JPS6045825B2 - 化学分析装置用サンプラ− - Google Patents
化学分析装置用サンプラ−Info
- Publication number
- JPS6045825B2 JPS6045825B2 JP1045979A JP1045979A JPS6045825B2 JP S6045825 B2 JPS6045825 B2 JP S6045825B2 JP 1045979 A JP1045979 A JP 1045979A JP 1045979 A JP1045979 A JP 1045979A JP S6045825 B2 JPS6045825 B2 JP S6045825B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sampler
- sample
- cover
- sample tray
- chemical analyzer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は化学分析装置用サンプラ−に係り、特に、被検
液を入れた多数の容器を配列移送するサンプラ−のカバ
ーの構造に関する。
液を入れた多数の容器を配列移送するサンプラ−のカバ
ーの構造に関する。
例えば人血清のような生化学的な試料は量的に制限され
ることが多く、普通は小さな試験管状の容器に50〜1
00μl入れられる。
ることが多く、普通は小さな試験管状の容器に50〜1
00μl入れられる。
このサンプルカップは例えばその側面を回動自在に多数
連結されていわゆるスネークチエンを形成し、偏平な箱
状のサンプルトレーに収容装置される。上記のように多
数の試験容器の列を収容する室をサンプラ−と称してい
る。上記サンプラ−の所定の場所で順次に希釈液等がサ
ンプルカップに注入されるのであるが、一般には塵埃が
試料に入らない為に簡単な防塵カバーが取りつけられて
いた。
連結されていわゆるスネークチエンを形成し、偏平な箱
状のサンプルトレーに収容装置される。上記のように多
数の試験容器の列を収容する室をサンプラ−と称してい
る。上記サンプラ−の所定の場所で順次に希釈液等がサ
ンプルカップに注入されるのであるが、一般には塵埃が
試料に入らない為に簡単な防塵カバーが取りつけられて
いた。
しかしこれらのカバーでは外気温や風の影響により、サ
ンプルカップ内の被検試料が蒸発しやすく、特に、血清
量が非常に少量のとき、又は血清検体数が多く前後の測
定時間幅が大きいときは、検体は長時間放置され、濃縮
したり腐敗するため、測定精度か低下し、あるいは測定
不能になつて信頼性が低下する問題があつた。第1図は
従来試みられていたサンプラ−の構造を示す斜視図であ
り、第2図はその右側面図である。
ンプルカップ内の被検試料が蒸発しやすく、特に、血清
量が非常に少量のとき、又は血清検体数が多く前後の測
定時間幅が大きいときは、検体は長時間放置され、濃縮
したり腐敗するため、測定精度か低下し、あるいは測定
不能になつて信頼性が低下する問題があつた。第1図は
従来試みられていたサンプラ−の構造を示す斜視図であ
り、第2図はその右側面図である。
サンプルトレー2はケース5の上に置かれており、それ
にスネークチエン4はガイド機構部3の送り金具によつ
て1駒づつ矢印方向に送られるが、そのガイド機構部3
まではカバー1が及んでいない、この場合は塵埃の混入
や血清の蒸発が或程度減少させることができるが、外気
温の変化や風などの影響で、塵埃の混入や血清の蒸発が
さけ・られず、特に測定時間幅の大きいときなどは、サ
ンプルの腐敗や変成の為、不安定な状態にありサンプル
トレー2に試料を放置できない等不具合な点があつた。
本発明の目的は、試料の蒸発や塵埃の混入を減・少する
ばかりでなく、サンプルの腐敗および変成の少ない、長
時間安定なサンプラ−を提供するにある。
にスネークチエン4はガイド機構部3の送り金具によつ
て1駒づつ矢印方向に送られるが、そのガイド機構部3
まではカバー1が及んでいない、この場合は塵埃の混入
や血清の蒸発が或程度減少させることができるが、外気
温の変化や風などの影響で、塵埃の混入や血清の蒸発が
さけ・られず、特に測定時間幅の大きいときなどは、サ
ンプルの腐敗や変成の為、不安定な状態にありサンプル
トレー2に試料を放置できない等不具合な点があつた。
本発明の目的は、試料の蒸発や塵埃の混入を減・少する
ばかりでなく、サンプルの腐敗および変成の少ない、長
時間安定なサンプラ−を提供するにある。
本発明は、サンプルトレーの大部分を覆うことができる
カバーを二重構造とし、その中空部分で断熱効果をもた
せ、外気の影響をなくしたものである。
カバーを二重構造とし、その中空部分で断熱効果をもた
せ、外気の影響をなくしたものである。
更にこの中空部分に流体を導入循環できるノズルを設け
、ここより冷風または冷水を導入することによりサンプ
ルの冷却を行い長時間安定なサンプルの供給を容易にし
た。第3図は本発明の一実施例であるサンプラーの斜視
図であり、第4図は第3図の右側図面でカバー1の断面
を示す。
、ここより冷風または冷水を導入することによりサンプ
ルの冷却を行い長時間安定なサンプルの供給を容易にし
た。第3図は本発明の一実施例であるサンプラーの斜視
図であり、第4図は第3図の右側図面でカバー1の断面
を示す。
カバー1は内部の状態がわかるように透明な例えばアク
リル樹脂板で作られている。
リル樹脂板で作られている。
またカバー1は浅い箱状でその後中央部分はサンプリン
グ機構(試薬をサンプルカップに注入する装置で此の図
には示されていない)が入り込むための切欠部6が設け
られているが、この部分にはコの字形の隔壁7を内側に
接着している。そして更に内カバーにて一面をおおい外
カバーと一体となり中空部分を形成している。この中空
部分は真空状態、あるいは冷風が導入循環できるように
ノズル8がつけてある。このようなりバー1でサンプル
トレ−ー2を覆つているのでガイド機構部3の小部分を
除いてサンプルトレーの内側に外気が流通することをほ
ぼ防ぐことができ、外気の影響は中空部分の真空により
遮断することができる。またこの中空部分にノズル8よ
り冷風を導入循環することによ5り、サンプルの蒸発を
おさえるとともに、サンプルを冷却保存し、腐敗等を防
ぐとともに長時間放置にも安定した使用が可能となる。
なおりバー1の内カバーはサンプルカップの上縁に僅か
の隙間しか生じないよにしてある。本実施例のサンプラ
ーは、試料をサンプラーにセットした後長時間放置して
おいても、試料の蒸発や塵埃の混入も少なく腐敗のおそ
れの少ない、外気の影響に対して常に安定した状態を確
保できるという効果がある。
グ機構(試薬をサンプルカップに注入する装置で此の図
には示されていない)が入り込むための切欠部6が設け
られているが、この部分にはコの字形の隔壁7を内側に
接着している。そして更に内カバーにて一面をおおい外
カバーと一体となり中空部分を形成している。この中空
部分は真空状態、あるいは冷風が導入循環できるように
ノズル8がつけてある。このようなりバー1でサンプル
トレ−ー2を覆つているのでガイド機構部3の小部分を
除いてサンプルトレーの内側に外気が流通することをほ
ぼ防ぐことができ、外気の影響は中空部分の真空により
遮断することができる。またこの中空部分にノズル8よ
り冷風を導入循環することによ5り、サンプルの蒸発を
おさえるとともに、サンプルを冷却保存し、腐敗等を防
ぐとともに長時間放置にも安定した使用が可能となる。
なおりバー1の内カバーはサンプルカップの上縁に僅か
の隙間しか生じないよにしてある。本実施例のサンプラ
ーは、試料をサンプラーにセットした後長時間放置して
おいても、試料の蒸発や塵埃の混入も少なく腐敗のおそ
れの少ない、外気の影響に対して常に安定した状態を確
保できるという効果がある。
この実施例によれば次のような効果がもたらされる。
(1)カバーがサンプラーのほとんど全面を覆つており
、外気と断熱効果があるので試料の蒸発が少なく高精度
の測定が可能である。
、外気と断熱効果があるので試料の蒸発が少なく高精度
の測定が可能である。
(2)カバー内に冷風を通すことにより、その冷風の影
響を受けることなくサンプルを冷却することができ、蒸
発をおさえかつ、サンプルの腐敗を防止でき長時間の安
定した高精度の測定が可能である。
響を受けることなくサンプルを冷却することができ、蒸
発をおさえかつ、サンプルの腐敗を防止でき長時間の安
定した高精度の測定が可能である。
(3)カバーによつて試料に塵埃が混入することを防止
できるため、光学的に吸光度を測定する方式の楊合は塵
埃によるノイズの発生が防げる。
できるため、光学的に吸光度を測定する方式の楊合は塵
埃によるノイズの発生が防げる。
(4)カバーに冷風を通すことにより、冷えた空気が下
におりるのて冷却効果が非常に大きくそのままサンプラ
ー上で試料の保存コントロールが可能で取扱いが容易で
ルーチン検査の能率が向上できる。上記実施例は人血清
等の生体試料を例にして説明したが、この装置は一般の
化学分析で同類の多数試料を分析する場合にも使用でき
ることは勿論である。
におりるのて冷却効果が非常に大きくそのままサンプラ
ー上で試料の保存コントロールが可能で取扱いが容易で
ルーチン検査の能率が向上できる。上記実施例は人血清
等の生体試料を例にして説明したが、この装置は一般の
化学分析で同類の多数試料を分析する場合にも使用でき
ることは勿論である。
以上本発明は、試料の蒸発変質や塵埃の混入、試料の腐
敗変質を防止でき、かつ操作しやすい化学自動分析装置
のサンプラーを構成するので顕著な効果をもつている。
敗変質を防止でき、かつ操作しやすい化学自動分析装置
のサンプラーを構成するので顕著な効果をもつている。
図面の簡単な説明第1図は従来試みられているサンプラ
ーの構造を示す斜視図、第2図は第1図のサンプラーの
右側面図、第3図は本発明の一実施例であるサンプラー
の斜視図、第4図は第3図の右側面図である。
ーの構造を示す斜視図、第2図は第1図のサンプラーの
右側面図、第3図は本発明の一実施例であるサンプラー
の斜視図、第4図は第3図の右側面図である。
1・・・・・・カバー、2・・・・・・サンプルトレー
、3・・・ガイド機構。
、3・・・ガイド機構。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被検液体試料を収容した複数の試料容器が載置され
るサンプルトレーと、このサンプルトレーに設けられた
試料容器移送機構と、上記サンプルトレーの試薬導入場
所を除く上面の大部分を覆うカバーとを備えた化学分析
装置用サンプラーにおいて、上記カバーを二重構造とな
して断熱用中空部を形成せしめたことを特徴とする化学
分析装置用サンプラー。 2 特許請求の範囲第1項において、上記中空部内を減
圧状態にしたことを特徴とする化学分析装置用サンプラ
ー。 3 特許請求の範囲第1項において、上記中空部内に冷
却用流体を導入せしめるように構成したことを特徴とす
る化学分析装置用サンプラー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1045979A JPS6045825B2 (ja) | 1979-02-02 | 1979-02-02 | 化学分析装置用サンプラ− |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1045979A JPS6045825B2 (ja) | 1979-02-02 | 1979-02-02 | 化学分析装置用サンプラ− |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55103464A JPS55103464A (en) | 1980-08-07 |
| JPS6045825B2 true JPS6045825B2 (ja) | 1985-10-12 |
Family
ID=11750715
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1045979A Expired JPS6045825B2 (ja) | 1979-02-02 | 1979-02-02 | 化学分析装置用サンプラ− |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6045825B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS626534Y2 (ja) * | 1979-06-08 | 1987-02-14 | ||
| JPS5741164U (ja) * | 1980-08-22 | 1982-03-05 | ||
| JPS58154662A (ja) * | 1982-03-10 | 1983-09-14 | Hitachi Ltd | 前処理機能を備えた自動分析装置 |
-
1979
- 1979-02-02 JP JP1045979A patent/JPS6045825B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55103464A (en) | 1980-08-07 |
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