JPS6044749B2 - Mos記憶器に対する関数発生器 - Google Patents

Mos記憶器に対する関数発生器

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JPS6044749B2
JPS6044749B2 JP52081905A JP8190577A JPS6044749B2 JP S6044749 B2 JPS6044749 B2 JP S6044749B2 JP 52081905 A JP52081905 A JP 52081905A JP 8190577 A JP8190577 A JP 8190577A JP S6044749 B2 JPS6044749 B2 JP S6044749B2
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、それぞれ負荷トランジスタおよびスイツチ
ングトランジスタから成る2個の反結合された分岐から
成るMOSトランジスタのフリッププフロツプの、スイ
ツチングトランジスタのソース電極により、MOS記憶
器から供給された読.出し信号の増幅のために形成され
た節点における、電圧を発生するための関数発生器にお
いて、各フリツプフロツプは負荷およびスイツチングト
ランジスタの接続点をもつて、それぞれMOS記憶器の
ビツト線の部分区間と接続され、しかして・節点に導か
れた電圧は下記のような経過をとる、すなわち読出し過
程のサイクル開始に際し節点を充電し、ビツト線上の読
出し信号の評価の際、フリツプフロツプがビツト線上の
読出し信号により指定された位置に転換するように節点
が放電される如き経過をとるようになつてものに係る。
ダイナミツクMOS記憶器の読出し信号の評価のため、
各ビツト線を2個の部分区間に分割し、かつ両部分区間
の間にフリツプフロツプとして実施された読出し増幅回
路を配置することは公知である(例えば固体回路のIE
EEJOumal,l972年10月、巻SC7,NO
.5,336〜340頁参照)。かかる読出し増幅回路
は操作されるフリツプフロツプのJ形式に構成される。
この読出し増幅回路の主特長は、対称性、パラメータ変
化に余り関係せず、かつ記憶された信号の自動的再生に
ある。かかる読出し増幅回路は特にMOS記憶器で使用
され、それにおいて各個の記憶セルは単トランジスタ記
憶−セルから成る。MOS記憶器の技術の発展は、記憶
器プロツク当りの記憶器密度の一層の増大をもたらした
このことは一層小さい読出し信号へ、および構成素子パ
ラメータの大きな変化へと導く。かかる・MOS記憶器
から読出し信号を評価するため、例えば固体回路のIE
EEJOurnal,l97詳10月、巻SC8,NO
.5,3lO乃至318頁、および同JOumal,l
97拝4月、巻9,N0.2,49乃至54頁に記憶さ
れたような増幅回路が良く適する。この読出し増幅回路
においてフリツプフロツプの負荷トランジスタは、負荷
トランジスタおよびスイツチングトランジスタの間の接
続点におけるビツト線の部分区間の予充電のみに役立つ
。読出し信号の評価過程中負荷トランジスタは閉塞され
たままである。ビツト線の部分区間上に、記憶セルから
情報の読出し後に信号電圧が設定された場合、続いてス
イツチングトランジスタソース電極の間の接続点におい
て電圧は緩慢に低下する。之によりスイツチングトラン
ジスタの1つのみ、すなわち制御電極に読出し信号が印
加されたものが導通制御されることになる。かかる動作
仕方においてフリツプフロツプの増幅度は極めて大きく
、トランジスタの寸法およびビツト線の容量の変化は殆
んど影響しない。この読出し増幅回路は評価時間が比較
的長いのが欠点である。そこでスイツチングトランジス
タのソース電極の接続点における電圧を、対応して最適
の経過曲線で低下させる研究が行われた。その際曲線は
、スイツチングトランジスタの1つが正確に閉塞限界に
あり、或は電流が一定である所の弱い伝導状態で交互に
動作するように形成される。この方策により評価時間が
短縮される。しかし評価時間はなお比較的長い。之は場
所節約のため記憶器モジユールの多数の読出し増幅回路
を、下記のような回路、すなわちそれによりスイツチン
グトランジスタのソース電極の接続点(節点)における
電圧を調整する所の回路と接続する場合に特にそうであ
る。この際隣接しないスイツチングトランジスタの比較
的大きいしきい値電圧変動は、評価時間の著しい延長を
必要としない。この発明の目的は、読出し信号の評価の
ために多数のフリツプフロツプが接続された節点におけ
る電圧の発生のための関数発生器において、節点に接続
された多数のフリツプフロツプが読出し信号の評価時間
に影響を与えないように動作するものを得ることにある
。この目的はこの発明によれば、特許請求のど囲第1項
に記載された構成により達成される。すなわちこの予放
電により、ビツト線の部分区間はフリツプフロツプのス
イツチングトランジスタのしきい値電圧が既に考慮され
た電圧に調整されることが達成される。
従つて評価過程中の節点における電圧の各変化は、すべ
てのフリツプフロツプに同じ仕方で作用し、フリツプフ
ロップのスイツチングトランジスタの種々のしきい値電
圧はもはや影響を持たない。予放電回路は、並列に接続
されかつクロツク信号により制御される2個のトランジ
スタから成ることができる。
その際両トランジスタは下記のよ.うな寸法であり、し
かしてクロツク信号は時間的に下記のように決定するこ
とができる。すなわち両トランジスタを経る節点の放電
は下記のような大きさでのみ、すなわちビツト線のすべ
ての部分区間は、スイツチングトランジスタのしきい値
電.”圧が種々てあるにも拘らず、しきい値電圧により
生じる節点電圧の変化に各個に調整され得るようにのみ
行われるのである。次に図示実施例についてこの発明を
説明する。
第1図はフリツプフロツプおよび関数発生器を・持つ読
出し増幅回路、第2図は予放電回路を持つ関数発生器の
実施例、第3図は予放電回路に対するクロツク信号発生
のための回路、第4図は第1図の読出し増幅回路作用を
説明する信号ダイヤグラム、第5図は予放電回路に導入
されるクロツク信号のダイヤグラムを示す。第1図の読
出し増幅回路はフリツプフロツプFFlおよび予放電回
路を包含する関数発生器FGから成る。
フリップフロップ下Fはそれぞれ負荷トランジスタTL
およびスイツチングトランジスタLから成る2個の分岐
から成る。
一方の分岐は負荷トランジスタTLlおよびスイツチン
グトランジスタノTSlを包含し、他方の分岐は同じく
TL2および′IS2を包含する。従つてスイツチング
トランジスタLおよび負荷トランジスタTLの接続点に
ビット線の部分区間が存在する。TLlとTSlの間の
接続点p1にビツト線の部分区間BLが存在・し、それ
に対しTL2およびTS2の間の接続点P2にはビツト
線の部分区間BRが接続される。更に接続点p1および
P2はトランジスタTO(対称トランジスタと呼ばれる
)を経て接続される。スイツチングトランジスタTSl
およびTS2のソース電極の接続点は節点Kと呼ばれる
。負荷トランジスタTLlおよびTL2はクロツク信号
S2により、対称トランジスタTOはクロツク信号S3
により制御される。負荷トランンジスタTLl,TL2
には更に固定電圧VDDが存在する。節点Kには図示の
フリップフロップ下Fのみならず、それに対応して構成
された多数のフリツプフロツプも接続される。しかし後
者のフリツプフロツプはスイツチングトランジスタTS
が持つ性質で相違する。すなわちフリツプフロツプのス
イツチングトランジスタが、すべてが同じしきい値電圧
を持つように実現することは不可能である。それ故に節
点Kに接続された関数発生器FGは下記のように構成さ
れる、すなわち関数発生器から節点Kに送出された電圧
が、種々のフリツプフロツプのスイツチングトランジス
タTSの種々のしきい値電圧が評価過程に影響しないよ
うに、フリツプフロツプに影響するように構成される。
第4図と一緒に、如何にしてスイツチングトランジスタ
の種々のしきい値電圧の影響を除去できるかを説明する
。その際トランジスタとしてnチヤネルトランジスタを
使用することから出発する。従つて第4図に示す電圧は
正電圧である。ビツト線区「坦LおよびBRに印加され
た読出し信号を評価できる前に、読出し増幅回路は予充
電されねばならない。そのため対称トランジスタTOが
導通制御され、それに信号S3が導入される。負荷トラ
ンジスタTLl,TL2がクロツク信号S2の印加によ
りやはり導通状態にもたらされる。その際節点Kには電
圧U3が印加され、之はこの場合なお低い。この事実に
おいてビツト線区間BL,BRは電圧UDD−UTに充
電される。ここでUTは負荷トランジスタTLl或はT
L2のしきい値電圧てある。ビツト線区間BL,BRは
図示しないトランジスタを経て、このトランジスタに信
号SO(第4図第1行)を印加することにより充電する
ことも可能である。その際ビツト線区間BR,BLを他
の電圧、例えばUDD−2UTに充電することもやはり
可能である。ビツト線区間BR,BLの充電は、別個の
トランジスタを経るか、或は(および)負荷トランジス
タTLを経て行うことができるので、第4図には信号S
2がビツト線区間の予充電の間、破線のみで示してある
。この相においてスイツチングトランジスタトI,TS
2はやはり導通状態にある。節点Kはまた殊にほぼ電圧
U3=UDD−UT−(UT+ΔUTITlaX)に充
電される。ここでΔUTmaOは節点Kに接続される全
スイツチングトランジスタへの、現われた最大のしきい
値電圧差である。予充電相は時間t1乃至T2の間続く
。この時間中節点Kが充電される。予充電相の終りすな
わち時刻T2において、予充電のための信号SO或はS
2は遮断される。
このことは負荷トランジスタTLl,TL2が閉塞状態
に移行したことを意味する。予充電に読出し準備の時間
範囲が続き、之はT2乃至T3およびT3乃至T4から
合成される。
時間範囲T2乃至T3中対称トランジスタTOになおり
ロツク信号S3が印加される。すなわちトランジスタT
Oはなお導通制御され、ビツト線区間BLおよびNRは
なお相互に接続される。さて関数発生器FGにより、殊
に予放電回路の補助により、節点K(7)電圧は第4図
の曲線経過により低下する。スイツチングトランジスタ
TSl,′YS2が導通状態にあるので、節点Kの電圧
はスイツチングトランジスタを経てビツト線区旧?L,
BRに達する。これらビツト線区間には、節点の電圧U
3+UT.ninが設定される。ここでU′ITnin
はスイツチングトランジスタTSl,TS2の低い方の
しきい値電圧である。従つてビツト線区mβR,BLに
は、スイツチングトランジスタ%のしきい値電圧に関係
する電圧が形成される。節点に接続された種々のしきい
値電圧を持つ多数のフリツプフロツプにおいて、種々の
しきい値電圧に対応して種々のビツト線の区間BR,B
Lに種々の電圧が設定される。その際スイツチングトラ
ンジスタのしきい値電圧が高い程、ビツト線の対応する
区間の電圧はそれだけ正である。従つて節点Kの電圧の
それぞれの変化は全フリツプフロツプに同じように作用
することが保証される。すなわちフリツプフロツプの転
換の時刻は、全フリツプフロツプに対して等しく、もは
や各個のスイツチングトランジスタの種々のしきい値電
圧には無関係である。予放電回路により節点Kの電圧は
、スイツチングトランジスタのしきい値電圧に関係する
値だけ変化され、之はほぼ1ボルトであると良い。T3
乃至T4の時間範囲において、クロツク信号S3が遮断
され、対称トランジスタTOは閉塞・される。
従つてビツト線区間βRおよびBLは分離される。クロ
ツク信号S3の低下の結果更に、ビット線区(支)βR
,BLの電圧が対称トランジスタTOの寄生容量により
低下することになる。之によリスイツチングトランジス
タTSは時刻T4後確・実に閉塞される。時刻T4後記
憶セルからの読出し過程が始まる。
その際時間範囲T4乃至T5において記憶セルから情報
が読出され、対応して両ビツト線区間に電圧差すなわち
読出し信号Usi,が設定される。ノ之は第4図におい
て2個の矢印により、時間範囲T4乃至T5において、
ビツト線区m?L,BRの電圧但BL,UBRで示され
る。ビツト線区間BRおよびBL上に電圧差が設定され
ることが分かる。フリツプフロツプのスイツチングトラ
ンジスタII,TS2は更に閉塞される。時刻T5にお
いて評価過程が始まる。
そのため信号S1により関数発生器FGの部分が接続さ
れ、之が節点1(を再び放電する。その際放電は第4図
の電圧U3に対して与えられた曲線に対応し)て行われ
る。すなわち節点Kの電圧はまず急速に低下する。節点
Kの電圧U3の急速な低下は、情報の読出しによる電圧
変化が制御電極に印加された、フリップフロップ下F中
のスイツチングトランジスタを導通制御するようになる
。ビツト線区間BLに存在する記憶セルが読出されると
仮定する場合、スイツチングトランジスタTSlが導通
制御される。従つてこのトランジスタを経て電流が流れ
得る(第4図にスイツチングトランジスタ′VSl或は
TS2を経る電流Jl2或はJ22を示す。時刻T6乃
至T7の間に節点Kの電圧U3は極めて緩慢に低下する
のみで、ほぼ一定のままである。
この過程は最初は緩慢に加速され、実施例においては今
まで閉塞されたスイツチングトランジスタが再び導通す
る如き仕方で行われる。図示例ではトランジスタ爲2で
ある。このことは第4図の電圧UBL,[JBR或は電
流Jl2,J22の経過によつて与えられる。しかし節
点Kの電圧U3の低下の経過は、スイツチングトランジ
スタの寸法およびビツト線区間の容量の差にも拘らず、
すなわち不満足な条件下で、フリツプフロツプは再びそ
の転換点に達し、すなわち例のスイツチングトランジス
タTS2は再び閉塞される。この状態は時刻T8で与え
られる。対応してスツチングトランジスタTS2を通る
電流は減少する。之に反しビツト線区間の電圧差は急速
に増大する。時刻T9に負荷トランジスタTLl,TL
2にクロツク信号S2が印加され、導通制御される。そ
の結果ビツト線区間BRおよびBLは0レベル或は1レ
ベルに調整される。之に反し節点Kの放電は更に促進さ
れる。節点は時刻TlOまで放電される。情報読出しに
より電圧変化が存在したビツト線区間例えばBRに1レ
ベルが設定され、之は読出された記憶セルを再生するの
に用いることができる。時刻TlOにクロツク信号S1
が遮断され、従つて関数発生器FGはフツプフロツプF
Fから分離される。
時刻Tllに読出しおよび再生過程が終了する。次に読
出し増幅回路の作用を、極めて有利である放電の曲線と
一緒に説明する。
もちろん節点Kの放電は他の仕方で、例えば前記の文献
に記載されたような形式で行うこともできる。すなわち
節点の放電により時間範囲T2乃至T3における節点K
の予放電には触れない。更にフリツプフロツプについて
読出し増幅回路の動作を説明した。節点Kに第1図のフ
リツプフロツプFFに対応して構成された多数のフリッ
プフロップ下Fを接続できることを既に述べた。このフ
リツプフロップは第1図のフリップフロップ下Fについ
て説明したのと全く同様に動作する。第2図は関数増幅
器FGの実施形を示す。
関数増幅器は時間範囲T2乃至T3において動作する予
放電回路VRと、時間範囲T5乃至TlOにおいて作用
する放電回路ESとから成る。放電回路ESにおいては
本出願人の特許出願明細書に既に記載された回路を扱つ
ている。よつてそれについては極めて簡単に触れる。予
放電回路VRは2個のトランジスタTRl,TR2から
構成され、これは互に並列に接続され、その制御される
区間が節点Kおよび固定電位VSSの間に存在する。
トランジスタTRlの制御入力には第1のロクツク信号
SlOが、トランジスタTR2の制御入力には第2のク
ロツク信号Sllが印加される。これらクロツク信号S
lO,Sllは第5図の時間範囲T2乃至T3において
現われる。トランジスタTR2は、予放電の開始に当り
放電過程を促進するため、クロツク信号Sllにより極
めて短時間に導通制御される。クロツク信号Sllと同
時に印加されるクロツク信号SlOは長く継続し、節点
Kを更に放電する。しかしトランジスタTRlおよびT
R2は異なる寸法を持つので、節点Kの放電への影響が
異なる。トランジスタTRlはTR2より小さい。すな
わちW対しの比(チヤネルの巾対長さ)は例えばトラン
ジスタTR2に対し200であり、゛m1に対し40に
選定される。従つてトランジスタTRl,TR2の”W
:Lの比の選択或はクロツク信号SlO,Sllの時間
長さにより、節点Kの予放電の程度を希望の仕方で影響
することができる。クロツク信号Sllは例えば20〜
30ナノ秒、クロツク信号SlOは40〜50ナノ秒で
あり得る。放電回路ESは時間範囲T5乃至T6におい
て節点Kを極めて急速に放電する接続と、節点Kの残り
の放電を引受ける接続とから成る。
急速な放電はトランジスタTR6,TR7および容量C
によつて行われる。トランジスタTR6の制御入力に)
は、信号CVが印加される。すなわちこのモジユールが
選択される、すなわちこのモジユールに選択信号CEが
導かれない場合に信号が印加される。信号C「が印加さ
れている間、トランジスタTR6は導通され、接続箇所
P5に節点Kの電圧に充電される。評価過程の開始に当
り、クロツク信号S1によりトランジスタTR7が導通
制御され、それに反しトランジスタTR3は閉塞される
。之により容量Cは極めて迅速に放電され、対応して節
点Kの電圧は迅速に変化される。節点Kの引続いての放
電はトランジスタTR3,TR4,TR5および遅延回
路VZl,VZ2によつて行われる。
クロツク信号S1はトランジスタTR3に直接導かれ、
之を導通状態にもたらす。従つて節点Kはトランジスタ
TR3を経て放電できる。遅延回路VZlにより決定さ
れる遅延時間の経過後、トランジスタTR4も導通され
る。之は節点Kの放電過程を促進する。遅延回路VZ2
による他の遅延時間の経過後、最後にトランジスタTR
5も導通制御される。従つて3個の全トランジスタTR
3,TR4,TR5が導通するので、時間範囲T9乃至
TlOにおける節点Kの放電は比較的迅速に行われる。
トランジスタTR3,TR4,TR5或は遅延回路VZ
l,VZ2の遅延時間の選定により放電曲線を形を確定
することができる。第3図はクロツク信号SlO,Sl
lを発生する回路を示す。
この回路はダイオードD1およびトランジスタTRlO
乃至TRl9から成る。クロツク信号Sll,SlOは
モジユール選択信号CEにより開始される。回路はクロ
ツク信号SlO,Sllがまずモジユール選択信号CE
に続くように動作し、よつてモジユール選択信号CEの
振幅よりも小さい振幅をとるようにされる。モジユール
選択信号CEが印加せず、それに反ば『が印加する間、
トランジスタTRl3は導通制御され、接続点PlOが
充電され得る。ぞの結果トランジスタTRll,TRl
5は導通制御される。之に反しトランジスタTRl8,
TRl2は閉塞される。しかしトランジスタTRl9,
TRllにモジユール選択信号CEがなお印加されず、
すなわちその点の電位が零なので、信号SlO,Sll
の電位も零である。さてモジユール選択信号CEが印加
された場合、まずクロツク信号Sll,SlOが信号C
Eに直接続く。しかし選択信号CEにより同時にトラン
ジスタTRlOが導通制御されるので、接続点PlOは
放電する。その結果或る時間後トランジスタTRl5は
閉塞され、それに反対にトランジスタTRl4は導通制
御され、トランジスタTRl6も導通状態になる。従つ
てトランジスタTRl8は導通し、之に反しトランジス
タTRl9は閉塞される。従つてクロツク信号Sllは
再び初期値に戻る。之に反しトランジスタTRllは導
通のままである。しかし之によりクノロツク信号SlO
の振幅は制限される。信号百了が時刻T3にトランジス
タTRl2に印加されたときに始めて、之は開放され、
クロツク信号SlOは初期状態に戻る。選択信号CEお
よびクロツク信号SlO,Sllの関係は第5図から分
かる。
ここでクロツク信号SlO,Sllはまずモジユール還
択信号CEに直接続き、しかし回路の設計により与えら
れる時間後、選択信号CEの上昇にもはや伴わない。更
にクロツク信号SllがSlOよりも早く消滅”するこ
とが示される。この発明の関数発生器の利点は、本来の
放電の前の節点Kの予放電回路の補助により、読出し信
号の評価時間中に予放電され、従つてフリツプフロツプ
のスイツチングトランジスタの種々の限界電圧が評価時
間に影響することを除去する点にある。
【図面の簡単な説明】
第1図はフリツプフロツプおよび関数発生器を持つ読出
し増幅回路、第2図は予放電回路を持つ関数発生器の実
施例、第3図は予放電回路に対するクロツク信号発生の
ための回路、第4図は第1図の読出し増幅回蕗の作用を
説明する信号ダイヤグラム、第5図は予放電回路に導入
されるクロツク信号のダイヤグラムを示す。 BL,BR・・・ビツト線部分区間、CE・・・モジユ
ール選択信号、び・・・相補モジユール選択信号、ES
・・・放電回路、FF・・・フリツプフロツプ、FG・
・・関数発生器、K・・・節点、TLl,TL2・・・
負荷トランジスタ、TSl,TS2・・・スイツチング
トランジスタ、VR・・・予放電回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 MOS記憶器から供給された読出し信号を増幅する
    ためにそれぞれ1個の負荷トランジスタとしてのMOS
    トランジスタと1個のスイッチングトランジスタとして
    のMOSトランジスタとから成つておりそれぞれ負荷ト
    ランジスタとスイッチングトランジスタとの間の接続点
    でMOS記憶器の1つのビット線のそれぞれ1つの部分
    区間と接続されているフリップフロップのそれぞれ2個
    の交差結合された分岐のスイッチングトランジスタのソ
    ース電極により形成される1つの節点に、この節点が読
    出し過程のサイクル開始の際に充電されるように、また
    ビット線上の読出し信号の評価のためにフリップフロッ
    プをビット線上の読出し信号により定められる状態に反
    転させるべく放電されるようにする電圧経過を生じさせ
    るための関数発生器において、節点の充電と放電との間
    の時間(t2〜t3)中に節点を予放電する1個の予放
    電回路VRが設けられており、この予放電の結果として
    、節点に接続されているフリップフロップのスイッチン
    グトランジスタTS1,TS2が導通状態に切換られて
    いる状態のもとに、フリップフロップのスイッチングト
    ランジスタのしきい値電圧を節点における電圧から差し
    引いた電圧がビット線の部分区間に現れることを特徴と
    する関数発生器。 2 予放電回路VRは第1のクロック信号S10により
    制御される第1のトランジスタTR1と、第1のトラン
    ジスタに並列に接続され第2のクロック信号S11によ
    り制御される第2のトランジスタTR2から成り、また
    両トランジスタTR1,TR2の寸法およびクロック信
    号S10,S11の形が予放電の間に節点Kにおける電
    圧の経過を所望の電圧経過とするように選定されている
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の関数発生
    器。 3 第1および第2のクロック信号S10およびS11
    は、最初はモジュール選択信号CEの立ち上がり縁に沿
    つて立ち上がり、途中からモジュール選択信号の振幅よ
    りも小さい振幅に制限されるように、モジュール選択信
    号CEから導き出されることを特徴とする特許請求の範
    囲第2項記載の関数発生器。 4 第2のトランジスタTR2の寸法が第1のトランジ
    スタTR1の寸法より大きく選定されており、また第2
    のクロック信号S11の継続時間が第1のクロック信号
    S10の継続時間よりも短く選定されていることを特徴
    とする特許請求の範囲第3項記載の関数発生器。 5 予放電回路が、1つのスイツチングトランジスタT
    R14およびモジュール選択信号CEに対して相補性の
    信号CEにより制御される1つの負荷トランジスタTR
    13から成る第1の分岐と1つのスイツチグトランジス
    タTR15およびモジュール選択信号CEにより制御さ
    れる1つの負荷トランジスタTR16から成り第1の分
    岐と交差結合された第2の分岐とを有する1つのフリッ
    プフロップと、このフリップフロップの第1の出力端p
    17に接続されておりモジュール選択信号CEにより制
    御される1つのトランジスタTR10および1つのダイ
    オードD1から成る第1の直列回路と、制御入力端でフ
    リップフロップの第1の出力端と接続されており且つ被
    制御電流路の一方の電極にモジュール選択信号CEを与
    えられている1つのトランジスタTR11およびクロッ
    ク信号S3により制御される第2のトランジスタTR1
    2から成る第2の直列回路と、制御入力端でフリップフ
    ロップの第1の出力端と接続されており且つ被制御電流
    路の一方の電極にモジュール選択信号CEを与えられて
    いる1つのトランジタTR19および制御入力端でフリ
    ップフロップの第2の出力端と接続されている第2のト
    ランジスタTR18から成る第3の直列回路とから成つ
    ており、第2の直列回路のトランジスタTR11,TR
    12の接続点から第1のクロック信号S10が、また第
    3の直列回路のトランジスタTR18,TR19の第2
    のクロック信号S11が取り出されることを特徴とする
    特許請求の範囲第4項記載の関数発生器。
JP52081905A 1976-07-08 1977-07-08 Mos記憶器に対する関数発生器 Expired JPS6044749B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2630797A DE2630797C2 (de) 1976-07-08 1976-07-08 Funktionsgenerator zur Erzeugung einer Spannung an einem Knoten, an den den Bitleitungen eines MOS-Speichers zugeordnete Flip-Flops aus MOS-Transistoren angeschlossen sind
DE2630797.1 1976-07-08

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Publication Number Publication Date
JPS537141A JPS537141A (en) 1978-01-23
JPS6044749B2 true JPS6044749B2 (ja) 1985-10-05

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ID=5982530

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JP52081905A Expired JPS6044749B2 (ja) 1976-07-08 1977-07-08 Mos記憶器に対する関数発生器

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JP (1) JPS6044749B2 (ja)
DE (1) DE2630797C2 (ja)
FR (1) FR2357980A1 (ja)
GB (1) GB1587130A (ja)

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Publication number Publication date
US4119871A (en) 1978-10-10
FR2357980B1 (ja) 1984-08-10
GB1587130A (en) 1981-04-01
DE2630797B1 (de) 1977-12-15
JPS537141A (en) 1978-01-23
DE2630797C2 (de) 1978-08-10
FR2357980A1 (fr) 1978-02-03

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