JPS6049245B2 - 残響特性測定装置の信号レベル表示装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は伝送系の残響特性を二乗積分法により測定す
る残響特性測定装置において、二乗積分回路の出力にも
とづいて入力信号レベルの表示をすることにより回路構
成を簡略化した信号レベル表示装置に関する。

二乗積分法を利用した残響測定装置は例えば第１図に示
すように、マイクロフォン（図示せず）から得られる信
号れ（ｘ）をアンプ１を介してアナログ−ディジタル変
換器（以下単にＡ−Ｄ変換器と略称する）２でディジタ
ルデータに変換し、これを二乗積分回路３で二乗積分し
、この二乗積分されたデータにもとづいて残響特性演算
回路４て残響特性（例えは残響時間）を演算し、その演
算結果を表示部５で表示するように構成されている。

従来このような装置において入力信号れ（ｘ）のレベル
を表示する場合はアンプ１の出力を信号レベル検出回路
６に加えてレベルを検出して表示部７にて表示するか、
または、Ａ−Ｄ変換器２の出力を信号レベル検出回路８
に加えてディジタル方式によりレベルを検出して表示部
９にて表示するようにしていた。しかし、これらいずれ
の表示方法においても信号レベル表示装置（信号レベル
検出回路８と表示部９）と残響特性表示装置（二乗積分
回路３と残響特性演算回路４と表示部５）とは別個の回
路構成となつているために共用する部分がなく、その結
果構成が複雑になり回路規模が大きくなるという欠点が
あつた。この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、
残響特性測定装置の入力信号に帯域制限がされている場
合入力信号のレベベルと入力信号の二乗積分値との間に
相関関係が成立することを利用して、二乗積分値から入
力信号のレベルを求めるようにして構成を簡略化した信
号レベル表示装置をフ提供しようとするものである。

この発明よれはある一定の時間間隔で二乗積分値の中間
データをとり、これに使用する周波数の帯域に応じた補
正値を加算して入力信号のレベルを求めるようにしてい
る。そして補正値をテストパルスの周波数設定５出段の
設定に応じて自動的に算出することにより操作を簡略化
している。以下この発明を添付図面の実施例にもとづい
て詳しく説明する。第２図はこの発明の実施例を概略的
に示したものである。

第２図において操作パネル２０には残響特性の測定環境
を定める変数（ここでは二乗積分回路１５の積分時間Ｔ
１テストパルスＰのパルス幅Ｄ１テストパルスＰの周波
数Ｆ）を設定する手段が配設されている。信号発生回路
２１はテストパルス（トーンパースト波）Ｐを上記設定
されたパルス幅Ｄおよび周波数Ｆで発生させる。上記発
生されたトーンパースト波Ｐは測定対象となる測定室１
１内に配置されたスピーカ１２に至り、発音される。こ
の音はマイクロフォン１３で収音される。マイクロフォ
ン１３の出力はＡ−Ｄ変換器１４でディジタルデータに
変換され、更に二乗積分回路１５て二乗積分される。

二乗積分回路１５の出力データは信号レベル演算回路２
２および残響特性演算回路１６に加わる。信号レベル演
算回路２２は本願発明に係るもので、入力信号（マイク
ロフォン１３の出力）のレベルを求める回路である。

入力信号に帯域制限がされている場合そのレベルは後述
するように一定の時間幅ΔＴにおける二乗積分値中間デ
ータΔ１と入力信号の帯域に応じた補正値Ｋとの和で求
まる。信号レベル演算回路２２において二乗積分値中間
データ演算回路５８は二乗積分回路１５の出，力にもと
づいて上記中間データの対数１０ｇΔＩを求める。また
、補正係数演算回路５４は前記トーンパースト波Ｐの周
波数設定値Ｆにもとづいて補正値Ｋを求める。加算器５
５はこれらを加算して信号レベル１０ｇΔＩ＋Ｋを求め
る。この求められｊた信号レベル１０ｇ１ＳＩ＋Ｋは表
示部１９にて表示される。残響特性演算回路１６は二乗
積分値を一定の周期γでサンプリングして残響特性を求
める回路である。

残響特性演算回路の演算結果は表示部１９３にて表示さ
れる。この実施例の装置では残響特性に関して次の項目
について測定を行ない表示するようにしている。５残響
時間（ＲＴ６Ｏ値） これは音源停止後音のエネルギが６０ｃ１Ｂ減衰４する
までに要する時間で室内での音の響きの程度を示すもの
てある。

５初期残響時間（ＥＤＴｌＯ値） これは、音源停止後音のエネルギが１αＢ減衰するまで
に要する時間である。

残響時間ＲＴが室全体の響きの量を表わすのに対して、
残響感はむしろこのＥＤＴｌＯ値に関係が深いといわれ
ている。６Ｄ値 これは ０〜５０ｒＴ１Ｓの の １のエネルギＸｌＯＯ残響
の全エネルギといい、室内聴取点での音の響き度合、音
声の明瞭度を示す値である。

４残響波形 残響音の減衰状態をブラウン管に表示する。

尚、第２図において制御回路２５は残響特性演算回路１
６、二乗積分回路１５等の制御信号を出力する回路であ
る。第３図は第２図の回路の詳細例を示すものである。

第３図において、操作パネル２０には測定を開始するた
めのスタートスイッチ３１および測定環境を設定するた
めのツマミ類すなわち積分時間Ｔを設定するためのツマ
ミ３２、トーンパースト波Ｐの周波数Ｆを設定するため
のツマミ３３、トーンパースト波Ｐのパルス幅Ｄを設定
するためのツマミ３４がそれぞれ配設されている。操作
パネル２０から送出される各設定値Ｔ，Ｆ，Ｄはエンコ
ーダ３５でエンコーダされ、そのうちトーンパースト波
Ｐの周波数、パルス幅の設定値Ｆ，Ｄは信号発生回路２
１に加わる。また、スタートスイッチ３１からのスター
ト信号は制御回路２５に加わつて信号発生回路２１など
を駆動させるのに用いられる。また、積分時間の設定値
Ｔも制御回路２５に加えられてサンプリング間隔τを規
定するために用いられる。信号発生回路２１においてト
ーンパースト波発生回路６は前記設定された周波数Ｆお
よびパルス幅Ｄをもつトーンパースト信号Ｐに対応した
ディジタル信号を順次出力する。

デジタル−アナログ変換器（以下Ｄ−Ａ変換器と略称す
る）３７はこのディジタル信号をアナログ信号に変換し
て第４図に示すような周波数Ｆ、パルス幅Ｄを持つトー
ンパースト波Ｐを出力する。尚、トーンパースト波発生
回路３６およびＤ−Ａ変換器３７に加わつているパルス
φ１はこれらの回路を駆動するためのクロックパルスで
ある。Ｄ−Ａ変換器３７の出力は出力ゲイン調整用ツマ
ミ３９に連動するアツテネータ４０で振動が調整された
後アンプ３８で増幅され、測定室１１内のスピーカ１２
に至り、発音される。

スピーカ１２から発生された音はマイクロフォン１３て
収音される。

マイクロフォン１３の出力は入力ゲイン調整用ツマミ４
１に連動するアツチネータ４２で振幅が調整された後ア
ンプ４３に加わる。アンプ４３の出力はＡ−Ｄ変換器１
４でディジタル信号に変換され二乗積分回路１５に加わ
る。二乗積分回路１５は二乗回路４４とその出力を累算
するアキュームレータ４５で構成される。

この二乗積分回路１５および前記Ａ−Ｄ変換器１４はク
ロックパルスφ１により駆動されている。この実施例で
は二乗積分回路１５の出力語長は４０ビットに設定され
ている。二乗積分回路１５の出力は残響特性演算回路１
６のセレクタ２３に加わる。

このセレクタは二乗積分回路１５の出力の全ビットのう
ち残響特性の測定に必要な部分を選択出力することによ
り後の回路（ＲＡＭｌ７、演算器１８）の回路構成を簡
略化するものである。ここでは４０ビットで構成される
二乗積分値のうち１６ビットの区間を選択するようにし
ている。すなわち、最終積分値を示すデータのうち最高
位ビット以下１６ビットの区間を選択する。したがつて
二乗積分回路１５の出力デ下夕が１６ビット以下で示さ
れる場合はすべてのデータが取出され、１６ビット以上
で示される場合は１６ビットからはみ出したビット数だ
け下位のビットが省略される。このように省略しても最
終積分値が大きいためそれによる誤差は無視できるほど
である。尚、選択するビット数は選択による誤差の許容
量に応じて定める。ところで、最終積分値は積分時間Ｔ
およびトーンパースト波Ｐのパルス幅Ｄにほぼ比例する
。

これは積分時間Ｔか残響の持続時間に対応して定められ
るものであり、パルス幅Ｄがトーンパースト波Ｐのエネ
ルギに対応する値だからである。第５図はこの比例する
状態を示すもので、二乗積分回路１５の入力信号のレベ
ルを一定とした場合において積分時間Ｔおよびトーンパ
ースト波Ｐのパルス幅Ｄを様々に設定した場合の二乗積
分値の時間的変化状態をグラフに描いたものである。こ
れより最終積分値は、前記積分時間Ｔとパルス幅Ｄの積
、すなわち乗算値にほぼ完全に比例していることがわか
る（なお、場合によつては積分時間Ｔとパルス幅Ｄの和
、すなわち加算値でも最終積分値の大小関係を見きわめ
る目安となりうる）。このような性質を利用してこの実
施例では積分時間Ｔおよびパルス幅Ｄの設定値に応じて
４０ビットのデータのうち１６ビットの部分を自動的に
選択している。第６図はその選択の一例を示すもので、
上に示した目盛が二乗積分値のビット数（イ）〜３９ま
での４０ビット）であり、矢印で示した区間が積分時間
Ｔおよびパルス幅Ｄの各設定値に対応して選択される１
６ビットの部分である。第３図において乗算器２４は積
分時間Ｔとパルス幅Ｄの設定値の乗をセレクタ２３の制
御入力に加えて上記の選択を行なわせる。セレクタ２３
から出力される１６ビットのデータはサンプリングされ
てＲＡＭｌ７に順次書込まれていく。

ＲＡＭｌ７は４このサンプリングデータをそれぞれ記憶
する部分と、５前述した測定項目のうちのＤ値を求める
ために残響開始後５０ｎ１ｓの二乗積分値を記憶する部
分と、６室内のノイズの二乗積分値を記憶する部分とを
含んでいる。このうち５の部分は１２８個の記憶箇所を
具えておりこの数だけサンプリングデータを記憶するよ
うになつている。したがつて積分時間をＴとするとサン
プリング周期γはγ＝■？となる。制御回路２５は前記
積分時間設定ツマミ３２の設定に応じてこの周期τで書
込み信号およびアドレス信号ノをＲＡＭｌ７に加えてサ
ンプリングデータの書込みを行なう。また５の部分は残
響開始後５０ｒＴ１Ｓの二乗積分値を制御回路２５から
の指令により記憶する。

また８の部分はトーンパースト波Ｐを発生する５前にノ
イズ分の二乗積分値Ｎ。２を制御回路２５からの指令に
より記憶する。

演算器１８は制御回路２５からの読出し信号によりＲＡ
Ｍｌ７から読出されるデータにもとづ゛いて残響特性（
残響音の減衰状態）を求める。

このＯ残響特性は最終的に二乗積分値をＳｌ２８、各サ
ンプリングされた二乗積分値をＳｉ２（１＝１〜１２８
）ノイズ分の二乗積分値円ＲｌＯ２としてＩＯｇ（Ｓｌ
２８２−Ｓｉ２一（１２８−１）ＲｌＯ２）で表わされ
る各値を連続したのとして求められる。また、演算器１
８はこの求められた残響特性から残響時間ＲＴ６Ｏ、初
期残響時間ＥＤＴｌＯをそれぞれ求める。また、最終的
な二乗積分値に対するＲＡＭｌ７に記憶されている残響
開始後５０ｎ１Ｓの二乗積分値の割合からＤ値を求める
。演算器１８で求められた残響時間ＲＴ６Ｏｌ初期残響
時間ＥＤＴｌＯ．Ｄ値は表示部１９に送られ、ＲＴ６Ｏ
値表示部４６、ＥＤＴｌＯ値表示部４７、Ｄ値表示部４
８にそれぞれ表示される。

また、残響特性を構成する各サンプル点の値を横軸を時
間、縦軸を音の強さとしたグラフ上にプロットして得ら
れる曲線が残響波形としてブラウン管４９上に描かれる
。信号レベル演算回路２２は二乗積分回路１５から送り
込まれる二乗積分値にもとづいて、該二乗積分回路１５
の入力信号のレベルを推定により求める。

すなわち入力信号をｈ（ｘ）として一定時間ΔＴにおけ
る二乗積分値ΔＩ＝ｆ『ΔＴｈ２（ｘ）Ｄｘ から入力信号ｈ（ｘ）の振幅Ａを推定する。

その推定のし方は次の通りてある。一般に入力信号ｈ（
ｘ）に何ら条件が付されていなけれは二乗積分値ΔＩか
ら振幅Ａを推定することはできない。

すなわち、パルス幅が同じであノつても第７図ａに示す
ようなパルス間隔が粗である信号ｈ１（ｘ）とパルス間
隔が密である信号Ｈ２（ｘ）とては、ΔＴ間における二
乗積分値は信号Ｈ２（ｘ）のほうが大きいのに振幅Ａは
信号ｈ１（ｘ）のほうが大きくなつてしまう。つまり、
入３力信号ｈ（ｘ）の振幅Ａと二乗積分値ΔＩとの間に
は相関関係が存在しない。しかし、入力信号ｈ（ｘ）に
帯域ＭＩＩ限がある場合（一定の周波数である場合）は
相関関係が成立する。

すなわち、第７図ｂに示すような周波数が３等しい信号
Ｈ３（ｘ）とＨ４（ｘ）とでは振幅Ａが大きいほうの信
号Ｈ４（ｘ）が二乗積分値ΔＩも大きくなる。このよう
な場合振幅Ａは次のように推定される。簡単のため入力
信号ｈ（ｘ）を ４，となる。

ここでｔ＝Ｔｉにおけるｈ（ｘ）の位相をψとおけばこ
こで 〜
畦１とおけば第（３）式からとなり振幅Ａは となる。

そしてこの振幅Ａの対数レベルＬは一 りーー０−ー
ＬＶ＼”−６＆−Ｊｂｌｌυ８υ１ノ
覧Ｊｊで求めることができる。第（５）式において補
正係数Ｃ１は第（４）式に示すように積分間隔ΔＴ１信
号ｈ（ｘ）の周波数ｗおよび初期位相ψの関数てあるが
、−１≦ＣＯｓ（ｗΔＴ＋２ψ）≦１であるからΔＴ（
５ｗが既知であれはＣ１の上限Ｃｌｍａｘおよび下限Ｃ
ｌｍｉｎとして次式を得る。

残響測定において重要なことは入力信号ｈ（ｘ）の振幅
ＡがＡ−Ｄ変換器１４の入力レンジを越えないことであ
るから、信号レベル演算回路２２では第（５）式のＬの
最大値Ｌｍａｘを推定すれはよい。

したがつて第（７）式を第（５）式のＣ１に代人して
一ＳｌＦ）ＷΔ１但し、Ｋ＝１
０ｇ全青−１０ｇ（１ 〒） （９）を得る。

したがつて各測定において積分間隔ΔＴと入力信号ｈ（
ｗ）の周波数がわかつていれば、第（９）式により計算
される値Ｋと、二乗積分の中間データΔＩとから入力信
号ｈ（ｘ）のレベルＬｍａｘを推定することが可能とな
る。

上述の推定においては入力信号ｈ（ｘ）を正弦波と仮定
したが、１１３オクターブバンド幅程度の帯域制限に対
してもその中心周波数に対する補正−係数Ｋを用いれは
実用上充分な近似が可能である。

したがつて上記の実施例においてはトーンパースト波Ｐ
の周波数Ｆに応じた補正係数Ｃ１を用いればよい。次に
本願発明に係る信号レベル演算回路２２の部分について
説明する。

第３図の二乗積分中間データ演算回路５８において減算
器５０は一定時間幅ΔＴにおける二乗積分の中間ゼータ
ΔＩを求めるためのものてある。

すなわち、二乗積分回路１５からの二乗積分値Ｉｔｊは
減算器５０の被減算入力およびレジスタ５１に加わり、
レジスタ５１はパルス間隔がΔＴのクロックパルスφ２
により駆動されてΔＴ毎に二乗積分値１ｔｉの記憶を書
換えていく。レジスタ５１の出力は減算器５０の減算入
力に加わり、減算器５０は二乗積分回路１５の出力とレ
ジスタ５１の出力との減算を行なう。レジスタ５２は前
記クロックパルスφ２によつて時間間隔ΔＴ毎にこの減
算値を保持する。したがつて、レジスタ５２には現在の
二乗積分値１ｔ１＋ΔＴとそれよりもΔＴ前の二乗積分
値１ｔｉとの差すなわち二乗積分の中間データΔＩが保
持されることになる。レジスタ５２の出力ΔＩは対数演
算回路５３に加えられ、該回路５３からは１０ｇΔＩが
出力される。一方、補正係数演算回路５４はエンコーダ
３５から出力されるトーンパースト波Ｐの周波数設定値
Ｆおよび時間ΔＴ（クロックパルスφ２の周波に相当す
るもので予め定められる値である）とから補正係数Ｋ（
第（９）式）を求める。

加算器５５は対数演算回路５３の出力１０ｇΔＴと補正
係数演算回路５４の出力Ｋを加算して１０ｇΔＩ＋Ｋを
求める。この加算値は表示部１９のレベル表示部５６に
送られてここで第（８）式で示す入力信号レベルの最大
値Ｌｍａｘが表示される。尚、第３図においてトリガ回
路５７はマイクロフォン１３の出力の立上りを検出して
二乗積分を開始させるものである。

つぎに以上説明した実施例の残響特性測定時の動作につ
いて第８図を参照して説明する。

残響特性を測定する場合は予め操作パネル２０上のツマ
ミ３２，３３，３４によつて積分時間Ｔ１トーンパース
ト波Ｐの周波数Ｆおよびパルス幅Ｄを設定しておく。

また、測定室１１のノイズ分を測定しておきその二乗積
分値Ｎ。２をＲＡＭｌ７の所定の記憶箇所に書込んでお
く。

操作パルス２０上のスタートスイッチ３１を投入すると
制御回路２５からの信号（第８図ａに示す）によつて信
号発生回路２１が駆動され、スピーカ１２からは第８図
ｂに示すようなトーンパースト波Ｐが発音される。

これと同時に制御回路２５から第８図ｅに示すような信
号が出力され、その立上りで二乗積分回路１５およびＲ
ＡＭｌ７のノサンプリングデータの記憶回路はクリアさ
れる。トーンパースト波Ｐが発音されると測定室１１内
には第８図ｃに示すような残響ｒ（ｘ）が生じ、これが
マイクロフォン１３で収音される。マイクロフォン１３
の出力の立上りでトリガ回路５７７からは第８図ｄに示
すような信号が出力され、制御回路２５はその立上りを
検出して二乗積分回路１５に第８図ｆに示すようなスタ
ート／ストップ信号を加え、二乗積分を開始させる。こ
の時点から積分時間Ｔが開始する。９４０ビットの二乗
積分値（増大していく状態を第８図ｇに示す）は残響特
性演算回路１６に加わり、セレクタ２３で積分時間Ｔお
よびトーンパースト波Ｐのパルス幅Ｄに応じた１６ビッ
トのデータが取出される。

セレクタ２３の出力は第８図ｈに示すサンプリングパル
スでサンプリングされてじく。このサンプリングパルス
は周波τが（楓である。したがつてサンプリング点の数
は積分時間Ｔにかかわらず１２８であり、積分時間Ｔが
短かければサンプリング周波は短くなり、積分時間Ｔが
貝けれはサンプリング周波は長くなる。第５図の各グラ
フ上に示した点はサンプリング点の数を便宜上１０とし
た場合のそれぞれのサンプリング位置である。また、下
記の第１表はサンプリングの一例としてサンプリング点
の数を１２８とした楊合の積分時間Ｔに対するサンプリ
ング周波γおよびトーンパースト波Ｐのパルス幅Ｄを２
４ｍｓｅｃとした場合の１６ビットデータの選択位置を
それぞれ示したものてある。サンプリングされた１６ビ
ットのデータはＲＡＭｌ７の対応するアドレスに順次書
込まれていく。

一方信号レベル演算回路２２は二乗積分，の中間データ
の対数値１０ｇΔＩを求め、また設定されたトーンパー
スト波Ｐの周波数Ｆにもとづいて補正係数Ｋを求め、こ
れらの加算値１０ｇΔＩ＋Ｋをマイクロフォン１３の入
力レベルとしてレベル表示部５６に表示する。ここで表
示されるレベルは前述のように入力レベルの最大値Ｌｍ
ａｘとして推定されたレベルであり、残響特性測定にお
いてはＡ−Ｄ変換器１４の入力レベルを監視するために
利用される。すなわち、この表示によつてＡ−Ｄ変換器
１４の入力レベルがその入力レンジを越えたと判断され
た場合は測定が正確でなくなるので、夕測定をはじめか
らやりなおす。測定が順調に進み１２？所全部のサンプ
リングが終了するとＲＡＭｌ７からは第８図１に示す信
号Ｂｆｕｌｌ（ＲＡＭｌ７の全アドレスにデータが書込
まれたことを示す信号）が発生され、これによりＯ第８
図ｆのスタート／ストップ信号は立下り、二乗積分は停
止される。

そして、残響特性演算回路１６はＲＡＭｌ７の記憶内容
にもとづいて残響特性を求め、これから残響時間ＲＴ６
Ｏｌ初期残響時間ＥＤＴｌＯおよびＤ値を求める。この
求められた各５値および残響特性を求す波形は表示部１
９にそれぞれ表示される。尚、第８図ｊは残響特性測定
の動作モードを示すものである。

スタートスイッチ３１が投入されてからトリガ（第８図
ｄ）が発生されるまでは５待機状態、トリガが発生され
てから信号Ｂｆｕｌｌが発生されるまでは０データ収集
ぁそしてその後０残響特性演算ョ、１表示ョと順次モー
ドが切換わつていく。以上説明したようにこの発明よれ
ば残響特性にｊよる二乗積分法を用いて測定する装置に
おいて二乗積分回路の出力にもとづいて入力信号レベル
を表示するようにしたので回路構成を簡略化することが
できる。

また、テストパルスの周波数設定値に応じて自動的に補
正値を求めるようにしたので操作の手間を省くことがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来におけるディジタル演算による二乗積分法
を用いた残響特性測定装置の概略を示すブロック図、第
２図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第３図は
第２図の回路の詳細例を示すブロック図、第４図は第３
図の信号発生回路２１から発生されるトーンパースト波
を示す図、第５図は測定環境に対する二乗積分値の変化
の状態を示すグラフ、第６図は各測定環境において４０
ビットの二乗積分値から１６ビットのデータを取出す位
置の一例を示す図、第７図は二乗積分回路１５の出力か
らその入力レベルの振幅を推定する方法を説明するため
の図、第８図は第３図の回路の動作を説明するためのタ
イミングチャートである。 １１・・・・・測定室、１２・・・・スピーカ、１３・
・・マイクロフォン、１４・・・・・・Ａ−Ｄ変換器、
１５・・・・・二乗積分回路、１６・・・・・・残響特
性演算回路、１９・・・・・・表示部、２０・・・・・
・操作パネル、２１・・・・・信号発生回路、２２・・
・・・・信号レベル演算回路、２３・・・・セレクタ、
２４・・・・・乗算器、２５・・・・・制御回路、３１
・・・・・スタートスイッチ、３２・・・・・・積分時
間設定用ツマミ、３３・・・・・トーンパースト波の周
波数設定用ツマミ、３４・・・・・・トーンパースト波
のパルス幅設定用ツマミ、３９・・・・・・出力ゲイン
調整用ツマミ、４１・・・・・・入力ゲイン調整用ツマ
ミ、４６・・・・・・残響時間表示部、４７・・・・初
期残響時間表示部、４８・・・・Ｄ値表示部、４９・・
・・残響波形表示用ブラウン管、５４・・・・・・補正
係数演算回路、５６・・・・・ルベル表示部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 試験音に対応する信号を発生させる信号発生回路と
   、前記試験音の周波数を設定する周波数設定手段と、前
   記試験音による残響信号を二乗積分する二乗積分回路と
   、前記二乗積分回路の出力にもとづいて残響特性を演算
   する残響特性演算回路とを具えた残響特性測定装置にお
   いて、一定時間幅における前記二乗積分値の中間データ
   を求める中間データ演算回路と、前記周波数設定手段の
   設定値に応じて前記中間データを補正する補正回路と、
   該補正された中間データを残響信号の信号レベルを示す
   データとして表示する表示部とを具えた残響特性測定装
   置の信号レベル表示装置。