JPS6038609A - 板形状測定装置 - Google Patents

板形状測定装置

Info

Publication number
JPS6038609A
JPS6038609A JP58147248A JP14724883A JPS6038609A JP S6038609 A JPS6038609 A JP S6038609A JP 58147248 A JP58147248 A JP 58147248A JP 14724883 A JP14724883 A JP 14724883A JP S6038609 A JPS6038609 A JP S6038609A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
slicer
view
edge
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP58147248A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH045123B2 (ja
Inventor
Tomoaki Kawabata
川畑 友明
Kiyotaka Inada
稲田 清崇
Sueo Miyaki
宮木 末雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK, Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP58147248A priority Critical patent/JPS6038609A/ja
Publication of JPS6038609A publication Critical patent/JPS6038609A/ja
Publication of JPH045123B2 publication Critical patent/JPH045123B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は板状物体の形状測定装置に関し、更に詳述すれ
ば熱間圧延工程における鋼板の平面形状をより正確にか
つ短時間で測定可能とした板形状測定装置に関する。
熱間圧延工程における鋼板の形状測定は製品々質の管理
上重要であるが、従来は一例として第1図に示すような
装置により行なわれていた。
即ち、白抜き矢符方向(X軸方向)に移動する熱間鋼板
S自らが発する熱赤外線は鋼板Sの表面と平行なy軸方
向(X軸と直交する方向)の回動軸55回りに揺動可能
な反射鏡5oにより鋼板Sの表面と直交する回動軸を有
する回転多面鏡51の周囲の反射面方向に反射され、回
転多面鏡51により凹面鏡52方向に反射されてプリズ
ム53により収束されて光電変換素子54に入射される
構成としである。
このような構成では回転多面鏡51の回転により第1図
上のy軸方向に主走査が行われ、また反射鏡50を矢符
方向に揺動させることにより回転多面鏡51によるy軸
方向の主走査が順次X軸方向へ移動する副走査が行われ
、光電変換素子54の視野が鋼板Sの表面をy軸方向に
反復移動することになるため、鋼板SOX軸方向全長に
亘ってy軸方向の長さ寸法の測定が可能となる。そして
第1図には図示していないが、これと全く同じ構成の装
置を他に一組用いて、X軸方向に主走査が、y軸方向に
副走査が行われるようにして鋼板SのX軸。
y軸両方向の長さ寸法、即ち外形寸法の測定を行うもの
でる。
しかし、このような従来の装置では以下に述べるような
問題点があった。
まず、回転多面鏡51及び反射鏡50を機械的に動作さ
せるため、比較的長時間鋼板Sを圧延工程中で静止させ
る必要があった。また光電変換素子54によるスポット
状走査のため分解能が低く、このため鋼板Sの隅部等の
微妙な形状の把握が困ゲにであり、またスポット状走査
であることはデータ数が少ないことともなり解析の手数
は少なくて済むが解析の自由度及び5より高度な解析手
法への発展性は乏しく、高精度を期待することば困難で
ある。
従って、鋼板Sをその圧延工程において事実」−静止さ
せる必要がなく、より高分解能でしかもデータ解析上の
自由度及び発展性の高い測定装置が要望されていた。
本発明は以上の如き事情に鑑みてなされたものであり、
複数の2次元撮像装置を用いて熱間圧延工程中の鋼板か
らの赤外輻射を各2次元撮像装置により部分的に撮像し
てこれを合成することにより、鋼板の平面形状を短時間
で、かつ高分解能にてより正確に測定可能な板形状測定
装置の提供を目的とするものである。
以下、本発明をその実施例を示す図面に従って詳述する
第2図は本発明に係る板形状測定装置の全体の構成を示
すブロック図である。
カメラボックス1内にはレンズ系12を装備した2次元
撮像装置たるシリコンビジコンカメラ(以下単にカメラ
という) 11及びこのカメラ11からのアナログ電気
信号を光信号に変換するためのファイバーリンク13が
各9組設けられている。
カメラ11はシリコンビジコンカメラを用いており、こ
れは可視光域の他辺赤外域(700〜101000nに
も長打な感度特性を有しており、可視光域をカントする
ために近赤外域に透過率特性を有する赤外フィルタを併
用することにより熱間鋼板Sの自家発光近赤外線像を撮
像するものである。
また9台のカメラ111−119の各視野111′〜1
19′は第3図に示す如(3×3のマトリックス状に配
列されて全体としてほぼ5000 X 5000mmの
合成視野を形成する。各カメラ111〜119の撮像視
野111′〜119′の縦横比(アスペクト比)は1対
1とし、また各カメラ111〜119のン見11’l’
111′〜119′は本実施例ではそれぞれほぼ180
0X 1800mrrlとして、相隣するカメラ視野相
互間に名士のオーバーランプを設定しである。
また合成視野の座標(基準座標)系x−yは白抜矢符で
示す圧延工程のライン方向とは反時剖回りに若干回転さ
せた状態に設定する。これは第4図に鋼板Sの縁辺の方
向と走査線の方向との関係、そのビデオ信号及びそれを
所定闇値にて明暗2種のレベルに2値化した2値信号を
示すように、カメラ11の走査線の方向と撮像対象であ
る鋼板Sの縁辺とが一致した場合には、これを撮像した
ビデオ信号は対象物と背景との境界を的確に捉えること
が出来ず、従ってこのビデオ信号を2値化した場合には
ビデオ信号の微妙な強度変化により明レベルの信号が多
数発生する状態となるが、対象物とカメラの走査線の方
向を回転させて非平行状態とした場合には第5図に示す
ように走査線が対象物のれ辺と交叉するためビデオ信号
は対象物と背景との赤外線輻射量の差を明瞭に捉えるの
で、これを2値信号とした場合には、走査線が対象物の
縁辺と交叉する点でのみ、明・晴雨レベル間の転換が行
われることとなるからである。
9台のカメラ111〜119は3×3のマトリックス状
に配設されているが、9台のカメラ111〜119全体
としての視野(合成視野)より狭い範囲(第3図に斜線
を付して示す範囲)に集合配置されて設置スペースの節
減を図っている。このような集合配;1°デを可能とす
るため、中央のカメラ115を除く8台のカメラ111
〜114及び116〜119はあおり視野の撮像を行う
べく構成されている。
第6図はあおり視野の説明図である。
通常はカメラ11のレンズ系12の光軸CLをカメラ1
1の撮像部たる撮像管11aの中心軸CCと一致させて
レンズ系12の光軸CLを中心とする撮像視野FNを得
ているが、レンズ系12の中心軸CLを第6図に示す如
く撮像管11aの光軸CCとずらせてあおりをかけた位
icL ’とした場合には、レンズ系12の諸元、レン
ズ系12の光軸CLと撮像管11aの中心軸CCとの離
隔距離、レンズ系12と撮像対象との距離等により定ま
る距離だけ当初のレンズ系12の光軸CLから離隔した
視野FDをあおり視野として撮像することが可能となる
従って、本発明装置では3×3のマi・υノクス状に配
設された9台のカメラ111〜119の各個別視野を一
個の合成視野に合成して使用するが、9台のカメラ11
1〜119を各カメラ111〜119の視野111′〜
119′の中心直上に分散配置するのではなく、中心に
配設されたカメラ115以外の8台のカメラ111〜1
14及び116〜119をあおり視野の撮像を可能とし
て、中心に配設されたカメラ115の周囲に集合配置し
て設置スペースの節減を図っているのである。
ファイバーリンク13は各カメラ111〜119 と後
述するカメラ制御ユニット2との間の信号伝送中におけ
る圧延機周囲等からの電磁波等による雑音発生を防止す
るために電気信号と光信号を相互に変換して光ファイバ
を媒体として伝送信号の受け渡しを行うためのものであ
る。
カメラ制御ユニット2は9台のカメラ111〜119及
びそのレンズ系12.12.・・・に対して各1ユニツ
トずつ配設されており、その制御を個別に司るものであ
り、前記同様のファイバーリンク14に光ファイバを介
して各カメラ111〜119のファイバーリンク13と
接続されており、同期駆動回路215画像歪補正回路2
2、ビデオプロセッサ23及び受光レベル制御回路24
等により構成されている。
同期駆動回路21ば各カメラ111〜119の垂直及び
水平同期を行わせるものであり、その信号は各カメラ1
11〜119に与えられて各カメラ111〜119の垂
直・水平同期を行う。
画像歪補正回路22は鋸歯状波に重畳させる補正信号を
発生する回路であり、各カメラ111〜119の撮像部
の局部的な出力ムラを補正する機能を有している。
ビデオプロセッサ23は増幅及びバンドパスフィルタに
よる雑音成分の除去を行った後のビデオ信号を受光レベ
ル制御回路24、ディスプレイセレクタ43及びビデオ
セレクタ31に与える。
受光レベル制御回路24は第7図に示すように、ビデオ
信号が予め定められた設定値となるように、実際にカメ
ラ11により得られたビデオ信号のピーク値PLと設定
値TLとを比較してレンズ系12の絞り値を補正制御す
る信号FCをレンズ系12の絞りの開閉量を操作するモ
ータ120に与えてピーク値+11と設定値TLとが一
致するように制御するものである。
そしてこの設定レベルTLば後述する副スライザ33に
もビデオ信号の2値化のだめの闇値として与えられる。
各ビデオプロセッサ23からの信号は前記受光レベル制
御回路24に与えられる他、エツジ演算回路3に与えら
れる。エツジ演算回路3はビデオセレクタ31、主スラ
イサ34−1副スライサ33、エツジ位置検出回路35
、エツジリストメモリ36及びCP[I38 、インク
フェイス等から構成され、9台のカメラ111〜119
の信号を基に鋼板Sの縁辺(エツジ)位置の算出を行う
9右のカメラ111〜119により得られ各ビデオプロ
セッサ23により予備処理されたアナログビデオ信号は
まずビデオセレクタ31に与えられるが、このビデオセ
レクタ31ば9人力1出力のマルチプレクサであって、
9台のカメラ111〜119がらの信号の内1つの信号
を選択的にA/D変換器32へ出力するが、この切換の
指令は第1のCPII38により行われる。
A/D変換器32によりデジタル信号に変換されたビデ
オ信号は、このデジタルビデオ信号を2値化処理するた
めの主スライサ34及び副スライサ33に与えられて、
ビデオ信号の立上り、立下り時点、即ち走査線が鋼板S
の像のエツジ部を通過する時点を示す2値信号に変換さ
れ、この信号はエツジ位置検出回路35に与えられて鋼
板Sの縁辺を正しく示す信号に加工される。
第8図はこの主スライサ34、副スライサ33及びエツ
ジ位置検出回路35からなるスライス回路のブロック図
、第9図は第8図に○数字をイ1した各部分の信号の状
態を示す説明図である。
ビデオプロセッサ23が出力するアナログのビデオ信号
はA/D変換器32により第9図(イ)及び(ロ)に破
線で示す如きデジタルビデオ信号Vllに変換された後
、主スライサ34.副スライサ33に人力されて次に説
明するような信号処理が行われる。
この信号処理はデジタル的に行われるが、第9図では説
明の便宜上アナログ的に示している。
A/D変換器32は入力されたアナログ信号をデジタル
のビデオ信号VDに加工変形してスライサ9−34の加
算器341、シフトレジスタ342及び副スライサ33
の比較器331に与える。
加算器341に与えられたデジタルビデオ信号Vl)は
第9図(ロ)に示す如くそのレベルを所定車高めるため
のレベルアンプ信号LUを加算されてその分上方へレベ
ルアンプされたリアエツジ検出用スライスレベル信号■
とされて比較器346に与えられる。シフトレジスタ3
42に与えられたデジタルビデオ信号VOは第9図(ロ
)に示す如く所定時間遅延させるためのシフトクロック
SCにより所定時間遅延された第9図(ロ)に示す基準
ビデオ信号■としてシフトレジスタ343及び比較器3
45.346に与えられる。シフトレジスタ343に与
えられた基準ビデオ信号■は所定時間遅延させるための
シフトクI−tツクSCにより所定時間遅延された後、
更に加算器344に与えられ、レベルアンプ信号LUを
加算されて第9図(ロ)に示すフロントエツジ検出用ス
ライスレベル信号■として比較器345に与えられる。
従って第9図(ロ)に示す如く比較器346にはデジタ
ル化されたビデオ信号VDを所定時間遅延させた基準ビ
デオ信号■とデジタルビデオ信号VDをレベルアップし
たリアエツジ検出用スライスレベル信号■とが与えられ
、また比較器345には前記基準ビデオ信号■とこの基
準ビデオ信号■を所定時間遅延しかつ所定値レベアソプ
したフロントエツジ検出用スライスレベル信号■とが与
えられる。
比較器346に与えられたリアエツジ検出用スライスレ
ベル信号■と基準レベル信号■は比較されて、リアエツ
ジ検出用スライスレベル信号■のレベルが基準ビデオ信
号■のレベルよりハイレベルとなった時点でデジタルビ
デオ信号VDのハイレベル部の立下り、即ちリアエツジ
(画像では明部から暗部、つまり鋼板Sから背景に移る
位置)を示す第9図(ニ)に示す如きパルス信号■が得
られ、この信号■はフフリソプフロソプ348のR(リ
セツト) Diil子に与えられる。
また比較器345に与えられたフロントエ・フジ検出用
スライスレベル信号■と基準ビデオ信号■は比較されて
、基準ビデオ信号■のレベルがフロントエツジ検出用ス
ライスレベル信号■のレベルよリハイレベルとなった時
点でデジタルビデオ信号VDのハイレベル部の立上り、
即ちフロントエツジ(画像では暗部から明部、つまり背
景から鋼板Sに移る位置)を示す第9図(ハ)に示す如
きパルス信号■が得られ、この信号■はフリソプフUノ
ブ348のS(セント〉端子に与えられる。
フリップフロップ348はフロントエツジを示す信号■
がS端子に入力されるとセント状態となっ°ζ第9図(
ホ)に示す如くそのQ出力端子からハイレベルの信号■
を出力し、リアエツジを示すパルス信号■がR端子に入
力されるとりセント状態となってそのQ出力端子からの
ハイレベルの信号■の出力を停止する。このためフリッ
プフロップ348のQ出力端子から発せられた信号■の
ハイレベル部分はデジタルビデオ信号Vllのハイレベ
ル部分、即ち鋼板Sの像の明レベル部分に対応すること
となる。そしてこのQ出力端子からの信号はエツジ位置
検出回路35のORゲート351の一方の入力端子に与
えられている。
副スライサ33の比較器331に与えられたデジタルビ
デオ信号VDは、第9図(イ)に示すように前述した受
光レベル制御回路24に与えられる各カメラ111〜1
19の受光レベルの設定レベルTLの2の値とした副ス
ライスレベルSLと比較され、第9図(へ)に破線で示
す如く副スライスレベルSLよりハイレベルの部分とロ
ーレベルの部分とに2値化され、更に第9図(へ)に実
線で示すようにシフトレジスタ332に与えられて所定
時間遅延させるためのシフトクロックSCにより所定時
間遅延されて基準ビデオ信号■の時間軸と一致された信
号■とされてエツジ位置検出回路35のORゲート35
1のもう一方の入力端子に与えられる。
副スライサ33の出力信号■は、デジタルビデオ信号V
Dを所定闇値SL (各カメラ111〜119の受光レ
ベルTLの%の値)にて2値化した信号を基準ビデオ信
号■の時間軸と一致させたものであるから、デジタルビ
デオ信号VDがハイレベルであるかローレベルであるか
の判断が主スライサ34によるフロント又はリアエツジ
の検出の如何に拘わらず可能となる。これは主スライサ
34では、各カメラ111〜119の撮像視野に鋼板S
の縁辺が含まれない場合、即ちカメラ115の視野11
5′の如く撮像視’l!r全体が鋼板Sの像のみで占め
られるような場合には、第9図(ロ)に示す各信号■、
■、■のレベルがそれぞれ一定となってフロントエツジ
及びリアエツジの検出が行なわれなくなるため、このよ
うな場合には副スライサ33により各カメラ111〜1
19の撮像視野が鋼板Sを捉えているか、あるいは背景
を捉えているかの判断を複雑なソフトウェア的処理によ
らずに行うためであり、このため主スライサ34による
エツジ検出が不可能な場合にも副スライサ33により2
値化信号が得られることとなる。
エツジ位置検出回路35のORゲート351に与えられ
た主スライサ34のフリップフロップ348からの出力
信司■と副スライサ35のシフトレジスタ322からの
出力信号■は、フロントエツジとリアエツジとの間をハ
イレベルとする2値信号又はフロント、リアエツジが検
出されない場合には鋼板Sの存否を示す2値信号である
第9図(ト)に示す如き01? (論理和)信号■とし
てORゲート351からノイズカットフィルタ352を
介してフリップフロップ353のS端子及びインバータ
357に与えられる。
フリップフロップ353のR端子には第9図(チ)に示
す如き水平同期信号■が与えられており、この水平同期
信号■のハイレベルのパルスがR端子に与えられるとフ
リップフロップ353はリセント状態となって第9図(
1月に示す如くそのQ出力端子からの出力信号[相]は
ローレベルとなり、またORゲート351からのOR信
信号炉ハイレベルとなってS端子に与えられるとフリッ
プフロップ353はセント状態となってそのQ出力端子
からの出力信号[相]はハイレベルとなり、この信号[
相]はワンショットマルチ354に与えられる。従って
走査線1ラインにつきOR信信号炉ハイレベル部の立上
りが複数存在しても、信号[相]のハイレベル部の立上
りは1個となるので、鋼板Sの表面に低温部が存在する
場合、あるいはスラグ等がイ」着している場合等にも走
査線上における背景から鋼板Sへの変換を正確に検出す
ることが可能である。
ワンショットマルチ354はその入力信号[相]がハイ
レベルとなる立上りに同期して第9図(ヌフに示t 如
<ハイレベルのランチバッファ書換パルス■をフロント
エツジランチ回路355に与えるものである。
またインバータ357に与えられたORゲート351か
らのOR信号■は第9図(ル)に示すようにそのレベル
を反転された信号@となってワンショットマルチ358
に与えられる。このワンショットマルチ358は信号@
がハイレベルとなる立上りに同期して第9図(オ)に示
すランチバッファ書換パルス0を出力してこれをリアエ
ツジランチ回路359に与える。
従ってフロントエツジランチ回路355に与えられる信
号■に含まれるラッチバッファ書換パルスは1走査線に
つき1個、リアエツジランチ回路359に与えられる信
号0に含まれるラッチバッファ書換パルスは1走査線に
つきアナログビデオ信S−VDのハイレベル部の数(又
は立下り位置の数)と同数となる。
カウンタ361にばクリア信号CLI?として水平同期
信号■が与えられ、また計数対象としてクロック信号C
LKが与えられている。そして、クリア信号CLRがカ
ウンタ361に与えられる都度、即ち各カメラ111〜
119による走査が新しい走査線に移る都度カウンタ3
61はリセットされ、クリア信号CLRが与えられてリ
セットされた時点からの経過時間を示す情報をフロント
エツジラッチ回路355及びリアエツジラッチ回路35
9に与える。
また水平同期信号■はインバータ362によりそのレベ
ルを逆転されてクリア信号CLRとしてフロントエツジ
ランチ回路355及びリアエツジラッチ回路359にも
与えられており、このクリア信号CLRが両ランチ回路
に与えられる都度、即し新たな走査線の走査が開始され
る都度側ランチ回路355.359はりセントされる。
そして両ラッチ回路355及び359は信号0,0の各
ラソチバッファ刊換パルスが与えられることによりその
都度カウンタ361から与えられている計時値、即ち各
走査線上のエツジの位置をランチする。
両エツジ検出器356及び360にはそれぞれ水平同期
信号■がロード信号LDとして与えられており、このロ
ード信号LDのハイレベルのパルスが入力されると各エ
ツジ検出器356,360はその時点で各ランチ回路3
55及び359にラッチされている経過時間を示す情報
をフロントエツジ、リアエ・ノジの各走査線上の位置と
して読み出し、エツジリストメモリ36に出力する。
従ってフロントエツジランチ回路355には第9図(ヌ
)に示す如く1走査線につき1つのランチバッファ書換
パルスしか与えられないので、これがフロントエツジラ
ンチ回路355に与えられた時点の計数値がフロントエ
ンジ検出器356により読み出されフロントエツジの位
置として検出される。
またリアエツジランチ回路360には第9図(オ)に示
す如く複数のラッチバッファ書換パルスが与えられる場
合もあるが、水平同期信号■がロード信何LDとして与
えられた時点でランチされている計数値、即ち走査線1
ライン上における最後のラッチバッファ書換パルスによ
りランチされた計数値がリアエツジ検出器360により
読み出されリアエツジの位置として検出されるので、前
述した如く鋼板Sの表面に低温部あるいはスラグ等の付
着物が存在する場合にも鋼板Sの縁辺位置が正確に検出
される。
このようにしてエツジ位置検出回路35により検出され
た各走査線上のエツジの位置を示すデータ(エツジリス
ト)は順次エツジリストメモリ36に与えられる。エツ
ジリストメモリ36は2画面分の容量を有し、1画面分
のデータ、即ちエツジリストの書込みを行う間にそれに
先行して取iUされた1画面分のデータをダイレクトメ
モリアクセスI10ボート39を介してミニコンピユー
タを利用した演算装置4へ転送する構成となっており、
ごれらの処理ばCPU 38により制御される。
演算装置4は個々のカメラ111〜119により得られ
た1画面分のデータを合成視野に合成するだめの線形変
換を行って全体の複合図形情報を作成し、この複合図形
の特徴要素を圧延機の制御系(図示せず)に制御情報と
して与える。
個々のカメラ11の各視野を合成画面に合成するための
線形変換は次のようにして行われる。各個別視野内の1
走査線上のエツジ、即ち立上り、立下りの位置をその個
別視野の座標系X−Y上で()N +YI i )、(
Xi 、Y2 i )とし、この点の合成視野の座標系
x−y上の位置を(Xlllyr i )、(X2i、
yzi)とするとその関係は下式のようになる。
xli =Xo j +axj −Xi −cos θ
j−ayi −Yl i −5in 0j)’+ i 
=Yo j +axj −Xi −5in θj+a 
yi −Yli −cos θjX2 i =XOj 
+a xj −Xi−cosθja yj −Y2 i
 −5in θjy2 i =Yo j +a xj 
−Xi −5in θj+ayj Y21−CO3θj /コだし、Xo J I YOJ 二合成視野の座標系
X−yに対する個別視 野X−Yの平行移動 距離(画素単位) axJ + ”yJ :標準視野に対する個別視野の拡
大率 θJ :合成座標x−yに対する個別座標x−yの回転
角 またエツジリスト演算回路3はタイミ2ングI10ボー
ト39を介してプロセス制御コンピュータ9と接続され
ており、プロセス制御コンピュータ9からCPII 3
8に対して測定に必要な情報を与える。
エツジリストメモリ36に蓄積されたデータはまたCP
U 42に読出されCRTモニタ6の画面に対応づけた
ディスプレイラム41に合成画面情報として鴇込まれ、
これに基づきCRTモニタ6にこの合成画面が表示され
る。また本実施例では各カメラIll〜119には10
24ラインの走査線を有するカメラを用いているので、
512ラインの走査線を有するCRTモニタ6の縦方向
に画面を圧縮合成するためにエツジリストメモリ36か
らの走査線6ラインの内の1ラインを抽出する構成とな
っている。
゛ キーボード5がらはキーボードインタフェース40
を介して本発明装置全体に対する各種の走査及び制御指
令、あるいは測定、データ処理等に必要な各種の数値等
の設定を行うよう構成してあり、これらはCPU 42
により処理される。
ビデオプロセッサ23から出力されるビデオ信号は9人
力1出力の手動切換型のディスプレイセレクタ43によ
り選択されてCRTモニタ8に各個別のカメラ111〜
119の撮像画面を表示する。
以上のように構成された本発明装置の動作について以下
に説明する。
熱間圧延工程中の鋼板Sがカメラ111〜119の視野
111′〜119′により構成される合成視野内の所定
の位置に静止されると、各カメラ111〜119はそれ
ぞれ撮像を開始する。鋼板Sから輻射される熱赤外線は
赤外フィルタによって可視光域以下(〜700nm)の
光線がカントされて近赤外域のみが選択的に透過され、
レンズ系12を介して各カメラ111〜119の撮像管
11a 、lla・・・に熱赤外線像として捉えられる
。この撮像管11aに捉えられた像のアナログ電気信号
はファイバリンク13により光信号に変換されて光ファ
イバを介することにより雑音の発生なくファイバリンク
14へ送られて再びアナログの電気信号に変換され、カ
メラコントロールユニット2に与えられる。
カメラコントロールユニット2に与えられた信号はその
ビデオプロセッサ23から受光レベル制御回路24に与
えられて、そのピークレベルPLと受光レベル制御回路
24に与えられている設定レベルTLとの比較により、
ピークレベルPLが設定レベル几と等しくなるようにレ
ンズ系12の絞り値を制御する信号FCがモータ120
に与えられて各カメラ111〜119への入射光量の制
御を行う。これにより、各カメラ111〜119の受光
レベルは一定となるのでその動作は安定し、また主スラ
イザ34、副スライサ33による各エツジ検出の精度も
向上することになる。
ビデオプロセッサ23からの信号はエツジリスト演算回
路3にも与えられて、まずそのビデオセレクタ31に入
力される。
9人力1出力のビデオセレクタ31は、9台のカメラ1
11〜119が捉えた像を予備処理した各ビデオプロセ
ッサ23からの信号をCPl 38の指令により順次選
択してA/D変換器32へ出力する。ごのA/D変換器
32によりデジタル信号に変換された信号は副スライザ
33及び主スライザ34に与えられ、更にエツジ位置検
出回路35により各走査線上の工ソジ、換言すれば走査
線が鋼板Sの像の縁辺と交叉する位置を検出する。
エツジ位置検出回路3により検出された各走査線上のエ
ツジ位置ば順次エツジリストメモリ36の1画面分の格
納エリアに入力格納される。
このようにして1画面分のエツジ検出及びそのデータ(
エツジリスト)の格納が終了すると、cPU38はビデ
オセレクタ31及びエツジリストメモリ36に指令を与
えてビデオセレクタ31には画像の切換を行わせ、また
エツジリストメモリ36にはすでに取得された1画面分
のエツジリストのデータをダイレクトメモリアクセスI
10ポート37を介して/iii算装置4へ出力させ、
同時にもう1画面分のエリアにエツジ位置検出回路35
がら送られてくる次の画像のエツジリストの格納を行わ
せる。
演算装置4はエツジリストメモリ36から送られる各個
別視野のエツジリストを、前記変換式に従って合成画面
の基準座標x−yに変換し、9画面分の個別視野を合成
視野に合成し、この合成視野上における鋼板Sの平面形
状の特徴要素を圧延機の制御装置等に出力する。
以上のように本発明に係る板形状測定装置は、複数の2
次元撮像装置を使用しているため、形状の大なる測定対
象であっても高分解能、高精度にて測定が可能であり、
また2次元撮像装置としてテレビカメラを使用している
ため走査時間は極めて短時間となっている。これらの点
について前述した従来例と比較してみると、解像度では
従来例ば100 X 100程度が限度であるが、本実
施例では2500 X 500程度となっており、また
走査時間では従来例は4〜5秒程度必要としたものが本
実施例では約9/15秒程度となり、事実上測定対象を
静止させる必要なしに高解像度の走査が可能となる。
また、主スライサにより撮像された測定対象の縁辺の位
置、即ちエツジ位置を、前記撮像装置により得られた画
像信号、該画像信号のレベルを変更し、また遅延させた
信号に基づいて検出するごとにより画像信号の2値化を
行っているので、エツジ位置の検出は極めて正確に行わ
れる。そして画像信号を所定闇値にて2値化する単純な
構成の副スライサを付加することにより、前記主スライ
サによるエツジ位置検出が不可能な場合の補償を行って
いるので、複雑なソフトウェア的処理を不要としている
更に本発明装置では得られるデータ数も従来のものより
多数となり、このため従来は行い得なかったより高度な
各種の解析を行うことも可能となる。
更に本実施例ではあおり視野の撮像を可能としたテレビ
カメラを用いることにより、複数のテレビカメラをそれ
ぞれの視野中心直上に分散配置するのではなく、−個所
に集合配置して設置スペースの節減を可能としている。
尚、本実施例では2次元撮像装置として近赤外域に良好
な感度特性を有するシリコンビジコンカメラを用いて熱
間鋼板の熱赤外像を撮像する構成として照明設備を不要
としているが、補助照明を用いることとすれば鋼板の温
度に拘わらず測定が可能となる。
また本実施例における主スライサは、画像信号をレベル
アンプした信号と、遅延させた信号と、更にこの信号を
レベルアップした信号とにより画像信号のフロント・リ
ア両エツジを示す信号を得る構成としたが、他の処理方
法によることも可能である。
以上詳述した如く本発明に係る板形状測定装置は、形状
測定対象の板材をそれぞれが部分的に撮像するように配
設された複数の2次元撮像装置と、該撮像装置により得
られた画像信号、該画像信号のレベルを変更し、また遅
延させた信号に基づき画像信号の立上り、立下り時点を
示す信号を作成するスライサと、該スライサの出力信号
に基づき前記立上り、立下り時点を撮像画像の位置に対
応づけるエツジ位置検出回路と、該エツジ位置検出回路
により得られた位置情報を各2茨元撮像装置の撮像視野
に関連づけて合成する演算装置とを備えたものであるか
ら、測定に要する時間は極めて短時間で済み、従来のこ
の種の測定装置に比してその精度も向上し、また取得さ
れたデータのより高度な解析も可能となる等、本発明は
優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の熱間鋼板の形状測定装置の一例の構成を
示す略示図、第2図は本発明に係る板形状測定装置の構
成の概略を示すブロック図、第3図は同じくテレビカメ
ラの配置状態及びその視野並びにそれにより構成される
合成画面と鋼板の位置関係を示す説明図、第4.5図は
テレビカメラの走査線の方向と鋼板の縁辺方向の関係及
びそのビデオ信号と2値信号の関係を示す説明図、第6
図はあおり視野の説明図、第7図はテレビカメラの受光
レベルの制御方法の説明図、第8図は本発明装置の主ス
ライサ、副スライサ及びエツジ位置検出回路のブロック
図、第9図はその各信号の状態を示す説明図である。 2・・・カメラ制御部 3・・・エツジ演算回路 4・
・・60M−装Tl 11 (111〜119)・・・
シリコンビジコンカメラ lla・・・撮像管 12・
・・レンズ系 22・・・画像歪補正回路 23・・・
ビデオプロセッサ 33・・・副スライサ 34・・・
主スライサ 35・・・エツジ位置検出回路36・・・
エツジリストメモリ 特 許 出願人 住友金属工業株式会社外1名 代理人 弁理士 河 野 登 夫 第 G 図 11 鵞 図 手続?ili正書(自発) 1.事件の表示 昭和58年特許願第147248号 2、発明の名称 板形状測定装置 3、 ンili正をする者 事件との関係 特許出願人 所在地 大阪市東区北浜5丁目15番地名 称 (21
1)住友金属工業株式会社代表者熊谷典文 所在地 静岡県浜松市市野町1126番地の1名 称 
浜松ホトニクス株式会社 代表者盗馬輝夫 4、代理人 住 所 ■543大阪市天王寺区四天王寺1丁目14番
22号 日進ビル207号明細書の「発明の詳細な説明
」の1111及び「図面」 6、補正の内容 6−1明細書の「発明の詳細な説明」の欄(1) 明細
書第10頁18行目に「ビデオプスセノ”JJとあるの
を「ビデオブロセソザJと訂正する。 (2) 明細書節12頁14行目に[スライテ−!IJ
とあるのを「主スライサ」と訂正する。 (3) 明細書箱14頁10行目に「フリップフロップ
」とあるのを「フリップフロップ」と訂正する。 6−2図面 第2図を添付訂正図面の如く訂正する。 7、 添付書類の目録 +11 訂正図面 1通

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、形状測定対象の板材をそれぞれが部分的に撮像する
    ように配設された複数の2次元撮像装置と、該撮像装置
    により得られた画像信号、該画像信号のレベルを変更し
    、また遅延させた信号に基づき画像信号の立上り、立下
    り時点を示す信号を作成するスライサと、該スライサの
    出力信号に基づき前記立上り、立下り時点を撮像画像の
    位置に対応づけるエツジ位置検出回路と、該エツジ位置
    検出回路により得られた位置情報を各2次元撮像装置の
    撮像視野に関連づけて合成する演算装置とを備えたこと
    を特徴とする板形状測定装置。 2、前記2次元撮像装置はレンズ系の光軸と撮像部の中
    心軸とをずらせてあおり視野の撮像を可能としたものを
    含む特許請求の範囲第1項記載の板形状測定装置。 3、形状測定対象の板材をそれぞれが部分的に撮像する
    ように配設された複数の2次元撮像装置と、該撮像装置
    により得られた画像信号、該画像信号のレベルを変更し
    、また遅延させた信号に基づき画像信号の立上り、立下
    り時点を示す信号を作成する主スライサと、前記画像信
    号を所定闇値にて2値化して画像信号の立上り、立下り
    時点を示す信号を作成する副スライサと、主スライサ及
    び副スラ・fすの出力信号に基づき前記立上り、立下り
    時点を撮像画像の位置に対応づけるエツジ位置検出回路
    と、該エツジ位置検出回路によりflられた位置情報を
    各2次元撮像装置の撮像視野に関連づけて合成する演算
    装置とを備えたことを特徴とする板形状測定装置。 4、前記2次元撮像装置はレンズ系の光軸と撮像部の中
    心軸とをずらせてあおり視野の撮像を可能としたものを
    含む特許請求の範囲第3項記載の板形状測定装置。
JP58147248A 1983-08-10 1983-08-10 板形状測定装置 Granted JPS6038609A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58147248A JPS6038609A (ja) 1983-08-10 1983-08-10 板形状測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58147248A JPS6038609A (ja) 1983-08-10 1983-08-10 板形状測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6038609A true JPS6038609A (ja) 1985-02-28
JPH045123B2 JPH045123B2 (ja) 1992-01-30

Family

ID=15425930

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58147248A Granted JPS6038609A (ja) 1983-08-10 1983-08-10 板形状測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6038609A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01239406A (ja) * 1988-03-22 1989-09-25 Agency Of Ind Science & Technol 形状測定方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50111941A (ja) * 1974-02-12 1975-09-03
JPS5744806A (en) * 1980-08-29 1982-03-13 Sumitomo Metal Ind Ltd Method of two-dimensional measurement for pattern
JPS58160305U (ja) * 1982-04-20 1983-10-25 株式会社東芝 形状検出装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50111941A (ja) * 1974-02-12 1975-09-03
JPS5744806A (en) * 1980-08-29 1982-03-13 Sumitomo Metal Ind Ltd Method of two-dimensional measurement for pattern
JPS58160305U (ja) * 1982-04-20 1983-10-25 株式会社東芝 形状検出装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01239406A (ja) * 1988-03-22 1989-09-25 Agency Of Ind Science & Technol 形状測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH045123B2 (ja) 1992-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000002518A (ja) 3次元入力装置
WO1990007727A1 (en) Camera
JPH08186757A (ja) 電子カメラ
JPH0481178A (ja) Irccd検知器の直流オフセット補正方法
US20040201755A1 (en) Apparatus and method for generating multi-image scenes with a camera
US5019917A (en) Coordinate input apparatus
JPS6038609A (ja) 板形状測定装置
JP2000275024A (ja) 3次元入力装置
JPS6322241B2 (ja)
JP2775924B2 (ja) 画像データ作成装置
US6661932B2 (en) Image input apparatus
JP2554102B2 (ja) スリット光式検出装置
JP3193956B2 (ja) 赤外線熱画像装置
JP2000125289A (ja) 凹部強調画像の作成方法
JPS58180918A (ja) 赤外線監視装置
JP2598842B2 (ja) 二次元走査型火災監視装置
JP2000230899A (ja) 赤外線レーザ撮像装置
JP2010130182A (ja) 撮像装置及び電子機器
JPH09325019A (ja) 3次元計測装置
JP2000105111A (ja) 3次元入力装置
CA1303217C (en) Apparatus including multielement detectors for recording heat images
JPS60194692A (ja) 赤外線映像表示方式
US6282331B1 (en) Apparatus of alignment for scanner and a method of the same
JPH0265459A (ja) 画像読み取り装置
JP2000002519A (ja) 3次元入力装置