JPS6042609A - 板厚測定方法 - Google Patents
板厚測定方法Info
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- JPS6042609A JPS6042609A JP15184083A JP15184083A JPS6042609A JP S6042609 A JPS6042609 A JP S6042609A JP 15184083 A JP15184083 A JP 15184083A JP 15184083 A JP15184083 A JP 15184083A JP S6042609 A JPS6042609 A JP S6042609A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は金属板の板厚測定方法に関し、具体的には測定
対象物である金属板と該金属板の両面夫々に対向せしめ
た凹面鏡とでマイクロ波共振器を各形成し、両マイクロ
波共振器の共振周波数を検出して金属板の各面と各凹面
鏡との距離を各測定し、また、板厚測定開始に先立って
、同様の方法−で両凹面鏡の距離を測定し、これらの測
定値の演算によって高温域は走行する薄板等にも通用で
きる金属板の板厚測定方法を提案するものである。
対象物である金属板と該金属板の両面夫々に対向せしめ
た凹面鏡とでマイクロ波共振器を各形成し、両マイクロ
波共振器の共振周波数を検出して金属板の各面と各凹面
鏡との距離を各測定し、また、板厚測定開始に先立って
、同様の方法−で両凹面鏡の距離を測定し、これらの測
定値の演算によって高温域は走行する薄板等にも通用で
きる金属板の板厚測定方法を提案するものである。
鋼板の板厚測定は品質管理上重要である。ところで、測
定対象物である鋼板が熱間物或いは走行する薄板である
場合には非接触式の板厚測定方法が適用される。
定対象物である鋼板が熱間物或いは走行する薄板である
場合には非接触式の板厚測定方法が適用される。
このような非接触式の板厚測定方法としては、従来、γ
線を利用する方法が多用されていた。しかしながら、γ
線厚み計はその線源の取扱いに危険を伴い、また、鋼板
の密度が不均一であるときは正確な測定が行えないとい
う欠点があった。
線を利用する方法が多用されていた。しかしながら、γ
線厚み計はその線源の取扱いに危険を伴い、また、鋼板
の密度が不均一であるときは正確な測定が行えないとい
う欠点があった。
このため、近年マイクロ波を利用した板厚測定方法、例
えばFMレーダを利用する方法或いは開端共振筒の共振
周波数を利用する方法等の開発が進められている。
えばFMレーダを利用する方法或いは開端共振筒の共振
周波数を利用する方法等の開発が進められている。
前者は測定対象物と測定器とを十分離すことができ、熱
間物、走行する薄板にも適用できるという長所をもつ反
面、高精度の測定が行えないという短所があった。
間物、走行する薄板にも適用できるという長所をもつ反
面、高精度の測定が行えないという短所があった。
一方、開端共振筒の共振周波数を利用する後者の方法と
しては、例えば特公昭45−18625号の測定方法が
あった。この方法は以下に示す様なものであった。
しては、例えば特公昭45−18625号の測定方法が
あった。この方法は以下に示す様なものであった。
即ち、第1図に示す様に鋼板1の」二下には開端共振筒
(導波管の管端にフランジを付けたもの)2.2′がそ
の開口端を鋼板1側に向けて対設されており、両共振筒
2.2′と鋼板1とで夫々マイクロ波共振器M、M’を
形成する。これら両共振器M、M’にはマイクロ波発振
器3から周波数が変化するマイクロ波が印加されるよう
になっている。両共振筒2,2′は夫々鋼板1に対して
接離移動可能になされており、図示しない制御回路によ
り両共振筒2,2′間の距離りを一定に保ちつつ、また
、各共振筒2.2′〜鋼板1間の距離り、 、’ il
l言すれば共振周波数が鋼板1の振動に拘わらず常に一
定となるように上下に駆動制御されている。このよかに
した状態で、共振器M、M’の共振周波数を検出するこ
とによ5り該共振周波数と一定の関係を有する両共振筒
2,2′と鋼板1との距離りを測定する方法である。従
って、鋼@1の板厚tは両共振筒2,2′間の距離りか
ら各共振筒2,2′と鋼板1との距離りの和2Dを減算
(即ち、t=L−2D)することによりまる。
(導波管の管端にフランジを付けたもの)2.2′がそ
の開口端を鋼板1側に向けて対設されており、両共振筒
2.2′と鋼板1とで夫々マイクロ波共振器M、M’を
形成する。これら両共振器M、M’にはマイクロ波発振
器3から周波数が変化するマイクロ波が印加されるよう
になっている。両共振筒2,2′は夫々鋼板1に対して
接離移動可能になされており、図示しない制御回路によ
り両共振筒2,2′間の距離りを一定に保ちつつ、また
、各共振筒2.2′〜鋼板1間の距離り、 、’ il
l言すれば共振周波数が鋼板1の振動に拘わらず常に一
定となるように上下に駆動制御されている。このよかに
した状態で、共振器M、M’の共振周波数を検出するこ
とによ5り該共振周波数と一定の関係を有する両共振筒
2,2′と鋼板1との距離りを測定する方法である。従
って、鋼@1の板厚tは両共振筒2,2′間の距離りか
ら各共振筒2,2′と鋼板1との距離りの和2Dを減算
(即ち、t=L−2D)することによりまる。
しかしながら、−L述きの開端共振筒の共振周波数を利
用する方法は、検出感度の低さ故に鋼板1と両共振筒2
,2′との距離を十分にとれず、熱間物の測定には適用
できず、また走行する薄板の様な振動の大きい測定対象
物についても通用できないという難点があった。
用する方法は、検出感度の低さ故に鋼板1と両共振筒2
,2′との距離を十分にとれず、熱間物の測定には適用
できず、また走行する薄板の様な振動の大きい測定対象
物についても通用できないという難点があった。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものでiす、測定
対象の金属板の両面に凹面鏡を対向させてマイクロ波共
振共振周波数を形成し、該マイクロ波共振器の共振周波
数が金属板の板厚にて定まる凹面鏡と金属板との距離と
一定の関係にあることを利用して、該共振周波数を検出
することにより金属板と両凹面鏡間の距離を夫々求め、
これに基づいて金属板の板厚を測定することとして、金
属板〜両凹面鏡間の距離を十分確保できて、熱間物或い
は走行する薄板にも適用でき、しかも正確な測定が行え
る金属板の板厚測定方法を提供することを目的とするう 本発明に係る金属板の板厚測定方法は、対設した凹面鏡
間にマイクロ波を印加し、その共振周波数を検出するこ
とにより両凹面鏡間距離をめ、また、両凹面鏡間に測定
対象の金属板を介在させ、各凹面鏡と金属板との間にマ
イクロ波を印加し、夫々の共振周波数を検出することに
より各凹面鏡と金属板との距離を夫々をめ、これらの距
離に基づいて金属板の板厚をめることを特徴とする。
対象の金属板の両面に凹面鏡を対向させてマイクロ波共
振共振周波数を形成し、該マイクロ波共振器の共振周波
数が金属板の板厚にて定まる凹面鏡と金属板との距離と
一定の関係にあることを利用して、該共振周波数を検出
することにより金属板と両凹面鏡間の距離を夫々求め、
これに基づいて金属板の板厚を測定することとして、金
属板〜両凹面鏡間の距離を十分確保できて、熱間物或い
は走行する薄板にも適用でき、しかも正確な測定が行え
る金属板の板厚測定方法を提供することを目的とするう 本発明に係る金属板の板厚測定方法は、対設した凹面鏡
間にマイクロ波を印加し、その共振周波数を検出するこ
とにより両凹面鏡間距離をめ、また、両凹面鏡間に測定
対象の金属板を介在させ、各凹面鏡と金属板との間にマ
イクロ波を印加し、夫々の共振周波数を検出することに
より各凹面鏡と金属板との距離を夫々をめ、これらの距
離に基づいて金属板の板厚をめることを特徴とする。
また、両凹面鏡間の距離を直接求める代わりに、両凹面
鏡間に板厚既知の標準サンプルを介在させ、各凹面鏡と
標準サンプル間の共振周波数を検出することにより間接
的に両凹面鏡間の距離をめることとしてもよい。
鏡間に板厚既知の標準サンプルを介在させ、各凹面鏡と
標準サンプル間の共振周波数を検出することにより間接
的に両凹面鏡間の距離をめることとしてもよい。
以下本発明をその実施例を示す図面に基づいて詳述する
。第2図は本発明方法の実施状態を示すブロック図であ
る。
。第2図は本発明方法の実施状態を示すブロック図であ
る。
図中11は鋼板であって、図面の表裏方向に移動される
。鋼板11の移動域の上下には、該鋼板11の上、下面
から適長離隔して凹面鏡12a 、 12bがその凹部
を鋼板ll側に向けて対設されている。両凹面鏡12a
、 12bは銅、真鍮等からなり、四部の形状は回転万
物面状(又は球面状)に形成されている。
。鋼板11の移動域の上下には、該鋼板11の上、下面
から適長離隔して凹面鏡12a 、 12bがその凹部
を鋼板ll側に向けて対設されている。両凹面鏡12a
、 12bは銅、真鍮等からなり、四部の形状は回転万
物面状(又は球面状)に形成されている。
VCO(電圧制御発振器)17は出力周波数制御信号が
発振器23から入力され、鋼板11の上下振動に因って
変化する共振周波数に追随すべき共振周波数又はこれに
近い周波数のマイクロ波を出力する。VCO17出力は
アソティネータ16により減衰され、方向性結合器13
C,スイッチング回路15aを経、方向性結合器13a
(又は13b)を経て、凹面鏡12a(又は12b)に
印加され、また、前記方向性結合器13cを経て周波数
カウンタ20に入力される。
発振器23から入力され、鋼板11の上下振動に因って
変化する共振周波数に追随すべき共振周波数又はこれに
近い周波数のマイクロ波を出力する。VCO17出力は
アソティネータ16により減衰され、方向性結合器13
C,スイッチング回路15aを経、方向性結合器13a
(又は13b)を経て、凹面鏡12a(又は12b)に
印加され、また、前記方向性結合器13cを経て周波数
カウンタ20に入力される。
スイッチング回路15aには後述する厚み計算機21か
らスイッチ切換信号が入力され、該信号によりその接点
を方向性結合器13a側と方向性結合器13b側とに選
択的に切換える。
らスイッチ切換信号が入力され、該信号によりその接点
を方向性結合器13a側と方向性結合器13b側とに選
択的に切換える。
凹面鏡12a又は12L+に印加されたマイクロ波は対
向する鋼板11との間で夫々形成されるマイクロ波共振
器Ma 、Mb或いは対向する両凹面鏡12a。
向する鋼板11との間で夫々形成されるマイクロ波共振
器Ma 、Mb或いは対向する両凹面鏡12a。
12bとで形成されるマイクロ波共振器に印加され、こ
れらの共振器出力は方向性結合器13a又は13bを経
てディテクタ14a又は14bにて捉えられる。ディテ
クタ14a 、 14bの出力は、スイッチング回路1
5aと同様に方向性結合器13a側と方向性結合器13
b側とに選択して切換られるスイッチング回路15bを
介してプリアンプ18に入力される。
れらの共振器出力は方向性結合器13a又は13bを経
てディテクタ14a又は14bにて捉えられる。ディテ
クタ14a 、 14bの出力は、スイッチング回路1
5aと同様に方向性結合器13a側と方向性結合器13
b側とに選択して切換られるスイッチング回路15bを
介してプリアンプ18に入力される。
プリアンプ18にて増幅された出力信号はバンドパスフ
ィルタ19により必要成分のみ取り出されて同期検波回
路27へ入力される。
ィルタ19により必要成分のみ取り出されて同期検波回
路27へ入力される。
発振器23の出力は前述した如<VCO17出力周波数
変更制御のためにVCO17へ与えられる外、同期検波
回路27へも与えられる。同期検波回路27は発振器2
3出力に基づき同期整流する、つまり発振器23出力の
半周期をオン、半周期をオフとするアナログスイッチと
して機能するものであり、その出力はヒステリシス特性
を有する2値化回路28へ与えられる。
変更制御のためにVCO17へ与えられる外、同期検波
回路27へも与えられる。同期検波回路27は発振器2
3出力に基づき同期整流する、つまり発振器23出力の
半周期をオン、半周期をオフとするアナログスイッチと
して機能するものであり、その出力はヒステリシス特性
を有する2値化回路28へ与えられる。
2値化回路28は入力信号が第1の闇値以上になると出
力信号が“1”となり、入力信号が第2の闇値以下(但
し、第2の閾値〈第1の闇値)となると出力信号が0”
となる〔第3図(ロ)参照〕回路、つまり第1〜第2の
闇値の間を不感帯とする、オペアンプ利用のシュミット
・トリガー回路等が用いられる。2値化回路28の出力
はスイッチ回路26へその切換信号として与えられる。
力信号が“1”となり、入力信号が第2の闇値以下(但
し、第2の閾値〈第1の闇値)となると出力信号が0”
となる〔第3図(ロ)参照〕回路、つまり第1〜第2の
闇値の間を不感帯とする、オペアンプ利用のシュミット
・トリガー回路等が用いられる。2値化回路28の出力
はスイッチ回路26へその切換信号として与えられる。
261゜262は固定電源であって、前者は正極性の、
後者は負極性の絶対値が等しい電圧をスイッチ回路26
を介して選択的にアナログスイッチ22へ与え得るよう
にしている。
後者は負極性の絶対値が等しい電圧をスイッチ回路26
を介して選択的にアナログスイッチ22へ与え得るよう
にしている。
発振器23の出力はインバータ24を介してこのアナロ
グスイッチ22へり−えられる。従って、アナログスイ
ッチ22は同期検波回路27とは反対の半周期にてアナ
ログ信号を通過せしめることになる。
グスイッチ22へり−えられる。従って、アナログスイ
ッチ22は同期検波回路27とは反対の半周期にてアナ
ログ信号を通過せしめることになる。
アナログスイッチ22の出力側には積分回路25が接続
されている。従って、この積分回路25には2値化回路
28にて定まる正又は負の電圧が発振器23出力の半周
期ごとに断続印加されることになる。
されている。従って、この積分回路25には2値化回路
28にて定まる正又は負の電圧が発振器23出力の半周
期ごとに断続印加されることになる。
この積分回路25出力はV CO1,7の出力周波数変
更のためVCO17へ与えられる。
更のためVCO17へ与えられる。
そして共振器Maの共振周波数に追随せしめられたV、
C017の出力周波数は方向性結合器13cを介して周
波数カウンタ20に与えられる。周波数カウンタ20は
この追随周波数の計数を行い厚み計算機21へ入力する
。
C017の出力周波数は方向性結合器13cを介して周
波数カウンタ20に与えられる。周波数カウンタ20は
この追随周波数の計数を行い厚み計算機21へ入力する
。
厚み計算機21はカウンタ20の計数値に基づき凹面鏡
12a又は12bと鋼板11との距離Da、、Db或い
は両凹面鏡12a 、 12bの距離りを算出する。
12a又は12bと鋼板11との距離Da、、Db或い
は両凹面鏡12a 、 12bの距離りを算出する。
その他ロック復帰回路29はVCO17のチェーン電圧
よりロック外れを検出し、同期検波回路27に正又は負
の電圧を加え、ロック外れを解消させるものである。
よりロック外れを検出し、同期検波回路27に正又は負
の電圧を加え、ロック外れを解消させるものである。
次に、このような装置を用いて行う本発明方法につき説
明する。先ず、鋼板11が凹゛面鏡12a’、’12b
間にない状態として、・凹面鏡12a 、 12bにで
形成されるマイクロ波発振器の共振周波数又はその距離
を測定する。これには厚み計算機21からの指令その他
によりスイッチング回路15a 、 15bを例えばい
ずれも方向性結合器13’a側とし、凹面鏡12a゛側
からマイクロ波を発せしめる。そして、後述する凹面鏡
12a 、 12bと鋼板11との距離測定の場合と同
様の回□路動作を行わしめて(但し、共振□周”波数の
変動は生じない)、周波数カウンタ20に共振周波数を
得、厚み計算機21はこれを読み込んで□凹面鏡12a
、 12b間゛距離りを算出する。
明する。先ず、鋼板11が凹゛面鏡12a’、’12b
間にない状態として、・凹面鏡12a 、 12bにで
形成されるマイクロ波発振器の共振周波数又はその距離
を測定する。これには厚み計算機21からの指令その他
によりスイッチング回路15a 、 15bを例えばい
ずれも方向性結合器13’a側とし、凹面鏡12a゛側
からマイクロ波を発せしめる。そして、後述する凹面鏡
12a 、 12bと鋼板11との距離測定の場合と同
様の回□路動作を行わしめて(但し、共振□周”波数の
変動は生じない)、周波数カウンタ20に共振周波数を
得、厚み計算機21はこれを読み込んで□凹面鏡12a
、 12b間゛距離りを算出する。
次に、凹面鏡’12a 、 12b間に鋼板11゛を通
して移動させ、その間にスイッチング回路15’a 、
”15bを方向性結合器13a’(又は13b)側−
とし、凹面□鏡12aと鋼板11(又は凹面鏡12bと
鋼板11)とで形成されるマイクロ波共振器Ma(又は
Mb)の共振周波数を測定し、これから凹面鏡128′
と鋼板11(又0 は凹面鏡12hと鋼板11)との距離Da (又はDb
)を測定し、厚み計算機21にて下記(11式の演算を
行い鋼板]1の板厚tを算出する。
して移動させ、その間にスイッチング回路15’a 、
”15bを方向性結合器13a’(又は13b)側−
とし、凹面□鏡12aと鋼板11(又は凹面鏡12bと
鋼板11)とで形成されるマイクロ波共振器Ma(又は
Mb)の共振周波数を測定し、これから凹面鏡128′
と鋼板11(又0 は凹面鏡12hと鋼板11)との距離Da (又はDb
)を測定し、厚み計算機21にて下記(11式の演算を
行い鋼板]1の板厚tを算出する。
t = D −(Da +Db ) ・=(11なお、
距離Da、Db、Dの測定においては、凹面1112a
、 12bを用いているので鋼板11又は対向する凹
面鏡12a 、 12bからの反射マイクロ波を効率よ
く捉えることができ、凹面鏡12a 、 12bと鋼板
11との距離を十分大きくすることができる。
距離Da、Db、Dの測定においては、凹面1112a
、 12bを用いているので鋼板11又は対向する凹
面鏡12a 、 12bからの反射マイクロ波を効率よ
く捉えることができ、凹面鏡12a 、 12bと鋼板
11との距離を十分大きくすることができる。
而して、鋼板11はその移動の間上下に振動するので、
各凹面鏡12a 、 12bと鋼板11との距離Da。
各凹面鏡12a 、 12bと鋼板11との距離Da。
Dbが変動し、従って共振周波数のロック外れの問題が
考えられるが、第2図に示す回路においてはこのロック
外れは生じない。
考えられるが、第2図に示す回路においてはこのロック
外れは生じない。
以下これについて説明する。
第3図(イ)はVCOL?出力の周波数(横軸)と同期
検波回路27の出力周波数(縦軸)との関係を示してい
る。foは共振器Maの共振周波数を示しており、VC
O出力がf。にある場合は同期検波出力は0である。こ
れに対してvCO出力が「。より低い(又は高い)場合
は同期検波出力は負(又は正)となる。従ってこれを0
に近ずける方向に、即ち絶対値を減少する方向にVCO
m力の周波数を調整することによりvCO出力を共振周
波数変動に追随させ得るのである。
検波回路27の出力周波数(縦軸)との関係を示してい
る。foは共振器Maの共振周波数を示しており、VC
O出力がf。にある場合は同期検波出力は0である。こ
れに対してvCO出力が「。より低い(又は高い)場合
は同期検波出力は負(又は正)となる。従ってこれを0
に近ずける方向に、即ち絶対値を減少する方向にVCO
m力の周波数を調整することによりvCO出力を共振周
波数変動に追随させ得るのである。
然るところこの図に示された如くf。±Δf (但しf
o十Δfは正の、またf。−Δfは負のピーク値が検波
出力に現れる周波数)の範囲を越えた場合には検波出力
の増減と周波数の増減との増減の関係がf、−へf−f
o十Δfの範囲に在る場合とは逆になり、roを見失っ
てロック外れが生じる虞れがあるが、本発明方法では2
値化回路28によってvCO出力の周波数がf。より高
いか低いかを判別記憶させ、fo±Δfの範囲外に外れ
た場合にも周波数の上昇又は下降させるべき方向を誤る
ことがないようにするのである。これを可能とするため
に第3図(ロ)に示すように前記第1の闇値としてf。
o十Δfは正の、またf。−Δfは負のピーク値が検波
出力に現れる周波数)の範囲を越えた場合には検波出力
の増減と周波数の増減との増減の関係がf、−へf−f
o十Δfの範囲に在る場合とは逆になり、roを見失っ
てロック外れが生じる虞れがあるが、本発明方法では2
値化回路28によってvCO出力の周波数がf。より高
いか低いかを判別記憶させ、fo±Δfの範囲外に外れ
た場合にも周波数の上昇又は下降させるべき方向を誤る
ことがないようにするのである。これを可能とするため
に第3図(ロ)に示すように前記第1の闇値としてf。
+Δ[1(Δ目1〈Δf)を、また第2の闇値としてf
。−ΔfHを設定した、つまり不感帯をfo ±ΔfF
lの範囲としたヒ1 ステリシス特性を有する2値化回路を用い安定した追随
を行えるようにしているのである。
。−ΔfHを設定した、つまり不感帯をfo ±ΔfF
lの範囲としたヒ1 ステリシス特性を有する2値化回路を用い安定した追随
を行えるようにしているのである。
次に第2図に示す本発明の回路の動作につき詳しく説明
する。まず、発振器29を操作してVCO17に電圧信
号を加え、追随検出すべき共振周波数又はこれに近い周
波数をVCO17から発せしめる。
する。まず、発振器29を操作してVCO17に電圧信
号を加え、追随検出すべき共振周波数又はこれに近い周
波数をVCO17から発せしめる。
而して発振器23からは第4図(イ)に示す如く正弦波
が出力されてVCO17に加えられるのでディテクタ1
4a(又は14b)又はプリアンプ18の出力は、第4
図(ロ)に示すごとく変化する。第4図(ロ)の最初の
部分はVCO出力出力周波数カ振周波数foより高く発
振器23出力と同位相の信号が検出されている状態を示
している。同期検波回路27は発振器23出力によって
同期整流するので第4図(ハ)に示す如く最初の部分は
正の脈流が現れる。この脈流のピーク値は第3図に示す
ようにVCO出力出力周波数カ振周波数[0との差によ
って定まるが、F−fo≧Δf)I (検波出力は第4
図(ハ)の正側2点鎖線より大となる〕になった場合に
は2値化回路28の出力は第4図(ニ)に3 2 示すように1”となり、スイッチ回路26は正の固定電
源261側に接続される。この電源261の電圧は同期
検波出力が得られる半周−とは逆の半周期にて閉路する
アナログスイッチ22を介して積分回路25へ加えられ
る。従って積分回路25の入力及び出力は夫々第4図(
ホ)・ (へ)に示すように変化する。このようにF≧
fo+ΔfHとなった場合には正の積分回路出力がVC
O17の制御入力として負帰還されるのでVCOの出力
周波数Fは漸減していき、やがてfllに到達すること
になり、このVCO出力出力周波数カウンタ20にて読
み取ることによって共振周波数を知ることができる。
が出力されてVCO17に加えられるのでディテクタ1
4a(又は14b)又はプリアンプ18の出力は、第4
図(ロ)に示すごとく変化する。第4図(ロ)の最初の
部分はVCO出力出力周波数カ振周波数foより高く発
振器23出力と同位相の信号が検出されている状態を示
している。同期検波回路27は発振器23出力によって
同期整流するので第4図(ハ)に示す如く最初の部分は
正の脈流が現れる。この脈流のピーク値は第3図に示す
ようにVCO出力出力周波数カ振周波数[0との差によ
って定まるが、F−fo≧Δf)I (検波出力は第4
図(ハ)の正側2点鎖線より大となる〕になった場合に
は2値化回路28の出力は第4図(ニ)に3 2 示すように1”となり、スイッチ回路26は正の固定電
源261側に接続される。この電源261の電圧は同期
検波出力が得られる半周−とは逆の半周期にて閉路する
アナログスイッチ22を介して積分回路25へ加えられ
る。従って積分回路25の入力及び出力は夫々第4図(
ホ)・ (へ)に示すように変化する。このようにF≧
fo+ΔfHとなった場合には正の積分回路出力がVC
O17の制御入力として負帰還されるのでVCOの出力
周波数Fは漸減していき、やがてfllに到達すること
になり、このVCO出力出力周波数カウンタ20にて読
み取ることによって共振周波数を知ることができる。
而してこの装置ではF≦f、−ΔfHとなるまでVCO
出力周波数を低下させる上述の如き動作が継続され、F
≦ff1−Δf11〔第4図(ハ)の負側2点鎖線より
も低くなる〕になった時点t1で2値化回路28出力が
“O”に反転し、スイッチ回路26U1負の固定電源2
62側に切換り、」二連したところとは逆にvCO出力
周波数Fが漸増していき、やがてfflに到達すること
になる。この状態4 はF≧fo +Δfl+になるまで継続されることばい
うまでもない。このようにVCO出力周波数Fは変動す
る検出すべき共振周波数f。と±Δf11の範囲内で追
随変化していく。そしてfoの急変その他の理由により
VCO出力周波数Fが急にf。
出力周波数を低下させる上述の如き動作が継続され、F
≦ff1−Δf11〔第4図(ハ)の負側2点鎖線より
も低くなる〕になった時点t1で2値化回路28出力が
“O”に反転し、スイッチ回路26U1負の固定電源2
62側に切換り、」二連したところとは逆にvCO出力
周波数Fが漸増していき、やがてfflに到達すること
になる。この状態4 はF≧fo +Δfl+になるまで継続されることばい
うまでもない。このようにVCO出力周波数Fは変動す
る検出すべき共振周波数f。と±Δf11の範囲内で追
随変化していく。そしてfoの急変その他の理由により
VCO出力周波数Fが急にf。
→=Δ「よりも大又はfo−Δfよりも小となった場合
においても2値化回路28出力は“1”又は10”出力
を保持しつづけるので所要の■CO出力周波数調整が継
続される結果ロック外れが起こることはない。
においても2値化回路28出力は“1”又は10”出力
を保持しつづけるので所要の■CO出力周波数調整が継
続される結果ロック外れが起こることはない。
なお」:述の回路においてアナログスイッチ22を設け
たのは検出の安定度を増すためである。即ち検波出力の
2値判断を行わせているタイミングではVCO出力周波
数が変更される制御、つまり積分回路25への電圧印加
を行うことを禁じるための配慮をしているのである。
たのは検出の安定度を増すためである。即ち検波出力の
2値判断を行わせているタイミングではVCO出力周波
数が変更される制御、つまり積分回路25への電圧印加
を行うことを禁じるための配慮をしているのである。
また共振周波数の検出はVCO17にドリフトが存在し
ない場合は積分回路25の出力を用いてもよい。
ない場合は積分回路25の出力を用いてもよい。
なお、上述の説明では両凹面鏡12a 、 12b間の
距離りを測定し、これを用いて前述の(1)式による演
算を行い鋼板11の板厚の測定を行ったが、第5図に示
す様に厚さt。が既知の標準サンプル110を凹面鏡1
2a 、 12b間に介在させて、凹面鏡12a。
距離りを測定し、これを用いて前述の(1)式による演
算を行い鋼板11の板厚の測定を行ったが、第5図に示
す様に厚さt。が既知の標準サンプル110を凹面鏡1
2a 、 12b間に介在させて、凹面鏡12a。
12bから標準サンプル110の対向表面迄の距離D
ao、D boを測定しておき、その後、前述の様にし
て測定した各凹面鏡12a 、 12bと鋼板11との
距離D ao、D boを用い、厚み計算機21に下記
(2)式に示す演算を実行せしめ鋼板11の板厚tを測
定することとしてもよい。
ao、D boを測定しておき、その後、前述の様にし
て測定した各凹面鏡12a 、 12bと鋼板11との
距離D ao、D boを用い、厚み計算機21に下記
(2)式に示す演算を実行せしめ鋼板11の板厚tを測
定することとしてもよい。
t−(to+Dao+Dbo) (Da +Db)・・
・(21以上の様な本発明方法による場合は、凹面鏡は
従来の開端共振部に比し、マイクロ波を収束せしめる能
力が大きく、従って、高感度にマイクロ波の共振周波数
を検出することが可能であるので、凹面鏡と測定対象物
との離隔距離を大きく設定することができるので、熱間
物についても適用でき、また共振周波数をロック外れな
く追随検出することができるので、移動中に激しく振動
する走行薄板についてもその板厚を正確に測定できる等
、本5 発明は優れた効果を奏する。
・(21以上の様な本発明方法による場合は、凹面鏡は
従来の開端共振部に比し、マイクロ波を収束せしめる能
力が大きく、従って、高感度にマイクロ波の共振周波数
を検出することが可能であるので、凹面鏡と測定対象物
との離隔距離を大きく設定することができるので、熱間
物についても適用でき、また共振周波数をロック外れな
く追随検出することができるので、移動中に激しく振動
する走行薄板についてもその板厚を正確に測定できる等
、本5 発明は優れた効果を奏する。
第1図は従来の板厚測定方法の実施状態を示す模式図、
第2図は本発明方法の実施状態を示すブロック図、第3
図はVCOの出力周波数を共振器の共振周波数に正確に
追随せしめることができる理由の説明のための説明図、
第4図は本発明の実施に使用する機器の動作説明のため
の信号波形図、第5図は本発明方法の他の実施状態を示
す模式図である。 11・・・鋼板 12a 、 12b・・・凹面鏡 1
7・・・VCO20・・・周波数カウンタ 21・・・
厚み計算機28・・・2値化回路 110・・・標準サ
ンプル特 許 出願人 住友金属工業株式会社代理人
弁理士 河 野 登 夫 7 6 第 l 昭 蓋3 図 第 し l −63=
第2図は本発明方法の実施状態を示すブロック図、第3
図はVCOの出力周波数を共振器の共振周波数に正確に
追随せしめることができる理由の説明のための説明図、
第4図は本発明の実施に使用する機器の動作説明のため
の信号波形図、第5図は本発明方法の他の実施状態を示
す模式図である。 11・・・鋼板 12a 、 12b・・・凹面鏡 1
7・・・VCO20・・・周波数カウンタ 21・・・
厚み計算機28・・・2値化回路 110・・・標準サ
ンプル特 許 出願人 住友金属工業株式会社代理人
弁理士 河 野 登 夫 7 6 第 l 昭 蓋3 図 第 し l −63=
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、対設した凹面鏡間にマイクロ波を印加し、その共振
周波数を検出することにより両凹面鏡間距離をめ、また
、両凹面鏡間に測定対象の金属板を介在させ、各凹面鏡
と金属板との間にマイクロ波を印加し、夫々の共振周波
数を検出することにより各凹面鏡と金属板との距離を夫
々求め、これらの距離に基づいて金属板の板厚をめるこ
とを特徴とする板厚測定方法。 2、対設した凹面鏡間に厚さ既知の標準サンプルを介在
させ、また、測定対象の金属板を介在させ、各凹面鏡と
標準サンプル又は金属板との間にマイクロ波を印加し、
夫々の共振周波数を検出することにより各凹面鏡と標準
サンプル又は金属板との距離を夫々求め、これらの距離
に基づいて金属板の板厚をめることを特徴とする板厚測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15184083A JPS6042609A (ja) | 1983-08-19 | 1983-08-19 | 板厚測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15184083A JPS6042609A (ja) | 1983-08-19 | 1983-08-19 | 板厚測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6042609A true JPS6042609A (ja) | 1985-03-06 |
Family
ID=15527438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15184083A Pending JPS6042609A (ja) | 1983-08-19 | 1983-08-19 | 板厚測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6042609A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006032730A1 (en) * | 2004-09-20 | 2006-03-30 | Elektrobit Microwave Oy | Method for microwave measurement, measuring device and oscillator |
| DE102012111047A1 (de) * | 2012-11-16 | 2014-05-22 | Ott-Jakob Spanntechnik Gmbh | Mikrowellen-Positionssensor |
| DE102017122406A1 (de) * | 2017-09-27 | 2019-03-28 | Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zur dickenmessung von beschichtungen |
-
1983
- 1983-08-19 JP JP15184083A patent/JPS6042609A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006032730A1 (en) * | 2004-09-20 | 2006-03-30 | Elektrobit Microwave Oy | Method for microwave measurement, measuring device and oscillator |
| GB2433323A (en) * | 2004-09-20 | 2007-06-20 | Elektrobit Microwave Oy | Method for microwave measurement, measuring device and oscillator |
| CN100520289C (zh) | 2004-09-20 | 2009-07-29 | 圣菲特公司 | 微波测量方法、测量装置以及振荡器 |
| GB2433323B (en) * | 2004-09-20 | 2009-09-09 | Elektrobit Microwave Oy | Method for microwave measurement, measuring device and oscillator |
| US7616009B2 (en) | 2004-09-20 | 2009-11-10 | Senfit Oy | Method for microwave measurement, measuring device and oscillator |
| DE102012111047A1 (de) * | 2012-11-16 | 2014-05-22 | Ott-Jakob Spanntechnik Gmbh | Mikrowellen-Positionssensor |
| DE102017122406A1 (de) * | 2017-09-27 | 2019-03-28 | Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zur dickenmessung von beschichtungen |
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