JPS6043448A - 端子・コネクター用銅合金の製造方法 - Google Patents
端子・コネクター用銅合金の製造方法Info
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- JPS6043448A JPS6043448A JP58149340A JP14934083A JPS6043448A JP S6043448 A JPS6043448 A JP S6043448A JP 58149340 A JP58149340 A JP 58149340A JP 14934083 A JP14934083 A JP 14934083A JP S6043448 A JPS6043448 A JP S6043448A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/02—Contacts characterised by the material thereof
- H01H1/021—Composite material
- H01H1/025—Composite material having copper as the basic material
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Materials Engineering (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は端子・コネクター用銅合金およびその製造方法
に関し、さらに詳しくは、導電率が少な去 くとも25
%lAC3有り、5分加熱後初期硬度の80%を維持す
る温度が500℃以上である端子・コネクター用銅合金
およびその製造方法に関する。
に関し、さらに詳しくは、導電率が少な去 くとも25
%lAC3有り、5分加熱後初期硬度の80%を維持す
る温度が500℃以上である端子・コネクター用銅合金
およびその製造方法に関する。
一般に、端子・コネクター用材料としては、黄銅および
燐青銅がその主なものであるが、)n11は成形加工性
が非常に良好であるという長所があるが、耐応力腐蝕割
れ性が極端に悪いため、その信頼性の面からその1史用
が見直されてきている。とじて、その代替として信頼性
の高い燐青銅か多く使用され始めてとている。さらに、
近年電子部品の の中でもICの集積度が高くなり、小
型化されて[1<るに従い端子・コネクターにおいても
、薄く、行 カリ、小型化され電気装置自体が軽く、薄
く、かつ、短小化されるようになると、使用する材料そ
のものも薄いものが必要となり、黄銅の使用か見1合
直されてきていることもあり、最近では自動車関係にお
いてもICの高集積化が進み、燐青銅の需’miJ、t
へ圀?今l山鼠亀 イ蝙4−叛1しかしなか呟燐青銅は
日本工業規格に示されているように、3.0Il11%
以上のSnが含有されており、錫自体が高価であるため
燐青銅も高価になり、かつ、高温下における耐クリープ
特性が弱く、さら1こ、耐熱温度が低いという種々の欠
点を併せ有している。
燐青銅がその主なものであるが、)n11は成形加工性
が非常に良好であるという長所があるが、耐応力腐蝕割
れ性が極端に悪いため、その信頼性の面からその1史用
が見直されてきている。とじて、その代替として信頼性
の高い燐青銅か多く使用され始めてとている。さらに、
近年電子部品の の中でもICの集積度が高くなり、小
型化されて[1<るに従い端子・コネクターにおいても
、薄く、行 カリ、小型化され電気装置自体が軽く、薄
く、かつ、短小化されるようになると、使用する材料そ
のものも薄いものが必要となり、黄銅の使用か見1合
直されてきていることもあり、最近では自動車関係にお
いてもICの高集積化が進み、燐青銅の需’miJ、t
へ圀?今l山鼠亀 イ蝙4−叛1しかしなか呟燐青銅は
日本工業規格に示されているように、3.0Il11%
以上のSnが含有されており、錫自体が高価であるため
燐青銅も高価になり、かつ、高温下における耐クリープ
特性が弱く、さら1こ、耐熱温度が低いという種々の欠
点を併せ有している。
本発明は」1記に説明した燐青銅の種々の欠点を改善し
、かつ、日本工業規格に示されている3+ut%す、上
のSnを含む燐青銅より少ないSn含有量で優れたはね
限界値および高温における耐熱性を有し、さらに、導電
率か少なくとも25%lAC3あり、5分加熱後初期硬
度の80%を維持する温度か500’C以上である端子
・コネクター用銅合金およびその製造方法を提供するも
のである。
、かつ、日本工業規格に示されている3+ut%す、上
のSnを含む燐青銅より少ないSn含有量で優れたはね
限界値および高温における耐熱性を有し、さらに、導電
率か少なくとも25%lAC3あり、5分加熱後初期硬
度の80%を維持する温度か500’C以上である端子
・コネクター用銅合金およびその製造方法を提供するも
のである。
本発明に係る端子・コネクター用銅合金およびその製造
方法は、(1)Ni3.0〜3.5nuL%、Si0.
5−0,9u+L%、Mu O,02−1,OuL%、
Zn O,1−5,0+ut%、Snl、O〜2、Ou
+L%を含有し、残部実質的にCUからなることを特徴
とする端子・コネクター用銅合金を第1の発明とし、(
2)Ni3.O〜3.5!I11%、Si0.5〜0.
9u+L%、lV’In 0.02〜1.01%、Zn
0.1〜5.0すし%、Sn 1.0〜2.01L%を
含有し、残部実質的にCuからなる合金鋳塊を熱間加工
後、600°C以上の温度から毎秒15℃以上の温度で
冷却し、冷間加工後400〜550°Cの温度で5分〜
4時間の焼鈍を行なった後、調質化」二圧延を行なって
から400〜550℃の温度で5〜60秒のテンション
アニールを行なうことを特徴とする端子・コネクターI
f] G14合金の製造方法を第2の発明とする2つの
発明よりなるものである。
方法は、(1)Ni3.0〜3.5nuL%、Si0.
5−0,9u+L%、Mu O,02−1,OuL%、
Zn O,1−5,0+ut%、Snl、O〜2、Ou
+L%を含有し、残部実質的にCUからなることを特徴
とする端子・コネクター用銅合金を第1の発明とし、(
2)Ni3.O〜3.5!I11%、Si0.5〜0.
9u+L%、lV’In 0.02〜1.01%、Zn
0.1〜5.0すし%、Sn 1.0〜2.01L%を
含有し、残部実質的にCuからなる合金鋳塊を熱間加工
後、600°C以上の温度から毎秒15℃以上の温度で
冷却し、冷間加工後400〜550°Cの温度で5分〜
4時間の焼鈍を行なった後、調質化」二圧延を行なって
から400〜550℃の温度で5〜60秒のテンション
アニールを行なうことを特徴とする端子・コネクターI
f] G14合金の製造方法を第2の発明とする2つの
発明よりなるものである。
本発明に係る端子・コネクター用銅合金およびその製造
方法について訂細に説明する。
方法について訂細に説明する。
先ず、本発明に係る端子・コネクター用銅合金と含有成
分および成分割合について説明する。
分および成分割合について説明する。
N1は強度をj−j−!jする元素であり、含イ1量か
3.0IIIt%未満ではSi含有量が0.5〜0.9
1%の範囲で含有されていても強度および耐熱性は向上
せず、また、3.5u+L%を越えて含有されると導電
性が低下し、耐熱性も向上せず含有させることは無駄で
あり不経済である。よって、N1含有量は3,0〜3.
5u+t%とする。
3.0IIIt%未満ではSi含有量が0.5〜0.9
1%の範囲で含有されていても強度および耐熱性は向上
せず、また、3.5u+L%を越えて含有されると導電
性が低下し、耐熱性も向上せず含有させることは無駄で
あり不経済である。よって、N1含有量は3,0〜3.
5u+t%とする。
SlはNiと同様に強度を向上させる元素であり、含有
量が0.5u+L%未満ではN1含有量が3.0〜3.
5u+t%の範囲で含有されていても強度および耐熱性
の向上は見られず、また、0.9111t%を越えて含
有されると熱間加工性を悪化させ、同時に導電率を低下
させ、さらに、耐熱性の向」二もない。よって、81含
有量は0.5〜0.9+IIt%とする。そして、Ni
或いはSiの過剰の含有により導電率が低下するのは、
Ni2Si金属間化合物以外に固)容したN:或いはS
lが存在することにある。
量が0.5u+L%未満ではN1含有量が3.0〜3.
5u+t%の範囲で含有されていても強度および耐熱性
の向上は見られず、また、0.9111t%を越えて含
有されると熱間加工性を悪化させ、同時に導電率を低下
させ、さらに、耐熱性の向」二もない。よって、81含
有量は0.5〜0.9+IIt%とする。そして、Ni
或いはSiの過剰の含有により導電率が低下するのは、
Ni2Si金属間化合物以外に固)容したN:或いはS
lが存在することにある。
N111は熱間加工性を向上させる元素であり、含有量
が0.0211IU%未満ではこの効果は少なく、また
、1.01lIL%を越えて含有されると仙造時におけ
る渦流れが悪化し鋳塊の歩留りが著しく低下する。
が0.0211IU%未満ではこの効果は少なく、また
、1.01lIL%を越えて含有されると仙造時におけ
る渦流れが悪化し鋳塊の歩留りが著しく低下する。
よって、Mu含有量は0.02〜1.0yL%とする。
Z、nは半1]」およびSoめっbの耐剥離性、および
、高温における加工性に着しい改善効果を伺与する元素
であり、含有量が0.13ut%未満ではこの効果は少
なく、また、5.0+uL%を越える含有量では半田付
は性が劣化する。よって、Zn含有量は0.1〜5.0
wL%とする。
、高温における加工性に着しい改善効果を伺与する元素
であり、含有量が0.13ut%未満ではこの効果は少
なく、また、5.0+uL%を越える含有量では半田付
は性が劣化する。よって、Zn含有量は0.1〜5.0
wL%とする。
Snはは゛ね限界値を茗しく向上さぜる元素であり、含
有量が1.0ut%未満ではこの効果は少なく、また、
2.Ou+1%を越えて含有されると熱間加]ユ性を劣
化させ、導電率を低下させて25%lAc5以下になる
こともある。よって、Sn含有量は1.0〜2.0+u
L%とする。
有量が1.0ut%未満ではこの効果は少なく、また、
2.Ou+1%を越えて含有されると熱間加]ユ性を劣
化させ、導電率を低下させて25%lAc5以下になる
こともある。よって、Sn含有量は1.0〜2.0+u
L%とする。
本発明に係る端子・コネクター用銅合金の製造方法につ
いて説明する。
いて説明する。
」1記に説明した含有成分および成分割合のCu合金I
fJJ塊を熱間加工後に600°C以」二の温度から1
1j秒15℃以上の温度で冷力jするのは、熱間加工後
600°C以上」の温度から焼入れした場合には冷却速
度を15°C/秒としてもこの状態における祠料は既に
析出硬化しており、その後の冷間加工性を悪化させ、ま
た、600°C以上の温度から焼入れしても冷却速度が
15°C/秒未満の場合は同様に析出硬化し、その後の
冷間加工性を劣化させるからである。
fJJ塊を熱間加工後に600°C以」二の温度から1
1j秒15℃以上の温度で冷力jするのは、熱間加工後
600°C以上」の温度から焼入れした場合には冷却速
度を15°C/秒としてもこの状態における祠料は既に
析出硬化しており、その後の冷間加工性を悪化させ、ま
た、600°C以上の温度から焼入れしても冷却速度が
15°C/秒未満の場合は同様に析出硬化し、その後の
冷間加工性を劣化させるからである。
次に、冷間加工後400〜550°Cの温度で5分〜4
時間の焼鈍を行なうのは、冷間加工後の焼鈍でNi2S
iの析出が最も多くなる温度、即ち、導電率が最も高く
なる温度が500°Cであり、400’C未満の温度て
゛はNi2Siは完全に析出ぜず、550°Cを越える
温度ではNi2Si化合物か再固溶し、これら固)容し
たN1およびSlは半田およびSnめっきの耐剥性に影
響を及ぼすので、焼鈍温度は400〜550°Cとし、
焼鈍時間に5分未満では析出量が足りず、また、4時間
を越えると省エネルギーの面から無駄である。
時間の焼鈍を行なうのは、冷間加工後の焼鈍でNi2S
iの析出が最も多くなる温度、即ち、導電率が最も高く
なる温度が500°Cであり、400’C未満の温度て
゛はNi2Siは完全に析出ぜず、550°Cを越える
温度ではNi2Si化合物か再固溶し、これら固)容し
たN1およびSlは半田およびSnめっきの耐剥性に影
響を及ぼすので、焼鈍温度は400〜550°Cとし、
焼鈍時間に5分未満では析出量が足りず、また、4時間
を越えると省エネルギーの面から無駄である。
次に、調質仕」二圧延を行なってから、400〜550
℃の温度5〜60秒のテンションアニールを行なうのは
、局部応力が除去され、がっ、はね限界値の高いフラッ
トな条或いは板材を得るために行なうものであり、従っ
て、局部応力除去には最1氏400℃の温度は必要であ
り、また、550°Cを越えると短時間でもN1=Si
が再固溶してしまい要求する緒特性が阻害され、そして
、この時間は5秒未満ではフラットな根が得られず、ま
た、60秒を越えると生産性が低下するようになるから
である。
℃の温度5〜60秒のテンションアニールを行なうのは
、局部応力が除去され、がっ、はね限界値の高いフラッ
トな条或いは板材を得るために行なうものであり、従っ
て、局部応力除去には最1氏400℃の温度は必要であ
り、また、550°Cを越えると短時間でもN1=Si
が再固溶してしまい要求する緒特性が阻害され、そして
、この時間は5秒未満ではフラットな根が得られず、ま
た、60秒を越えると生産性が低下するようになるから
である。
本発明に係る端子・コネクタ製造法用銅合金およびその
製造方法について実施例を説明する。
製造方法について実施例を説明する。
実施例
第1表の含有成分および成分割合のCu合金鋳塊は次の
工程により製造した。即ち、電解銅をクリプトルミ電炉
を用いて木炭被覆下で約1200℃の温度で溶解し、装
入する電解&l・]の約20%を残しておき、N1を投
入し溶落ち後さらにSlを投入し、これらの原料か溶は
落ちた後、残っている約20%の電解銅を装入して溶湯
温度を1180〜1190℃まで下け、SoおよびZn
を添加し、撹拌沈静後鋳鉄製のブンクモールV鋳型に鋳
込みダj塊をV遣した。この鎮魂の大>2は、50m+
nLX80mmLX +30髄1である・ 第1表に示すCu合金鋳塊を、両面計5+n+n面削後
880°Cの温度に加熱し、17さ15+11111ま
で熱間加」二した後、700℃の温度から水中冷却を行
なった。
工程により製造した。即ち、電解銅をクリプトルミ電炉
を用いて木炭被覆下で約1200℃の温度で溶解し、装
入する電解&l・]の約20%を残しておき、N1を投
入し溶落ち後さらにSlを投入し、これらの原料か溶は
落ちた後、残っている約20%の電解銅を装入して溶湯
温度を1180〜1190℃まで下け、SoおよびZn
を添加し、撹拌沈静後鋳鉄製のブンクモールV鋳型に鋳
込みダj塊をV遣した。この鎮魂の大>2は、50m+
nLX80mmLX +30髄1である・ 第1表に示すCu合金鋳塊を、両面計5+n+n面削後
880°Cの温度に加熱し、17さ15+11111ま
で熱間加」二した後、700℃の温度から水中冷却を行
なった。
この時の冷却速度は30℃/秒である。その後厚さ0.
64翻1まで冷開圧延し、500℃の11S度で120
分の焼鈍を行ない、さらに、50%加工して厚30.3
2bll11の板材を翁また。この仮相を張力l0KJ
/mIn’を(=1加し、45(1°cの温度で20秒
間焼鈍した。第2表“にこれらの緒特性を示す。
64翻1まで冷開圧延し、500℃の11S度で120
分の焼鈍を行ない、さらに、50%加工して厚30.3
2bll11の板材を翁また。この仮相を張力l0KJ
/mIn’を(=1加し、45(1°cの温度で20秒
間焼鈍した。第2表“にこれらの緒特性を示す。
この第2表から明らかなように、本発明合金は端子・コ
ネクター用材料に要求されるばね限界値(一般に50K
Br/m+n2以上)、導電率(一般に15%lAC3
以上)および5分間加熱後の軟化温度(500°C以上
、初期硬度の80%)を充分に満足すると同時に生産性
に影響を及ぼす熱間加工性か優れており、これに対して
比較合金は以下説明するように、本発明合金に比して端
子、コネクター用材料に要求される緒特性が著しく劣っ
ている。即ち、比較合金No、4ははね限界値が上記基
準より非常に低く、比較合金No、5は緒特性は本発明
合金と略同等であるが生産性に影響を及ぼす熱間加工性
が悪く、また、比較合金No、6はばね限界値、導電率
オJよび5分間加熱後の軟化温度が夫々」1記基準を大
きく下回っており、さらに、熱間加工性も悪い。
ネクター用材料に要求されるばね限界値(一般に50K
Br/m+n2以上)、導電率(一般に15%lAC3
以上)および5分間加熱後の軟化温度(500°C以上
、初期硬度の80%)を充分に満足すると同時に生産性
に影響を及ぼす熱間加工性か優れており、これに対して
比較合金は以下説明するように、本発明合金に比して端
子、コネクター用材料に要求される緒特性が著しく劣っ
ている。即ち、比較合金No、4ははね限界値が上記基
準より非常に低く、比較合金No、5は緒特性は本発明
合金と略同等であるが生産性に影響を及ぼす熱間加工性
が悪く、また、比較合金No、6はばね限界値、導電率
オJよび5分間加熱後の軟化温度が夫々」1記基準を大
きく下回っており、さらに、熱間加工性も悪い。
以上説明したように、本発明に係る端子・コネクター用
銅合金およびその製造方法は上記の構成を有しているも
のであるから、熱間加工性に優れ、ばね限界値、導電率
および耐熱性はおいて燐青銅より格段jこ優れているも
ので、端子・コネクター用材料として極めて優れている
という効果を奏するものである。
銅合金およびその製造方法は上記の構成を有しているも
のであるから、熱間加工性に優れ、ばね限界値、導電率
および耐熱性はおいて燐青銅より格段jこ優れているも
ので、端子・コネクター用材料として極めて優れている
という効果を奏するものである。
Claims (2)
- (1)Ni3,0〜3.5切t%、Si0.5〜0.9
IllL%、Mn O,02〜1.0切L%、Zn0.
1〜5.Ou+t%、Sn1.O〜2.0w1%を含有
し、残部実質的にCuからなることを特徴とする端子・
コネクター用銅合金。 - (2)Ni 3.0−3.5u+t%、Si O,5−
0,9u+L%、Mu 0.02〜1.0u+t%、Z
n0.1〜5.0田1%、Sn1.0〜2,0w1%を
含有し、残部実質的1こCuからなる合金鋳塊を熱間加
工後、600°C以上温度から毎秒15°C以上の温度
で冷却し、冷間)+工後400〜550℃の温度で5分
〜4時間の焼鈍をなった後、調質仕上圧延を行なってか
ら400〜550°Cの温度で5〜60秒のテンション
アニール4行なうことを特徴とする端子・コネクター用
謝金およびその製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58149340A JPS6043448A (ja) | 1983-08-16 | 1983-08-16 | 端子・コネクター用銅合金の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58149340A JPS6043448A (ja) | 1983-08-16 | 1983-08-16 | 端子・コネクター用銅合金の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6043448A true JPS6043448A (ja) | 1985-03-08 |
| JPH0323620B2 JPH0323620B2 (ja) | 1991-03-29 |
Family
ID=15472964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58149340A Granted JPS6043448A (ja) | 1983-08-16 | 1983-08-16 | 端子・コネクター用銅合金の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6043448A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04280936A (ja) * | 1991-03-07 | 1992-10-06 | Mitsubishi Shindoh Co Ltd | 耐熱間圧延割れ性のすぐれた高強度Cu合金 |
| US5322575A (en) * | 1991-01-17 | 1994-06-21 | Dowa Mining Co., Ltd. | Process for production of copper base alloys and terminals using the same |
| CN111406122A (zh) * | 2018-03-13 | 2020-07-10 | 古河电气工业株式会社 | 铜合金板材及其制造方法以及电气电子设备用散热部件及屏蔽壳体 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58124254A (ja) * | 1982-01-20 | 1983-07-23 | Nippon Mining Co Ltd | 半導体機器のリ−ド材用銅合金 |
| JPS58123846A (ja) * | 1982-01-20 | 1983-07-23 | Nippon Mining Co Ltd | 半導体機器用リ−ド材 |
-
1983
- 1983-08-16 JP JP58149340A patent/JPS6043448A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58124254A (ja) * | 1982-01-20 | 1983-07-23 | Nippon Mining Co Ltd | 半導体機器のリ−ド材用銅合金 |
| JPS58123846A (ja) * | 1982-01-20 | 1983-07-23 | Nippon Mining Co Ltd | 半導体機器用リ−ド材 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5322575A (en) * | 1991-01-17 | 1994-06-21 | Dowa Mining Co., Ltd. | Process for production of copper base alloys and terminals using the same |
| JPH04280936A (ja) * | 1991-03-07 | 1992-10-06 | Mitsubishi Shindoh Co Ltd | 耐熱間圧延割れ性のすぐれた高強度Cu合金 |
| CN111406122A (zh) * | 2018-03-13 | 2020-07-10 | 古河电气工业株式会社 | 铜合金板材及其制造方法以及电气电子设备用散热部件及屏蔽壳体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0323620B2 (ja) | 1991-03-29 |
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