JPS6040936A - 懸濁液内の粒子の分散をモニタする方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 する方法およびその装置に関する。

一般に粘土紘、凝集状態にて土壌より採掘される。この
粘土は、更に精製および粒径分離を行うためその成分で
ある粘土鉱物粒子に解膠又は分散しなければならない。

カオリナイトの場合、これら基本粒子は、規則的な六角
形状のディスク体となっている。このように非定形又は
球形の凝集した粘土がディスク状の分散した粘土に形態
学的に変化することに着目した結果電気光学的方法を使
用すればカオリナイトの濃縮水性懸濁液の分散状態を測
定するという今日の工業上の問題を解決できる新規な方
法が得られるという見解を持つに至った。

ｉｑｓｌ／を年初頭に電気的複屈折を使って交換可能な
カチオンの関数として表わされる粘土鉱物の物理的特性
が研究された。（ジャーナル　オブフイジカル　ケミス
トリー、５ｇ（ｌθ＋ｇｏｉ〜ざθ弘ページ、カーノ・
エイおよびルイス、ディー・エイチ）。

７９５９年には電気複屈折を使って、高分子電解質の粘
土懸濁液の分散のメカニズムが研究された（バークレイ
開催第６回粘土、粘土鉱物に関する国内会議議事録２２
０，カーノ・エイ）。

本発明によれば、分散時に印加された場内で配列するこ
とができる懸濁液内の粒子の分散をモニタする方法であ
って、懸濁液のある領域に放射線ビームを印加し、この
領域に場を印加し、該場内の前記懸濁液の分散粒子の配
列による前記領域の放射線散乱特性変化を測定すること
から成る方法が提供される。

上記の場（フィールド）は、例えば交流電界のような電
界でもよいし、磁界又は磁界でもよい。

以下添附図面に例示した実施例を参照して本発明につい
て述べる。

第１−を図を参照すると、参照番号１は一つの接合され
たガラス部２および３から成るガラスのセルである。こ
のセル１内に長方形のチャンバ４が形成されるように長
方体であるガラス部３に面するガラス部２の側面が切欠
かれている。更にこのセルにはチャンバ４と連通ずる入
口ボート５および出口ボート６が設けられている。セル
１の厚みは約’ｌｍでセル１の主な側面は約３θＱ．Ｘ
３００ｍで、チャンバ４の奥行きは約θｌｍである。

チャンバ４内には、一対の導ｍ７および８が貫入してお
り、これらはチャンバ４の中央部で対向しておシ、その
間の間隔は約３３１ｌｌＩ１１であるが、図示した間隔
は見やすいように実際上シも広くしである。導線Ｔおよ
び８は、例えばＳθＨｚ　のｌ００〜．２　４ｔ　Ｏ　
Ａ．Ｃ．　ボルトの交流電源９に接続され、この電源は
チャンバ４内の導線Ｔと８との間で交流電界を発生する
ようになっている。

ポンプ１１例えばぜん動ボンブを使ってリザーバ１０か
らボート５を介してチャンバ４にカオリンの水性懸濁液
が送られ、この懸濁液はチャンバ４を通シ、ボート６を
通って再びリザーバへ戻される。

レーザ１２、例えばヘリウム−ネオン又はアルゴンレー
ザから出力された光は、セル１の中央部に向って入射す
る。セルのレーザと反対側にはアンプ内蔵のフォトダイ
オード状の光検出器１３が設けられているが、この光検
出器は他のものでもエイ。光検出器１３は、レーザ１２
からのビームが通る対称軸１４からずれており、（第３
図参照）、フォトダイオードからの増幅された出力社こ
の出力を処理する装置１５へ送られる。

一般的にリザーバ１０からの懸濁液内のカオリンは懸濁
液の約３０重量一でアル、カオリンが完全に凝集してい
れば、チャンバ４内に交流電界を発生してもレーザ１２
からの光ビームはセル１を直進し、フォトダイオード１
３をバイパスするのでフォトダイオード１３の出力はほ
とんどなくなる。しかしながら懸濁液内で少なくともい
くらかのカオリンが分散していれば分散したカオリン粒
子は電界内で墓列し、レーザ１２からの光ビームを散乱
する。このような散乱は過渡電界光散乱と呼ばれるもの
で、散乱光はフォトダイオード１３によシ検出され、そ
の出力は装置１５へ送られる。

（過渡電界光散乱は、ジャーナル　オブ　ケミカルフイ
ジクス３０　（，２）１０３：ｊ　〜１０３１１、／　
９　Ａ　９年のプルマー・エイチおよびイニニングス；
ヒー・アール両氏の論文に記述されている。）カオリン
が約、２４ｔｉ量チでそのうちの少なくとも込〈らかが
分散しているカオリン懸濁液を使用し、カントロニクス
社製造タイプＯＳ　Ｄ　／　５　Ｔのアンプ内蔵フォト
ダイオードをフォトダイオード１３に使用し、５ＯＨｚ
の、２　ＩＩ　ＯＡｃボルトの′電源９からの電圧を印
加すると、第５因のグラフに示すようなフォトダイオー
ド１３からの出力が得られた。

この出力の振動部分は、過渡電界光散乱によるもので、
振動数はｔＸは／　００　Ｈｚ　でこれは交流電界周波
数のほぼ２倍である。この出力の振動部の平均ピーク間
電圧はカオリン懸濁液の分散度の関数として表わされる
。

レーザから出力される光が通るセル１の対称軸１４から
ずらして一つのフォトダイオードを設ける替わりに、同
じ側に軸１４上にもう一つのフォトダイオードを設けて
交流電界がないときにチャンバ４内の懸濁液を通過した
光を検出してカオリン濃度を検出するようにしてもよい
。これは、一つ以上のフォトダイオードを含むフォトダ
イオード組立体を使うことによフ達成できる。これにつ
いては、第１図を参照されない。本図の参照番号１６は
、分散粒子によシ敗乱された光を検出するため軸１４か
らずらした組立体のうちの第１フオトダイオードを示し
、番号１Ｔは交流電界がないときにチャンバ４内の懸濁
液を通過した光を検出するための組立体中の第、２フオ
トダイオードを示す。フォトダイオード１６および１７
からの出力は、次の処理のためにいずれも装置１５へ送
られる。

装置１５は、適当にプログラムされたマイクロプロセッ
サであって、フォトダイオード１３又はフォトダイオー
ド１６および１７（すなわち１つの光検出器又は複数の
光検出器）からの出力を演算してカオリン懸濁液の分散
度を表示する。

ガラスセル１１はチャンバ４の側面に水又はカオリンが
付着しないように使用前にまず処理される。これは、エ
ーテルに１０重量−のジメチルジクロロシランを混入し
た溶液内にセル１を浸漬し、セルをｌ−θ０　で加熱す
ればよい。

次に第６〜９図を参照してセルおよびこれと使用する装
置の別の実施例について述べる。第６図にはセルが示さ
れているが、この詳細すなわち能動領域は第７図に示さ
れている。セル２０は狭いギャップを残してシール状態
に接合されたλつのガラス部２１および２２から成シ、
入口管２３および出口管２４を介してこのギャップをカ
オリン懸濁液が通過するようになっている。

ガラス部２１と２２の間の間隔は、互いに接近して（一
般的には／ｍよシ狭い）配置したλつの電極２５および
２６の間をカオリン懸濁液が流れることができるように
しである。電極は、光ファイバ２９および３０用の拡め
輪２７および２８の端部に設けられ、光ファイバ２９は
レーザからの光を伝達し、光７アイパ３０はファイバ２
９から電極２５と２６との間の懸濁液を通過した光を受
けるようになっている。参照番号３１は、光路を示す。

電極は電圧が印加されたとき、懸濁液の間に均一な電界
を発生するよう配置されている。使用にあたっては、電
極２５に！；　ＯＨｚ　で振動する、一般的にＳＯポル
）　ｌ　Ｖ、Ｗ、Ｓ　ｌのバースト信号日が印加される
。電極面に一つの光ウィンドが形成されるよう各党ファ
イバには一つの電極が設けられ、光は光ファイバから懸
濁液へ又はこの逆方向に通過できる。ファイバと電極は
、共通軸上に設けられているので、一つの光フアイバ面
から懸濁液に出力された光は、他方の電極内の他の光７
アイパへと光学的に再結合される。このようにしてファ
イバ２９に光ビームを通過させ、他方のファイバーへ進
入した光を検出することによシ懸濁液からの低角度で散
乱された光を検出することができる。

ガラス部２１および２１は、図示するような矩形のもの
のかわシに円板にすることもできる。

セルに電圧を印加すると、分極可能な粒子は印加電界に
対して配列する。電界印加中連続して生じる懸濁液中の
粒子流のために光学的に検出Δれる部分は配列された粒
子により充満され、この結果低角度散乱特性が変わる。

これは、電界がある場合とない場合との散乱光の変化と
して検出される。懸濁液中の電気的に分極可能な粒子の
相対数とそれらの分極可能性の程度は懸濁液の分散度に
よって変わるので、その散乱光変化は、凝集状態を区別
するのに使用できる。これは結合して成分粒子の個々の
分極可能性をなくする凝集粒子にも共通の状況でもある
からである。

非導電であるためにこの光学プローブ内に実際に配列し
た粒子がないときは、粒子の配列に影響を与えることな
くプローブの内外に配列した粒子を運ぶため流れを利用
しなければならない。これは、電界を発生したシ除去し
た力するときの粒子の回転拡散時間と比較して平均粒子
滞留時間を短くする流れを使用することによって得られ
る。

流れの速度は均一に維持しなければならないが、これは
一つの異なるローラが低速で回転するぜん動ポンプを使
用することによシ達成され、ここで電界発生時間はポン
プの送出特性のある点を安定化するよう調節されている
。又これは、ポンプのシャフト上のマークを検出するこ
とにより測定のための適当な時間を表示する光学的反射
センサを使用すると特に好適に行なわれる。

検出法は、差分的であるので、電界を発生したときの懸
濁液からの散乱変化を測定するにはパルス化された電源
を使用することが好ましい。繰返しレート、パルス幅お
よび印加電はすべて任意であるが、各々のレンジをセッ
トすることは特に好ましい。繰返しレートは、流れポン
プから受信されるトリガ信号によシセットされ、このト
リガ信号は可能な安定化流れ条件の最も頻度の高い繰返
しレートを表示する。発生電界の時間長さは配列度から
云って粒子が完全に飽和しこの最終値を安定して測定で
きるように充分長くしなければならない。この最長時間
は、電極領域内のサンプル加熱を適格とならないような
程度にするノくルス幅と電界強度の相乗効果によって決
まる。

供給電圧は、直流又は交流のいずれでもよく、粒子はそ
の各々によって電気的な分極特性が異なるので粒子は配
列する。特に交流は電気分解による電極の劣化を最小に
するので交流を使用することが好ましい。これと同じ理
由によシ、ゼロクロススイッチを使用することも好まし
い。これを使用すると、交流を加えてもサイクル未完了
時に印加される結果生じる残留直流電界が発生しなくな
る。一般的にこの交流電界は、５０サイクル又は６θサ
イクルであることが好１しく、商用ラインから交流電界
が発生される。又必要な電界を商用ライン電圧よりも低
い電圧を使って発生できるような電極間隔にすることが
好ましい。

印加電界は粒子を部分的に配列する効果を有し、この効
果は分極によｐ誘導される配列トルクとブラウン運動と
のバランスに依存する。このような配列はサンプルの散
乱特性を変化するので、ある角度で散乱される光の強度
が変わる。検出器はこの光信号を第３図に示すような電
子レスポンス（交流電界の場合）に変える。印加電界が
ないとき、はぼ一定の光強度Ｖｕ　が得られるがこれは
ランダムに配列している粒子の平均的散乱に対応する。

交流バースト信号を印加すると１、新しい平均値Ｖｓ　
が得られるが、この値に更に電源の一倍の周波数の交流
信号Ｖａｃが重ねられる。この交流信号成分の大きさは
、粒子の永久ダイポールモーメントと誘導電気ダイポー
ルモーメントの比に関連する。粘土の分散状態が変わっ
ても、Ｖｓ　に対するＶａｃＯ比がわずかに変わるだけ
である。従って、双方の信号又はその組合わせ信号は粘
土の分散状態に関する情報を含んでいる。しかしながら
（サンプル内の気泡・不均一性等による）実験誤差又は
変動に最も影響を受けない分析技術を使用することが好
ましい。このためにバーストレスポンスよシ下の領域（
第３図のＡ）を使ってその大きさを示す。

一つのバースト信号だけでサンプルを測定することは可
能であるが、このような測定はパーストの間にサンプル
セル内に含まれる情報を制限することになる。サンプル
中には不均一な成分が含まれるので、一つのバースト信
号ではそのような不均一成分のいくらかを見付けられな
いこともあるので、多数のバーストにより測定を平均化
することも好ましい。

本技術は光散乱強度の測定を応用しているので、装置内
の問題による光効率ロスによる誤差を受ける。これら誤
差はサンプルのメカニズムとは無関係に受光される光量
を低下させるので、不正確な分散推定値を与えてしまう
可能性がある。誤差の一般的なものとしては、光学系の
ミスアライメント、サンプル内のファイバ端のよごれ、
レーザパワーのロス等により生じる誤差である。これら
誤差は、システムの光ゲインを測定して電子的ゲインを
調節し全体のゲインを一定にする電子的な補償法を使っ
てほとんど完全に除去できる。この光ゲインはバースト
信号間で利用できるｖｂ　信号を使って好適に測定され
る。とのｖｂ　信号が例えばレーザパワーロスによシ低
下すれば、電子的ゲインはこの信号を元の値へ戻すよう
調節する。

このようにして領域への測定は光学的効率とはほとんど
無関係であシこの技術に基づく測定測置の安定度を向上
している。

このゲイン制御の別の利点は、ｖｂ　およびＡがサンプ
ル濃度変化と線形に変化ようなサンプル濃度となってい
る場合に得られる。ここで、ゲイン制御は、分散レスポ
ンスが濃度変動と無関係となるように行なわれる。分散
レスポンスとしてレポートされた信号は、下記のように
示される。

ここでには測定測置の目盛倍率、Ｎは、平均バースト信
号数、Ａは第３図に定められた面、ｖｂは第３図に定め
られたパックグラウンド信号、Ｋはへの平均値である。

次に第９図および第１Ｑ図を参照して上記のように作動
し、第６図および第７図に従うセルを使用する装置につ
いて述べる。

モニタすべき懸濁液は、サンプルリザーバ３１内に入れ
られ、攪拌器３２によシ攪拌される。ぜん動ポンプ３２
によフセル２０に懸濁液に送られ、レーザ３４によシ７
アイパ２９に光が入射され、ファイバ３０は検出器３５
に光を送る。電極２６に交流のバースト信号を印加する
ため交流電界発生器３６が設けられているが、この発生
器３６は、制御論理回路３８からのライン３１上の入力
に応答して各バースト信号を発生する。論理回路３８に
はライン３９上のトリガパルスが印加されるが、これら
パルスはポンプ３３のシャフト１３３上のマークを検出
する光反射セン？３８から発生される。ライン３Ｔ上の
各電界発生入力はライン３Ｂ上の各トリガパルスに応答
して発生される。これについてはトリガパルスを示す＠
　／　Ｏａ図および電極２６に印加される交流電界バー
ストを示す第１Ｏｂ図を参照のこと。

検出器３５の一般的出力は、第１θＣ図に示されている
が、この出力は自動ゲイン制御（Ａ、Ｇ、Ｃｌアンプ４
０へ印加される。このアンプ４０のゲインは既述のよう
にバックグラウンド信号ｖｂ　によって変わる制御論理
回路３Ｂからの出力によ多制御される。アンプ４０の出
力は、ベースライン減算器４２に印加されるので、これ
はゼロにクランプされる。この減算器４２の一般的出力
は第１Ｏｄ図に示されている。この出力は電圧−周波数
コンバータ４３に印加され、そのコンバータの出力（そ
の出力の一般例を第１Ｏｅ図に示す）は制御ゲート４４
に印加される。分散度に関連するレスポンプを得るため
コンバータ４３からのパルスのバースト信号内のパルス
の合計数をパルスカウンタ４５により所定数のパルスの
間だけカウントする。ゲート４４は制御論理回路３８か
らのライン４６上の指令信号によシこの数のバースト信
号の間だけ開とされ暮。参照番号４Ｔは、カウンタをス
タートおよびリセットするための入力ラインでめシ、参
照番号４８はパルスカウントを行うバースト信号の所定
数をセットするための入力ラインでアシ、番号４５はカ
ウンタ４５のリセットラインである。最終的に分散レス
ポンスディスプレイ５０上に分散度の値が表示される。

上記の装置の実施例は所定のＷｒ、濁液に添加すべき分
散剤の量を決定するのに使用される。すなわち懸濁剤の
サンプルを取って分散度の表示値示実質的に増加しない
ようになるまで少しずつ分散剤を添加し、懸濁液をｅｌ
ぼ完全に分散するのに必要な懸濁液の単一容積に対する
最小分散剤添加量を決める。又電界を印加しない状態で
ＩＷＩ濁液の濃度が表示される。

第１／図および第１２図を参照して所定懸濁液のサンプ
ルの分散度をモニタするための装置について述べる。こ
の装置は過渡電界光散乱を使ったとき生じるレスポンス
と、はぼ完全に分散したとして知られているサンプルか
らのレスポンスを比較することによりモニタをしている
。

この装置は、取外し自在なサンプルスクリーン（これに
一定容積のサンプルを注ぐ）を有する入力容器５１と、
サンプルを分割するλつのチャンバ５２および５３と、
チャンバ５２および５３内のサンプル攪拌するだめのλ
つの低速攪拌器５４および５５と、分散剤リザーバ５６
と、投与インジエククアクチュエータ５８のｉ！ｉｌｌ
＃によりリザーバ５Ｇからチャンバ５３のサンプル部に
所定量ノ分散剤を注入するための投与インジェクタ５Ｔ
と、第２．３およびグ図又はＭ／）および２図に従う、
すなわち関連電極および電界印加手段を有する２つのセ
ル５９および６０と、レーザ６１（その出力ビームはビ
ームスプリッタ６２に分割され、一方はセル５９へ、他
方はミラー６３を介してセル６０へ送られる。〕と、セ
ル５９およ−び６υの出力光ファイバ６６および６７が
らの光を検出するための一対の光検出器６４および６５
と、チャンバ５２および５３内のサンプルを抜き取るた
めの一対の機械的に連結されたフレノイド作動式バルブ
６８および６９から成る。

本装置は、光検出器６４および６５の出力を処理するた
めの下記の回路を含む。すなわち、検出器６４および６
５の出力を増幅するための一対のアンプＴＯおよび１１
と、該アンプの出方を受けるコンパレータ７２と、コン
パレータγ２に１０゜チ標準化セット入力を出方する回
路Ｔ３と、コンハレータフ２の出力を受けるサンプル・
ホールド回路Ｔ４と、その結果をディスプレイするディ
スプレイ１５と、シーダンスコントローラ７６から成す
、シーダンスコントローラＴ６は、サンプル・ホールド
回路７４に接続された出力、投与インジェクタアクチュ
エータ５８を作動させるための出ブハ攪拌器５４および
５５を作動させるため接続された出力と、パルプ６８お
よび６８を開閉するために使用される出方を有する。オ
ペレータにより作動される３つの押ボタン久方スイッチ
すなわち飼定シーケンスを開示するスイッチ７７と、洗
浄動作を開始するスイッチ７８と、標準化操作をセット
するスイッチ１９が設けられている。最後にシーダンス
コントローラＴ６によって制御される一組の表示ランプ
すなわち本装置がサンプルの受入れ準備完了となってい
ることを表示するランプ８０と、検査が進行中であるこ
とを表示するランプ８１と、結果を表示する準備は完了
したことを示すランプ８２と、洗浄が進行中であること
を示すランプ８３と、セル５Ｂおよび６ｏのウィンドが
よごれていることおよび／またはブロックされているこ
とを表示するランプ８４と、セル５９又は６０を交換す
べきことをそれぞれ示すランプ８５および８６と、標準
化を行っていることを表示するランプ８Ｔである。

本装置は次のようにして使用される。

カオリン懸濁液のす／プルを容器５１に注ぎ、スクリー
ンを外し、洗浄し、スイッチ１１を押す。

次ニジーケンスはシーダンスコントローラ７６の制御に
より自動化され、攪拌器５４および５５がオンとされ、
アクチュエータ５８で制御されるインジェクタ５Ｔを介
してリザーバ５６がらチャンバ５３内のサンプルに過量
の分散剤が添加される。

３０秒の時期時間の後で、分散剤が添加されたサンプル
内の粒子は完全に分散し、バルブ６８および６９を開け
られ、測定が行なわれる。その比較結果がディスプレイ
γ５上に表示され、ランプ８２が点燈する。次にオペレ
ータが水を入れ、スイッチ７７を押すと、シーケンスは
再び自動化される。攪拌器５４および５５がオンとされ
、ｌθ秒後バルブ６Ｂおよび６９が開けられ、セルのウ
ィンドがよごれてないか、および／又はセルがブロック
されていないかに関するチェックがなされ、４チエツク
が良好であればランプ８４が点燈する。

本装置を標準化するには、オペレータは粘土のサンプル
を入れ、スイッチＴ９を押す。上記測定シーケンスは標
準化のため過量投与を除いて集貨する、オペレータは標
準化をｌＯＯチにする場合ランプ８Ｔを押す。そうしな
いと標準化は自動的に行なわれる。

測定シーケンスは次のようにすべきである。すなわちパ
ルス状（例えば７０〜２０ｍ秒の長さ）の電界（実施例
中では交流電界）を印加し、この結果を記憶し、５〜Ｉ
Ｏ秒後にこれを繰返す、例えば７０回繰返し、結果の平
均値を出力する。

連続基準レベルとして又全固体量表示として直流レベル
（％界不存在）を使用することも可能である。

λつのセルのかわシに一つのセルだけを使うこともでき
る。この場合測定済みのサンプルと基準（過量投与され
た）サンプルを交互に通過させる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例に係る方法を実施するための
装置を示す略図、第２図は本装置のセルを示し、第３図
および第ｑ図は光検出器の形状を変えたセルの側面図、
第Ｓ図は分散粒子に対する装置からの一般的出力を示す
グラフ、第６図はセルの別の実施例を示す図、第７図は
第６図のセルの詳細を示す図、第３図は第６図のセルの
検出器の出力を示す図、第９図は第６図のセルと共に使
用する装置のブロックダイヤグラム、第１Ｑ図は第７図
の装置内で発生される波形を示す図、第１１図は基準＠
濁液と検査用懸濁液を比較するための製置の一部を示す
図、第１２図は本装置の制御シヌテムを示すブロックダ
イヤグラムである。 １・・・セル、　１．８・・・電極、 １０・・・リザーバ、１２　レーザ、 １３・・・光検出器。 図面の浄書〔内容に変更なし〕 、ｅ、　１ 手続補正書（方式） 特許庁長官　殿 ３、補正をする者 事件との関係　出願人 ４、代理人

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （ハ　分散時に印加された場内で配列することができる
   懸濁液内の粒子の分散をモニタする方法において、 懸濁液のある領域に放射ビームを印加し、この領域に場
   を印加し、該場内の前記懸濁液の分散粒子の配列による
   前記領域の放射散乱特性変化を測定することから成る方
   法。 （，２）前記場が電界である特許請求の範囲第１項記載
   の方法。 （３）　前記電界が交流電界である特許請求の範囲第一
   項記載の方法。 （ｌＩ）　前記放射ビームが光ビームである特許請求の
   範囲第１〜３項のうちのいずれかに記載の方法。 （５）　前記光はレーザより印加される特許請求の範囲
   第ｑ項記載の方法。 （６）前記懸濁液が前記放射線が透過するセルを通過さ
   れ、このセルは前記場が形成され、前記放射線が印加さ
   れる前記領域となっている特許請求の範囲第１〜５項の
   いずれかに記載の方法。 （７）　前記セルは前記領域内で電界としての前記場を
   発生する一対の電極を有し、放射線を検出し、前記変化
   に関連する表示を発生する検出手段と関連する特許請求
   の範囲第６項記載の方法。 （ｇｌ　前記電極は前記場が前記ビームが印加される方
   向とほぼ平行となるよう配置されている特許請求の＠四
   第７ｇ１記載の方法。 （９１分散度のモニタを望む懸濁液の第１サンプルの領
   域に場を印加し、粒子がほぼ完全に分散していることが
   判っている懸濁液の第コサンプルの領域に場を印加し、
   場による各領域の放射線散乱特性変化を検出して各々の
   出力表示値を出力し、これら表示値を比較して第１懸濁
   液内の粒子の分散度に関する表示値を発生する特許請求
   の範囲第１〜ｇ項のうちのいずれかに記載の方法。 （１０）前記懸濁液がポンプによシ前記セルを通過され
   、このポンプ操作と同期して場がバースト状に印加され
   る特許請求の範囲第６、りおよび３項のうちのいずれか
   に記載の方法。 （／／１分散時に印加された場内で配列することができ
   る懸濁液内の粒子の分散をモニタする装置において、 前記懸濁液の少なくとも一部を送る領域を与える第７手
   段と、前記領域に放射線ビームを印加する第２手段と、
   前記領域内に場を発生する第３手段と、前記領域内の前
   記懸濁液の分散粒子の配列による前記領域の放射線散乱
   特性変化を検出する第４手段とから成る装置。 （／２）前記環が電界である特許請求の範囲第１１項記
   載の装置。 （１３）前記電界が交流電界である特許請求の範囲第１
   ２項記載の装置。 （滓）前記第一手段が光ビームを発生する手段である特
   許請求の範囲第１／−１３項のうちのいずれかに記載の
   装置。 （１５）前記第一手段がレーザから成る特許請求の範囲
   第１ダ項記載の装置。 （１６）前記第１手段は前記放射線を透過するセルから
   構成され、このセルを前記ｉ濁液が通過されかつこのセ
   ルは前記環が発生されかつ前記放射線が印加される領域
   となっている特許請求の範囲第１／−７５項のうちのい
   ずれかに記載の装置。 （１７）前記第３手段が前記領域内に電界としての前記
   環を発生するための前記セルに合体された一対の電極か
   ら成り、前記第４手段は前記放射線を発生して前記変化
   に関する表示を発生する前記セルと関連する検出手段か
   ら成る特許請求の範囲第１６項記載の装置。 （ｉｇ’ｒ　前記電極は前記環が前記ビームが印加され
   る方向とほぼ平行となるよう配置されている特許請求の
   範囲第１７項記載の装置。 （ｌデ）前記第３手段は分散度のモニタが望まれる懸濁
   液の第１サンプル領域に場を印加しかつ粒子がほぼ完全
   に分散していることが判っている懸濁液の第コサンプル
   の領域に場を印加するのに適してお９、前記第３手段は
   場による各領域の放射線散乱特性変化を検出してそれぞ
   れの出力表示値を発生するのに適しておル、更に各表示
   値を比較して第７懸濁液内の粒子の分散度に関する表示
   値を発生する手段を含む％Ｆｔ　請求の範囲第９〜１ｇ
   項のうちのいずれかに記載の装置。 Ｗ）ポンプを使って前記セルに懸濁液を通過させる手段
   を含み、前記第３手段はポンプ手段の操作と同期してバ
   ースト状に場を発生するようになっている特許請求の範
   囲第１７、／７およびｌざ項のうちのいずれかに記載の
   装置。 Ｊ）分散時に印加される場内で整列することができる懸
   濁液内の粒子の分Ｗ！１．をモニタする装置において、 ａ）光透過性セルと、 ｂ）　前記懸濁液をポンプ送りして前記セルを通過させ
   る手段と、 Ｃ）　前記セル内の前記懸濁液の領域にビームが入射す
   る。ｒ、う前記セルに光ビームを印加するレーザと、 ｄ）前記領域内のセル内に内蔵された一対の電極と、 ｅ）前記電極に接続されその間で交流電界を発生する手
   段と、 ｆ）前記領域内の分散粒子の配列による前記領域の光散
   乱特性変化に関する表示値を発生するよう前記セルと関
   連する光検出手段と、 ｇ）前記光検出手段に接続され前記表示値を受信して前
   記懸濁液の分散度に関する出力を発生する手段と、から
   成る装置。 （，２，２ル−ザから前記セルに光を伝達するための光
   ファイバを含む特許請求の範囲第一／項記載の装置。 ■）セルから検出手段に光を伝達するための光ファイバ
   を含む特許請求の範囲第コ／又は、！２項記載の装置。 （，２１Ｉｌポンプ手段の操作と同期して前記環をバー
   スト状に印加する手段を含む特許請求の範囲第２７〜２
   ３項のうちのいずれかに記載の装置。 の）前記ポンプ手段がぜん動ポンプから成る特許請求の
   範囲第一ダ項記載の装置。 α）光検出手段に接続された前記手段はアンプと、（Ｆ
   ｌレベルクランプ手段と、電圧−周波数変換手段と、パ
   ルスカウント手段とから成る特許請求の範囲第、！／−
   ２！；項のうちのいずれかに記載の装置。