JPS6044623B2 - 故障検出器 - Google Patents
故障検出器Info
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- JPS6044623B2 JPS6044623B2 JP52003879A JP387977A JPS6044623B2 JP S6044623 B2 JPS6044623 B2 JP S6044623B2 JP 52003879 A JP52003879 A JP 52003879A JP 387977 A JP387977 A JP 387977A JP S6044623 B2 JPS6044623 B2 JP S6044623B2
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- Japan
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- lead
- circuit
- terminal
- probe
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/67—Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/54—Testing for continuity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は一般的には電圧導通電位連続性テスターに関し
、より詳細には、電気回路内の故障を検出するための相
対電圧導通相対電位連続性テスターに関する。
、より詳細には、電気回路内の故障を検出するための相
対電圧導通相対電位連続性テスターに関する。
今までに、電気回路の導通を、その回路の導体要素の端
部間の電気的コンダクタンスを測定又は感知することに
よつて検出するための種々の装置が開発された。
部間の電気的コンダクタンスを測定又は感知することに
よつて検出するための種々の装置が開発された。
これらの装置は普通オーム計として分類される。これら
の装置は、多くの問題を持つている。第1に、複雑な回
路において、導体の両端が捜し出されねばならない。第
2に、その導体は普通、誤表示を防ぐために電気回路の
残りの部分からはずされねばならない。第3に、大規摸
な電気回路においては、その端が遠くはなれている導体
をテストするために装置は長い接続リード線が必要であ
る。そして、第4に、導体の端への接近しにくさのため
に、故障の検出にはしばしば過過度な時間が必要であつ
た。回路の電源及ひ関連する導体間の電位差を測定又は
感知することによつて導通を検出するための種々の他の
装置が開発された。
の装置は、多くの問題を持つている。第1に、複雑な回
路において、導体の両端が捜し出されねばならない。第
2に、その導体は普通、誤表示を防ぐために電気回路の
残りの部分からはずされねばならない。第3に、大規摸
な電気回路においては、その端が遠くはなれている導体
をテストするために装置は長い接続リード線が必要であ
る。そして、第4に、導体の端への接近しにくさのため
に、故障の検出にはしばしば過過度な時間が必要であつ
た。回路の電源及ひ関連する導体間の電位差を測定又は
感知することによつて導通を検出するための種々の他の
装置が開発された。
これらの装置は普通電圧計として分類される。これらの
装置は故障回路内の後位の開放又は過度な抵抗と正常回
路内の低い電源電位との間の相違を1目で表示すること
ができない欠点を有する。電源それ自身の間の第2の電
圧読み取りが、常に上記第1の測定が有意であるために
必要である。更に、第1及び第2の読み取りが回路の第
1部分における電源から選ばれた点までの導通を表示す
ると同時に、第3の読み取りが、回路の残りの部分にお
ける前記選択された点から電源へもどるまでの導通を確
定するために必要である。電圧値を測定し、従つて電気
回路の導通を間接的に確定する他の装置がアール・エル
・カートメル(R4上●Cartmell)の米国特許
第3525939号に有る。
装置は故障回路内の後位の開放又は過度な抵抗と正常回
路内の低い電源電位との間の相違を1目で表示すること
ができない欠点を有する。電源それ自身の間の第2の電
圧読み取りが、常に上記第1の測定が有意であるために
必要である。更に、第1及び第2の読み取りが回路の第
1部分における電源から選ばれた点までの導通を表示す
ると同時に、第3の読み取りが、回路の残りの部分にお
ける前記選択された点から電源へもどるまでの導通を確
定するために必要である。電圧値を測定し、従つて電気
回路の導通を間接的に確定する他の装置がアール・エル
・カートメル(R4上●Cartmell)の米国特許
第3525939号に有る。
この装置は、選ばれた点における単一の接地電位に対す
る電圧に関し、論理回路の接地対回路部分の導通を検出
するのに有用であると同時に、電圧計として分類される
装置に関して挙げたと同様な欠点を有している。コンダ
クタンスを感知する装置も電位差を感知する装置も、ど
ちらも、電気回路の電源に対して選ばれた点における電
位及び電流を関連させてそれにより1回の読み取りで故
障を検出することを可能にするものではない。
る電圧に関し、論理回路の接地対回路部分の導通を検出
するのに有用であると同時に、電圧計として分類される
装置に関して挙げたと同様な欠点を有している。コンダ
クタンスを感知する装置も電位差を感知する装置も、ど
ちらも、電気回路の電源に対して選ばれた点における電
位及び電流を関連させてそれにより1回の読み取りで故
障を検出することを可能にするものではない。
本発明は回路の状態のデジタル表示をするために、電気
回路内の電源と選ばれた点との間の相対電圧と電流とに
応答する電気回路故障検出装置を提供するものである。
回路内の電源と選ばれた点との間の相対電圧と電流とに
応答する電気回路故障検出装置を提供するものである。
この故障検出装置は電気回路が良好であるか、短絡して
いるか、開放しているか、非常に高抵抗であるか又は誤
配線されているかを、単一のプローブを非作用負荷から
始まる点の系列にそつて電源にむかつて動かすことによ
つて診断することのできる回路を含んでいる。電源電位
を別に測定したり診断中に器具の結線を変更する必要は
ない。この検出装置は更に、交流にも直流にも用いるこ
とができ、これらの被測定装置は間欠的又はパルス的導
電性のみを有するものであつてもよい。本発明に関する
上記及び他の利点は以下に述べる実施例に基づいた詳細
な説明によつて明らかになる。次に図面を参照して本発
明の実施例について説明する。
いるか、開放しているか、非常に高抵抗であるか又は誤
配線されているかを、単一のプローブを非作用負荷から
始まる点の系列にそつて電源にむかつて動かすことによ
つて診断することのできる回路を含んでいる。電源電位
を別に測定したり診断中に器具の結線を変更する必要は
ない。この検出装置は更に、交流にも直流にも用いるこ
とができ、これらの被測定装置は間欠的又はパルス的導
電性のみを有するものであつてもよい。本発明に関する
上記及び他の利点は以下に述べる実施例に基づいた詳細
な説明によつて明らかになる。次に図面を参照して本発
明の実施例について説明する。
第1図を参照すると、第1及び第2の電圧線12及び1
4を有する典型的な二電源電気回路10の電気的概略図
が示されている。電源12及び14は通常の電池のよう
な交流電源又は電気的交流発電機のような交流電源を表
わす。第1の電源12は内部電源インピーダンス16(
通常電圧源内に在るインピーダンスを表わす)を介して
端子18に接続されている。端子18に接続されている
のは、該端子に接続された種々の導線及びコネクタのイ
ンピーダンスを表わす配線インピーダンス20である。
配線インピーダンス20は更にテスト点22に接続され
ており、これは回路10内の接続点及び接合ブロックを
表わしている。テスト点22はスイッチ24によつて選
択的にテスト点26に相互接続される。テスト点26は
負荷インピーダンス28に接続される、これは電燈、モ
ーター、メーター、ソレノイド、リレー、付属品その他
の電気的回路負荷を表わす。負荷インピーダンス28は
次に、配線インピーダンス32に接続するテスト点30
に接続されている。第1の電源12は接続部33によつ
て第2の電源14に接続されている。
4を有する典型的な二電源電気回路10の電気的概略図
が示されている。電源12及び14は通常の電池のよう
な交流電源又は電気的交流発電機のような交流電源を表
わす。第1の電源12は内部電源インピーダンス16(
通常電圧源内に在るインピーダンスを表わす)を介して
端子18に接続されている。端子18に接続されている
のは、該端子に接続された種々の導線及びコネクタのイ
ンピーダンスを表わす配線インピーダンス20である。
配線インピーダンス20は更にテスト点22に接続され
ており、これは回路10内の接続点及び接合ブロックを
表わしている。テスト点22はスイッチ24によつて選
択的にテスト点26に相互接続される。テスト点26は
負荷インピーダンス28に接続される、これは電燈、モ
ーター、メーター、ソレノイド、リレー、付属品その他
の電気的回路負荷を表わす。負荷インピーダンス28は
次に、配線インピーダンス32に接続するテスト点30
に接続されている。第1の電源12は接続部33によつ
て第2の電源14に接続されている。
そして接続部33は端子36へ内部電源インピーダンス
34によつて接続されている。端子36はテスト点30
の反対側の配線インピーダンス32へ接続されており、
また更に配線インピーダンス38へ接続されている、配
線インピーダンス38はテスト点40へ接続されている
。テスト点40はスイッチ42によつてテスト点44へ
選択的に相互接続される。テスト点44は負荷インピー
ダンス46へ接続され、そこからテスト点48へ接続さ
れている。テスト点48は更に配線インピーダンス50
に接続され、該インピーダンスは端子54に接続されて
いる。第2の電源14は内部電源インピーダンス52を
介して端子54に接続されている。また、更に端子54
に接続されているのは配線インピーダンス56であり、
これはテスト点58に接続されている。
34によつて接続されている。端子36はテスト点30
の反対側の配線インピーダンス32へ接続されており、
また更に配線インピーダンス38へ接続されている、配
線インピーダンス38はテスト点40へ接続されている
。テスト点40はスイッチ42によつてテスト点44へ
選択的に相互接続される。テスト点44は負荷インピー
ダンス46へ接続され、そこからテスト点48へ接続さ
れている。テスト点48は更に配線インピーダンス50
に接続され、該インピーダンスは端子54に接続されて
いる。第2の電源14は内部電源インピーダンス52を
介して端子54に接続されている。また、更に端子54
に接続されているのは配線インピーダンス56であり、
これはテスト点58に接続されている。
テスト点58は負荷インピーダンス60に接続され、そ
こからテスト点62へ接続されている。スイッチ64は
テスト点62とテスト点66とを選択的に相互接続する
。テスト点66は配線インピーダンス68を介して端子
18に接続されている。第2図を参照すると、単一の電
圧源72を有する典型的な一電源電気回路70の簡易化
された電気的概略図が示されている。
こからテスト点62へ接続されている。スイッチ64は
テスト点62とテスト点66とを選択的に相互接続する
。テスト点66は配線インピーダンス68を介して端子
18に接続されている。第2図を参照すると、単一の電
圧源72を有する典型的な一電源電気回路70の簡易化
された電気的概略図が示されている。
電源72は内部電源インピーダンス74を介して端子7
6に接続されている。端子76は配線インピーダンス7
8を介してテスト点80へ接続されている。スイッチ8
2はテスト点80とテスト点84とを選択的に相互接続
する。テスト点84は負荷インピーダンス86を介して
テスト点88に接続されている。テスト点88は配線イ
ンピーダンス90を介して端子92に接続され、該端子
は内部電源インピーダンス94を介して電源72へ接続
されている。第3図を参照すると、10及び70のよう
な二又は一電源電気回路の回路状態を診断するための固
定電圧導通表示回路100が示されている。この表示回
路100は、それぞれ基本リード線116,118及び
120に接続されている高、中及び低電圧端子コネクタ
110,112及び114を含んでいる。基本リード線
116は通常の発光ダイオード(LED)122に接続
され、該LEDl22は抵抗124を介して通常のLE
Dl26へ接続され、更にこのLEDl26は基本リー
ド線120に接続されている。基本リード線116は更
に抵抗128を介して通常のLEDl3Oへ接続され、
該LEDl3Oは更に抵抗132を介して基本リード線
120へ接続されている。基本リード線116はまた、
ダイオード135を介してPNPトランジスタ134の
エミッタへも接続されている。
6に接続されている。端子76は配線インピーダンス7
8を介してテスト点80へ接続されている。スイッチ8
2はテスト点80とテスト点84とを選択的に相互接続
する。テスト点84は負荷インピーダンス86を介して
テスト点88に接続されている。テスト点88は配線イ
ンピーダンス90を介して端子92に接続され、該端子
は内部電源インピーダンス94を介して電源72へ接続
されている。第3図を参照すると、10及び70のよう
な二又は一電源電気回路の回路状態を診断するための固
定電圧導通表示回路100が示されている。この表示回
路100は、それぞれ基本リード線116,118及び
120に接続されている高、中及び低電圧端子コネクタ
110,112及び114を含んでいる。基本リード線
116は通常の発光ダイオード(LED)122に接続
され、該LEDl22は抵抗124を介して通常のLE
Dl26へ接続され、更にこのLEDl26は基本リー
ド線120に接続されている。基本リード線116は更
に抵抗128を介して通常のLEDl3Oへ接続され、
該LEDl3Oは更に抵抗132を介して基本リード線
120へ接続されている。基本リード線116はまた、
ダイオード135を介してPNPトランジスタ134の
エミッタへも接続されている。
トランジスタ134のコレクタはリード線136へ接続
され、該リード線136はダイオード138を介して基
本リード線116へ接続されている。リード線136は
また、表示伸長回路140の入力接続部142へ接続さ
れている。ここで典型的な表示伸長回路140について
より完全な説明をするために第4図を参照すれば、リー
ド線144が入力接続部142に接続されているのが示
されている。
され、該リード線136はダイオード138を介して基
本リード線116へ接続されている。リード線136は
また、表示伸長回路140の入力接続部142へ接続さ
れている。ここで典型的な表示伸長回路140について
より完全な説明をするために第4図を参照すれば、リー
ド線144が入力接続部142に接続されているのが示
されている。
リード線144は通常の単安定マルチバイブレータ14
6の入力に接続されている。単安定マルチバイブレータ
146の出力は、通常のANDゲート148の1つの入
力に接続されている。リード線150はリード線144
をANDゲート148の出力のもう1つの入力に接続し
ている。ANDゲート148の出力はリード線152を
介して出力接続部156へ接続されている。再び第3図
を参照して、前記出力接続部156はリード線158に
よつてLEDl22と抵抗124との間に接続されてい
る。
6の入力に接続されている。単安定マルチバイブレータ
146の出力は、通常のANDゲート148の1つの入
力に接続されている。リード線150はリード線144
をANDゲート148の出力のもう1つの入力に接続し
ている。ANDゲート148の出力はリード線152を
介して出力接続部156へ接続されている。再び第3図
を参照して、前記出力接続部156はリード線158に
よつてLEDl22と抵抗124との間に接続されてい
る。
トランジスタ134のベースはダイオード160を介し
て基本リード線116へ、また抵抗162を介してブロ
ーブリード線164従つてプローブ168へ接続されて
いる。基本リード線118はダイオード170及び17
2を介してNPNトランジスタ174とPNPトランジ
スタ176のエミッタへそれぞれ接続されている。
て基本リード線116へ、また抵抗162を介してブロ
ーブリード線164従つてプローブ168へ接続されて
いる。基本リード線118はダイオード170及び17
2を介してNPNトランジスタ174とPNPトランジ
スタ176のエミッタへそれぞれ接続されている。
トランジスタ174のコレクタはリード線178によつ
て伸長回路140へ接続され、そこからリード線180
を介して抵抗128とLEDl3Oとの間間に接続され
ている。リード線180は更にツェナーダイオード18
2を介して基本リード線118へ接続されている。トラ
ンジスタ176のコレクタはリード線184によつて伸
長回路140へ接続され、そこからリード線186によ
つてLEDl3Oと抵抗132の間に接続されている。
リード線186は更にツェナーダイオード188を介し
て基本リード線118へ接続されている。トランジスタ
174と176のベースは抵抗190を介してブローブ
リード線164へ接続されている。基本リード線120
はダイオード194を介してNPNトランジスタ192
のエミッタに接続されている。
て伸長回路140へ接続され、そこからリード線180
を介して抵抗128とLEDl3Oとの間間に接続され
ている。リード線180は更にツェナーダイオード18
2を介して基本リード線118へ接続されている。トラ
ンジスタ176のコレクタはリード線184によつて伸
長回路140へ接続され、そこからリード線186によ
つてLEDl3Oと抵抗132の間に接続されている。
リード線186は更にツェナーダイオード188を介し
て基本リード線118へ接続されている。トランジスタ
174と176のベースは抵抗190を介してブローブ
リード線164へ接続されている。基本リード線120
はダイオード194を介してNPNトランジスタ192
のエミッタに接続されている。
トランジスタ192のコレクタはリード線196によつ
て伸長回路140に接続されており、そこからリード線
198によつて抵抗124とLEDl26との間に接続
されている。ダイオード200は基本リード線120を
リード線196に接続している。トランジスタ192の
ベースはダイオード202を介して基本リード線120
へ接続され、また抵抗204を介してブローブリード線
164へ接続されている。回路100を使用するための
操作手順は、まず高、中及び低電圧コネクタ110,1
12及び114をそれぞれ二電源電気回路10の端子1
8、36及び54に接続することから始まる。
て伸長回路140に接続されており、そこからリード線
198によつて抵抗124とLEDl26との間に接続
されている。ダイオード200は基本リード線120を
リード線196に接続している。トランジスタ192の
ベースはダイオード202を介して基本リード線120
へ接続され、また抵抗204を介してブローブリード線
164へ接続されている。回路100を使用するための
操作手順は、まず高、中及び低電圧コネクタ110,1
12及び114をそれぞれ二電源電気回路10の端子1
8、36及び54に接続することから始まる。
回路100のコネクタが完全に電源12及び14に接続
されて、プローブ168が回路10から絶縁されている
時は基本リード線116,118及び120は端子電圧
に従い、電流がその中に流れ始める。
されて、プローブ168が回路10から絶縁されている
時は基本リード線116,118及び120は端子電圧
に従い、電流がその中に流れ始める。
最高電圧がコネクタ110に印加されている時は、電流
は基本リード線116を通してトランジスタ134へ流
れこれをオンにバイアスし電流が抵抗162を通してブ
ローブリード線164へ流れることを許す。ブローブリ
ード線164内の電流は抵抗204を通してトランジス
タ192をオンにバイアスし最低電圧である基本リード
線120へ流れる。電流はまた、基本リード線116か
らトランジスタ134を通つてリード線136そして伸
長回路140へそして抵抗124へも流れる。
は基本リード線116を通してトランジスタ134へ流
れこれをオンにバイアスし電流が抵抗162を通してブ
ローブリード線164へ流れることを許す。ブローブリ
ード線164内の電流は抵抗204を通してトランジス
タ192をオンにバイアスし最低電圧である基本リード
線120へ流れる。電流はまた、基本リード線116か
らトランジスタ134を通つてリード線136そして伸
長回路140へそして抵抗124へも流れる。
電流はLEDl22が発光しないようにバイパスする。
抵抗124を通つた電流は更にリード線198を通つて
伸長回路140へ、そしてトランジスタ192を通つて
基本リード線120へ流れる。電流はLEDl26が発
光しないようにバイパスする。電流は更に基本リード線
116から抵抗128を通り、ツェナーダイオード18
2、基本リード線118そしてダイオード172を通つ
てトランジスタ176へ流れる。
抵抗124を通つた電流は更にリード線198を通つて
伸長回路140へ、そしてトランジスタ192を通つて
基本リード線120へ流れる。電流はLEDl26が発
光しないようにバイパスする。電流は更に基本リード線
116から抵抗128を通り、ツェナーダイオード18
2、基本リード線118そしてダイオード172を通つ
てトランジスタ176へ流れる。
電流はトランジスタ176を通して流れそれをオンにバ
イアスし、トランジスタ176のベースから抵抗190
を通つてブローブリード線164へ電流が流れるのを許
し同様に電流が伸長回路140と抵抗132を通つて基
本リード線120へ流れるのも許す。ツェナーダイオー
ド182と188は、組み合わせた電圧降下が十分であ
る時にLEDl3Oが発光するが、、どちらか一方の両
端の電圧降下では不十分であるように選定されている。
これは、もしトランジスタ174又は176のどちらか
がオンにバイ”アスされれば、LEDl3Oはオフにな
るということを意味する。従つて、プローブ168を絶
縁しておくと電流はLEDl3Oを発光させないように
バイパスする。抵抗128,132と190との間を流
れる電流が抵抗162,190及び204の値の選択に
よつて決定されることに注意されたい。
イアスし、トランジスタ176のベースから抵抗190
を通つてブローブリード線164へ電流が流れるのを許
し同様に電流が伸長回路140と抵抗132を通つて基
本リード線120へ流れるのも許す。ツェナーダイオー
ド182と188は、組み合わせた電圧降下が十分であ
る時にLEDl3Oが発光するが、、どちらか一方の両
端の電圧降下では不十分であるように選定されている。
これは、もしトランジスタ174又は176のどちらか
がオンにバイ”アスされれば、LEDl3Oはオフにな
るということを意味する。従つて、プローブ168を絶
縁しておくと電流はLEDl3Oを発光させないように
バイパスする。抵抗128,132と190との間を流
れる電流が抵抗162,190及び204の値の選択に
よつて決定されることに注意されたい。
好適な実施例においては抵抗162,190及び204
は、それらを流れる電流が基本リード線118上の電圧
と基本リード線120上の電圧との間に浮”いているブ
ローブリード線164及びプローブ168上に静電圧(
プローブ168が絶縁されている時の電圧)を印加する
ように選ばれる。このことは、プローブ168が絶縁さ
れている時にはどのLEDも発光しないようにする。抵
抗値の交互の選択は、静電圧が基本リード線116及び
118との間に浮くようにすることを可能にする。また
、いくらかの無視し得る量の電流が端子36から基本リ
ード線118へ流入することにも注意されたい。この量
は電圧源12と14との間の電圧の不平衡によるもので
ある。抵抗124,128及び132は当業者には明ら
かなように前記の不平衡の効果が最小になるように選ば
れる。プローブ168が絶縁されていると、電流は常に
、たとえ交流電流であつても上述のようになる、という
のは当業者には明らかなようにダイオード138,16
0,200及び202がツェナーダイオード182及び
188と組み合わされて極性の逆転や種々の端子に誤つ
て接続された時の構成要素の破損に対する保護バイパス
回路を形成するからである。端子18,36及び54の
電圧がそれぞれ高電圧、中電圧、低電圧でない時はいつ
でもすべての電流は種々のダイオード及び関連する抵抗
を通してバイパスされる。表面上スイッチ24が閉じら
れている時動作上負荷インピーダンス28が故障してい
ることによつて起こる作用状態において、回路診断は例
えばテスト点26のような前記負荷インピーダンス28
の一方の選ばれた点即ち電気的接点へプローブ168を
接触させることから始まる。
は、それらを流れる電流が基本リード線118上の電圧
と基本リード線120上の電圧との間に浮”いているブ
ローブリード線164及びプローブ168上に静電圧(
プローブ168が絶縁されている時の電圧)を印加する
ように選ばれる。このことは、プローブ168が絶縁さ
れている時にはどのLEDも発光しないようにする。抵
抗値の交互の選択は、静電圧が基本リード線116及び
118との間に浮くようにすることを可能にする。また
、いくらかの無視し得る量の電流が端子36から基本リ
ード線118へ流入することにも注意されたい。この量
は電圧源12と14との間の電圧の不平衡によるもので
ある。抵抗124,128及び132は当業者には明ら
かなように前記の不平衡の効果が最小になるように選ば
れる。プローブ168が絶縁されていると、電流は常に
、たとえ交流電流であつても上述のようになる、という
のは当業者には明らかなようにダイオード138,16
0,200及び202がツェナーダイオード182及び
188と組み合わされて極性の逆転や種々の端子に誤つ
て接続された時の構成要素の破損に対する保護バイパス
回路を形成するからである。端子18,36及び54の
電圧がそれぞれ高電圧、中電圧、低電圧でない時はいつ
でもすべての電流は種々のダイオード及び関連する抵抗
を通してバイパスされる。表面上スイッチ24が閉じら
れている時動作上負荷インピーダンス28が故障してい
ることによつて起こる作用状態において、回路診断は例
えばテスト点26のような前記負荷インピーダンス28
の一方の選ばれた点即ち電気的接点へプローブ168を
接触させることから始まる。
配線インピーダンス20とスツチ24を通つて流れる電
流によつて明らかなように端子18からテスト点26ま
での満足な導通路がある時、テスト点26の電圧は端子
18の電圧に近づき、微少な電流(約2ミリアンペア)
が端子18からプローブ168へ流入し、プローブの電
圧を静電圧から増加させる。
流によつて明らかなように端子18からテスト点26ま
での満足な導通路がある時、テスト点26の電圧は端子
18の電圧に近づき、微少な電流(約2ミリアンペア)
が端子18からプローブ168へ流入し、プローブの電
圧を静電圧から増加させる。
プローブ電圧が端子18の電圧に関して「固定された」
電圧になるので、電流はトランジスタ134のエミッタ
からベースへ流れるのを妨げられ、トランジスタ134
はオフにバイアスされ電流が基本リード線116からL
EDl22を通して流れ、そのLEDを発光させてデジ
タルオフ・オン表示をさせる。当業者には明白なように
、固定電圧導通表示回路100の名の由来である「固定
された」電圧はトランジスタのベース●エミッタ接合、
ダイオード及び抵抗の両端の電圧降下の組み合わさた「
固定された」電圧降下に等しい。従つて、LEDl22
はプローブ電圧が基本リード線116の電圧からトラン
ジスタ13牡ダイオード135及び抵抗162の両端の
組み合わせた電圧降下を引いた電圧降下を引いた電圧以
内になる時はいつでも発光してデジタルオフ・オン表示
をする。好適な実施例では、組み合わせ電圧降下即ち固
定電圧範囲は1−1ノ2ボルトから2ボルトである。各
トランジスタ固々の電圧降下はある応用における全固定
電圧を与えるのに十分なものであり、各トランジスタに
関連したダイオードはこれらの応用においてはなくても
良いことは明らかである。端子18からテスト点26ま
で満足な導通路がある時、テスト点26から端子36ま
での導通路の状態はスイッチ24の開放によつて決定さ
れる。端子18からテスト点26までに、スイッチ24
が実際に開放されていたり、配線インピーダンス20が
非常に大きくて過度の抵抗を与えていることによつて生
じる導通路の開状態によつて満足な導通はないが、端子
36とテスト点26の間に配線32及び負荷インピーダ
ンス28を通して導通がある時は、テスト点26の電圧
は端子36の電圧に近づき、微少な電流が端子36から
プローブ168へ流入しプローブの電圧を静電圧から上
昇させる。
電圧になるので、電流はトランジスタ134のエミッタ
からベースへ流れるのを妨げられ、トランジスタ134
はオフにバイアスされ電流が基本リード線116からL
EDl22を通して流れ、そのLEDを発光させてデジ
タルオフ・オン表示をさせる。当業者には明白なように
、固定電圧導通表示回路100の名の由来である「固定
された」電圧はトランジスタのベース●エミッタ接合、
ダイオード及び抵抗の両端の電圧降下の組み合わさた「
固定された」電圧降下に等しい。従つて、LEDl22
はプローブ電圧が基本リード線116の電圧からトラン
ジスタ13牡ダイオード135及び抵抗162の両端の
組み合わせた電圧降下を引いた電圧降下を引いた電圧以
内になる時はいつでも発光してデジタルオフ・オン表示
をする。好適な実施例では、組み合わせ電圧降下即ち固
定電圧範囲は1−1ノ2ボルトから2ボルトである。各
トランジスタ固々の電圧降下はある応用における全固定
電圧を与えるのに十分なものであり、各トランジスタに
関連したダイオードはこれらの応用においてはなくても
良いことは明らかである。端子18からテスト点26ま
で満足な導通路がある時、テスト点26から端子36ま
での導通路の状態はスイッチ24の開放によつて決定さ
れる。端子18からテスト点26までに、スイッチ24
が実際に開放されていたり、配線インピーダンス20が
非常に大きくて過度の抵抗を与えていることによつて生
じる導通路の開状態によつて満足な導通はないが、端子
36とテスト点26の間に配線32及び負荷インピーダ
ンス28を通して導通がある時は、テスト点26の電圧
は端子36の電圧に近づき、微少な電流が端子36から
プローブ168へ流入しプローブの電圧を静電圧から上
昇させる。
プローブの電圧が端子36の電圧に関連した固定電圧に
達するとすぐにトランジスタ176はオフにバイアスさ
れると同時にトランジスタ174はオフに維持され電流
が基本リード線116からLEDl3Oを通して流れて
LEDl3Oは発光してデジタルオフ・オン表示をする
。従つてLEDl3Oはプローブ電圧が基本リード線1
18の電圧からトランジスタ176及びダイオード17
2による組み合わされた電圧降下を引いた電圧に等しく
なつた時にはいつでも発光する。LEDl3Oはプロー
ブ電圧が基本リード線118の電圧とトランジスタ17
4及びダイオード170との組み合わされた固定電圧降
下を加えた電圧より大きくなつた時はいつでもトランジ
スタ174がオンにバイアスされるために消える。どち
らの導通路も満足でない時は全てのLEDは発光しない
。そしLEDl26が発光すれは、短絡回路又は誤接続
が表示されている、というのは不合理な電圧があるから
である。LEDl26の発光に関する回路操作は後述す
る。従つて、一つの試験によつて高電圧及び中電圧両方
の導通路が満足な導通として診断され得る。次に、全て
のLEDが発光しない時、操作者はプローブ168を不
満足な導通路にそつている、負荷インピーダンス28か
ら遠い他のテスト点へ動かす。
達するとすぐにトランジスタ176はオフにバイアスさ
れると同時にトランジスタ174はオフに維持され電流
が基本リード線116からLEDl3Oを通して流れて
LEDl3Oは発光してデジタルオフ・オン表示をする
。従つてLEDl3Oはプローブ電圧が基本リード線1
18の電圧からトランジスタ176及びダイオード17
2による組み合わされた電圧降下を引いた電圧に等しく
なつた時にはいつでも発光する。LEDl3Oはプロー
ブ電圧が基本リード線118の電圧とトランジスタ17
4及びダイオード170との組み合わされた固定電圧降
下を加えた電圧より大きくなつた時はいつでもトランジ
スタ174がオンにバイアスされるために消える。どち
らの導通路も満足でない時は全てのLEDは発光しない
。そしLEDl26が発光すれは、短絡回路又は誤接続
が表示されている、というのは不合理な電圧があるから
である。LEDl26の発光に関する回路操作は後述す
る。従つて、一つの試験によつて高電圧及び中電圧両方
の導通路が満足な導通として診断され得る。次に、全て
のLEDが発光しない時、操作者はプローブ168を不
満足な導通路にそつている、負荷インピーダンス28か
ら遠い他のテスト点へ動かす。
もしテスト点26から端子18までの間ノの導通路が不
満足なら、操作者はプローブ168をテスト点22へ接
触させる。もしLEDl22が発光すれば、スイッチ2
4が開であり不完全である、もしLEDl22が発光し
なければ、開放はテスト点22と端子18との間にある
。もしテ7スト点26と端子36との間の導通路が不満
足なら、操作者はプローブ168をテスト点30へ接触
させる。もしLEDl3Oが発光すれば、負荷インピー
ダンス28が不完全であり、もしLEDl3Oが発光し
なければ開放はテスト点30と端子36との間にある。
スイッチ42が表面上閉じられている時負荷インピーダ
ンス46が動作上不良であることによつて生じる機能上
の状態において、回路の診断は操作者がプローブ168
を例えばテスト点44のような負荷インピーダンス46
の片方の電気的接点へ接触させることから始まる。
満足なら、操作者はプローブ168をテスト点22へ接
触させる。もしLEDl22が発光すれば、スイッチ2
4が開であり不完全である、もしLEDl22が発光し
なければ、開放はテスト点22と端子18との間にある
。もしテ7スト点26と端子36との間の導通路が不満
足なら、操作者はプローブ168をテスト点30へ接触
させる。もしLEDl3Oが発光すれば、負荷インピー
ダンス28が不完全であり、もしLEDl3Oが発光し
なければ開放はテスト点30と端子36との間にある。
スイッチ42が表面上閉じられている時負荷インピーダ
ンス46が動作上不良であることによつて生じる機能上
の状態において、回路の診断は操作者がプローブ168
を例えばテスト点44のような負荷インピーダンス46
の片方の電気的接点へ接触させることから始まる。
端子36とテスト点44との間に配線インピーダンス3
8及びスイッチ42を通して流れる電流によつて明らか
になるような満足な導通路がある時、テスト点44の電
圧は端子36の電圧に達し、微少な電流がプローブ16
8に端子36から流入する。
8及びスイッチ42を通して流れる電流によつて明らか
になるような満足な導通路がある時、テスト点44の電
圧は端子36の電圧に達し、微少な電流がプローブ16
8に端子36から流入する。
プローブの電圧が端子36に関連した固定電圧に達する
とすぐに電流がトランジスタ174及び176のベース
に流れることを妨げられ、両方のトランジスタ174及
び176はオフにバイアスされ基本リード線116から
LEDl3Oを通して電流か流れLEDl3Oを発光さ
せる。端子36からテスト点44までに満足な導通路が
ある時、テスト点44から端子54までの導通路の状態
はスイッチ42の開放によつて確定される。
とすぐに電流がトランジスタ174及び176のベース
に流れることを妨げられ、両方のトランジスタ174及
び176はオフにバイアスされ基本リード線116から
LEDl3Oを通して電流か流れLEDl3Oを発光さ
せる。端子36からテスト点44までに満足な導通路が
ある時、テスト点44から端子54までの導通路の状態
はスイッチ42の開放によつて確定される。
端子36からテスト点44までには満足な導通路がない
が端子54からテスト点44までの間には満足な導通路
がある時、テスト点44の電圧は端子54の電圧に近づ
き、微少な電流がプローブ168から端子54へ流れプ
ローブの電圧を静電圧から下げる。
が端子54からテスト点44までの間には満足な導通路
がある時、テスト点44の電圧は端子54の電圧に近づ
き、微少な電流がプローブ168から端子54へ流れプ
ローブの電圧を静電圧から下げる。
プローブの電圧が端子54の電圧に関連した固定電圧に
達するとすぐに、トランジスタ192はオフにバイアス
され、トランジスタ134及び抵抗124を通して基本
リード線116から流れて来た電流をLEDl26を通
して流れるようにし、このLEDを発光させる。どちら
の導通路も満足でないとき、130又は!126のどち
らのLEDも発光しない。
達するとすぐに、トランジスタ192はオフにバイアス
され、トランジスタ134及び抵抗124を通して基本
リード線116から流れて来た電流をLEDl26を通
して流れるようにし、このLEDを発光させる。どちら
の導通路も満足でないとき、130又は!126のどち
らのLEDも発光しない。
もしLEDl22が発光すれば、短絡回路、誤接続又は
端子36への接続の欠陥が表示されている、というのは
不合理な電圧があるからである。従つて一つの試験によ
つて、中電圧及び低電圧の導通路が診断3され得る。次
に、全くLEDが発光しない時、操作者はプローブ16
8を上述の不満足な導通路にそつてある、負荷インピー
ダンス46から遠い他のデスト点へ移動する。
端子36への接続の欠陥が表示されている、というのは
不合理な電圧があるからである。従つて一つの試験によ
つて、中電圧及び低電圧の導通路が診断3され得る。次
に、全くLEDが発光しない時、操作者はプローブ16
8を上述の不満足な導通路にそつてある、負荷インピー
ダンス46から遠い他のデスト点へ移動する。
テスト点40はほぼ端子36の電4圧である固定電圧以
内の電圧であるべきであり、テスト点48は、ほぼ端子
54の電圧である固定電圧以内の電圧であるべきである
。当業者には明らかなように、テスト点62及び66で
のテストはテスト点26及び22でのテストとそれぞれ
同様であり、テスト点58でのテストはテスト点48で
のテストと同様である。電圧源12及び14が視認でき
ないか又はLEDを発光させ得ないほど短期間のパルス
出力を供給するものであつたり、ゆるい接続のために造
続する導通であるような状態においては、それぞれのL
EDは後述するようにその関連する表示伸長回路140
によつて持続され得る。
内の電圧であるべきであり、テスト点48は、ほぼ端子
54の電圧である固定電圧以内の電圧であるべきである
。当業者には明らかなように、テスト点62及び66で
のテストはテスト点26及び22でのテストとそれぞれ
同様であり、テスト点58でのテストはテスト点48で
のテストと同様である。電圧源12及び14が視認でき
ないか又はLEDを発光させ得ないほど短期間のパルス
出力を供給するものであつたり、ゆるい接続のために造
続する導通であるような状態においては、それぞれのL
EDは後述するようにその関連する表示伸長回路140
によつて持続され得る。
プローブ電圧が表示を与えているどの固定電圧からも遠
ざかると同時に、単安定マルチバイブレータ146がA
NDゲート148に2つの入力を与えるように導通する
。
ざかると同時に、単安定マルチバイブレータ146がA
NDゲート148に2つの入力を与えるように導通する
。
固定電圧の1つへの瞬間的な投入は単安定マルチバイブ
レータ146に電・流の瞬間的な減少を与え、所定の伸
長された期間それを非導通にし、次にすぐ電流が増加す
る。1つの入力がブロックされるため、ANDゲート1
48は非導通りなり、単安定マルチバイブレータ146
が導通状態にもどるまで電流がリード線150を通つて
流れるのを妨げる。
レータ146に電・流の瞬間的な減少を与え、所定の伸
長された期間それを非導通にし、次にすぐ電流が増加す
る。1つの入力がブロックされるため、ANDゲート1
48は非導通りなり、単安定マルチバイブレータ146
が導通状態にもどるまで電流がリード線150を通つて
流れるのを妨げる。
従つて、パルス出力又は断続的導通は関連するLEDを
少くとも最少の期間オンに維持する。次に第5図を参照
すると、割合電圧導通表示回路300が示さている。
少くとも最少の期間オンに維持する。次に第5図を参照
すると、割合電圧導通表示回路300が示さている。
表示回路300はそれぞれ基本リード線316,318
及び320に接続される高、中及び低電圧端子コネクタ
310,312及び314を含んている。基本リード線
316は抵抗322,324及び326を介して基本リ
ード線318へ接続され、基本リード線318は抵抗3
28,330及び332を介して基本リード線320に
接続されている。通常閉じられているスイッチ321が
普通の仕方でコネクタ312からの電流を通過させるか
ブロックするかを選択するためにリード線318に挿入
されている。基本リード線316はNPNトランジスタ
334のコレクタに接続されている。トランジスタ33
4のベースは抵抗322と324との間に接続され、エ
ミッタはダイオード335を介してベースへ、ダイオー
ド336を介して基本リード線316へ、そして抵抗3
37へ接続されている。抵抗337はPNPトランジス
タ338のエミッタへ、ダイオード339を介してトラ
ンジスタ338のベースへそしてダイオード340を介
して基本リード線318へ接続されている。トランジス
夕338のベースは抵抗324と326との間に接続さ
れ、コレクタは基本リード線318へ接続されている基
本リード線318は更にNPNトランジスタ342のコ
レクタに接続されている。トランジスタ342のベース
は抵抗328と330との間に接続され、エミッタはダ
イオード343を介してベースへ、ダイオード344を
介して基本リード線318へそして抵抗345へ接続さ
れている。抵抗345はPNPトランジスタ346のエ
ミッタへ、ダイオード347を介してベースへそしてダ
イオード348を介して基本リード線320へ接続され
ている。トランジスタ346のベースは抵抗330と3
32との間に接続され、コレクタは基本リード線320
へ接続されている。基本リード線316は更に通常のL
ED35Oに接続され、このLEDは伸長回路140を
介してNPNトランジスタ352のコレクタへ接続され
ている。トランジスタ352のエミッタはダイオード3
54を介してそのベースへそしてトランジスタ334の
エミッタと抵抗337との間に接続され、ベースは抵抗
356へ接続されている。抵抗356は抵抗358へ、
そしてプローブ362へ接続されているブローブリード
線360へ接続れている。抵抗358はPNPトランジ
スタ364のベースに接続されている。トランジスタ3
64のエミッタはダイオード365を介してそのベース
へ、そして抵抗337とトランジスタ338のエミッタ
との間に接続され、コレクタは伸長回路140を通して
LED366へ接続されている。LED366は伸長回
路140を通してNPNトランジスタ368のコレクタ
へ接続されている。トランジスタ368のエミッタはダ
イオード370を介してそのベースへ、そして抵抗34
5とトランジスタ342のエミッタとの間に接続され、
ベースは抵抗372へ接続されている。抵抗372は抵
抗374へそしてプローフリード線360へ接続されて
いる。抵抗374はPNPトランジスタ316のベース
に接続されている。トランジスタ376のエミッタはダ
イオード377を介してそのベースへそして抵抗345
とトランジスタ346のエミッタとの間に接続され、コ
レクタは伸長回路140を通してLED38Oへ接続さ
れ従つて基本リード線320へ接続されている。表示回
路300を使用するための操作手順は端子コネクタ31
0,312及び314をそれぞれ二電源電気回路10の
端子18,36及び54に接続することから成る。端子
18,36及び54への接続が完了しプローブ362が
絶縁されている時、基本リード線316,318及び3
20は端子電圧に従い、電流がその内へ流れ始める。
及び320に接続される高、中及び低電圧端子コネクタ
310,312及び314を含んている。基本リード線
316は抵抗322,324及び326を介して基本リ
ード線318へ接続され、基本リード線318は抵抗3
28,330及び332を介して基本リード線320に
接続されている。通常閉じられているスイッチ321が
普通の仕方でコネクタ312からの電流を通過させるか
ブロックするかを選択するためにリード線318に挿入
されている。基本リード線316はNPNトランジスタ
334のコレクタに接続されている。トランジスタ33
4のベースは抵抗322と324との間に接続され、エ
ミッタはダイオード335を介してベースへ、ダイオー
ド336を介して基本リード線316へ、そして抵抗3
37へ接続されている。抵抗337はPNPトランジス
タ338のエミッタへ、ダイオード339を介してトラ
ンジスタ338のベースへそしてダイオード340を介
して基本リード線318へ接続されている。トランジス
夕338のベースは抵抗324と326との間に接続さ
れ、コレクタは基本リード線318へ接続されている基
本リード線318は更にNPNトランジスタ342のコ
レクタに接続されている。トランジスタ342のベース
は抵抗328と330との間に接続され、エミッタはダ
イオード343を介してベースへ、ダイオード344を
介して基本リード線318へそして抵抗345へ接続さ
れている。抵抗345はPNPトランジスタ346のエ
ミッタへ、ダイオード347を介してベースへそしてダ
イオード348を介して基本リード線320へ接続され
ている。トランジスタ346のベースは抵抗330と3
32との間に接続され、コレクタは基本リード線320
へ接続されている。基本リード線316は更に通常のL
ED35Oに接続され、このLEDは伸長回路140を
介してNPNトランジスタ352のコレクタへ接続され
ている。トランジスタ352のエミッタはダイオード3
54を介してそのベースへそしてトランジスタ334の
エミッタと抵抗337との間に接続され、ベースは抵抗
356へ接続されている。抵抗356は抵抗358へ、
そしてプローブ362へ接続されているブローブリード
線360へ接続れている。抵抗358はPNPトランジ
スタ364のベースに接続されている。トランジスタ3
64のエミッタはダイオード365を介してそのベース
へ、そして抵抗337とトランジスタ338のエミッタ
との間に接続され、コレクタは伸長回路140を通して
LED366へ接続されている。LED366は伸長回
路140を通してNPNトランジスタ368のコレクタ
へ接続されている。トランジスタ368のエミッタはダ
イオード370を介してそのベースへ、そして抵抗34
5とトランジスタ342のエミッタとの間に接続され、
ベースは抵抗372へ接続されている。抵抗372は抵
抗374へそしてプローフリード線360へ接続されて
いる。抵抗374はPNPトランジスタ316のベース
に接続されている。トランジスタ376のエミッタはダ
イオード377を介してそのベースへそして抵抗345
とトランジスタ346のエミッタとの間に接続され、コ
レクタは伸長回路140を通してLED38Oへ接続さ
れ従つて基本リード線320へ接続されている。表示回
路300を使用するための操作手順は端子コネクタ31
0,312及び314をそれぞれ二電源電気回路10の
端子18,36及び54に接続することから成る。端子
18,36及び54への接続が完了しプローブ362が
絶縁されている時、基本リード線316,318及び3
20は端子電圧に従い、電流がその内へ流れ始める。
最高電圧が基本リード線316にある時、電流はそこか
ら抵抗322,324,326,328,330及び3
32を通して基本リード線320へ流れる。抵抗322
及び324を流れる電流によるそれらの間の電圧はトラ
ンジスタ334をオンにバイアスレ基本リード線316
からそれを通つて抵抗337へ、そしてまたダイオード
354と抵抗356を通してブローブリード線360へ
電流が流れるのを許す。トランジスタ352のエミッタ
とベースの電圧がダイオード354の導通状態によつて
逆バイアスされるので、トランジスタ352はオフにバ
イアスされ電流が通過しないようにしてLED35Oを
発光させないようにする。抵抗324と326に流れる
電流による、それらの間の電圧がトランジスタ338を
オンにバイアスし抵抗337からトランジスタ342へ
の電流を許容する。抵抗328と330に流れる電流に
よる、それらの間の電圧がトランジスタ342をオンに
バイアスし電流がトランジスタ338から抵抗345へ
流れ、またダイオード370及び抵抗372を通してブ
ローブリード線360へ流れるのを許す。トランジスタ
368のエミッタとベースの電圧がダイオーノド370
の導通状態によつて逆バイアスされるので、トランジス
タ368はオフにバイアスされLED366を通る電流
を妨げ、トランジスタ364がオンてあるにもかかわら
ず、LED366が発光することを妨げる。抵抗330
と332と7に流れる電流によるその間の電圧がトラン
ジスタ346をオンにバイアスし抵抗345からそれを
通つて基本リード線320へそしてまたブローブリード
線360から抵抗374とダイオード377を通つて電
流が流れることを許す。トランジス9夕376のエミッ
タとベースの電圧がダイオード377の導通状態によつ
て等しくなるため、トランジスタ376はオフにバイア
スされ、電流が流れてLED38Oが発光することを妨
げる。基本リード線318に最も近い構成要素内を流れ
る電流が抵抗356,358,372及び374の選択
によつて決定されることに注意されたい好適な実施例で
は、これらの抵抗は、プローブ362が絶縁されている
時、どのLEDも発光しないように基本リード線318
の電圧と320の電圧との間に浮いているブローブリー
ド線360上に静電圧(プローブ362が絶縁されてい
る時の電圧)を、これらの抵抗を通して流れる電流か印
加するように選ばれる。抵抗とダイオードの値の相互的
選択が、基本リード線316及び318上の電圧の間に
浮いた静電圧を与える。いくらかの無視し得る量の電流
が端子36から基本リード線318に電圧源12と14
との間の電圧の不平衡に従つて流れる。
ら抵抗322,324,326,328,330及び3
32を通して基本リード線320へ流れる。抵抗322
及び324を流れる電流によるそれらの間の電圧はトラ
ンジスタ334をオンにバイアスレ基本リード線316
からそれを通つて抵抗337へ、そしてまたダイオード
354と抵抗356を通してブローブリード線360へ
電流が流れるのを許す。トランジスタ352のエミッタ
とベースの電圧がダイオード354の導通状態によつて
逆バイアスされるので、トランジスタ352はオフにバ
イアスされ電流が通過しないようにしてLED35Oを
発光させないようにする。抵抗324と326に流れる
電流による、それらの間の電圧がトランジスタ338を
オンにバイアスし抵抗337からトランジスタ342へ
の電流を許容する。抵抗328と330に流れる電流に
よる、それらの間の電圧がトランジスタ342をオンに
バイアスし電流がトランジスタ338から抵抗345へ
流れ、またダイオード370及び抵抗372を通してブ
ローブリード線360へ流れるのを許す。トランジスタ
368のエミッタとベースの電圧がダイオーノド370
の導通状態によつて逆バイアスされるので、トランジス
タ368はオフにバイアスされLED366を通る電流
を妨げ、トランジスタ364がオンてあるにもかかわら
ず、LED366が発光することを妨げる。抵抗330
と332と7に流れる電流によるその間の電圧がトラン
ジスタ346をオンにバイアスし抵抗345からそれを
通つて基本リード線320へそしてまたブローブリード
線360から抵抗374とダイオード377を通つて電
流が流れることを許す。トランジス9夕376のエミッ
タとベースの電圧がダイオード377の導通状態によつ
て等しくなるため、トランジスタ376はオフにバイア
スされ、電流が流れてLED38Oが発光することを妨
げる。基本リード線318に最も近い構成要素内を流れ
る電流が抵抗356,358,372及び374の選択
によつて決定されることに注意されたい好適な実施例で
は、これらの抵抗は、プローブ362が絶縁されている
時、どのLEDも発光しないように基本リード線318
の電圧と320の電圧との間に浮いているブローブリー
ド線360上に静電圧(プローブ362が絶縁されてい
る時の電圧)を、これらの抵抗を通して流れる電流か印
加するように選ばれる。抵抗とダイオードの値の相互的
選択が、基本リード線316及び318上の電圧の間に
浮いた静電圧を与える。いくらかの無視し得る量の電流
が端子36から基本リード線318に電圧源12と14
との間の電圧の不平衡に従つて流れる。
抵抗322,324,326,328,330,332
,337及び345はこれらの不平衡の効果を最少にす
るように選ばれる。プローブ362が絶縁されていると
、電流がたとえ交流であつてもダイオード335,33
6,339,340,343,344,347及び34
8が極性が逆転したり種々のコネクタが種々の端子に誤
接続された時に構成要素を破損から保護するバイパス回
路を提供するので、電流は上述のように常に流れる。
,337及び345はこれらの不平衡の効果を最少にす
るように選ばれる。プローブ362が絶縁されていると
、電流がたとえ交流であつてもダイオード335,33
6,339,340,343,344,347及び34
8が極性が逆転したり種々のコネクタが種々の端子に誤
接続された時に構成要素を破損から保護するバイパス回
路を提供するので、電流は上述のように常に流れる。
端子18,36及び54の電圧がそれぞれ高、中及び低
電圧でない時はいつでも全ての電流は種々のダイオード
と関連した抵抗を通してバイパスれる。表面上スイッチ
24が閉じられている時動作上負荷インピーダンス28
が故障していることによつて起こる作用状態において、
回路診断は例えば.テスト点26のような前記負荷イン
ピーダンス28の一方の選ばれた点即ち電気的接点へプ
ローブ362を接触させることから始まる。
電圧でない時はいつでも全ての電流は種々のダイオード
と関連した抵抗を通してバイパスれる。表面上スイッチ
24が閉じられている時動作上負荷インピーダンス28
が故障していることによつて起こる作用状態において、
回路診断は例えば.テスト点26のような前記負荷イン
ピーダンス28の一方の選ばれた点即ち電気的接点へプ
ローブ362を接触させることから始まる。
配線インピーダンス20とスイッチ24を通つて流れる
電流によつて明らかなように端子18か.−らテスト点
26までの満足な導通路がある時、テスト点26の電圧
は端子18の電圧に近づき、微少な電流(約2ミリアン
ペア)が端子18からプローブ362へ流入し、プロー
ブの電圧を静電圧から増加させる。
電流によつて明らかなように端子18か.−らテスト点
26までの満足な導通路がある時、テスト点26の電圧
は端子18の電圧に近づき、微少な電流(約2ミリアン
ペア)が端子18からプローブ362へ流入し、プロー
ブの電圧を静電圧から増加させる。
プローブの電圧が基本リード線〈316の電圧の所定の
「割合」以内になるとすぐに、トランジスタ352のベ
ース電圧は、ダイオード354が導通を止め、トランジ
スタ352に電流が流入してそれをオンにバイアスする
まで増加する。トランジスタ352のベース電圧がトラ
ンジスタ334のベース電圧を越えるとき全ての電流は
トランジスタ352を通して抵抗337へ流れトランジ
スタ334のエミッタ電圧を増加させて、それをオフに
バイアスする。トランジスタ334がオフにバイアスさ
れるとき、基本リード線316から流れる電流はLED
35Oに流れそれを発光させる。当業者には明らかなよ
うに、割合電圧導通表示回路300の名の由来である「
割)合」は、基本リード線電圧の機能としてのトランジ
スタ334,338,342及び346がオフにバイア
スされる電圧を確定する抵抗322,324,326,
328及び332の値によつて決定される。この抵抗は
基本リード線のそれぞれの・間の電圧を分圧する電圧降
下を与える。従つて、LED35Oはプローブ電圧から
抵抗356の両端の電圧降下を引いた電圧が、基本リー
ド線316の電圧の所定の「割合」である抵抗322と
324との間の電圧に等しくなつた時はいつでも発・光
する。この実施例においては、LEDが発光する所定の
電圧は、プローブ電圧が基本リード線の電圧の10から
20パーセントのときである。端子18からテスト点2
6まで満足な導通路があるとき、テスト点26から端子
36までの導通路の状態はスイッチ24の開放によつて
決定される。端子18からテスト点26までに、スイッ
チ24が実際には開放されていたり、配線インピーダン
ス20が非常に大きくて過度の抵抗与えていることによ
つて生じる導通路の開放状態によつて満足な導通はない
が、端子36とテスト点26の間に配線32及び負荷イ
ンピーダンス28を通じて導通があるときは、テスト点
26の電圧は端子36の電圧に近づき、微少な電流が端
子36からプローブ362へ流入しプローブの電圧を静
電圧から上昇させる。
「割合」以内になるとすぐに、トランジスタ352のベ
ース電圧は、ダイオード354が導通を止め、トランジ
スタ352に電流が流入してそれをオンにバイアスする
まで増加する。トランジスタ352のベース電圧がトラ
ンジスタ334のベース電圧を越えるとき全ての電流は
トランジスタ352を通して抵抗337へ流れトランジ
スタ334のエミッタ電圧を増加させて、それをオフに
バイアスする。トランジスタ334がオフにバイアスさ
れるとき、基本リード線316から流れる電流はLED
35Oに流れそれを発光させる。当業者には明らかなよ
うに、割合電圧導通表示回路300の名の由来である「
割)合」は、基本リード線電圧の機能としてのトランジ
スタ334,338,342及び346がオフにバイア
スされる電圧を確定する抵抗322,324,326,
328及び332の値によつて決定される。この抵抗は
基本リード線のそれぞれの・間の電圧を分圧する電圧降
下を与える。従つて、LED35Oはプローブ電圧から
抵抗356の両端の電圧降下を引いた電圧が、基本リー
ド線316の電圧の所定の「割合」である抵抗322と
324との間の電圧に等しくなつた時はいつでも発・光
する。この実施例においては、LEDが発光する所定の
電圧は、プローブ電圧が基本リード線の電圧の10から
20パーセントのときである。端子18からテスト点2
6まで満足な導通路があるとき、テスト点26から端子
36までの導通路の状態はスイッチ24の開放によつて
決定される。端子18からテスト点26までに、スイッ
チ24が実際には開放されていたり、配線インピーダン
ス20が非常に大きくて過度の抵抗与えていることによ
つて生じる導通路の開放状態によつて満足な導通はない
が、端子36とテスト点26の間に配線32及び負荷イ
ンピーダンス28を通じて導通があるときは、テスト点
26の電圧は端子36の電圧に近づき、微少な電流が端
子36からプローブ362へ流入しプローブの電圧を静
電圧から上昇させる。
プローブ電圧が基本リード線318の電圧から所定の割
合を引いた電圧で規定された範囲へ入るとすぐに、ダイ
オード370は非導通になり、トランジスタ368をオ
ンにバイアスする。
合を引いた電圧で規定された範囲へ入るとすぐに、ダイ
オード370は非導通になり、トランジスタ368をオ
ンにバイアスする。
トランジスタ368がそれを通して電流が流れるのを許
すとすぐに、トランジスタ364はオンにバイアスされ
それを通してLED366へ全電流が流れるようにしま
たトランジスタ338及び342をオフにバイアスする
。LED366はプローブ電圧が基本リード線318の
電圧に所定の割合を加えた電圧を越える時以外はオンの
ままである。越える時、トランジスタ364のベース電
圧はトランジスタ338のベース電圧を越え、ダイオー
ド365を導通させる。ダイオード365が導通すると
、トランジスタ364はオフにバイアスされ、トランジ
スタ338及び342をオンにトランジスタ368をオ
フにバイアスして電流がLED366を流れるのをブロ
ックする。従つて、LED366はプローブ電圧が基本
リード線318の電圧の所定の割合以内にある所にはい
つでも発光し、プローブ電圧が基本リード線の電圧の所
定の割合より高いかあるいは低い所にはいつても発光し
ない。どちらの導通路も満足でないときは全てのLED
は発光しない。
すとすぐに、トランジスタ364はオンにバイアスされ
それを通してLED366へ全電流が流れるようにしま
たトランジスタ338及び342をオフにバイアスする
。LED366はプローブ電圧が基本リード線318の
電圧に所定の割合を加えた電圧を越える時以外はオンの
ままである。越える時、トランジスタ364のベース電
圧はトランジスタ338のベース電圧を越え、ダイオー
ド365を導通させる。ダイオード365が導通すると
、トランジスタ364はオフにバイアスされ、トランジ
スタ338及び342をオンにトランジスタ368をオ
フにバイアスして電流がLED366を流れるのをブロ
ックする。従つて、LED366はプローブ電圧が基本
リード線318の電圧の所定の割合以内にある所にはい
つでも発光し、プローブ電圧が基本リード線の電圧の所
定の割合より高いかあるいは低い所にはいつても発光し
ない。どちらの導通路も満足でないときは全てのLED
は発光しない。
もしLED38Oが発光すれば、短絡回路又は誤接続が
表示されている、というのは不合理な電圧があるからで
ある。LED38Oの発光に関する回路操作は後述する
。従つて一つの試験によつて高電圧及び中電圧両方の導
通路が診断され得る。次に、全てのLEDが発光しない
とき、操作者はプローブ362を不満足な導通路にそつ
ている、負荷インピーダンス28から遠い他のテスト点
へ動かす。
表示されている、というのは不合理な電圧があるからで
ある。LED38Oの発光に関する回路操作は後述する
。従つて一つの試験によつて高電圧及び中電圧両方の導
通路が診断され得る。次に、全てのLEDが発光しない
とき、操作者はプローブ362を不満足な導通路にそつ
ている、負荷インピーダンス28から遠い他のテスト点
へ動かす。
もしテスト点26から端子18までの間の導通路が不満
足なら、操作者はプローブ362をテスト点22へ接続
させる。もしLED35Oが発光すれば、スイッチ24
が開であり不完全である、もしLED35Oが発光しな
ければ、開放はテスト点22と端子18との間にある。
もしテスト点26と端子36との間の導通路が不満足な
ら、操作者はプローブ362をテスト点30に接触させ
る。もしLED366が発光すれば、負荷インピーダン
ス28が不完全であり、もしLED366が発光しなけ
れば開放はテスト点30と端子36との間にある。スイ
ツテ42が表面上閉じられている時負荷インピーダンス
46が動作上不良であることによつて生じる機能上の状
態において、回路の診断は、操作者がプローブ362を
例えばテスト点44のような負荷インピーダンス46の
片方の電気的接点へ接触させることから始まる。
足なら、操作者はプローブ362をテスト点22へ接続
させる。もしLED35Oが発光すれば、スイッチ24
が開であり不完全である、もしLED35Oが発光しな
ければ、開放はテスト点22と端子18との間にある。
もしテスト点26と端子36との間の導通路が不満足な
ら、操作者はプローブ362をテスト点30に接触させ
る。もしLED366が発光すれば、負荷インピーダン
ス28が不完全であり、もしLED366が発光しなけ
れば開放はテスト点30と端子36との間にある。スイ
ツテ42が表面上閉じられている時負荷インピーダンス
46が動作上不良であることによつて生じる機能上の状
態において、回路の診断は、操作者がプローブ362を
例えばテスト点44のような負荷インピーダンス46の
片方の電気的接点へ接触させることから始まる。
端子36とテスト点44との間に配線インピーダンス3
8及びスイイツチ42を通して流れる電流によつて明ら
かになるような満足な導通路があるとき、テスト点44
の電圧は端子36の電圧に達し、微少な電流がプローブ
362に端子36から流入する。
8及びスイイツチ42を通して流れる電流によつて明ら
かになるような満足な導通路があるとき、テスト点44
の電圧は端子36の電圧に達し、微少な電流がプローブ
362に端子36から流入する。
プローブ電圧が、端子電圧の所定の割合に達するとすぐ
に、回路300の動作は、テスト点30の動作を完全に
くりかえし、トランジスタ364と368はオンにバイ
アスされ、電流がLED366を通して流されてそれを
発光させる。従つてLED366はプローブ電圧から抵
抗372の両端の電圧降下を引いた電圧が、基本リード
線318の電圧から所定の割合だけ低い抵抗328と3
30との間の電圧と等しい時はいつでも発光する。端子
36からテスト点44までに満足な導通路がある時、テ
スト点44から端子54までの導通路の状態はスイッチ
42の開放によつて確定される。
に、回路300の動作は、テスト点30の動作を完全に
くりかえし、トランジスタ364と368はオンにバイ
アスされ、電流がLED366を通して流されてそれを
発光させる。従つてLED366はプローブ電圧から抵
抗372の両端の電圧降下を引いた電圧が、基本リード
線318の電圧から所定の割合だけ低い抵抗328と3
30との間の電圧と等しい時はいつでも発光する。端子
36からテスト点44までに満足な導通路がある時、テ
スト点44から端子54までの導通路の状態はスイッチ
42の開放によつて確定される。
端子36からテスト点44までには満足な導通路がない
端子54からテスト点44までの間には満足な導通路が
ある時、テスト点44の電圧は端子54の電圧に近づき
、微少な電流がプローブ362から端子54へ流れプロ
ーブの電圧を静電圧から下げる。
端子54からテスト点44までの間には満足な導通路が
ある時、テスト点44の電圧は端子54の電圧に近づき
、微少な電流がプローブ362から端子54へ流れプロ
ーブの電圧を静電圧から下げる。
プローブの電圧が基本リード線320の電圧の所定の割
合の電圧以内になるとすぐに、トランジスタ376のベ
ース電圧は、ダイオード377が導通を止め、電流がト
ランジスタ376へ流れてそれをオンにバイアスするま
で増加する。トランジスタ376のベース電圧がトラン
ノジスタ346のベース電圧を越えるとき、電流がトラ
ンジスタ376を通つて基本リード線320へ流れ、ま
た抵抗374を通つてプローブ362へ流れてトランジ
スタ346のエミッタ電圧を増加させてそれをオフにバ
イアスする。トランジス7夕346がオフにバイアスさ
れる時、抵抗345から流れる電流はLED38Oを通
つてそれを発光させる。従つて、LED38Oはプロー
ブ電圧から抵抗374の両端の電圧降下を引いた電圧が
基本リード線320の電圧の所定の割合である抵フ抗3
30と332との間の電圧に等しくなる時はいつでも発
光する。どちらの導通路も満足でないとき、336又は
380のどちらのLEDも発光しない。
合の電圧以内になるとすぐに、トランジスタ376のベ
ース電圧は、ダイオード377が導通を止め、電流がト
ランジスタ376へ流れてそれをオンにバイアスするま
で増加する。トランジスタ376のベース電圧がトラン
ノジスタ346のベース電圧を越えるとき、電流がトラ
ンジスタ376を通つて基本リード線320へ流れ、ま
た抵抗374を通つてプローブ362へ流れてトランジ
スタ346のエミッタ電圧を増加させてそれをオフにバ
イアスする。トランジス7夕346がオフにバイアスさ
れる時、抵抗345から流れる電流はLED38Oを通
つてそれを発光させる。従つて、LED38Oはプロー
ブ電圧から抵抗374の両端の電圧降下を引いた電圧が
基本リード線320の電圧の所定の割合である抵フ抗3
30と332との間の電圧に等しくなる時はいつでも発
光する。どちらの導通路も満足でないとき、336又は
380のどちらのLEDも発光しない。
もしLED35Oか発光すれば、短絡回路、誤接続又は
端子36への接続の欠陥が表示されている、というのは
不合理な電圧があるからである。従つて一つの試験によ
つて中電圧及び低電圧の導通路が診断され得る。次に、
全くLEDが発光しない時、操作者はプローブ362を
上述の不満足な導通路にそつてある、負荷インピーダン
ス46から遠い他のテスト点へ移動する。
端子36への接続の欠陥が表示されている、というのは
不合理な電圧があるからである。従つて一つの試験によ
つて中電圧及び低電圧の導通路が診断され得る。次に、
全くLEDが発光しない時、操作者はプローブ362を
上述の不満足な導通路にそつてある、負荷インピーダン
ス46から遠い他のテスト点へ移動する。
テスト点40はほぼ端子36の電圧の所定の割合の電圧
以内であり、テスト点48はほぼ端子54の電圧の所定
の割合の電圧以内である。当業者は明らかなように、テ
スト点62及び66でのテストはテスト点26及び22
でのテストとそれぞれ同様であり、テスト点58でのテ
ストはテスト点48でのテストと同様である。
以内であり、テスト点48はほぼ端子54の電圧の所定
の割合の電圧以内である。当業者は明らかなように、テ
スト点62及び66でのテストはテスト点26及び22
でのテストとそれぞれ同様であり、テスト点58でのテ
ストはテスト点48でのテストと同様である。
次に第6図を参照すると、70のような一電源回路の状
態を診断するための簡易化された固定電圧導通回路40
0が示されている。
態を診断するための簡易化された固定電圧導通回路40
0が示されている。
当業者には明らかなように、固定電圧導通回路100及
び割合電圧導通回路300は、中電圧コネクタ112及
び312を他の端子の1つに接続しスイッチ321を開
にすることにより、又は基本リード線118及び318
に関連する構成要素を除去することによつて70のよう
な一電源回路をテストするのに用い得る。しかしながら
、簡易化された表示回路400は例えば自動車の12ボ
ルトの回路のような一電源回路用に最適である、とはい
えこれは種々のコネクタと端子を変更することによつて
10のような二電源回路のテストにも用い得る。この簡
易化された表示回路400はそれぞれ基本リード線41
4及び416に接続されるコネクタ410及び412を
含む。基本リード線414はLED4l8へ接続されL
ED4l8は抵抗420へ及びダイオード422を介し
てブローブリード線424へ従つてプローブ426へ接
続されている。抵抗420はダイオード428を介して
ブローブリード線424へ及びLED43Oへ接続され
LED43Oは基本リード線416へ接続されている。
回路400を使するための操作手順は、一電源電気回路
70の端子76及び92へコネクタ410及び412を
接続することから成る。
び割合電圧導通回路300は、中電圧コネクタ112及
び312を他の端子の1つに接続しスイッチ321を開
にすることにより、又は基本リード線118及び318
に関連する構成要素を除去することによつて70のよう
な一電源回路をテストするのに用い得る。しかしながら
、簡易化された表示回路400は例えば自動車の12ボ
ルトの回路のような一電源回路用に最適である、とはい
えこれは種々のコネクタと端子を変更することによつて
10のような二電源回路のテストにも用い得る。この簡
易化された表示回路400はそれぞれ基本リード線41
4及び416に接続されるコネクタ410及び412を
含む。基本リード線414はLED4l8へ接続されL
ED4l8は抵抗420へ及びダイオード422を介し
てブローブリード線424へ従つてプローブ426へ接
続されている。抵抗420はダイオード428を介して
ブローブリード線424へ及びLED43Oへ接続され
LED43Oは基本リード線416へ接続されている。
回路400を使するための操作手順は、一電源電気回路
70の端子76及び92へコネクタ410及び412を
接続することから成る。
端子76及び92への接続が完了し、プローブ426が
絶縁されている時、基本リード線414及び416は端
子電圧に従い、電流がその内に流れ始める。
絶縁されている時、基本リード線414及び416は端
子電圧に従い、電流がその内に流れ始める。
高電圧が基本リード線414にある時、電流はそこから
LED4l8、抵抗420及びLED43Oを通つて基
本リード線416へ流れる。従つてプローブ426が絶
縁されているとLED4l8及び430は発光する。L
ED4l8及び430は更に、逆電流をブロックするこ
とによつて交流に適応し同様にコネクタが端子に誤接続
されたときの動作を妨げる極性保誤を与えるように選ば
れる。スイッチ82が表面上閉じられている時、動作上
負荷インピーダンス86が不良であることによつて起こ
る作用状態において、回路診断は例えばテスト点84の
ような前記負荷インピーダンス86の一方の選ばれた点
即ち電気的接点へプローブ426を接触させることから
始まる。
LED4l8、抵抗420及びLED43Oを通つて基
本リード線416へ流れる。従つてプローブ426が絶
縁されているとLED4l8及び430は発光する。L
ED4l8及び430は更に、逆電流をブロックするこ
とによつて交流に適応し同様にコネクタが端子に誤接続
されたときの動作を妨げる極性保誤を与えるように選ば
れる。スイッチ82が表面上閉じられている時、動作上
負荷インピーダンス86が不良であることによつて起こ
る作用状態において、回路診断は例えばテスト点84の
ような前記負荷インピーダンス86の一方の選ばれた点
即ち電気的接点へプローブ426を接触させることから
始まる。
配線インピーダンス78及びスイッチ82を通して流れ
る電流によつて明らかなように端子76からテスト点8
4までの満足な導通路があると゛き、テスト点84の電
圧は端子76の電圧に近づき、微少な電流(約30ミリ
アンペア)が端子76からプローブ426へ流入し、プ
ローブの電圧を基本リード線414の電圧に近づける。
る電流によつて明らかなように端子76からテスト点8
4までの満足な導通路があると゛き、テスト点84の電
圧は端子76の電圧に近づき、微少な電流(約30ミリ
アンペア)が端子76からプローブ426へ流入し、プ
ローブの電圧を基本リード線414の電圧に近づける。
プローブ電圧が端子76の電圧に関連した「固定された
」電圧に達すると、電流が基本リード線414からLE
D4l8を通るのを妨げLED4l8を消す。当業者に
は明らかなように、簡易化された固定電圧導通表示回路
400の名の由来てある「固定された」電圧はLEDと
それに関連したダイオード゛の電圧降下の組み合わされ
た「固定された」電圧降下に等しい。従つてLED4l
8はプローブ電圧が基本リード線414の電圧からLE
D4l8とダイオード428との両端の電圧降下を引い
た電圧に等しい時はいつでも消える。端子76からテス
ト点84までに満足な導通路がある時、テスト点84か
ら端子92までの導通路の状態はスイッチ82の開放に
よつて決定される。
」電圧に達すると、電流が基本リード線414からLE
D4l8を通るのを妨げLED4l8を消す。当業者に
は明らかなように、簡易化された固定電圧導通表示回路
400の名の由来てある「固定された」電圧はLEDと
それに関連したダイオード゛の電圧降下の組み合わされ
た「固定された」電圧降下に等しい。従つてLED4l
8はプローブ電圧が基本リード線414の電圧からLE
D4l8とダイオード428との両端の電圧降下を引い
た電圧に等しい時はいつでも消える。端子76からテス
ト点84までに満足な導通路がある時、テスト点84か
ら端子92までの導通路の状態はスイッチ82の開放に
よつて決定される。
端子76からテスト点84までに、スイッチ82が実際
に開放されていたり、配線インピーダンス78が非常に
大きくて過度の抵抗を与えていることによつて生じる導
通路の開状態によつて満足な導通はないが、端子92と
テスト点84の間には配線インピーダンス90と負荷イ
ンピーダンス86を通して導通があるとき、テスト点8
4の電圧は端子92の電圧に近づき、微少な電流がプロ
ーブ426から端子92へ流れプローブの電圧を基本リ
ード線416の電圧へ下げる。
に開放されていたり、配線インピーダンス78が非常に
大きくて過度の抵抗を与えていることによつて生じる導
通路の開状態によつて満足な導通はないが、端子92と
テスト点84の間には配線インピーダンス90と負荷イ
ンピーダンス86を通して導通があるとき、テスト点8
4の電圧は端子92の電圧に近づき、微少な電流がプロ
ーブ426から端子92へ流れプローブの電圧を基本リ
ード線416の電圧へ下げる。
プローブ電圧が端子92の電圧に関連した固定電圧に達
するとすぐに電流がダイオード428を通して流れ、L
ED43Oをバイパスしてそれを消す。従つてLED4
3Oはプローブ電圧が基本リード線の電圧にLED43
Oとダイオード422の両端の電圧降下を加えた電圧に
等しくなる時はいつでも消える。どちらの導通路も満足
でない時はどちらのLEDも発光する。
するとすぐに電流がダイオード428を通して流れ、L
ED43Oをバイパスしてそれを消す。従つてLED4
3Oはプローブ電圧が基本リード線の電圧にLED43
Oとダイオード422の両端の電圧降下を加えた電圧に
等しくなる時はいつでも消える。どちらの導通路も満足
でない時はどちらのLEDも発光する。
従つて一つの試験によつて高電圧及び低電圧両方の導通
路が診断され得る。次に、両方のLEDが発光した時、
操作者はプローブ426を不満足な導通路にそつている
、負荷インピーダンス86から遠い他のテスト点へ移動
する。もしテスト点84と端子76の間の導通路が不満
足であるなら、操作者はプローブ426をテスト点80
へ接触させる。もしLED4l8が消えたら、スイッチ
82が開放されており不完全である、もしLED4l8
が発光したままなら開放はテスト点80と端子76との
間にある。もしテスト点84と端子92との間の導通路
が不満足なら、操作者はプローブ426をテスト点88
へ接触させる。もしLED43Oが消えたら、負荷イン
ピーダンス86が不完全であり、もしLED43Oが発
光したままなら、開放はテスト点88と端子92との間
にある。次に第7図を参照するて、インピーダンス導通
表示回路500が示されており、この回路は開回路と過
大な抵抗との間の区別をする能力を提供する。
路が診断され得る。次に、両方のLEDが発光した時、
操作者はプローブ426を不満足な導通路にそつている
、負荷インピーダンス86から遠い他のテスト点へ移動
する。もしテスト点84と端子76の間の導通路が不満
足であるなら、操作者はプローブ426をテスト点80
へ接触させる。もしLED4l8が消えたら、スイッチ
82が開放されており不完全である、もしLED4l8
が発光したままなら開放はテスト点80と端子76との
間にある。もしテスト点84と端子92との間の導通路
が不満足なら、操作者はプローブ426をテスト点88
へ接触させる。もしLED43Oが消えたら、負荷イン
ピーダンス86が不完全であり、もしLED43Oが発
光したままなら、開放はテスト点88と端子92との間
にある。次に第7図を参照するて、インピーダンス導通
表示回路500が示されており、この回路は開回路と過
大な抵抗との間の区別をする能力を提供する。
表示回路500は高及ひ低電圧基本リード線コネクタ5
10及び512とブローブリード線コネクタ514とを
含む。コネクタ510はリード線515によつて主接合
部516へ接続され、コネクタ512はリード線517
によつて接合部519へ接続される。接合部516はリ
ード線518によつて方形波発振電流信号を発生するた
めの通常の発振器520へ接続される。発振器520は
リード線521によつて接合部519へ、抵抗522を
介してブローブリード線524へ接続されている。ブロ
ーブリード線524はブローブリード接続部514と通
常のバイパスフィルタ526へ接続されている。ハイパ
スフィルタ526は通常の整流路530へ直列に接続さ
れている。整流路530はリード線532によつて通常
の比較回路534の第1の入カへ接続されている。比較
器534の第2の入力はリード線536によつて接合部
538へ接続されている。接合部538は抵抗540を
介して接合部516へ、抵抗541を介して接合部51
9へ接続されている。接合部516は更にリード線54
2によつて通常のLED544へ接続されている。LE
D544の反対側はリード線546によつて比較器53
4の出力に接続されている。比較器534は更にリード
線547によつて接合部519へ接続されている。リー
ド線546が回路ロジックが関係する限りにおいて比較
器534の出力に接続され、電流が実際上リード線54
6を通つて比較器534に流入しそこから、LED54
4がオンの時リード線547を通つてコネクタ512へ
流れることに注意されたい。動作において、リード線5
15と517の電圧は発振器520によつて受け取られ
、方形波発振電流信号に変換されて配524へ印加され
る。
10及び512とブローブリード線コネクタ514とを
含む。コネクタ510はリード線515によつて主接合
部516へ接続され、コネクタ512はリード線517
によつて接合部519へ接続される。接合部516はリ
ード線518によつて方形波発振電流信号を発生するた
めの通常の発振器520へ接続される。発振器520は
リード線521によつて接合部519へ、抵抗522を
介してブローブリード線524へ接続されている。ブロ
ーブリード線524はブローブリード接続部514と通
常のバイパスフィルタ526へ接続されている。ハイパ
スフィルタ526は通常の整流路530へ直列に接続さ
れている。整流路530はリード線532によつて通常
の比較回路534の第1の入カへ接続されている。比較
器534の第2の入力はリード線536によつて接合部
538へ接続されている。接合部538は抵抗540を
介して接合部516へ、抵抗541を介して接合部51
9へ接続されている。接合部516は更にリード線54
2によつて通常のLED544へ接続されている。LE
D544の反対側はリード線546によつて比較器53
4の出力に接続されている。比較器534は更にリード
線547によつて接合部519へ接続されている。リー
ド線546が回路ロジックが関係する限りにおいて比較
器534の出力に接続され、電流が実際上リード線54
6を通つて比較器534に流入しそこから、LED54
4がオンの時リード線547を通つてコネクタ512へ
流れることに注意されたい。動作において、リード線5
15と517の電圧は発振器520によつて受け取られ
、方形波発振電流信号に変換されて配524へ印加され
る。
ブローブリード線524内の方形波信号はハイパスフィ
ルタ526へ入り、このフィルタ526は信号の直流成
分を除去する。方形波信号は次に整流器530へ流れ、
この整流器530は方形波発振信号の振幅に直接比例す
る直流出力を供給する。この直流信号は次に比較器53
4によつて、抵抗540と541から成る電圧分圧器内
て発生される参照信号と比較される。抵抗540と54
1は導通のための最大のインピーダンスを確定するよう
に選択される。この最大のインピーダンスは開回路と考
えられる。整流器530からの電圧が接合部538の電
圧より大きい間は比較器534はコネクタ510からL
ED544を通して電流が流れるのを妨げる。1つのイ
ンピーダンスが実際にブローブリード線524へ接続さ
れた時、発振電流の方形波は減衰され、ハイパスフィル
タ526と整流器530・を通して生ずる電圧は抵抗5
40と541とによつて決定される接合部538の参照
電圧以下に引き下げられる。
ルタ526へ入り、このフィルタ526は信号の直流成
分を除去する。方形波信号は次に整流器530へ流れ、
この整流器530は方形波発振信号の振幅に直接比例す
る直流出力を供給する。この直流信号は次に比較器53
4によつて、抵抗540と541から成る電圧分圧器内
て発生される参照信号と比較される。抵抗540と54
1は導通のための最大のインピーダンスを確定するよう
に選択される。この最大のインピーダンスは開回路と考
えられる。整流器530からの電圧が接合部538の電
圧より大きい間は比較器534はコネクタ510からL
ED544を通して電流が流れるのを妨げる。1つのイ
ンピーダンスが実際にブローブリード線524へ接続さ
れた時、発振電流の方形波は減衰され、ハイパスフィル
タ526と整流器530・を通して生ずる電圧は抵抗5
40と541とによつて決定される接合部538の参照
電圧以下に引き下げられる。
比較器534はそこで、それを通して電流が、リード線
515からリード線542,LED544、リード線5
46、接合部519そしてリード線517を通つて流れ
るのを許す。従つてLED544は最大までのインピー
ダンスがブローブリード線524に接続された時はいつ
でも発光する。次に第8図を参照すると一般に番号60
0で示される故障検出器の好適な実施例が示されている
。
515からリード線542,LED544、リード線5
46、接合部519そしてリード線517を通つて流れ
るのを許す。従つてLED544は最大までのインピー
ダンスがブローブリード線524に接続された時はいつ
でも発光する。次に第8図を参照すると一般に番号60
0で示される故障検出器の好適な実施例が示されている
。
この故障検出器600は固定電圧導通表示回路100と
それに接続されたインピーダンス導通表示回路500を
含んでいる。コネクタ510は基本リード線116へ、
コネクタ512は基本リード線120へ、そしてコネク
タ514はブローブリード線164へ接続されている。
次に第9図を参照すると、一般に番号700で示される
故障検出器の第1の代替実施例が示されている。
それに接続されたインピーダンス導通表示回路500を
含んでいる。コネクタ510は基本リード線116へ、
コネクタ512は基本リード線120へ、そしてコネク
タ514はブローブリード線164へ接続されている。
次に第9図を参照すると、一般に番号700で示される
故障検出器の第1の代替実施例が示されている。
故障検出器700は、割合電圧導通表示回路300と接
続されたインピーダンス導通表示回路500とを含んで
いる。コネクタ510は基本リード線316へ、コネク
タ512は基本リード線320へ、そしてコネクタ51
4はブローブリード線360へ接続されている。次第1
0図を参照すると、一般に番号800で示される故障検
出器の第2の代替実施例が示されている。
続されたインピーダンス導通表示回路500とを含んで
いる。コネクタ510は基本リード線316へ、コネク
タ512は基本リード線320へ、そしてコネクタ51
4はブローブリード線360へ接続されている。次第1
0図を参照すると、一般に番号800で示される故障検
出器の第2の代替実施例が示されている。
故障検出器800は、インピーダンス導通表示回路50
0と接続された簡易化された固定電圧導通表示回路40
0とを含んでいる。コネクタ510は基本リード線41
4と、コネクタ512は基本リード線416と、そして
コネクタ514はブローブリード線424と接続されて
いる。本発明について特別の実施例について説明して来
たが、種々の変更、改造及び入れ替えが可能であること
は明らかである。
0と接続された簡易化された固定電圧導通表示回路40
0とを含んでいる。コネクタ510は基本リード線41
4と、コネクタ512は基本リード線416と、そして
コネクタ514はブローブリード線424と接続されて
いる。本発明について特別の実施例について説明して来
たが、種々の変更、改造及び入れ替えが可能であること
は明らかである。
第1図は典型的な二電源電気回路の概略図、第2図は典
型的な一電源電気回路の概略図、第3図は本発明におけ
る固定電圧導通表示回路の概略図、第4図は本発明にお
ける表示伸長回路の概略図、第5図は本発明における割
合電圧導通表示回路の概略図、第6図は本発明における
簡易化した固定電圧導通表示回路の概略図、第7図は本
発明における導通表示回路の概略図、第8図は本発明の
好適な実施例の概略図、第9図は本発明の好適な実施例
の第1の代替回路の概略図、第10図は本発明の好適な
実施例の第2の代替回路の概略図である。 12,14,72:電源、140:表示伸長回路、14
6:単安定マルチバイブレ−ター、148:ANDゲー
ト、520:方形波発振器、526:ハイパスフイルタ
ー、530:整流器、534:比較器。
型的な一電源電気回路の概略図、第3図は本発明におけ
る固定電圧導通表示回路の概略図、第4図は本発明にお
ける表示伸長回路の概略図、第5図は本発明における割
合電圧導通表示回路の概略図、第6図は本発明における
簡易化した固定電圧導通表示回路の概略図、第7図は本
発明における導通表示回路の概略図、第8図は本発明の
好適な実施例の概略図、第9図は本発明の好適な実施例
の第1の代替回路の概略図、第10図は本発明の好適な
実施例の第2の代替回路の概略図である。 12,14,72:電源、140:表示伸長回路、14
6:単安定マルチバイブレ−ター、148:ANDゲー
ト、520:方形波発振器、526:ハイパスフイルタ
ー、530:整流器、534:比較器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 少なくとも2つの電源電位を持つた電源を含む電気
回路において、その電源と回路内の選ばれた点との間の
導通を測定する検出器において、イ:前記選ばれた点へ
接触させられるように構成されたプローブ手段、ロ:前
記少なくとも2つの電源電位に夫々持続されるように構
成された少なくとも2つのコネクタ手段、ハ:前記少な
くとも2つのコネクタ手段に接続されており、前記少な
くとも2つの電源電位に夫々隣接した少なくとも2つの
固定電位範囲を設定する範囲設定手段、ニ:前記プロー
ブ手段に接続されておりかつ前記範囲設定手段と協働し
て、前記プローブ手段の電位が前記少なくとも2つの固
定電位範囲内にあるかどうかに依存する電位条件を検出
する検出手段、ホ:異なつた表示を有しており、前記の
検出された電位条件に応答して前記異なつた表示の内の
1つを与える表示手段であつて、それにより前記少なく
とも2つの電源電位の夫々と前記点との間の回路の満足
な導通を表示すること、から成る検出器。 2 少なくとも2つの電源電位を持った電源を含む電気
回路において、その電源と回路内の選ばれた点との間の
導通を測定する検出器において、イ:前記選ばれた点へ
接触させられるように構成されたプローブ手段、ロ:前
記少なくとも2つの電源電位に夫々接続されるように構
成された少なくとも2つのコネクタ手段、ハ:前記少な
くとも2つのコネクタ手段に接続されており、前記少な
くとも2つの電源電位に夫々隣接した少なくとも2つの
電位範囲を設定する範囲設定手段であつて、前記少なく
とも2つの電位範囲の各々は、前記少なくとも2つの電
源電位の間の電位差に関し実質上一定の割合に幅を有す
ること、ニ:前記プローブ手段に接続されておりかつ前
記範囲設定手段と協働して、前記プローブ手段の電位が
前記少なくとも2つの電位範囲内にあるかどうかに依存
した電位条件を検出する検出手段、ホ:異なつた表示を
有しており前記検出された電位条件に応答して前記異な
つた表示の1つを与える表示手段であつて、それにより
前記少なくとも2つの電源電位の夫々と前記点との間の
回路の満足な導通を表示すること、から成る検出器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US651808 | 1976-01-23 | ||
| US05/651,808 US4031461A (en) | 1976-01-23 | 1976-01-23 | Source related potential indicating continuity tester |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5291147A JPS5291147A (en) | 1977-08-01 |
| JPS6044623B2 true JPS6044623B2 (ja) | 1985-10-04 |
Family
ID=24614306
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52003879A Expired JPS6044623B2 (ja) | 1976-01-23 | 1977-01-17 | 故障検出器 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4031461A (ja) |
| JP (1) | JPS6044623B2 (ja) |
| AU (1) | AU501976B2 (ja) |
| CA (1) | CA1072637A (ja) |
| DE (1) | DE2701896C3 (ja) |
| ES (1) | ES455270A1 (ja) |
| FR (1) | FR2339175A1 (ja) |
| IT (1) | IT1086752B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0489019U (ja) * | 1990-12-11 | 1992-08-03 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4160206A (en) * | 1977-12-14 | 1979-07-03 | Bengt Berendonk | Audible voltage-impedance tester |
| US4583086A (en) * | 1982-04-08 | 1986-04-15 | Remote Sensors, Inc. | Circuit for monitoring the operating condition of an electric load |
| US4594542A (en) * | 1984-02-21 | 1986-06-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Solid state, high-low resistance monitor |
| US4764727A (en) * | 1986-10-14 | 1988-08-16 | Mcconchie Sr Noel P | Circuit continuity and voltage tester |
| US4884033A (en) * | 1986-10-14 | 1989-11-28 | Mcconchie Sr Noel P | Diagnostic test apparatus for electrical system of automotive vehicle |
| JP3287624B2 (ja) * | 1993-01-11 | 2002-06-04 | 三菱電機株式会社 | 半導体センサ |
| US11784482B2 (en) * | 2020-10-20 | 2023-10-10 | Apple Inc. | Electrical connection monitoring using cable shielding |
Family Cites Families (8)
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|---|---|---|---|---|
| US2229927A (en) * | 1939-09-02 | 1941-01-28 | Joe A Kamper | Electrical tester |
| US3600678A (en) * | 1969-09-12 | 1971-08-17 | Jim C Garrett | Solid-state polarity tester for telephone equipment |
| US3619775A (en) * | 1969-11-25 | 1971-11-09 | Pulse Monitors Inc | Polarity and voltage level detecting test probe |
| US3673588A (en) * | 1970-01-14 | 1972-06-27 | Motorola Inc | Voltage regulator indicating circuit for undervoltage, normal voltage and overvoltage conditions |
| US3944921A (en) * | 1970-12-11 | 1976-03-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Logic level test probe with grated oscillator |
| US3828256A (en) * | 1971-05-13 | 1974-08-06 | C Liu | Self contained test probe employing high input impedance |
| US3806803A (en) * | 1973-06-06 | 1974-04-23 | Gen Tel Co Of Cal | Portable voltage sampling probe device |
| JPS5330283Y2 (ja) * | 1973-07-19 | 1978-07-28 |
-
1976
- 1976-01-23 US US05/651,808 patent/US4031461A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-11-30 CA CA266,892A patent/CA1072637A/en not_active Expired
- 1976-12-15 AU AU20575/76A patent/AU501976B2/en not_active Expired
-
1977
- 1977-01-14 FR FR7701044A patent/FR2339175A1/fr active Granted
- 1977-01-17 JP JP52003879A patent/JPS6044623B2/ja not_active Expired
- 1977-01-19 IT IT47701/77A patent/IT1086752B/it active
- 1977-01-19 DE DE2701896A patent/DE2701896C3/de not_active Expired
- 1977-01-22 ES ES455270A patent/ES455270A1/es not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0489019U (ja) * | 1990-12-11 | 1992-08-03 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU2057576A (en) | 1978-06-22 |
| FR2339175A1 (fr) | 1977-08-19 |
| AU501976B2 (en) | 1979-07-05 |
| US4031461A (en) | 1977-06-21 |
| DE2701896A1 (de) | 1977-07-28 |
| JPS5291147A (en) | 1977-08-01 |
| IT1086752B (it) | 1985-05-31 |
| DE2701896B2 (de) | 1979-03-15 |
| DE2701896C3 (de) | 1979-11-08 |
| FR2339175B1 (ja) | 1980-04-30 |
| ES455270A1 (es) | 1978-01-01 |
| CA1072637A (en) | 1980-02-26 |
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