JPS6049246A - 二段フレ−ム式炎光分析装置 - Google Patents
二段フレ−ム式炎光分析装置Info
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- JPS6049246A JPS6049246A JP15725383A JP15725383A JPS6049246A JP S6049246 A JPS6049246 A JP S6049246A JP 15725383 A JP15725383 A JP 15725383A JP 15725383 A JP15725383 A JP 15725383A JP S6049246 A JPS6049246 A JP S6049246A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/72—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flame burners
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、炎が二段になっている後光分析装置に関する
。
。
特に試料を霧化する新fli制御方式を用いることによ
シ、炎の安定したフl/−ノ・を可fi1元にし、炎を
二段にした安定した精度の高い二段フレーム残炎光分析
装置て、高速液体クロマトグラフィーの検出器として好
適な後光装置に191するものである。
シ、炎の安定したフl/−ノ・を可fi1元にし、炎を
二段にした安定した精度の高い二段フレーム残炎光分析
装置て、高速液体クロマトグラフィーの検出器として好
適な後光装置に191するものである。
従来技術
後光分光分析の技術分野において、典型的な後光装置は
、フレームを発生するバーナー惜、;、;lz物、フレ
ーム監視窓、フレームから放出さ!しる光のスペクトル
を選択する光学フィルタ及び光(食出器よシ+1・1成
され、61す定i代料を炎中に噴11)j シて炎で励
起埒せ、目的元素の特別の波長のところで光音検出して
いる。そのため試料が炎色の発生に悪影響を及はしてフ
レーム内の温度勾配と化学種勾配を乱し不安定になる亭
を防止する必要がおる。
、フレームを発生するバーナー惜、;、;lz物、フレ
ーム監視窓、フレームから放出さ!しる光のスペクトル
を選択する光学フィルタ及び光(食出器よシ+1・1成
され、61す定i代料を炎中に噴11)j シて炎で励
起埒せ、目的元素の特別の波長のところで光音検出して
いる。そのため試料が炎色の発生に悪影響を及はしてフ
レーム内の温度勾配と化学種勾配を乱し不安定になる亭
を防止する必要がおる。
このような装置では安定した炎光を得ることが重要とな
る。そのため炎光部の構造について例えば特願昭42−
62695号(特公昭49−42951号)、特願昭5
0−152328号(特公昭58−14613号)など
に炎を安定に燃腕させる構造が示されている。しかし、
これら後光装置を液体クロマトグラフなどの検出器とし
て使用する場合には、溶出物内の化合物は極めて複雑な
構造の分子である」二に溶液であるため安定性、感度な
どの点で使用出来なかった。
る。そのため炎光部の構造について例えば特願昭42−
62695号(特公昭49−42951号)、特願昭5
0−152328号(特公昭58−14613号)など
に炎を安定に燃腕させる構造が示されている。しかし、
これら後光装置を液体クロマトグラフなどの検出器とし
て使用する場合には、溶出物内の化合物は極めて複雑な
構造の分子である」二に溶液であるため安定性、感度な
どの点で使用出来なかった。
従来、ゾjスクロマトグラフィーの検出、1++、とじ
て、ガス状試料を分離管で分離したガスを炎中に噴出さ
ぜ、炎光を検出する方法が用いられている。
て、ガス状試料を分離管で分離したガスを炎中に噴出さ
ぜ、炎光を検出する方法が用いられている。
例えば、斗1 gf+昭49−102049号(特開昭
51−29992号)においては、試料ガス中の共存成
分の影響を少くするために、水素と酸素と試栖トyrス
をノズルよシ喧出させるための(117造が示されてい
る。
51−29992号)においては、試料ガス中の共存成
分の影響を少くするために、水素と酸素と試栖トyrス
をノズルよシ喧出させるための(117造が示されてい
る。
It> It昭53−343125号(′i斜1i11
1654 126’、+92−r、)においては、大量
の+i< ’t−lがクロー7トデ巧ノ・(“) 、:
、1−りとしてすLわitた場合、ピークの−j〜、5
力;・り−スラインよパルち込むクエンチツク杉1 )
S乏S: fl−しるため、それを防止するノス°ルの
(’:’; J+″”y、 i: ;−+<さ)(てい
る。これらの)ぐ−ヲーー(よ、−?1^、−のフレー
)、の使用のだめ、ガスクロマトグラフのiM Ll
j !l+1 (13に存在する腹雑な分子+1贅貢こ
弓IA爬さ2Lるフレームの現境の乱れによって使IT
、] pこ1′」選b¥ 7x ;l:) /)こJ−
が知られている。
1654 126’、+92−r、)においては、大量
の+i< ’t−lがクロー7トデ巧ノ・(“) 、:
、1−りとしてすLわitた場合、ピークの−j〜、5
力;・り−スラインよパルち込むクエンチツク杉1 )
S乏S: fl−しるため、それを防止するノス°ルの
(’:’; J+″”y、 i: ;−+<さ)(てい
る。これらの)ぐ−ヲーー(よ、−?1^、−のフレー
)、の使用のだめ、ガスクロマトグラフのiM Ll
j !l+1 (13に存在する腹雑な分子+1贅貢こ
弓IA爬さ2Lるフレームの現境の乱れによって使IT
、] pこ1′」選b¥ 7x ;l:) /)こJ−
が知られている。
これらの1個の炎の欠点ケ克)11炎し7ヒイli(の
716 )’Jのバーナーとして&よ復式ノZ−1−一
方′J(のもσ〕゛C、パーン噂デ・ス壮ヒン′ノぐ−
プ−(Van derSmisqen burner
)が公知であり、米l〕il ’t> rrF 84i
。
716 )’Jのバーナーとして&よ復式ノZ−1−一
方′J(のもσ〕゛C、パーン噂デ・ス壮ヒン′ノぐ−
プ−(Van derSmisqen burner
)が公知であり、米l〕il ’t> rrF 84i
。
3.213,747号に記載さit −Chカ、これを
、y+已に12′4良した発明がl臣IXt昭53−8
4155(ltでr 1jill1353−10739
1号)に記載されて1./)る。
、y+已に12′4良した発明がl臣IXt昭53−8
4155(ltでr 1jill1353−10739
1号)に記載されて1./)る。
これら二段式フレー11ノ↑−ブー−υJ 、ノガスク
「lマドグラフの分liI訛望し溶13 !i勿1ノ]
の1易嶋(1,lイしイi!1勿を、最初に水素の豊富
な第1のフレームで燃焼することによって、その化合物
をνよるかに簡単な化学前j′、lの分子より成るIf
(、’<焼生成物に4元し、そして次にとのバi焼生成
物と第1アレーン・の余分な水素を第1フレームから雛
れている第2フレームで燃7恍させ、この第2フレーム
内で通常の分光1i111光手段によって検出可能な特
有の発光を発生させる機構になっている。
「lマドグラフの分liI訛望し溶13 !i勿1ノ]
の1易嶋(1,lイしイi!1勿を、最初に水素の豊富
な第1のフレームで燃焼することによって、その化合物
をνよるかに簡単な化学前j′、lの分子より成るIf
(、’<焼生成物に4元し、そして次にとのバi焼生成
物と第1アレーン・の余分な水素を第1フレームから雛
れている第2フレームで燃7恍させ、この第2フレーム
内で通常の分光1i111光手段によって検出可能な特
有の発光を発生させる機構になっている。
これらガスクロマトグラフの検出用の後光分析装置を液
体クロマトグラフの検出器用として用いる試みが近年試
みられている。
体クロマトグラフの検出器用として用いる試みが近年試
みられている。
例えば、Anal、 Chem、 1980 、52
、638〜642 。
、638〜642 。
同じ(Anal、 Cbem、 1980,52,16
21=1624には高速液体クロマトグラフの分離成分
を二段フレーム式後光で検出する方法及びその結果が記
載さiしている。これには、クエンチングや干渉のない
炎をつくるため、水身二と空気の流1しを内側と外側に
する方法で水溶液中のリン成分の検出が記載されている
。
21=1624には高速液体クロマトグラフの分離成分
を二段フレーム式後光で検出する方法及びその結果が記
載さiしている。これには、クエンチングや干渉のない
炎をつくるため、水身二と空気の流1しを内側と外側に
する方法で水溶液中のリン成分の検出が記載されている
。
しかしながら、液体クロマトグンフイー〇検出器として
後光分析装置を川1)る場合、イT イ漫?’lt剤中
の成分の液体を炎の中に霧化′□J−るため、;ケスク
ロマトグラフ出炭光検出器に比Iikシて′fJ:γこ
なフレームを得るためには、液jr5を細かく均一なも
のにflf’制御17て、ノ々−ナーの出口で液滴5:
j)ス燃焼中に噴出する必要があり、そのためυim
。
後光分析装置を川1)る場合、イT イ漫?’lt剤中
の成分の液体を炎の中に霧化′□J−るため、;ケスク
ロマトグラフ出炭光検出器に比Iikシて′fJ:γこ
なフレームを得るためには、液jr5を細かく均一なも
のにflf’制御17て、ノ々−ナーの出口で液滴5:
j)ス燃焼中に噴出する必要があり、そのためυim
。
液滴の制御機能と炎の制御(4・! (A−、k各々独
立な制御手段とすることが必要である。
立な制御手段とすることが必要である。
しかしながら、従来の炎光部は臨床用後光分析装f斤で
も、ガスクロマトグラフィー4今出′L!1?/If炎
光装置でも、典型的な一段のアレーン、でも、フレーム
を二段にしたものでも全て炎の大きさの燃焼状態を制御
するブこめ燃ハ・1すスやと、“、l;j、 e、にt
のガス流路やガス流量で炎の制?ll1l ”:a:行
うと共に、炎の内に分析すべき試料を噴出(7て試i1
の状!ijjや量奮制御することを併せて行っている。
も、ガスクロマトグラフィー4今出′L!1?/If炎
光装置でも、典型的な一段のアレーン、でも、フレーム
を二段にしたものでも全て炎の大きさの燃焼状態を制御
するブこめ燃ハ・1すスやと、“、l;j、 e、にt
のガス流路やガス流量で炎の制?ll1l ”:a:行
うと共に、炎の内に分析すべき試料を噴出(7て試i1
の状!ijjや量奮制御することを併せて行っている。
即ち、炎のf(i御機能と炎の内に試オドr噴出する<
將能が一つのjス制a11手段で行;り:われている◇
ガスクロマトグラフィー検出器として用いる場合、炭の
内に噴出される試ネ(す」、力スでI、)b /Cめ炎
の制御機能と試料状態制御機能が一つの手段で行なわれ
ても安定な炎光状態が得られるが、溶液を炎の中に噴出
する場合−六液滴は#[11かく均一なほど炎の中で安
定な炎光状態が得られる〆こめこの様な状態を得るため
に灼料ガス流路。
將能が一つのjス制a11手段で行;り:われている◇
ガスクロマトグラフィー検出器として用いる場合、炭の
内に噴出される試ネ(す」、力スでI、)b /Cめ炎
の制御機能と試料状態制御機能が一つの手段で行なわれ
ても安定な炎光状態が得られるが、溶液を炎の中に噴出
する場合−六液滴は#[11かく均一なほど炎の中で安
定な炎光状態が得られる〆こめこの様な状態を得るため
に灼料ガス流路。
助燃ガス流路をもうけガス流量を多くすることが必要と
なシ従ってフレームも大きくなってしまう。即ち、溶液
の場合には安定な試料状態を得るためのガス制御と炎の
制御が一つの手段で行なわれている限シ、試料の量、ガ
ス流量、ガス流路などが互に関係し最適な栄件で炎光を
得ることは、大変困難で6’)、液体クロマトグラフ検
出器として実用に供される段階に到っていない。
なシ従ってフレームも大きくなってしまう。即ち、溶液
の場合には安定な試料状態を得るためのガス制御と炎の
制御が一つの手段で行なわれている限シ、試料の量、ガ
ス流量、ガス流路などが互に関係し最適な栄件で炎光を
得ることは、大変困難で6’)、液体クロマトグラフ検
出器として実用に供される段階に到っていない。
目 的
本発明は、かかる現状に鑑みてなされたもので、複雑な
化合物の炎光に適した二段式フレームを用い、初段のフ
レームで溶液の噴霧のItill luと燃焼の気体制
御を各々独立に行なうことにより、安定した精度の晶い
液体クロマトグラフィーとして実用に供し得る装f7i
−を桿1j、−3″ることを目白つとしている。
化合物の炎光に適した二段式フレームを用い、初段のフ
レームで溶液の噴霧のItill luと燃焼の気体制
御を各々独立に行なうことにより、安定した精度の晶い
液体クロマトグラフィーとして実用に供し得る装f7i
−を桿1j、−3″ることを目白つとしている。
五ダ 成
本発明でIti ii”:、冬を溶液のI蓋貨の制御[
ll方力法すしてyi′、′1電場制御を行うことによ
り、炎の!till i!1fと独き“Lに試Rのツ゛
+y音fu’j御を行うことを最大の% Tr’tとし
たもので、その楢成に初段のアレーン・中に溶d′!。
ll方力法すしてyi′、′1電場制御を行うことによ
り、炎の!till i!1fと独き“Lに試Rのツ゛
+y音fu’j御を行うことを最大の% Tr’tとし
たもので、その楢成に初段のアレーン・中に溶d′!。
噴油制御手段として、試料吸上貸先9:、liよりFi
if :i−た所に試料通過穴をイアする電極板ケ設f
#’7g L、+)%上管と電極板に印加電圧をかけだ
4j’j成となっている。
if :i−た所に試料通過穴をイアする電極板ケ設f
#’7g L、+)%上管と電極板に印加電圧をかけだ
4j’j成となっている。
二段フレームを行うための他の4’l’;成は、従う1
−の公知技術と同しである。
−の公知技術と同しである。
液体クロマトグラフィーの分n& fi4出qh )J
: 、1?ンプによシ流れ出されているため、後光分仙
用の試オ・+吸入管の先端に連続的に活用されている。
: 、1?ンプによシ流れ出されているため、後光分仙
用の試オ・+吸入管の先端に連続的に活用されている。
従って吸入管と電極に1)電圧を開力u−j−ることに
より噴霧状ス(iHをGli制御し、第1の)1/−ム
の:l+!I i’il )J、燃焼ガスと空気を二1
:1−配管で流れをπtll仰することによって行なわ
れる。釘、2のフレームQ−1、〜・。
より噴霧状ス(iHをGli制御し、第1の)1/−ム
の:l+!I i’il )J、燃焼ガスと空気を二1
:1−配管で流れをπtll仰することによって行なわ
れる。釘、2のフレームQ−1、〜・。
1フレームの燃焼生成分と追加のガスによって燃焼しガ
スの流路と流量でフレームが制御され、第2フレームの
後光?:検出測定する方法で試料の分析を行っている。
スの流路と流量でフレームが制御され、第2フレームの
後光?:検出測定する方法で試料の分析を行っている。
本発明の静電場印加の方法iI;I:、試料吸入管先端
佳で溶液があった場合に初めて均一な微粒子の霧化が可
能で制御出来るが、吸入貸先y1j、j ’71′、で
溶液を吸上げる機能は有していない。
佳で溶液があった場合に初めて均一な微粒子の霧化が可
能で制御出来るが、吸入貸先y1j、j ’71′、で
溶液を吸上げる機能は有していない。
実施夕1j
本発明の実施例を図1に示す。
・111図で、]は高速液体クロマトグラフィー流出試
料の通る毛細管、2は試料通過穴を有する電イソであシ
、穴の1α径は2 mmである。1と2の間1’+、j
ば1.5間〜3 trm程度である。その間に1500
V〜3000V程度を印加する。3 ?f第1ンレー
ム用水素の流入口で、4ば′2気の流入口である。5
ハ箪1アレーン1.6がT)’+ 27し/−ムである
。7は第2フレーム用水素の流入I]で、第1フレーム
の燵焼生成物と混合し2て第2フレームを形成する。炎
光は8のフィルターτ通して9の7オトマルで検出する
。10は冷却用の水または他の液体を通すための穴でる
る。
料の通る毛細管、2は試料通過穴を有する電イソであシ
、穴の1α径は2 mmである。1と2の間1’+、j
ば1.5間〜3 trm程度である。その間に1500
V〜3000V程度を印加する。3 ?f第1ンレー
ム用水素の流入口で、4ば′2気の流入口である。5
ハ箪1アレーン1.6がT)’+ 27し/−ムである
。7は第2フレーム用水素の流入I]で、第1フレーム
の燵焼生成物と混合し2て第2フレームを形成する。炎
光は8のフィルターτ通して9の7オトマルで検出する
。10は冷却用の水または他の液体を通すための穴でる
る。
第1フレーム用水素を毛細管と囲んだ周辺より放出する
理由は、毛細管先鈴11部の加熱を少しでも防ぐため、
毛細管周辺の液滴の流れをなめらかにするため、毛細’
Lfに液滴が付ノ、”1°してi散粒化が不安定になる
のを防ぐため、ツブどである。
理由は、毛細管先鈴11部の加熱を少しでも防ぐため、
毛細管周辺の液滴の流れをなめらかにするため、毛細’
Lfに液滴が付ノ、”1°してi散粒化が不安定になる
のを防ぐため、ツブどである。
実施例では、水素ガスの流量が30 m、/、/m i
n−100m77′]11i n程度で少ないため、
毛δ(口管よυ品凍液体りロマトグラフィー流出i;・
い1を吸引することはほとんどない。
n−100m77′]11i n程度で少ないため、
毛δ(口管よυ品凍液体りロマトグラフィー流出i;・
い1を吸引することはほとんどない。
第1フレームの空気流14−は100〜300 rn/
7m i n第2フレームの水素流l);:はfiO〜
200+nノ、/rnin程肛で分析条件によpJt士
適0流す:に調節する。
7m i n第2フレームの水素流l);:はfiO〜
200+nノ、/rnin程肛で分析条件によpJt士
適0流す:に調節する。
第2図に毛卸1管よp液i商がljj k7のり(をJ
(θ過して連峠的に流れる様子を電流の流れとし7て検
出した例を示す。外径20011mの力゛ラス1へ′を
使/Itし、’ljj 2.う、性を良くするため力゛
ラス(if先;lh: r’rlI訃で6011mのタ
ングステンに;1を入れである。メタノールを16 t
lvnin流し、約3間のljc ’(+間19゛ビご
1700 V 8i度印加して帯/r nした液滴が電
極の穴を61+3過して流れる電流である。集j11例
では1.7X 10” A(7)電流が流れている。電
流のゆっくシした変動は、電極の穴を通らず電極に付着
したメタノールなどの彩管と思われる。
(θ過して連峠的に流れる様子を電流の流れとし7て検
出した例を示す。外径20011mの力゛ラス1へ′を
使/Itし、’ljj 2.う、性を良くするため力゛
ラス(if先;lh: r’rlI訃で6011mのタ
ングステンに;1を入れである。メタノールを16 t
lvnin流し、約3間のljc ’(+間19゛ビご
1700 V 8i度印加して帯/r nした液滴が電
極の穴を61+3過して流れる電流である。集j11例
では1.7X 10” A(7)電流が流れている。電
流のゆっくシした変動は、電極の穴を通らず電極に付着
したメタノールなどの彩管と思われる。
第3図は、外径0.6門内径0.3 mmステンレス毛
細゛Rを使用して、メタノール金泥fti: 16 p
J泪nで流し電極と毛細管に2500Vを印加した場合
の先端出口の写真である。円錐形のメタノールの先端よ
り細くメタノールが引き出され(破粒化している様子が
示されている。
細゛Rを使用して、メタノール金泥fti: 16 p
J泪nで流し電極と毛細管に2500Vを印加した場合
の先端出口の写真である。円錐形のメタノールの先端よ
り細くメタノールが引き出され(破粒化している様子が
示されている。
第4図は、印加電圧を3500Vに変え他の糸作は第;
3図と同じでaる。毛細管よりはるかに細いメタノール
が引き出されている様子が示され、更に第3図よジメタ
ツールの円j・ILが小さくなっていることが判る。以
上の結果、試料吸引1?と電極に高1a圧を印加して、
液体試料の霧化制御を行うことが可能でろることが理解
出来る。
3図と同じでaる。毛細管よりはるかに細いメタノール
が引き出されている様子が示され、更に第3図よジメタ
ツールの円j・ILが小さくなっていることが判る。以
上の結果、試料吸引1?と電極に高1a圧を印加して、
液体試料の霧化制御を行うことが可能でろることが理解
出来る。
実施した第1図の装aの大きさは、a = 15m +
b=43ml 、 c = l Ogであり、1の高速
液クロ流出試料口より、第1フレーム5において、第3
図、第4図と同様な2イ化fli’制御が行なわれてい
る。
b=43ml 、 c = l Ogであり、1の高速
液クロ流出試料口より、第1フレーム5において、第3
図、第4図と同様な2イ化fli’制御が行なわれてい
る。
6の第2フレームは、従来方式と同じようにiji制御
される。
される。
結 論(効果の寸とめ)
本発明では試料吸引管と電4へに高’I”L IEを印
加するという全く仙゛しいb比制御手段を用いることに
より均一な微粒子の連続流1しを作シ出すことが可能と
をシ、これによシ煽焼ガスと錯気による制御での炎中に
試料をげ(出しても悪影l>’(lを及(・よさない安
2ピした後光を作ることが可能となった。従って高速液
体クロマトグラフィー用(6)出器として充分実用に供
し7得るもので、I・′r:業への貢献多大である。
加するという全く仙゛しいb比制御手段を用いることに
より均一な微粒子の連続流1しを作シ出すことが可能と
をシ、これによシ煽焼ガスと錯気による制御での炎中に
試料をげ(出しても悪影l>’(lを及(・よさない安
2ピした後光を作ることが可能となった。従って高速液
体クロマトグラフィー用(6)出器として充分実用に供
し7得るもので、I・′r:業への貢献多大である。
なお本発明は、高速液体り「JマFグラフィーの検出器
に限定されるものではなく、本発明の霧化制御手段によ
る技術思想を用いる全ての二段フレーム式後光装力”、
に及ぶことは勿論である。
に限定されるものではなく、本発明の霧化制御手段によ
る技術思想を用いる全ての二段フレーム式後光装力”、
に及ぶことは勿論である。
第1図は液体クロマトグラフィー用2段フレーム燃焼装
置、第2図は?l/電した液滴による電流の時間変化、
第3図はLC流出試料の通るステンレス毛細管の先端出
口の写真であり、円錐形のメタノールの先ねよシ細くメ
タノールが引き出され微粒化している。第4図は第3図
に示した条件のうち電圧を菌属にしたときの写真で、メ
タノールの円(4が小姑くなっている。 l・・LC流出試料の通るステンレス毛細管、2・・・
試料通過穴を有する電極、3・・・第1フレーム用水素
の流入口、4・・・空気の流入口、5・・第1フレーム
、6・・第2フレーム、7・・第2フレーム用水索の流
入口、8・・・フィルター 9・・・検出用)s−t−
マル、10・・・冷却用の液体を通す穴。 q、′i許出R(1人 日本分光工業株式会行代 ];
1! 人 九 山 辛 維 980 第 2 図 −261− 第 3 図
置、第2図は?l/電した液滴による電流の時間変化、
第3図はLC流出試料の通るステンレス毛細管の先端出
口の写真であり、円錐形のメタノールの先ねよシ細くメ
タノールが引き出され微粒化している。第4図は第3図
に示した条件のうち電圧を菌属にしたときの写真で、メ
タノールの円(4が小姑くなっている。 l・・LC流出試料の通るステンレス毛細管、2・・・
試料通過穴を有する電極、3・・・第1フレーム用水素
の流入口、4・・・空気の流入口、5・・第1フレーム
、6・・第2フレーム、7・・第2フレーム用水索の流
入口、8・・・フィルター 9・・・検出用)s−t−
マル、10・・・冷却用の液体を通す穴。 q、′i許出R(1人 日本分光工業株式会行代 ];
1! 人 九 山 辛 維 980 第 2 図 −261− 第 3 図
Claims (2)
- (1)化学物質を第1のフレームに導入する手段。 2ル1のフレームの燃焼生成物を第2のフレームに送シ
込む手段及び第2のフレーム内の前記化学物質の特定の
成分の存在を指示する色を検出する手段をもつ二段アレ
ーン・残炎光装置なにおいて。 液状化学物質を導入する毛細管先端部よシ離れた所に、
試料通過穴を有する電極板を設置し導入手段(毛細管)
と電極板に電圧を印加することを特徴とする二段フレー
ム残炎光分析装置。 - (2)前記液状化学物質を導入する毛細管の囲りに、毛
細管先端の冷却、毛細管先端の電場調節、及び燃焼ガス
の導入のだめの役割の外管を配+i’jL、これら二重
貸先t:tAより離れたところに試料通過穴を有する′
に極板を設けたことを特徴とする前記第(1)項記載の
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15725383A JPS6049246A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 二段フレ−ム式炎光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15725383A JPS6049246A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 二段フレ−ム式炎光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6049246A true JPS6049246A (ja) | 1985-03-18 |
| JPH031618B2 JPH031618B2 (ja) | 1991-01-11 |
Family
ID=15645603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15725383A Granted JPS6049246A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 二段フレ−ム式炎光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6049246A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62226023A (ja) * | 1986-03-28 | 1987-10-05 | Nippon Denki Sanei Kk | 放射率測定装置 |
| JPS63314426A (ja) * | 1987-06-17 | 1988-12-22 | Chino Corp | 放射温度測定装置 |
| JPH0363534A (ja) * | 1989-04-24 | 1991-03-19 | Tektronix Inc | 温度測定方法 |
-
1983
- 1983-08-30 JP JP15725383A patent/JPS6049246A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62226023A (ja) * | 1986-03-28 | 1987-10-05 | Nippon Denki Sanei Kk | 放射率測定装置 |
| JPS63314426A (ja) * | 1987-06-17 | 1988-12-22 | Chino Corp | 放射温度測定装置 |
| JPH0363534A (ja) * | 1989-04-24 | 1991-03-19 | Tektronix Inc | 温度測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH031618B2 (ja) | 1991-01-11 |
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