JPS6048062B2 - バブルメモリの試験方法 - Google Patents
バブルメモリの試験方法Info
- Publication number
- JPS6048062B2 JPS6048062B2 JP15021977A JP15021977A JPS6048062B2 JP S6048062 B2 JPS6048062 B2 JP S6048062B2 JP 15021977 A JP15021977 A JP 15021977A JP 15021977 A JP15021977 A JP 15021977A JP S6048062 B2 JPS6048062 B2 JP S6048062B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- loop
- bubble
- information
- minor
- loops
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、メジヤーマイナーループ方式のバブルメモリ
の不良ループを発見するバブルメモリ試験方法に関する
。
の不良ループを発見するバブルメモリ試験方法に関する
。
バブルメモリにはシングルループ方式とメジヤーマイナ
ー方式とがあり、後者は多数のマイナーループのうちの
一部が不良であつてもその不良ループを除いて使用する
ということができて歩留りが高いので大容量メモリに適
する。
ー方式とがあり、後者は多数のマイナーループのうちの
一部が不良であつてもその不良ループを除いて使用する
ということができて歩留りが高いので大容量メモリに適
する。
ところでか）るメジヤーマイナーループ方式のバブルメ
モリの製作段階では当然ながら不良ループの発見という
工程が入るが、これは甚だ厄介な作業である。即ち従来
は多数（ｎ個例えば１００〜３０噌）あるマイナールー
プの１つに情報を書込み、つまりバブルを入力し、これ
を読み出してバブル有無をチェックし、有ればそのま）
であるが無ければこれを欠陥ループとして記録し、同様
操作をｎ番のループまで繰り返すという方式をとつてい
たが手操作では長時間を要し、計算機制御の場合には複
雑なソフトウェアが必要であつた。しかもマイナールー
プの欠陥にはバブルが消去、散逸する消滅モードの欠陥
と、バブルが自然に増えてしまう発生モーフドの欠陥と
があり、前者は単にバブルを書込み、それが読出せたか
の上記チェックをするだけで検知できるが、後者はこれ
では検知できす、例えばあるパターンを持つ複数個のバ
ブルを書込み、読出したバブル群のパターンが書込んだ
バブル群の５パターン通りかなどの複雑なチェックをす
る必要があり、益々検査に時間を要する。本発明はか）
る点を改善し、単に２回等の少数回の書込み読出しを行
なうだけで多数のマイナーループの良否検査を行なうこ
とができる検査方法を提供しようとするものである。
モリの製作段階では当然ながら不良ループの発見という
工程が入るが、これは甚だ厄介な作業である。即ち従来
は多数（ｎ個例えば１００〜３０噌）あるマイナールー
プの１つに情報を書込み、つまりバブルを入力し、これ
を読み出してバブル有無をチェックし、有ればそのま）
であるが無ければこれを欠陥ループとして記録し、同様
操作をｎ番のループまで繰り返すという方式をとつてい
たが手操作では長時間を要し、計算機制御の場合には複
雑なソフトウェアが必要であつた。しかもマイナールー
プの欠陥にはバブルが消去、散逸する消滅モードの欠陥
と、バブルが自然に増えてしまう発生モーフドの欠陥と
があり、前者は単にバブルを書込み、それが読出せたか
の上記チェックをするだけで検知できるが、後者はこれ
では検知できす、例えばあるパターンを持つ複数個のバ
ブルを書込み、読出したバブル群のパターンが書込んだ
バブル群の５パターン通りかなどの複雑なチェックをす
る必要があり、益々検査に時間を要する。本発明はか）
る点を改善し、単に２回等の少数回の書込み読出しを行
なうだけで多数のマイナーループの良否検査を行なうこ
とができる検査方法を提供しようとするものである。
本発明はメジヤーマイナーループ式のバブルメモリの不
良マイナーループを検出する試験方法において、隣接し
て配置されたマイナーループを奇数番群と偶数番群に分
け、先ず一方の群に゛１゛情報のみのバブルを書込んだ
後、該゜゜１゛情報のバブルのみを読出して“０゛情報
が検出されたマイナーループを消滅モードの不良ループ
として特定すると共に、前記書込バブル近傍のビット位
置を読出して“゜１゛情報が検出されたマイナーループ
を発生モードの不良ループとして特定し、次に他方の群
に゜゜１゛情報のみのバブルを書込んだ後該゜゜１゛情
報のバブルのみを読出して゜゜０゛情報が検出されたマ
イナーループを消滅モードの不良ループとして特定する
と共に、前記書込バブル近傍のビット位置を読出して゜
“１゛情報が検出されたマイナーループを発生モードの
不良ループとして特定し、かつ、奇数番群を書込み読出
した際に“１゛情報が検出された偶数番群のマイナール
ープと、偶数番群を書込み読出した際に“゜１゛情報が
検出された奇数番群のマイナーループとを隣接ループの
影響を受けたループとして特定することを特徴とするが
、次に図面を参照しながらこれを詳細に説明する。第１
図ａは従来のマイナーループ試験方法を説明する図で、
１０，１１，１２，１３はバブルメモリのマイナールー
プ、２０はメジャーループ、２１はメジャーループに挿
入されたバブル発生器、２２はメジャーループから引出
されたバブル．伝播路の端に設けられたバブル検出器、
２３は各マイナーループとメジャーループとの間に設け
られるトランスファゲートである。バブル発生器２１に
より第２図ａに示すようにバブルを発生させ（書込み情
報ＷＩ）、メジャーループ２０を通して５送り、トラン
スファゲートを開けてこれをマイナーループ１０へ書込
み、一周以上させたのち再びトランスファゲートを開け
てメジャーループへ取り込み、バブル検出器２２で検出
する。この結果マイナーループ１０に対応する位置にバ
ブルが検ク出（読出し情報ＲＩ）されたら、該ループ１
０が正常であるとする。これに対して第１図ｂに示す如
くマイナーループ１１では欠陥部ｄ１があり、こ）を通
るときバブルは消滅してしまうとすると、第２図ｂに示
すように該ループ１１へバブルを書込んでもＲＩ＝０つ
まりバブルが検出されない。従つて消滅欠陥のみなら、
バブル発生器２１でバブルを次々と発生し（マイナール
ープ１０，１１，・・の間隔に対応するメジャーループ
のビット数毎に）、各バブルが各マイナーループ位置に
来たときトランスファゲート２３を開けて各バブルを一
斉にそれぞれのマイナーループへ書込み、一周以上させ
たのちトランスファゲート２３を開）けて（開閉は１ビ
ット以内の期間だけ）各バブルをメジャーループへ読出
し、バブル検出器２２で検出して第２図ｃの読出し情報
ＲＩ群を得れは、情報が欠落した部分に対応するマイナ
ーループ１１が不良で、他は正常とすることができる。
しかしながら上記説明から容易に類推できるように、バ
ブルが１つ入力しただけで該マイナーループに複数個の
バブルが有るようになつてしまう、或いは隣接マイナー
ループにバブルが移つて該隣接マイナーループのバブル
が複数個になつてしまうという発生モードの欠陥は、こ
れでは発見できず、複雑な試験方法が必要となる。本発
明はか）る点を改善するものであつて、第３図ａに示す
ように先ずバブルＢ１を偶数グループ１０，１２に各１
個書込む。
良マイナーループを検出する試験方法において、隣接し
て配置されたマイナーループを奇数番群と偶数番群に分
け、先ず一方の群に゛１゛情報のみのバブルを書込んだ
後、該゜゜１゛情報のバブルのみを読出して“０゛情報
が検出されたマイナーループを消滅モードの不良ループ
として特定すると共に、前記書込バブル近傍のビット位
置を読出して“゜１゛情報が検出されたマイナーループ
を発生モードの不良ループとして特定し、次に他方の群
に゜゜１゛情報のみのバブルを書込んだ後該゜゜１゛情
報のバブルのみを読出して゜゜０゛情報が検出されたマ
イナーループを消滅モードの不良ループとして特定する
と共に、前記書込バブル近傍のビット位置を読出して゜
“１゛情報が検出されたマイナーループを発生モードの
不良ループとして特定し、かつ、奇数番群を書込み読出
した際に“１゛情報が検出された偶数番群のマイナール
ープと、偶数番群を書込み読出した際に“゜１゛情報が
検出された奇数番群のマイナーループとを隣接ループの
影響を受けたループとして特定することを特徴とするが
、次に図面を参照しながらこれを詳細に説明する。第１
図ａは従来のマイナーループ試験方法を説明する図で、
１０，１１，１２，１３はバブルメモリのマイナールー
プ、２０はメジャーループ、２１はメジャーループに挿
入されたバブル発生器、２２はメジャーループから引出
されたバブル．伝播路の端に設けられたバブル検出器、
２３は各マイナーループとメジャーループとの間に設け
られるトランスファゲートである。バブル発生器２１に
より第２図ａに示すようにバブルを発生させ（書込み情
報ＷＩ）、メジャーループ２０を通して５送り、トラン
スファゲートを開けてこれをマイナーループ１０へ書込
み、一周以上させたのち再びトランスファゲートを開け
てメジャーループへ取り込み、バブル検出器２２で検出
する。この結果マイナーループ１０に対応する位置にバ
ブルが検ク出（読出し情報ＲＩ）されたら、該ループ１
０が正常であるとする。これに対して第１図ｂに示す如
くマイナーループ１１では欠陥部ｄ１があり、こ）を通
るときバブルは消滅してしまうとすると、第２図ｂに示
すように該ループ１１へバブルを書込んでもＲＩ＝０つ
まりバブルが検出されない。従つて消滅欠陥のみなら、
バブル発生器２１でバブルを次々と発生し（マイナール
ープ１０，１１，・・の間隔に対応するメジャーループ
のビット数毎に）、各バブルが各マイナーループ位置に
来たときトランスファゲート２３を開けて各バブルを一
斉にそれぞれのマイナーループへ書込み、一周以上させ
たのちトランスファゲート２３を開）けて（開閉は１ビ
ット以内の期間だけ）各バブルをメジャーループへ読出
し、バブル検出器２２で検出して第２図ｃの読出し情報
ＲＩ群を得れは、情報が欠落した部分に対応するマイナ
ーループ１１が不良で、他は正常とすることができる。
しかしながら上記説明から容易に類推できるように、バ
ブルが１つ入力しただけで該マイナーループに複数個の
バブルが有るようになつてしまう、或いは隣接マイナー
ループにバブルが移つて該隣接マイナーループのバブル
が複数個になつてしまうという発生モードの欠陥は、こ
れでは発見できず、複雑な試験方法が必要となる。本発
明はか）る点を改善するものであつて、第３図ａに示す
ように先ずバブルＢ１を偶数グループ１０，１２に各１
個書込む。
第４図Ａ，ｌはこの書込んだバブルを示す。次にバブル
を１周以上させ、この偶数ループに書込んだバブルＢ１
を読出す。この読出したバブルが同図Ａ，２に示す如く
偶数ループ１０，１２からのもののみであれば、偶数ル
ープに消滅欠陥はなくまた偶数ループから奇数ループヘ
バブル（書込みバブル又は異常発生したバブル）が伝播
したという様なこともないと言える。次にバブルＢ１の
近傍を読む。このとき同図Ａ，３に示すように偶数ルー
プからの読取りバブルがなければ偶数ループに発生欠陥
はなく、また奇数ループからの読取りバブルもなければ
同様に偶数ループから奇数ループヘパブル伝播はないと
いえる。次にバブル式を偶数グループ１１，１３に書込
む。
を１周以上させ、この偶数ループに書込んだバブルＢ１
を読出す。この読出したバブルが同図Ａ，２に示す如く
偶数ループ１０，１２からのもののみであれば、偶数ル
ープに消滅欠陥はなくまた偶数ループから奇数ループヘ
バブル（書込みバブル又は異常発生したバブル）が伝播
したという様なこともないと言える。次にバブルＢ１の
近傍を読む。このとき同図Ａ，３に示すように偶数ルー
プからの読取りバブルがなければ偶数ループに発生欠陥
はなく、また奇数ループからの読取りバブルもなければ
同様に偶数ループから奇数ループヘパブル伝播はないと
いえる。次にバブル式を偶数グループ１１，１３に書込
む。
第４図Ｂ，ｌはこの書込みバブルを示す。同様に一周以
上させたのちこのバブルを読出し、同図Ｂ，２に示すよ
うにその読出しバブルＲＩが書込みバブルＷＩと同じな
ら奇数ループに消滅欠陥なく、奇数ループから偶数ルー
プへのバブル伝播はないといえる。次にバブルＢ２の近
傍を読む。このとき全ループから読出しバブルがなけれ
ば発生欠陥およびループ間伝播欠陥はないと言えるが、
第３図ｂに示すようにループ１１に発生欠陥山があると
第４図Ｂ，３に示すようにループ１１からの読出しバブ
ルがあり、これにより当該ループには発生欠陥があるこ
とが分る。一般に格子欠陥などによる発生モードの欠Ｅ
創．があると、そこをバブルが通るときバブルが連鎖的
に発生し、当該ループはバブルで満たされてしまう。
上させたのちこのバブルを読出し、同図Ｂ，２に示すよ
うにその読出しバブルＲＩが書込みバブルＷＩと同じな
ら奇数ループに消滅欠陥なく、奇数ループから偶数ルー
プへのバブル伝播はないといえる。次にバブルＢ２の近
傍を読む。このとき全ループから読出しバブルがなけれ
ば発生欠陥およびループ間伝播欠陥はないと言えるが、
第３図ｂに示すようにループ１１に発生欠陥山があると
第４図Ｂ，３に示すようにループ１１からの読出しバブ
ルがあり、これにより当該ループには発生欠陥があるこ
とが分る。一般に格子欠陥などによる発生モードの欠Ｅ
創．があると、そこをバブルが通るときバブルが連鎖的
に発生し、当該ループはバブルで満たされてしまう。
従つて書込みバブルの近傍を読むだけで発生欠陥は確実
に検知できる。また発生欠陥により発生したバブル等が
隣接ループへ伝播するという障害はそれ程多くはなく、
発生欠陥により発生したバブルは当該ループ内に留まる
という例が多い。そこで最初に全ループにバブル（Ｂａ
とする）を１つ書込み、一周以上させたのち、該バブル
Ｂａの位置を外してその近傍にかつ例えば偶数ループに
のみバブル（Ｂｂとする）を１個書込み、一周させたの
ち該バブルＢｂを読出し、次いで今度は奇数ループにの
みバブルＢｃを同様にバブルＢａの位置を外してその近
傍に書込み、一周以上させたのちバブルＢｃを読出すと
いう方法を用いてもよい。この方法では読出しは各１回
、計２回でで済むが、ループ間伝播障害の検知、識別は
困難である。あるマイナーループ本例では１１が不良ル
ープであることが分つたら、これをＰＲＯＭなどに記憶
させておき、このループは使用しないようにする。即ち
駆動磁界と同期してバブル発生を行なうバブル発生器２
１は第４図ｃに示すようにループ１０，１２，１３に対
応する時点では入力情報に応じたバブル発生を行なうが
、ループ１１に対応する位置（これはＰＲＯＭ出力で検
知できる）では入力情報の入力を禁止し、バブル発生は
行なわず、単に駆動磁界が回転して発生済みバブルをシ
フトするだけにする。従つてループ１１に書込まれるべ
き情報は１つ飛ばしてループ１２に書込まれることにな
り、以下順次１ループ繰り下がる。このようにすれば外
部からは不良ループ１１は存在しない様に見え、正常ル
ープのみのバブルメモリチップと同様に扱える。勿論チ
ップのループ数は不良ループ数だけ減少するから、製作
に当つてはループ数を多少多目に、例えば１２８ループ
必要なら１４０ループ作つておき、１２ループを欠陥ル
ープ用に待機させておく。また最初、および偶数に分け
て書込むバブルは１個でなく複数個にしてもよいが、個
数を増加すればそれだけ試験所要時間が増大する。以上
詳細に説明したように本発明によれば、単に偶奇に分け
て行なう２回の書込み、読出しで全ループの発生、消滅
モードの欠陥を検知することノができ、ｎ個のマイナー
ループを逐次試験する従来法に比べて２／ｎに試験時間
を短縮できる。
に検知できる。また発生欠陥により発生したバブル等が
隣接ループへ伝播するという障害はそれ程多くはなく、
発生欠陥により発生したバブルは当該ループ内に留まる
という例が多い。そこで最初に全ループにバブル（Ｂａ
とする）を１つ書込み、一周以上させたのち、該バブル
Ｂａの位置を外してその近傍にかつ例えば偶数ループに
のみバブル（Ｂｂとする）を１個書込み、一周させたの
ち該バブルＢｂを読出し、次いで今度は奇数ループにの
みバブルＢｃを同様にバブルＢａの位置を外してその近
傍に書込み、一周以上させたのちバブルＢｃを読出すと
いう方法を用いてもよい。この方法では読出しは各１回
、計２回でで済むが、ループ間伝播障害の検知、識別は
困難である。あるマイナーループ本例では１１が不良ル
ープであることが分つたら、これをＰＲＯＭなどに記憶
させておき、このループは使用しないようにする。即ち
駆動磁界と同期してバブル発生を行なうバブル発生器２
１は第４図ｃに示すようにループ１０，１２，１３に対
応する時点では入力情報に応じたバブル発生を行なうが
、ループ１１に対応する位置（これはＰＲＯＭ出力で検
知できる）では入力情報の入力を禁止し、バブル発生は
行なわず、単に駆動磁界が回転して発生済みバブルをシ
フトするだけにする。従つてループ１１に書込まれるべ
き情報は１つ飛ばしてループ１２に書込まれることにな
り、以下順次１ループ繰り下がる。このようにすれば外
部からは不良ループ１１は存在しない様に見え、正常ル
ープのみのバブルメモリチップと同様に扱える。勿論チ
ップのループ数は不良ループ数だけ減少するから、製作
に当つてはループ数を多少多目に、例えば１２８ループ
必要なら１４０ループ作つておき、１２ループを欠陥ル
ープ用に待機させておく。また最初、および偶数に分け
て書込むバブルは１個でなく複数個にしてもよいが、個
数を増加すればそれだけ試験所要時間が増大する。以上
詳細に説明したように本発明によれば、単に偶奇に分け
て行なう２回の書込み、読出しで全ループの発生、消滅
モードの欠陥を検知することノができ、ｎ個のマイナー
ループを逐次試験する従来法に比べて２／ｎに試験時間
を短縮できる。
第１図Ａ，ｂおよび第２図Ａ，ｂ，ｃは従来の試験法を
説明するバブルメモリの概略図および書７込み読取り情
報の説明図、第３図Ａ，ｂおよび第４図Ａ，ｂ，ｃは本
発明の方法を説明するバブルメモリの概略図および書込
み読取り情報の説明図である。 図面で、１０〜１３はマイナーループ、２０はθメジャ
ーループ、２１はバブル発生器、２２はバブル検出器、
２３はトランスファゲートである。
説明するバブルメモリの概略図および書７込み読取り情
報の説明図、第３図Ａ，ｂおよび第４図Ａ，ｂ，ｃは本
発明の方法を説明するバブルメモリの概略図および書込
み読取り情報の説明図である。 図面で、１０〜１３はマイナーループ、２０はθメジャ
ーループ、２１はバブル発生器、２２はバブル検出器、
２３はトランスファゲートである。
Claims (1)
- １ メジヤーマイナーループ式のバブルメモリの不良マ
イナーループを検出する試験方法において、隣接して配
置されたマイナーループを奇数番群と偶数番群に分け、
先ず一方の群に“１”情報のみのバブルを書込んだ後、
該“１”情報のバブルのみを読出して“０”情報が検出
されたマイナーループを消滅モードの不良ループとして
特定すると共に、前記書込バブル近傍のビット位置を読
出して“１”情報が検出されたマイナーループを発生モ
ードの不良ループとして特定し、次に他方の群に“１”
情報のみのバブルを書込んだ後該“１”情報のバブルの
みを読出して“０”情報が検出されたマイナーループを
消滅モードの不良ループとして特定すると共に、前記書
込バブル近傍のビット位置を読出して“１”情報が検出
されたマイナーループを発生モードの不良ループとして
特定し、かつ、奇数番群を書込み読出した際に“１”情
報が検出された偶数番群のマイナーループと、偶数番群
を書込み読出した際に“１”情報が検出された奇数番群
のマイナーループとを隣接ループの影響を受けたループ
として特定することを特徴とするバブルメモリの試験方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15021977A JPS6048062B2 (ja) | 1977-12-14 | 1977-12-14 | バブルメモリの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15021977A JPS6048062B2 (ja) | 1977-12-14 | 1977-12-14 | バブルメモリの試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5482135A JPS5482135A (en) | 1979-06-30 |
| JPS6048062B2 true JPS6048062B2 (ja) | 1985-10-25 |
Family
ID=15492129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15021977A Expired JPS6048062B2 (ja) | 1977-12-14 | 1977-12-14 | バブルメモリの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6048062B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58100288A (ja) * | 1981-12-11 | 1983-06-14 | Hitachi Ltd | 磁気バブルメモリ試験方法 |
-
1977
- 1977-12-14 JP JP15021977A patent/JPS6048062B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5482135A (en) | 1979-06-30 |
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