JPS6046401A - 表面酸化膜厚測定法 - Google Patents
表面酸化膜厚測定法Info
- Publication number
- JPS6046401A JPS6046401A JP15321383A JP15321383A JPS6046401A JP S6046401 A JPS6046401 A JP S6046401A JP 15321383 A JP15321383 A JP 15321383A JP 15321383 A JP15321383 A JP 15321383A JP S6046401 A JPS6046401 A JP S6046401A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxide film
- probe
- film thickness
- measured
- surface oxide
- Prior art date
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- Pending
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は原子力発電において使用されている燃料集合体
の構成部品１％に、燃料棒および燃料チャンネルボック
スの表面酸化膜厚測定法に関するものである。
の構成部品１％に、燃料棒および燃料チャンネルボック
スの表面酸化膜厚測定法に関するものである。
原子力発電所に使用される第１図に示す燃料集合体は炉
心内で長期間中性子照射され、同時に高温高圧の水蒸気
雰囲気で運転されるため、酸化の促進によシ表面に腐食
の進行がみられる。この酸化膜は燃料集合体の性能や寿
命に大きく影響を与えるための表面酸化膜厚の測定が行
なわねるが、非破壊検査法として、渦電流を利用した表
面酸化膜厚測定法が適用されている。第２図にその測定
原理を示す。高周波電源１２を用いて高周波を発振させ
、母金属１・６に磁場を形成させると、母金属１６内で
は渦電流が誘導される。この渦電流によシ逆に電気的磁
場がつくｐだされるが、表面酸化膜１７の厚みによシ磁
場が変化し、コイルインピーダンスを変化させるのでこ
のインピーダンスを測定することにより、酸化膜１７の
厚みをめることができる。この場合、初めに、酸化膜の
形成されていない被測定部品と同質の試料を測定した時
のインピーダンスをめ、この測定値を零点とする零点調
整法が用いられている。しかし、この方法では、第３図
に示すように原子炉建屋内偵用済燃料貯蔵プール１９内
で燃料集合体の表面酸化膜厚測定を実施する場合に、使
用済燃料貯蔵プール１９内の温度等の測定条件が零点調
整時と異なったり変動したシすると、条件の差異によシ
零点が変動することになる。条件の差異による零点変動
の一例として、第４図に水温によるドリフトを示す。こ
のように、従来の表面酸化膜厚測定法゛においては、測
定条件が変動した場合に測定誤差が生じ、測定精度が低
下することになる。 ゛〔発明の目的〕 本発明は、燃料集合体の構成部品の表面酸化膜厚測定法
において測定条件の変動による測定誤差をなくシ、測定
精度を向上させることを目的とするものである。
心内で長期間中性子照射され、同時に高温高圧の水蒸気
雰囲気で運転されるため、酸化の促進によシ表面に腐食
の進行がみられる。この酸化膜は燃料集合体の性能や寿
命に大きく影響を与えるための表面酸化膜厚の測定が行
なわねるが、非破壊検査法として、渦電流を利用した表
面酸化膜厚測定法が適用されている。第２図にその測定
原理を示す。高周波電源１２を用いて高周波を発振させ
、母金属１・６に磁場を形成させると、母金属１６内で
は渦電流が誘導される。この渦電流によシ逆に電気的磁
場がつくｐだされるが、表面酸化膜１７の厚みによシ磁
場が変化し、コイルインピーダンスを変化させるのでこ
のインピーダンスを測定することにより、酸化膜１７の
厚みをめることができる。この場合、初めに、酸化膜の
形成されていない被測定部品と同質の試料を測定した時
のインピーダンスをめ、この測定値を零点とする零点調
整法が用いられている。しかし、この方法では、第３図
に示すように原子炉建屋内偵用済燃料貯蔵プール１９内
で燃料集合体の表面酸化膜厚測定を実施する場合に、使
用済燃料貯蔵プール１９内の温度等の測定条件が零点調
整時と異なったり変動したシすると、条件の差異によシ
零点が変動することになる。条件の差異による零点変動
の一例として、第４図に水温によるドリフトを示す。こ
のように、従来の表面酸化膜厚測定法゛においては、測
定条件が変動した場合に測定誤差が生じ、測定精度が低
下することになる。 ゛〔発明の目的〕 本発明は、燃料集合体の構成部品の表面酸化膜厚測定法
において測定条件の変動による測定誤差をなくシ、測定
精度を向上させることを目的とするものである。
〔発明の概要〕
本発明の特徴は、燃料集合体の構成部品の表面酸化膜厚
測定時に、零点変動検出を目的とした零点調整器を被測
定物と同一条件中におき、被測定物の酸化膜厚測定値を
補正することによシ、精度のよい表面酸化膜厚測定を行
なうことにある。
測定時に、零点変動検出を目的とした零点調整器を被測
定物と同一条件中におき、被測定物の酸化膜厚測定値を
補正することによシ、精度のよい表面酸化膜厚測定を行
なうことにある。
本発明の一実施例として燃料集合体の燃料チャンネルボ
ックス１の表面酸化膜厚法を第５図を用いて説明する。
ックス１の表面酸化膜厚法を第５図を用いて説明する。
表面酸化膜厚測定装置は渦電流探傷器１１％記録計１８
．測定ヘッド２２、零点調整器２４よシ構成される。測
定ヘッド２２内には測定用プローブ２３が設けられてお
り、一定圧で燃料チャンネルボックス１表面に押し付け
られる機構となっている。零点調整器２４はプローブ２
５と燃料チャンネルボックス１と同じジルカロイ材の試
料２６よシ構成され、プローブ２５が試料２６に一定圧
で押し付けられている。測定ヘッド２２と零点調整器２
４は一体に連結された構造となっており、常に同一測定
条件中に置かれることになる。零点調整器２４内のプロ
ーブ２５によシ測定されるインピーダンスと燃料チャン
ネルボックス１に押し付けられた測定ヘッドｚｚ内のプ
ローブ２３によシ測定されるインピーダンスの差を表面
酸化膜によるインピーダンスの差とし、表面酸化膜厚を
める。
．測定ヘッド２２、零点調整器２４よシ構成される。測
定ヘッド２２内には測定用プローブ２３が設けられてお
り、一定圧で燃料チャンネルボックス１表面に押し付け
られる機構となっている。零点調整器２４はプローブ２
５と燃料チャンネルボックス１と同じジルカロイ材の試
料２６よシ構成され、プローブ２５が試料２６に一定圧
で押し付けられている。測定ヘッド２２と零点調整器２
４は一体に連結された構造となっており、常に同一測定
条件中に置かれることになる。零点調整器２４内のプロ
ーブ２５によシ測定されるインピーダンスと燃料チャン
ネルボックス１に押し付けられた測定ヘッドｚｚ内のプ
ローブ２３によシ測定されるインピーダンスの差を表面
酸化膜によるインピーダンスの差とし、表面酸化膜厚を
める。
本発明によれば燃料チャンネルボックスの表面酸化膜厚
測定時の温度等の測定条件が変動しても、零点調整器に
よシ零点の変動を常時補正することができるので、表面
酸化膜厚測定の精度を向上させることができる。
測定時の温度等の測定条件が変動しても、零点調整器に
よシ零点の変動を常時補正することができるので、表面
酸化膜厚測定の精度を向上させることができる。
第１図は燃料集合体の構造図、第２図は表面酸化膜厚測
定法の原理図、第３図は従来の表面酸化膜厚測定装置の
構成図、第４図は測定条件の変動による誤差発生の一例
を示した水温とドリフトの関係図、゛第５図は本発明の
好適な一実施例である表面酸化膜厚測定装置の構成図で
ある。 １・・・燃料チャンネルボックス、２・・・燃料棒、１
１・・・渦電流探傷器、１２・・・高周波電源、１３・
・・表示信号、１４・・・コイル＆ １５・・・プロー
ブ％ １６・・・母金属、１７・・・酸化膜、１８・・
・記録計％１９・・・使用済燃料貯蔵プール、２２・・
・測定ヘッド、２３・・・プローブ、２４・・・零点調
整器、２５・・・プローブ、＄１図 第２ 目 早３ 目 ／／ 第４ 目
定法の原理図、第３図は従来の表面酸化膜厚測定装置の
構成図、第４図は測定条件の変動による誤差発生の一例
を示した水温とドリフトの関係図、゛第５図は本発明の
好適な一実施例である表面酸化膜厚測定装置の構成図で
ある。 １・・・燃料チャンネルボックス、２・・・燃料棒、１
１・・・渦電流探傷器、１２・・・高周波電源、１３・
・・表示信号、１４・・・コイル＆ １５・・・プロー
ブ％ １６・・・母金属、１７・・・酸化膜、１８・・
・記録計％１９・・・使用済燃料貯蔵プール、２２・・
・測定ヘッド、２３・・・プローブ、２４・・・零点調
整器、２５・・・プローブ、＄１図 第２ 目 早３ 目 ／／ 第４ 目
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、燃料集合体の構成部品の表面酸化膜厚をプローブを
用いて測定する渦電流探傷器において、被測定部品に押
し当てるプローブと共に、酸化膜の形成されていない被
測定部品と同質の試料に押し当てたプローブを酸化膜測
定対象部と同−条件中におき、このプローブを用いて酸
化膜測定環境条件の変化にともなう零点の変動を検出し
、被測定部の酸化膜厚測定値を補正することによυ酸化
膜厚測定精度を向上させることを特徴とする表面酸化膜
厚測定法。 ２、特許請求の範囲第１項において、被測定部に押し当
てるプローブと、酸化膜厚の形成されていない被測定部
品と同質の試料に押し当てるプローブを同一測定ヘッド
内に設置することを特徴とする表面酸化膜厚測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15321383A JPS6046401A (ja) | 1983-08-24 | 1983-08-24 | 表面酸化膜厚測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15321383A JPS6046401A (ja) | 1983-08-24 | 1983-08-24 | 表面酸化膜厚測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6046401A true JPS6046401A (ja) | 1985-03-13 |
Family
ID=15557516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15321383A Pending JPS6046401A (ja) | 1983-08-24 | 1983-08-24 | 表面酸化膜厚測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6046401A (ja) |
-
1983
- 1983-08-24 JP JP15321383A patent/JPS6046401A/ja active Pending
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