JPS6039979U - 評価用ｉｃ - Google Patents

評価用ｉｃ

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JPS6039979U
JPS6039979U JP13220683U JP13220683U JPS6039979U JP S6039979 U JPS6039979 U JP S6039979U JP 13220683 U JP13220683 U JP 13220683U JP 13220683 U JP13220683 U JP 13220683U JP S6039979 U JPS6039979 U JP S6039979U
Authority
JP
Japan
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evaluation
terminal
abstract
terminals
socket
Prior art date
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Pending
Application number
JP13220683U
Other languages
English (en)
Inventor
高橋　恭正
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP13220683U priority Critical patent/JPS6039979U/ja
Publication of JPS6039979U publication Critical patent/JPS6039979U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はＩＣをＩＣソケットに搭載した実使用状態の実
施例を示す斜視図、第２図は本考案の評価用ＩＣの構造
図、第３図は従来の評価ＩＣの構造図、第４図は評価用
ＩＣをＩＣソケットに挿入した状態でＩＣ端子とＩＣソ
ケット端子の接触部を接触抵抗とした等価回路図である
。 １・・・評価用ＩＣ，２・・・ＩＣソケット、３・・・
ｊＣ端子、４・・・ＩＣソケットの端子、５・・・アル
ミニウムワイヤ、６・・・ＩＣケース、８・・・引出線
、９・・・半田付接続部、１０・・・接触抵抗値。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ＩＣの端子構造において、ＩＣのケース内部の端子部の
    一端を隣接端子の端子相互間で接続し、内部接続した端
    子の相互間を外部端子で測定できるＩＣ構造にしたこと
    を特徴とする評価用ＩＣ０
JP13220683U 1983-08-29 1983-08-29 評価用ｉｃ Pending JPS6039979U (ja)

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JP13220683U JPS6039979U (ja) 1983-08-29 1983-08-29 評価用ｉｃ

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JP13220683U JPS6039979U (ja) 1983-08-29 1983-08-29 評価用ｉｃ

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JPS6039979U true JPS6039979U (ja) 1985-03-20

Family

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