JPS6049860B2 - 欠点検査装置 - Google Patents
欠点検査装置Info
- Publication number
- JPS6049860B2 JPS6049860B2 JP52123366A JP12336677A JPS6049860B2 JP S6049860 B2 JPS6049860 B2 JP S6049860B2 JP 52123366 A JP52123366 A JP 52123366A JP 12336677 A JP12336677 A JP 12336677A JP S6049860 B2 JPS6049860 B2 JP S6049860B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- signal
- discrimination
- output
- unit length
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、欠点検査装置における欠点出力の計数処理
に関する。
に関する。
一般に、シート材が搬送されるラインにおいてシート材
の汚れや傷等を検出する欠点検出装置は、シート材に光
を照射して、その透過光または反射光を受光器に受光し
、光電的に欠点を弁別するようになつている。
の汚れや傷等を検出する欠点検出装置は、シート材に光
を照射して、その透過光または反射光を受光器に受光し
、光電的に欠点を弁別するようになつている。
また多くの場合、弁別レベルを２段階以上設定して、汚
れや傷の程度を見分ける多重弁別も一行なわれている。
第１図は多重弁別を行なう従来の欠点検査装置の概略構
成を示すもので、特に欠点出力の処理系を中心に示して
いる。
れや傷の程度を見分ける多重弁別も一行なわれている。
第１図は多重弁別を行なう従来の欠点検査装置の概略構
成を示すもので、特に欠点出力の処理系を中心に示して
いる。
透光器１からシート材２を透過した光が受光器３に導入
され（受光器３は走査形の場合も非走査形の場合もある
）、この受光器３の出力が増幅器４を経て２つの弁別器
５Ａ、５Ｂにそれぞれ供給される。弁別器５Ａ、５Ｂに
異なる弁別レベルＶａ、Ｖｂが設定されていて、増幅器
４からの受光出力がそれぞれの弁別レベルＶａ、Ｖｂを
越えたとき、弁別器５Ａ、５Ｂから欠点信号が出力され
る。第２図に示すように、増幅器４からの受光出力１に
対して、弁別レベルＶａが比較的低い値に、弁別レベル
Ｖｂは比較的高い値に設定されている。したがつて、弁
別器５Ａからのみ欠点信号が出力される場合、それは軽
欠点であり、また弁別器５Ｂから欠点信号が出力される
場合（同時に弁別器５Ａからも欠点信号が出力される）
、それは重欠点ある。弁別器５Ａおよび５Ｂからの欠点
信号はそれぞれカウンタ６Ａおよび６Ｂに入力されて、
カウントされ、カウンタ６Ａおよび６Ｂの計数値はそれ
ぞれ比較器７Ａおよび７Ｂの入力となる。また、ライン
速度検出器８は被検査物てあるシート材２の搬送速度を
検出するものて、この検出器８からは、シート材２が単
位長さ送給される毎に１発のパルス信号が出力される（
これを単位長信号と呼ぶ）。
され（受光器３は走査形の場合も非走査形の場合もある
）、この受光器３の出力が増幅器４を経て２つの弁別器
５Ａ、５Ｂにそれぞれ供給される。弁別器５Ａ、５Ｂに
異なる弁別レベルＶａ、Ｖｂが設定されていて、増幅器
４からの受光出力がそれぞれの弁別レベルＶａ、Ｖｂを
越えたとき、弁別器５Ａ、５Ｂから欠点信号が出力され
る。第２図に示すように、増幅器４からの受光出力１に
対して、弁別レベルＶａが比較的低い値に、弁別レベル
Ｖｂは比較的高い値に設定されている。したがつて、弁
別器５Ａからのみ欠点信号が出力される場合、それは軽
欠点であり、また弁別器５Ｂから欠点信号が出力される
場合（同時に弁別器５Ａからも欠点信号が出力される）
、それは重欠点ある。弁別器５Ａおよび５Ｂからの欠点
信号はそれぞれカウンタ６Ａおよび６Ｂに入力されて、
カウントされ、カウンタ６Ａおよび６Ｂの計数値はそれ
ぞれ比較器７Ａおよび７Ｂの入力となる。また、ライン
速度検出器８は被検査物てあるシート材２の搬送速度を
検出するものて、この検出器８からは、シート材２が単
位長さ送給される毎に１発のパルス信号が出力される（
これを単位長信号と呼ぶ）。
ライン速度検出器８からの単位長Ｊ信号は、比較器７Ａ
および７Ｂに比較タイミング信号として供給されるとと
もに、遅延回路９て僅かに遅延されてカウンタ６Ａおよ
び６Ｂにリセット信号として供給される。すなわち、単
位長信号が発生すると、ます比較器７Ａ、７Ｂにおいて
カ ウンタ６Ａ、６Ｂの計数値と設定値Ｎａ、Ｎｂとが
比較されて、計数値が設定値Ｎａ以上の場合に出力信号
が送出されるとともに、僅かに遅れてカウンタ６Ａ、６
Ｂがリセットされる。ここで、設定値Ｎａ、Ｎｂに適宜
な値を設定しておき、比較器７Ａ，７Ｂから出力信号が
発生した場合は、シート材２その単位長さ部分は軽不良
（重不良）てあるものとして処理し、また同時に比較器
７Ａ，１Ｂの出力をカウンタ１０Ａ，１０Ｂてカウント
する。そして、最終段の上記カウンタ１０Ａ，１０Ｂの
計数値により、シート材２が長尺物の場合は良品，不良
品の判定が行なわれ、シート材２が短尺物の場合はロッ
ドの不良率の確認が行なわれるのである。ところが、上
記従来の装置では、シート材２の同一単位長部分につい
て、比較器７Ｂにて重不良と判定されて、カウンタ１０
Ｂて計数されているにもかかわらず、比較器７Ａにて軽
不良とも判定されて、カウンタ１０Ａでも計数されてし
まうという場合が発生することになり、これではカウン
タ１０Ａおよび１０Ｂの計数値による製品の最終判定の
基準が一定しないことになつてしまう。
および７Ｂに比較タイミング信号として供給されるとと
もに、遅延回路９て僅かに遅延されてカウンタ６Ａおよ
び６Ｂにリセット信号として供給される。すなわち、単
位長信号が発生すると、ます比較器７Ａ、７Ｂにおいて
カ ウンタ６Ａ、６Ｂの計数値と設定値Ｎａ、Ｎｂとが
比較されて、計数値が設定値Ｎａ以上の場合に出力信号
が送出されるとともに、僅かに遅れてカウンタ６Ａ、６
Ｂがリセットされる。ここで、設定値Ｎａ、Ｎｂに適宜
な値を設定しておき、比較器７Ａ，７Ｂから出力信号が
発生した場合は、シート材２その単位長さ部分は軽不良
（重不良）てあるものとして処理し、また同時に比較器
７Ａ，１Ｂの出力をカウンタ１０Ａ，１０Ｂてカウント
する。そして、最終段の上記カウンタ１０Ａ，１０Ｂの
計数値により、シート材２が長尺物の場合は良品，不良
品の判定が行なわれ、シート材２が短尺物の場合はロッ
ドの不良率の確認が行なわれるのである。ところが、上
記従来の装置では、シート材２の同一単位長部分につい
て、比較器７Ｂにて重不良と判定されて、カウンタ１０
Ｂて計数されているにもかかわらず、比較器７Ａにて軽
不良とも判定されて、カウンタ１０Ａでも計数されてし
まうという場合が発生することになり、これではカウン
タ１０Ａおよび１０Ｂの計数値による製品の最終判定の
基準が一定しないことになつてしまう。
具体的に説明すると、Ｎａ＝１０，Ｎｂ＝５に設定した
楊合、例えば、カウンタ６Ａの計数値が８，カウンタ６
Ｂの計数値が６のとき、重不良とのみ判定されて問題な
いが、カウンタ６Ａの計数値が１０になれば軽不良との
判定出力も出てしまう。したがつて、ある時点てカウン
タ１０Ａの計数値が１２，カウンタ１０Ｂ計数値が７で
あつたとすると、この場合、軽不良と判定された製品（
単位長部分）が１２で、重不良と判定された製品が７で
ある、とは限らないのである。この発明は上記の不都合
点を解消すべくなされたもので、シート材の同一単位長
部分について、重不良の判定が出たならば、それり程度
の軽い軽ｊ不良の判定出力が出ないように改良した欠点
検査装置を提供するものてある。
楊合、例えば、カウンタ６Ａの計数値が８，カウンタ６
Ｂの計数値が６のとき、重不良とのみ判定されて問題な
いが、カウンタ６Ａの計数値が１０になれば軽不良との
判定出力も出てしまう。したがつて、ある時点てカウン
タ１０Ａの計数値が１２，カウンタ１０Ｂ計数値が７で
あつたとすると、この場合、軽不良と判定された製品（
単位長部分）が１２で、重不良と判定された製品が７で
ある、とは限らないのである。この発明は上記の不都合
点を解消すべくなされたもので、シート材の同一単位長
部分について、重不良の判定が出たならば、それり程度
の軽い軽ｊ不良の判定出力が出ないように改良した欠点
検査装置を提供するものてある。
第３図は第１図の従来装置に本発明を適用した実施例を
示すものである。
示すものである。
この図の実施例において、第１図と同一部分には同一の
符号を付し、そ３の部分についての説明の重複は避ける
。第３図において、ライン速度検出器８の端子ｔ１から
出力される信号は、前記の単位長信号と同じであり、端
子１。
符号を付し、そ３の部分についての説明の重複は避ける
。第３図において、ライン速度検出器８の端子ｔ１から
出力される信号は、前記の単位長信号と同じであり、端
子１。
からは、端子［１からの単位長信号よりパルス幅の小さ
い単位長信号が出力される。４詳細すると、第４図に示
すように、単位長信号Ｔ２の立上りは単位長信号Ｔ，の
立上りよりΔｄだけ遅れるとともに、単位長信号しの立
下りタイミングは単位長信号Ｔ，のそれよりΔｄ″だけ
早くなつている。
い単位長信号が出力される。４詳細すると、第４図に示
すように、単位長信号Ｔ２の立上りは単位長信号Ｔ，の
立上りよりΔｄだけ遅れるとともに、単位長信号しの立
下りタイミングは単位長信号Ｔ，のそれよりΔｄ″だけ
早くなつている。
単位長信号ｔ１は比較器７Ｂの比較タイミング信号とな
り、単位長信号しは比較器７Ａの比較タイミング信号と
なる。したがつて、カウンタ６Ａの計数値が設定値Ｎａ
以上で、カウンタ６Ｂの計数値も設定値Ｎｂ以上てある
状態において、単位長信号Ｔ，，ｔ２が発生すると、両
比較器７Ａ，７Ｂからそれぞれ軽不良判定信号および重
不良判定信号が出力されるが、軽不良判定信号のパルス
波形と重不良判定信号のそれとの関係は、第４図のフ単
位長信号らとｔ１の関係とまつたく同じで、軽不良判定
信号のパルス幅が小さい。そして、比較器７Ｂの出力は
そのままカウンタ１０Ｂに入力されるが、比較器７Ｂの
出力は禁止ゲート１１を介してカウンタ１０Ａに入力さ
れる・ようになつており、この禁止ゲート１１の制御力
端子には比較器７Ｂの出力が印加される。
り、単位長信号しは比較器７Ａの比較タイミング信号と
なる。したがつて、カウンタ６Ａの計数値が設定値Ｎａ
以上で、カウンタ６Ｂの計数値も設定値Ｎｂ以上てある
状態において、単位長信号Ｔ，，ｔ２が発生すると、両
比較器７Ａ，７Ｂからそれぞれ軽不良判定信号および重
不良判定信号が出力されるが、軽不良判定信号のパルス
波形と重不良判定信号のそれとの関係は、第４図のフ単
位長信号らとｔ１の関係とまつたく同じで、軽不良判定
信号のパルス幅が小さい。そして、比較器７Ｂの出力は
そのままカウンタ１０Ｂに入力されるが、比較器７Ｂの
出力は禁止ゲート１１を介してカウンタ１０Ａに入力さ
れる・ようになつており、この禁止ゲート１１の制御力
端子には比較器７Ｂの出力が印加される。
したがつて、比較器７Ｂから重不良判定信号が出力され
れるｃと、禁止ゲート１１が禁止状態となるので、この
とき比較器７Ａから軽不良判定信号が出力されても、こ
れがカウンタ１０Ａに供給されることはない。すなわち
、シート材２の同一単位長部分について、重不良として
の計数と軽不良としての計数ともに行なわれるような不
都合が解消するのである。勿論、比較器７Ａからの軽不
良判定信号のみが出力された場合は、この信号は禁止ゲ
ート１１を経てカウンタ１０Ａに入カーされる。なお、
比較器７Ｂから重不良判定信号が出力されたとき、軽不
良側の計数が行なわれないようにするのは、第３図の実
施例に限定されるものてはなく、重不良判定信号により
、比較器７Ａの比較動作を禁止したり、カウンタ１０Ａ
の計数動作を禁止するようにしても良い。また、上記の
実施例は欠点の程度を２段階に分類して弁別するもので
あつたが、さらに多数の段階に分けて弁別するものては
、ある段階の不良判別信号が出力されたならは、それよ
り程度の低い不良判別信号の計数を行なわないようにす
る。
れるｃと、禁止ゲート１１が禁止状態となるので、この
とき比較器７Ａから軽不良判定信号が出力されても、こ
れがカウンタ１０Ａに供給されることはない。すなわち
、シート材２の同一単位長部分について、重不良として
の計数と軽不良としての計数ともに行なわれるような不
都合が解消するのである。勿論、比較器７Ａからの軽不
良判定信号のみが出力された場合は、この信号は禁止ゲ
ート１１を経てカウンタ１０Ａに入カーされる。なお、
比較器７Ｂから重不良判定信号が出力されたとき、軽不
良側の計数が行なわれないようにするのは、第３図の実
施例に限定されるものてはなく、重不良判定信号により
、比較器７Ａの比較動作を禁止したり、カウンタ１０Ａ
の計数動作を禁止するようにしても良い。また、上記の
実施例は欠点の程度を２段階に分類して弁別するもので
あつたが、さらに多数の段階に分けて弁別するものては
、ある段階の不良判別信号が出力されたならは、それよ
り程度の低い不良判別信号の計数を行なわないようにす
る。
以上詳細に説明したように、本発明によれは、欠点，不
良の程度を複数の段階に分けて弁別し、各段階の不良判
別信号をそれぞれ計数する欠点倹査装置において、被検
査物の同一部分に関して複数の段階についての不良計数
が同時に行なわれる不都合が解消でき、各段階の不良計
数結果に基づく製品の最終判別が適切に行なえるのてあ
る。
良の程度を複数の段階に分けて弁別し、各段階の不良判
別信号をそれぞれ計数する欠点倹査装置において、被検
査物の同一部分に関して複数の段階についての不良計数
が同時に行なわれる不都合が解消でき、各段階の不良計
数結果に基づく製品の最終判別が適切に行なえるのてあ
る。
第１図は従来の欠点検査装置のブロック図、第２図は弁
別レベルの説明図、第３図は本発明に係る欠点検査装置
の一実施例のブロック図、第４図はその動作説明図てあ
る。 １・・・・・・投光器、２・・・・・・シート材、３・
・・・・受光器、５Ａ，５Ｂ・・・・・・弁別器、６Ａ
，６Ｂ・・・・カウンタ、７Ａ，７Ｂ・・・・・・比較
器、１０Ａ，１０Ｂ・・・・・カウンタ、１１・・・・
・・禁止ゲート。
別レベルの説明図、第３図は本発明に係る欠点検査装置
の一実施例のブロック図、第４図はその動作説明図てあ
る。 １・・・・・・投光器、２・・・・・・シート材、３・
・・・・受光器、５Ａ，５Ｂ・・・・・・弁別器、６Ａ
，６Ｂ・・・・カウンタ、７Ａ，７Ｂ・・・・・・比較
器、１０Ａ，１０Ｂ・・・・・カウンタ、１１・・・・
・・禁止ゲート。
Claims (1)
- １ 欠点の程度に応じたレベルのアナログ信号を発生す
る検出手段と：予め設定された複数段の弁別レベルを基
準にして、前記アナログ信号をレベル弁別する弁別手段
と：前記各弁別レベル毎に設けられたカウンタと：弁別
結果が欠点となる弁別レベルの中で、最重欠点の弁別レ
ベルに対応するカウンタだけを優先的に歩進させる優先
歩進手段と：を具備することを特徴とする欠点検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52123366A JPS6049860B2 (ja) | 1977-10-14 | 1977-10-14 | 欠点検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52123366A JPS6049860B2 (ja) | 1977-10-14 | 1977-10-14 | 欠点検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5456888A JPS5456888A (en) | 1979-05-08 |
| JPS6049860B2 true JPS6049860B2 (ja) | 1985-11-05 |
Family
ID=14858797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52123366A Expired JPS6049860B2 (ja) | 1977-10-14 | 1977-10-14 | 欠点検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6049860B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4884688A (ja) * | 1972-02-08 | 1973-11-10 | ||
| JPS4890289A (ja) * | 1972-02-29 | 1973-11-24 | ||
| JPS4890290A (ja) * | 1972-02-29 | 1973-11-24 |
-
1977
- 1977-10-14 JP JP52123366A patent/JPS6049860B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5456888A (en) | 1979-05-08 |
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