JPS604120Y2 - レーザーラマン分光光度計の試料設置機構 - Google Patents
レーザーラマン分光光度計の試料設置機構Info
- Publication number
- JPS604120Y2 JPS604120Y2 JP7547876U JP7547876U JPS604120Y2 JP S604120 Y2 JPS604120 Y2 JP S604120Y2 JP 7547876 U JP7547876 U JP 7547876U JP 7547876 U JP7547876 U JP 7547876U JP S604120 Y2 JPS604120 Y2 JP S604120Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- sample holder
- lock screw
- laser raman
- long hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 title claims description 5
- 238000009434 installation Methods 0.000 title 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案はレーザーラマン分光光度計の試料設置機構に関
するもので、試料設定を再現性よく行なうことを目的と
するものである。
するもので、試料設定を再現性よく行なうことを目的と
するものである。
レーザーラマン分光光度計では試料の設置のために固体
用、液体用など各種の試料ホルダーユニットを試料室か
ら取りはずし、試料を設置した後、再び試料ホルダーを
試料室に設置することが行なわれる。
用、液体用など各種の試料ホルダーユニットを試料室か
ら取りはずし、試料を設置した後、再び試料ホルダーを
試料室に設置することが行なわれる。
その為に各種の試料ホルダーユニットは試料室へ脱着容
易で、かつ再現性のよいことが望まれる。
易で、かつ再現性のよいことが望まれる。
本考案は上述に鑑みなされたものであり、試料を支持す
る試料ホルダーと一体でかっ丸孔と長孔と傾斜切かきを
設けた試料ホルダーベースと、該試料台の丸孔、長孔に
嵌合する二本のピン及び該試料台の傾斜切かき部を押し
込むロックネジとを具備する試料ホルダ一台よりなり、
傾斜切かき部を試料ホルダ一台に設けたロックネジを回
し押しつけることにより、下方にかっ、位置設定用の２
本のピンに嵌合する丸孔及び長孔を一方向に押しつけて
、試料をレーザー光に照射する位置に設置する構造とな
っている。
る試料ホルダーと一体でかっ丸孔と長孔と傾斜切かきを
設けた試料ホルダーベースと、該試料台の丸孔、長孔に
嵌合する二本のピン及び該試料台の傾斜切かき部を押し
込むロックネジとを具備する試料ホルダ一台よりなり、
傾斜切かき部を試料ホルダ一台に設けたロックネジを回
し押しつけることにより、下方にかっ、位置設定用の２
本のピンに嵌合する丸孔及び長孔を一方向に押しつけて
、試料をレーザー光に照射する位置に設置する構造とな
っている。
実施例を図面とともに詳細に説明すると次の通りである
。
。
第１図、第２図において、サブベース１４はレーザーラ
マン分光光度計の試料室に設置される。
マン分光光度計の試料室に設置される。
該サブベース１４にはレーザー光１３を貫通する窓１２
を設け、さらに試料ホルダ一台８を設ける。
を設け、さらに試料ホルダ一台８を設ける。
試料ホルダ一台８にはレーザー光１３を貫通する窓７を
設けるとともに位置設定用のピン６゜９と、１字台１１
とを設ける。
設けるとともに位置設定用のピン６゜９と、１字台１１
とを設ける。
そして、１字台１１にはロックネジ１０が設けられる。
一方、試料ホルダーベース３にはレーザー光１３を貫通
する窓２と、位置設定用のピン６と嵌合する丸孔１と、
ピン９と嵌合する長孔４と、ロックネジ１０で押される
部分に傾斜切かき５とを設ける。
する窓２と、位置設定用のピン６と嵌合する丸孔１と、
ピン９と嵌合する長孔４と、ロックネジ１０で押される
部分に傾斜切かき５とを設ける。
以上の構成において、試料ホルダー１５に試料を設置し
た後、試料ホルダーベース３を丸孔１とピン６、長孔４
とピン９とを嵌合させて、試料ホルダ一台８に設置する
。
た後、試料ホルダーベース３を丸孔１とピン６、長孔４
とピン９とを嵌合させて、試料ホルダ一台８に設置する
。
そして試料ホルダーベース３に設けた傾斜切かき５の部
分をロックネジ１０で締めつけることにより試料ホルダ
ーベース３は下方と後方に押しつけられることによって
、試料ホルダーベース３を試料ホルダ一台８側に、かツ
ピン６，９の一方に押しつけて試料ホルダーユニット１
８の位置設定が行なわれる。
分をロックネジ１０で締めつけることにより試料ホルダ
ーベース３は下方と後方に押しつけられることによって
、試料ホルダーベース３を試料ホルダ一台８側に、かツ
ピン６，９の一方に押しつけて試料ホルダーユニット１
８の位置設定が行なわれる。
なお、第１図において、１６は試料、１７は散乱光の位
置を表わす。
置を表わす。
上述の如く本考案によれば傾斜切かき５と、ロックネジ
１０とにより、試料ホルダーベース３の位置設定は常に
試料ホルダ一台８面と、ピン６゜９の一定点に圧着固定
されるため、試料ホルダーユニット１８の設置が再現性
よく行なわれ、かつ非常に簡易な機構であるため、経済
的にも、操作上からも好都合である。
１０とにより、試料ホルダーベース３の位置設定は常に
試料ホルダ一台８面と、ピン６゜９の一定点に圧着固定
されるため、試料ホルダーユニット１８の設置が再現性
よく行なわれ、かつ非常に簡易な機構であるため、経済
的にも、操作上からも好都合である。
図面は、本考案の一実施例を示すもので、第１図、第２
図は斜視図を示すものである。 １：丸孔、２，７，１２：窓、３：試料ホルダーベース
、４：長孔、５：傾斜切かき、６，９：ピン、８：試料
ホルダ一台、１０：ロックネジ、１１：Ｌ字台、１３：
レーザー光、１４：サブベース、１５：試料ホルダー、
１６：試料、１７：散乱光、１８：試料ホルダーユニッ
ト。
図は斜視図を示すものである。 １：丸孔、２，７，１２：窓、３：試料ホルダーベース
、４：長孔、５：傾斜切かき、６，９：ピン、８：試料
ホルダ一台、１０：ロックネジ、１１：Ｌ字台、１３：
レーザー光、１４：サブベース、１５：試料ホルダー、
１６：試料、１７：散乱光、１８：試料ホルダーユニッ
ト。
Claims (1)
- 試料を支持する試料ホルダーと一体でかっ丸孔と長孔と
傾斜切かきを設けた試料ホルダーベース３と、該試料台
の丸孔、長孔に嵌合する二本のピン及び該試料台の傾斜
切かき部を押し込むロックネジとを具備する試料ホルダ
一台８よりなり、傾斜切かき部を試料ホルダ一台に設け
たロックネジを回し押しつけることにより、下方にかっ
、位置設定用の２本のピンに嵌合する丸孔及び長孔を一
方向に押しつけて、試料をレーザー光に照射する位置に
設置する構造を特徴とするレーザーラマン分光光度計の
試料設置機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7547876U JPS604120Y2 (ja) | 1976-06-10 | 1976-06-10 | レーザーラマン分光光度計の試料設置機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7547876U JPS604120Y2 (ja) | 1976-06-10 | 1976-06-10 | レーザーラマン分光光度計の試料設置機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52166583U JPS52166583U (ja) | 1977-12-16 |
| JPS604120Y2 true JPS604120Y2 (ja) | 1985-02-05 |
Family
ID=28549597
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7547876U Expired JPS604120Y2 (ja) | 1976-06-10 | 1976-06-10 | レーザーラマン分光光度計の試料設置機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS604120Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104749158B (zh) | 2013-12-27 | 2020-12-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 珠宝玉石鉴定方法及装置 |
-
1976
- 1976-06-10 JP JP7547876U patent/JPS604120Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52166583U (ja) | 1977-12-16 |
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