。第
3図は円柱形レンズを有するフィル夕及び走査読取器の
一部を分解した概略図である。第4図は第2図の線4一
4に沿う一部を分解した断面図である。14・・・・・
・分散用プリズム、15・・・・・・アダマールフイル
タ、16・・…・レンズ配列、17・・・・・・ホトダ
ィオード配列、20・・・・・・レンズ素子(20a・
・・・・・透明、20b・・・・・・不透明)、22・
・・・・・円柱形レンズ、24・・・・・・不透明部分
、26・・・・・・半導体基板、28・・…・直線状ホ
トダィオ−ド、30・・・・・・電圧源、32…・・・
メータ、34・・・・・・電子的走査手段。 FIG.lFIG.2 FIG.3 FIG.4
Claims (1)
- 1 分析されるべきビームを所定のスペクトル帯域幅へ
分散させるように配置された分散素子を有するアダマー
ル変換分光計において、各レンズ列が上記帯域幅にわた
つて分散されたスペクトルエネルギーを受けるように配
置された、少くとも分析されるべきスペクトル成分の数
に相当する数の複数の上記レンズ列からなるレンズ配列
と、上記レンズ配列全体としてアダマール・マスク・マ
トリクスを構成するよう上記各レンズ列に設けられたア
ダマール・マスクを形成する不透明手段と、上記レンズ
列の数に相当する複数の直線状ホトダイオード手段を有
し、上記ホトダイオード手段は上記レンズ配列に対して
並置され、それにより上記各レンズ列はそれに入射する
スペクトルエネルギーを上記ホトダイオード手段の相異
なる一つの上に向けるようなホトダイオード配例、及び
上記ホトダイオード配列に接続され、上記ホトダイオー
ド手段からそのダイオード手段に入射するスペクトルエ
ネルギーに比例した電気信号を選択的に取出す走査手段
とを具備する分光計。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US618308 | 1975-09-29 | ||
| US05/618,308 US4007989A (en) | 1975-09-29 | 1975-09-29 | Hadamard filter design |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5242782A JPS5242782A (en) | 1977-04-02 |
| JPS6037414B2 true JPS6037414B2 (ja) | 1985-08-26 |
Family
ID=24477181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51098820A Expired JPS6037414B2 (ja) | 1975-09-29 | 1976-08-20 | アダマール変換分光計 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4007989A (ja) |
| JP (1) | JPS6037414B2 (ja) |
| FR (1) | FR2325912A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6248809U (ja) * | 1985-09-17 | 1987-03-26 |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54130526A (en) * | 1978-03-31 | 1979-10-09 | Kawaken Fine Chem Co Ltd | Preparation of o-chloroaniline |
| JPS6219946Y2 (ja) * | 1979-04-26 | 1987-05-21 | ||
| JPS6219945Y2 (ja) * | 1979-04-27 | 1987-05-21 | ||
| JPS61501476A (ja) * | 1984-03-19 | 1986-07-17 | ブル−カ− アナリユ−テイツシエ メステヒニク ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 分光装置 |
| US4615619A (en) * | 1984-03-19 | 1986-10-07 | D.O.M. Associates, Inc. | Stationary, electrically alterable, optical masking device and spectroscopic apparatus employing same |
| US4750834A (en) * | 1986-01-07 | 1988-06-14 | D.O.M. Associates, Inc. | Interferometer including stationary, electrically alterable optical masking device |
| US4856897A (en) * | 1987-08-14 | 1989-08-15 | D.O.M. Associates, Inc. | Raman spectrometer having Hadamard electrooptical mask and diode detector |
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