JPS6050073B2 - 可変容量形圧力変換器とその製造中間品の製造方法 - Google Patents
可変容量形圧力変換器とその製造中間品の製造方法Info
- Publication number
- JPS6050073B2 JPS6050073B2 JP55113326A JP11332680A JPS6050073B2 JP S6050073 B2 JPS6050073 B2 JP S6050073B2 JP 55113326 A JP55113326 A JP 55113326A JP 11332680 A JP11332680 A JP 11332680A JP S6050073 B2 JPS6050073 B2 JP S6050073B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dielectric material
- hole
- capacitor
- semiconductor material
- manufacturing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 15
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims description 5
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 title 1
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 64
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 63
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims description 51
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 27
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 23
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 18
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 9
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 8
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 8
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical compound NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 3
- 238000005553 drilling Methods 0.000 claims description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 2
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 claims 4
- 239000000565 sealant Substances 0.000 claims 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 claims 1
- 230000002459 sustained effect Effects 0.000 claims 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 10
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000010408 film Substances 0.000 description 9
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 7
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 4
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 3
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical group [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 1
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0072—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance
- G01L9/0073—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance using a semiconductive diaphragm
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/43—Electric condenser making
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は可変容量形圧力変換器の製造方法に関クする。
この圧力変換器は絶対圧、ゲージ圧圧力差などを検知す
る用途に適する。最近、自動車輌への応用として周囲圧
力と大気圧以下の圧力レベルの両方を計るために圧力セ
ンサの使用が要求されている。
る用途に適する。最近、自動車輌への応用として周囲圧
力と大気圧以下の圧力レベルの両方を計るために圧力セ
ンサの使用が要求されている。
内燃機関では、燃料計量を微制御するためにエンジンの
吸気マニホルド内の急速に変動する圧力レベルを、それ
より少なく急速変動する周囲圧力レベルと同様に測定す
るとが求められている。これらの圧力を信頼性よくかつ
適当な応答時間て計れるセンサは入手するのが困難て非
常に高価である。多分これまで利用できる最良の圧力セ
ンサはセラミック圧力変換器型である。この可変容量形
センサは金属膜を被着フした厚いセラミック素子を有す
る。非常に薄い第2のセラミック板またはダイアフラム
もその上に被着された金属膜を有し、かつガラスフリッ
ト等で厚いセラミック素子に取付けらている。セラミッ
ク素子上のこの金属膜がコンデンサの極板を構7成する
。薄いセラミックダイアフラムは圧力変動に応答して電
気容量の小さな変化を生じそれが電子的発振器による発
振周波数を変えるのに用いられる。上記型式のセンサす
なわち変換器はその寸法がj大きく、一個一個個別に作
る必要があるのて高価である。
吸気マニホルド内の急速に変動する圧力レベルを、それ
より少なく急速変動する周囲圧力レベルと同様に測定す
るとが求められている。これらの圧力を信頼性よくかつ
適当な応答時間て計れるセンサは入手するのが困難て非
常に高価である。多分これまで利用できる最良の圧力セ
ンサはセラミック圧力変換器型である。この可変容量形
センサは金属膜を被着フした厚いセラミック素子を有す
る。非常に薄い第2のセラミック板またはダイアフラム
もその上に被着された金属膜を有し、かつガラスフリッ
ト等で厚いセラミック素子に取付けらている。セラミッ
ク素子上のこの金属膜がコンデンサの極板を構7成する
。薄いセラミックダイアフラムは圧力変動に応答して電
気容量の小さな変化を生じそれが電子的発振器による発
振周波数を変えるのに用いられる。上記型式のセンサす
なわち変換器はその寸法がj大きく、一個一個個別に作
る必要があるのて高価である。
されに、こあ種のセラミック圧力変換器は関連する電子
回路との組立てを完了するまで試験てきない恐れもある
。もし欠陥があるとわかつたらそこで全組立体を捨てな
ければならない。バッチ処理技術て製造できる圧力変換
器は望ましい装置である。圧力変換器に望まれるのは寸
法が小さくかつ変換器素子によつて検出される圧力に比
例した信号を発生する装置と関連する電子回路と組立て
る前に試験できることである。この圧力変換器は従来技
術の装置に比べて使用する材料が廉価で、信頼性が高く
かつ価格が安くなければならない。さらに圧力センサは
容易に較正でき、低コストで大量生産でき、感知すべき
圧力の変動に応答して正確かつ再現可能な可変パラメー
タを与える必要がある。望ましくはこの圧力変換器は各
種の圧力範囲にわたつて使えるように製造できるべきで
ある。本発明の方法を用えれば応答時間の速い圧力変換
器の製造及び上述の所望の特性を得えることが可能とな
る。
回路との組立てを完了するまで試験てきない恐れもある
。もし欠陥があるとわかつたらそこで全組立体を捨てな
ければならない。バッチ処理技術て製造できる圧力変換
器は望ましい装置である。圧力変換器に望まれるのは寸
法が小さくかつ変換器素子によつて検出される圧力に比
例した信号を発生する装置と関連する電子回路と組立て
る前に試験できることである。この圧力変換器は従来技
術の装置に比べて使用する材料が廉価で、信頼性が高く
かつ価格が安くなければならない。さらに圧力センサは
容易に較正でき、低コストで大量生産でき、感知すべき
圧力の変動に応答して正確かつ再現可能な可変パラメー
タを与える必要がある。望ましくはこの圧力変換器は各
種の圧力範囲にわたつて使えるように製造できるべきで
ある。本発明の方法を用えれば応答時間の速い圧力変換
器の製造及び上述の所望の特性を得えることが可能とな
る。
ケースウエスタンリザーブ(CaseWestemRe
serve)大学は可変容量形圧力変換器の開発に関し
本出願人との契約の下て仕事をしている。
serve)大学は可変容量形圧力変換器の開発に関し
本出願人との契約の下て仕事をしている。
197877−.1月にその大学のトーマス マーク
グリル(1110masMarkGri11)は科学修
士の学位の要件を一部満す論文を提出した。
グリル(1110masMarkGri11)は科学修
士の学位の要件を一部満す論文を提出した。
その論文の題は゜゜集積回路容量変換器の設計゛で生物
体中における生物医学的応用を意図した。その論文は“
゜変換器の心臓部は感圧コンデンサである゛と述べてい
る。このコンデンサの1つの極板はシリコン基板の中に
エッチされ上面に深さ4ミクロンの空洞をもつたダイア
フラムである。他の極板は金属化されたPyrexのカ
バーで、それは空洞の上をシリコン基板に静電的に封止
され、それによつて全部囲われた室を作る。感圧コンデ
ンサの値に比例したDC電圧を得るため、FETブリッ
ジが方形波によつて駆動される。この感圧コンデンサと
基準コンデンサはそこでこのブリッジを介して充放電さ
れる。本出願人との契約の下でゲースウエスタンリザー
ブ大学がなした仕事はグリルの論文の提出後で、かつ本
発明者の指示に基づくものであつた。米国特許第402
59招号は低圧変換器及びその製造方法を記載している
。この変換器はN形シリコンのウエエハまたはスライス
上に被着ないし拡散された圧電抵抗ブリッジを含む。こ
のウェハ又はスライスは次いで陽極ボンディング法が拡
散ボンディング法を用いてガラスシートに接着される。
この複合構造は次にブリッジ回路パターンを個々の小区
画(セル)に分割するためスクライブされるかまたは切
断される。このブリッジ回路の複合セルは、スクライピ
ング前にウェハをガラスに接着するために用いたのと同
様な無機接着技術を使つて、はるかに大きなシリコンダ
イアフラムに取付けられる。米国特許第3417361
号は機械的に均質な半導体材料の一体構造として作られ
た圧力箱を含む半導体圧力変換器を記載している。
体中における生物医学的応用を意図した。その論文は“
゜変換器の心臓部は感圧コンデンサである゛と述べてい
る。このコンデンサの1つの極板はシリコン基板の中に
エッチされ上面に深さ4ミクロンの空洞をもつたダイア
フラムである。他の極板は金属化されたPyrexのカ
バーで、それは空洞の上をシリコン基板に静電的に封止
され、それによつて全部囲われた室を作る。感圧コンデ
ンサの値に比例したDC電圧を得るため、FETブリッ
ジが方形波によつて駆動される。この感圧コンデンサと
基準コンデンサはそこでこのブリッジを介して充放電さ
れる。本出願人との契約の下でゲースウエスタンリザー
ブ大学がなした仕事はグリルの論文の提出後で、かつ本
発明者の指示に基づくものであつた。米国特許第402
59招号は低圧変換器及びその製造方法を記載している
。この変換器はN形シリコンのウエエハまたはスライス
上に被着ないし拡散された圧電抵抗ブリッジを含む。こ
のウェハ又はスライスは次いで陽極ボンディング法が拡
散ボンディング法を用いてガラスシートに接着される。
この複合構造は次にブリッジ回路パターンを個々の小区
画(セル)に分割するためスクライブされるかまたは切
断される。このブリッジ回路の複合セルは、スクライピ
ング前にウェハをガラスに接着するために用いたのと同
様な無機接着技術を使つて、はるかに大きなシリコンダ
イアフラムに取付けられる。米国特許第3417361
号は機械的に均質な半導体材料の一体構造として作られ
た圧力箱を含む半導体圧力変換器を記載している。
この変換器の応力感知素子は単一結晶円形ダイアフラム
てあり、そのダイアフラムは整流接合によつてダイアフ
ラム本体から電気的に絶縁された拡散表面層を有する。
米国特許第3858097号は縁で支持された対向する
隔たつた壁を有する中空本体を含む容量形圧力変換器を
記述している。
てあり、そのダイアフラムは整流接合によつてダイアフ
ラム本体から電気的に絶縁された拡散表面層を有する。
米国特許第3858097号は縁で支持された対向する
隔たつた壁を有する中空本体を含む容量形圧力変換器を
記述している。
壁の可撓部上の導電性手段が感圧コンデンサの極板を形
成する。この中空本体はガラスや水晶のような誘電体材
料でできている。米国特許第399393?は厚膜金属
被覆をもつた基板に取付けられた圧力応答ダイアフラム
を記述している。
成する。この中空本体はガラスや水晶のような誘電体材
料でできている。米国特許第399393?は厚膜金属
被覆をもつた基板に取付けられた圧力応答ダイアフラム
を記述している。
この被覆は絶縁ガラスで覆われ、ダイアフラムと厚膜被
覆が圧力可変コンデンサを構成するようになつている。
圧力の変化がダイアフラムをガラスに対して波動させそ
れによつて接触面積及び電気容量が変わる。米国特許第
3328653号は非常に薄い可撓性の誘電体材料の上
層と誘電体材料の剛性の基層の間に挟まれた固定電極を
含む薄膜圧力変換器を記述している。
覆が圧力可変コンデンサを構成するようになつている。
圧力の変化がダイアフラムをガラスに対して波動させそ
れによつて接触面積及び電気容量が変わる。米国特許第
3328653号は非常に薄い可撓性の誘電体材料の上
層と誘電体材料の剛性の基層の間に挟まれた固定電極を
含む薄膜圧力変換器を記述している。
この上層は固定電極に対向した金属薄膜を有する。米国
特許第3397278号は無機絶縁素子を金属素子に接
合するのに適した陽極ボンディング法を記載している。
特許第3397278号は無機絶縁素子を金属素子に接
合するのに適した陽極ボンディング法を記載している。
特に、ホウケイ酸ガラスとシリコンのような半導体のボ
ンディング(接着)が効果的に達成される。米国特許第
3697917号には圧力センサとしてシリコンひずみ
計ダイアフラムを利用した圧力変換器が記載してある。
ンディング(接着)が効果的に達成される。米国特許第
3697917号には圧力センサとしてシリコンひずみ
計ダイアフラムを利用した圧力変換器が記載してある。
このダイアフラムは陽極ボンディング処理によつて管状
ガラス支持体に接合されている。本発明の方法は可変容
量形圧力変換器を提供する。
ガラス支持体に接合されている。本発明の方法は可変容
量形圧力変換器を提供する。
この方法の実施において半導体ウェハは半導体材料の表
面に複数のくぼみを作るために半導体材料の一部を除去
した表面を有する。この半導体材料は次に少くともくぼ
みの領域にくぼみ領域の導電度を高めるためドープされ
る。誘電体材料の表面に導電性材料の間隔をおいた領域
が形成される。間隔をおいたくぼんだ領域をもつ半導体
材料・の表面は次に、半導体材料の表面のくぼみが誘電
体材料上の導電性材料の領域と近接し、間隔をおきかつ
ほぼ平行に整列されるように誘電体材料の表面に付けら
れる。これにより複数の電気コンデンサが形成される。
各コンデンサにはその板状の・一方にドープされた半導
体材料を有し、他方の極板に少くとも導電性領域の1つ
を含む。コンデンサの容量はこの電気コンデンサの極板
に働く1つまたはそれ以上の流体圧の変化の関数として
変化する。ノ 上記の製造工程の使用によつて作られる
複数の感圧コンデンサユニットを含む組立体(以下複数
組立体とよぶ)は半導体材料ウェハに付けられた誘電体
材料を含み、これらの材料は合体して複数の容量性素子
すなわちコンデンサユニットを形成し、各ユニットは一
方の極板としてドープされた半導体材料と他方の極板と
して誘電体材料の上に被着された金属または他の導電性
材料を含む。
面に複数のくぼみを作るために半導体材料の一部を除去
した表面を有する。この半導体材料は次に少くともくぼ
みの領域にくぼみ領域の導電度を高めるためドープされ
る。誘電体材料の表面に導電性材料の間隔をおいた領域
が形成される。間隔をおいたくぼんだ領域をもつ半導体
材料・の表面は次に、半導体材料の表面のくぼみが誘電
体材料上の導電性材料の領域と近接し、間隔をおきかつ
ほぼ平行に整列されるように誘電体材料の表面に付けら
れる。これにより複数の電気コンデンサが形成される。
各コンデンサにはその板状の・一方にドープされた半導
体材料を有し、他方の極板に少くとも導電性領域の1つ
を含む。コンデンサの容量はこの電気コンデンサの極板
に働く1つまたはそれ以上の流体圧の変化の関数として
変化する。ノ 上記の製造工程の使用によつて作られる
複数の感圧コンデンサユニットを含む組立体(以下複数
組立体とよぶ)は半導体材料ウェハに付けられた誘電体
材料を含み、これらの材料は合体して複数の容量性素子
すなわちコンデンサユニットを形成し、各ユニットは一
方の極板としてドープされた半導体材料と他方の極板と
して誘電体材料の上に被着された金属または他の導電性
材料を含む。
複数のコンデンサユニットは個々の容量形圧力変換器を
形成するため切断又はスクライピングによつて分割する
ことができる。以下本発明の実施例を図面を参照して詳
細に説明する。
形成するため切断又はスクライピングによつて分割する
ことができる。以下本発明の実施例を図面を参照して詳
細に説明する。
図において同じ番号は同じ部分を表わす。第1図には本
発明の方法によつて作られる圧力変換器用複数組立体の
分解図が示され、全体が数字10で示されている。複数
組立体10は半導体シリコンウェハ12及び誘電体材料
14を含む。半導体材料12として結晶方位置00の面
をもつ単結晶シリコン半導体材料が好ましく、誘電体材
料14としてはコーニングガラス社(COrnjngG
lassWOrks)から゜“PYrex゛の商標で販
売されている型番が7740のホウケイ酸ガラスが好ま
しい。半導体材料は対向する表面16と表面17を有す
る。表面16と17間の距離すなわち半導体材料12の
厚さは圧力変換器の用途による要求に応じて減らすよう
に選ばれてもよいが、約135ミクロンの厚さがちよう
どよいことがわかつてる。他方、ガラス誘電体材料14
は約1350TWLの厚さがあつてもよい。誘電体材料
14は半導体材料の厚さよりはるかに厚く、材料の厚さ
は図示できる程度に図面ては変えてある。半導体材料1
2は表面16上の間隔をおいた複数領域から半導体材料
の一部を除去することによつて作られた複数のくぼみ1
8を有する。
発明の方法によつて作られる圧力変換器用複数組立体の
分解図が示され、全体が数字10で示されている。複数
組立体10は半導体シリコンウェハ12及び誘電体材料
14を含む。半導体材料12として結晶方位置00の面
をもつ単結晶シリコン半導体材料が好ましく、誘電体材
料14としてはコーニングガラス社(COrnjngG
lassWOrks)から゜“PYrex゛の商標で販
売されている型番が7740のホウケイ酸ガラスが好ま
しい。半導体材料は対向する表面16と表面17を有す
る。表面16と17間の距離すなわち半導体材料12の
厚さは圧力変換器の用途による要求に応じて減らすよう
に選ばれてもよいが、約135ミクロンの厚さがちよう
どよいことがわかつてる。他方、ガラス誘電体材料14
は約1350TWLの厚さがあつてもよい。誘電体材料
14は半導体材料の厚さよりはるかに厚く、材料の厚さ
は図示できる程度に図面ては変えてある。半導体材料1
2は表面16上の間隔をおいた複数領域から半導体材料
の一部を除去することによつて作られた複数のくぼみ1
8を有する。
これに.より半導体の厚さの薄くなつた部分を形成しか
つくぼみ18の容積を定める面領域19を作る。くほみ
18は半導体の表面16を各くぼみ18の深さが約4ミ
クロンまでエッチすることによつて作られるのが好まし
い。エッチされたとき半導体材j料の中にくぼみ18を
形成する間隔をおいた複数の面領域19を形成するエッ
チングには標準写真法やその他の技術を用いることがで
きる。各くぼみ18の面積は約20.25Tiui位で
よい。ヒドラジン8を消イオン化水2の割合で混ぜたも
のから成る・溶液でエッチしてもよい。上記の結晶方位
置00の面をもつシリコン半導体材料に適用したとき、
エッチされた面積は一辺が4.5mftて約20.25
iの面積を与える正方形になろう。エッチング液使用の
代りに、半導体材料12の表面16上の間隔をおいた複
数領域に粒子をボンバードするエッチング法を用いて所
要のくぼみ18を形成することができる。半導体材料1
2にはその導電度を高めるためP形またはN形材料を高
濃度にドープするのが好ましい。
つくぼみ18の容積を定める面領域19を作る。くほみ
18は半導体の表面16を各くぼみ18の深さが約4ミ
クロンまでエッチすることによつて作られるのが好まし
い。エッチされたとき半導体材j料の中にくぼみ18を
形成する間隔をおいた複数の面領域19を形成するエッ
チングには標準写真法やその他の技術を用いることがで
きる。各くぼみ18の面積は約20.25Tiui位で
よい。ヒドラジン8を消イオン化水2の割合で混ぜたも
のから成る・溶液でエッチしてもよい。上記の結晶方位
置00の面をもつシリコン半導体材料に適用したとき、
エッチされた面積は一辺が4.5mftて約20.25
iの面積を与える正方形になろう。エッチング液使用の
代りに、半導体材料12の表面16上の間隔をおいた複
数領域に粒子をボンバードするエッチング法を用いて所
要のくぼみ18を形成することができる。半導体材料1
2にはその導電度を高めるためP形またはN形材料を高
濃度にドープするのが好ましい。
好ましいのは半導体材料のP形導電形を与えるほう素ド
ーパントである。半導体材料は少くとも半導体材料の中
にくぼみ18を形成する隔置ノさた面領域19の部分に
ドープされ、それによつて面領域19の下にある半導体
材料を導電性にする。面領域19の中及び周りの導電度
を高めるため半導体材料のドープする工程はくぼみ18
を作るため半導体材料12をエッチする工程の前後い・
ずれでもよいが、エッチング工程後にドープ工程を行う
のが好ましい。ガラス誘電体材料14は表面20及び2
1を有する。
ーパントである。半導体材料は少くとも半導体材料の中
にくぼみ18を形成する隔置ノさた面領域19の部分に
ドープされ、それによつて面領域19の下にある半導体
材料を導電性にする。面領域19の中及び周りの導電度
を高めるため半導体材料のドープする工程はくぼみ18
を作るため半導体材料12をエッチする工程の前後い・
ずれでもよいが、エッチング工程後にドープ工程を行う
のが好ましい。ガラス誘電体材料14は表面20及び2
1を有する。
表面20には隔置された領域に導電性材料22が被着さ
れている。これらの方形領域は半導・体材料のくぼみ1
8より面積ていくらか小さく、半導体材料12を誘電体
材料14に接着するとき半導体材料に接触することなく
半導体材料のくほみ18の中心に整列されるようすなわ
ち心合わせされるよう意図され、ガラスの表面20上に
アルミまたは他の導電性材料の蒸着により形成される。
導電性材料の薄膜をつける他の既知の方法を用いてガラ
ス誘電体材料の表面20に導電性領域22の膜を作つて
もよい。ガラス誘電体材料14には複数の穴が明られて
いる。
れている。これらの方形領域は半導・体材料のくぼみ1
8より面積ていくらか小さく、半導体材料12を誘電体
材料14に接着するとき半導体材料に接触することなく
半導体材料のくほみ18の中心に整列されるようすなわ
ち心合わせされるよう意図され、ガラスの表面20上に
アルミまたは他の導電性材料の蒸着により形成される。
導電性材料の薄膜をつける他の既知の方法を用いてガラ
ス誘電体材料の表面20に導電性領域22の膜を作つて
もよい。ガラス誘電体材料14には複数の穴が明られて
いる。
半導体ウェハ12と誘電体材料14の両方及び誘電体材
料14の1つの面上て互に離れた複数の容量形圧力変換
器の各々に関連した電極リード用の2つの穴26及び2
8がある。この穴26及ひ28は既知の超音波、研削ま
たはレーザ穴明け技術を使つて誘電体材料に作られるの
が好ましい。明けられた穴26はガラス誘電体材料14
及びその上の穴26が関連する間隔をおいた導電性領域
22の厚さを貫通する。同様に穴28はガラス誘電体材
料を貫通するように明けられるが、それが半導体材料の
表面16に関して穴28に被着した誘電性材料を半導体
材料表面16と電気的に接触するよにさせる位置にある
ように導電性材料22から離れた位置に配置される。導
電性面領域22と電気的接触をするように明けられた穴
26の中に導電性材料が置かれる。穴26と28は誘電
体材料14に隔置された導電性領域22を被着した後で
かつ半導体材料12が誘電体材料14に取付けられる前
に明けるのが好ましい。これらの材料の組立体は集積回
路が半導体材料のウェハか.ら普通に切断される方法で
くぼみ18とくぼみ18との間の領域に沿つて切断され
ることを意図している。これによつて複数の個別の容量
変圧力変換器を作り、各圧力変換器はくほみの1つと、
誘電体材料上の導電性領域22の1つと、それぞれ−の
くほみ18と導電性領域22を囲む半導体材料と誘電体
材料の一部とを含む。穴28の中の導電性材料は半導体
材料の高濃度にドープされた事実上は完全な導電面16
と接触する。穴26の中の導電性材料は導電領域22と
電気的接触がてきるようにしてある。穴26及び28の
中に形成される導電性材料は商品名ハノビア(HanO
vja)ブライトプラチナの被着によつて設けてもよい
。
料14の1つの面上て互に離れた複数の容量形圧力変換
器の各々に関連した電極リード用の2つの穴26及び2
8がある。この穴26及ひ28は既知の超音波、研削ま
たはレーザ穴明け技術を使つて誘電体材料に作られるの
が好ましい。明けられた穴26はガラス誘電体材料14
及びその上の穴26が関連する間隔をおいた導電性領域
22の厚さを貫通する。同様に穴28はガラス誘電体材
料を貫通するように明けられるが、それが半導体材料の
表面16に関して穴28に被着した誘電性材料を半導体
材料表面16と電気的に接触するよにさせる位置にある
ように導電性材料22から離れた位置に配置される。導
電性面領域22と電気的接触をするように明けられた穴
26の中に導電性材料が置かれる。穴26と28は誘電
体材料14に隔置された導電性領域22を被着した後で
かつ半導体材料12が誘電体材料14に取付けられる前
に明けるのが好ましい。これらの材料の組立体は集積回
路が半導体材料のウェハか.ら普通に切断される方法で
くぼみ18とくぼみ18との間の領域に沿つて切断され
ることを意図している。これによつて複数の個別の容量
変圧力変換器を作り、各圧力変換器はくほみの1つと、
誘電体材料上の導電性領域22の1つと、それぞれ−の
くほみ18と導電性領域22を囲む半導体材料と誘電体
材料の一部とを含む。穴28の中の導電性材料は半導体
材料の高濃度にドープされた事実上は完全な導電面16
と接触する。穴26の中の導電性材料は導電領域22と
電気的接触がてきるようにしてある。穴26及び28の
中に形成される導電性材料は商品名ハノビア(HanO
vja)ブライトプラチナの被着によつて設けてもよい
。
この材料はエンゲルハード工業社(En?Ehardl
ndustrjes,.Inc.)か−ら販売されてい
る有機金属溶液である。その溶液は穴26及び28の中
に堆積され乾燥させられる。これは穴の面上好ましくは
、穴28及び26が貫通している誘電体材料及ひ導電性
領域22の面上の直接領域に金属塩の残留物を残す。穴
に堆積した塩を次いて加熱すると堆積塩は導電性の金属
膜に分解する。上記の分解を起させるために穴26及び
28内の塩を加熱する前に半導体ウェハ12を誘電体材
料14に接着して複数組立体10をつくる。
ndustrjes,.Inc.)か−ら販売されてい
る有機金属溶液である。その溶液は穴26及び28の中
に堆積され乾燥させられる。これは穴の面上好ましくは
、穴28及び26が貫通している誘電体材料及ひ導電性
領域22の面上の直接領域に金属塩の残留物を残す。穴
に堆積した塩を次いて加熱すると堆積塩は導電性の金属
膜に分解する。上記の分解を起させるために穴26及び
28内の塩を加熱する前に半導体ウェハ12を誘電体材
料14に接着して複数組立体10をつくる。
このボンディング工程は例えば前述の米国特許第369
7917号、米国特許第3397278号、ないしは米
国特許第40259牝号に記述の陽極ボンディング法を
使つて達成できる。これらの特許に記述の陽極ボンディ
ング法や拡散ボンディング法は本実施例で提案している
種類のガラスにシリコン半導体材料を接着するのに特に
適しているが、当業者に周知の他の方法を用いて半導体
材料12の表面16をガラス誘電体材料14の表面20
に接着してもよい。第2図には複数組立体10が部分拡
大断面図で示されている。
7917号、米国特許第3397278号、ないしは米
国特許第40259牝号に記述の陽極ボンディング法を
使つて達成できる。これらの特許に記述の陽極ボンディ
ング法や拡散ボンディング法は本実施例で提案している
種類のガラスにシリコン半導体材料を接着するのに特に
適しているが、当業者に周知の他の方法を用いて半導体
材料12の表面16をガラス誘電体材料14の表面20
に接着してもよい。第2図には複数組立体10が部分拡
大断面図で示されている。
複数組立体10がそれを支持する支持棚44を有するベ
ルジヤー40内に収められている状態を示す。複数組立
体10はベルジヤー40に収容される前に個別の容量形
圧力変換器組立体を作るため分割されたもよいが、その
分割は処理効率のためにこの後に行われるのが好ましい
。ベルジヤー40の中では穴26及び28の中の誘電体
材料が加熱されその分解を生じそれによつて穴の内面に
導電性膜または被覆をつくる。所望に応じて穴のどちら
か一方または両方が封止される。この封止を達成するた
め、はんだのリング30及び32若しくははんだまたは
他の封止材料の相当する堆積を穴の開口部の近くの誘電
体材料14の表面21への入口に置く。加熱れるとはん
だリング30及び32は溶け、毛細管引力により各々の
穴26及び28に流れ込みその中で封止を形成する。ベ
ルジヤー40の中で誘電体材料14面と、その上の導電
性材料22と、予め半導体材料の中にエッチされたその
面19とによつて定められるくぼみ18の中に所定の圧
力を確立することができる。第3図ははんだヘッドまた
はバンプ34及び36を作るために溶融はんだリング3
0及び32で穴26及び28が封止された後の複数組立
体10を示し、それらのはんだバンプはフリップチップ
法でこの容量形圧力変換器を厚膜支持体に接着するため
に用いることができる。
ルジヤー40内に収められている状態を示す。複数組立
体10はベルジヤー40に収容される前に個別の容量形
圧力変換器組立体を作るため分割されたもよいが、その
分割は処理効率のためにこの後に行われるのが好ましい
。ベルジヤー40の中では穴26及び28の中の誘電体
材料が加熱されその分解を生じそれによつて穴の内面に
導電性膜または被覆をつくる。所望に応じて穴のどちら
か一方または両方が封止される。この封止を達成するた
め、はんだのリング30及び32若しくははんだまたは
他の封止材料の相当する堆積を穴の開口部の近くの誘電
体材料14の表面21への入口に置く。加熱れるとはん
だリング30及び32は溶け、毛細管引力により各々の
穴26及び28に流れ込みその中で封止を形成する。ベ
ルジヤー40の中で誘電体材料14面と、その上の導電
性材料22と、予め半導体材料の中にエッチされたその
面19とによつて定められるくぼみ18の中に所定の圧
力を確立することができる。第3図ははんだヘッドまた
はバンプ34及び36を作るために溶融はんだリング3
0及び32で穴26及び28が封止された後の複数組立
体10を示し、それらのはんだバンプはフリップチップ
法でこの容量形圧力変換器を厚膜支持体に接着するため
に用いることができる。
くぼみ18の区域中に確立された所定の圧力レベルがこ
の容量形圧力変換器の圧力応答範囲を決める。
の容量形圧力変換器の圧力応答範囲を決める。
もし変換器が絶対圧の変化に応じて容量変動を生ずるよ
うに使われることになつているならば穴を封止するはん
だリング30を加熱する前に〔穴26を通してくぼみ1
8の区域を真空にすることが望ましい。この真空化は複
数組立体10またはこれから分割された個々の圧力変換
器が入られるベルジヤー等の中で行われてもよい。いず
れの場合もこの容量形圧力変換器の各電気容量はこのj
電気コンデンサの各極板に働く1つまたはそれ以上の流
体圧の変化の関数として変化する。これらの極板の1つ
は区域19によつて定められる半導体材料を含む。第1
の極板から離れた他の極板はガラス誘電体材料14上の
導電性領域22の1つフを含む。くぼみ区域すなわち容
積18内の圧力は半導体材料の面17に作用する力に対
抗し、その力はの面がさらされている流体圧の関数であ
る。ガラス誘電体材料の表面21に作用する圧力は半導
体材料12の区域19のたわみに比べてそのたわみは非
常に少ししか生じない。
うに使われることになつているならば穴を封止するはん
だリング30を加熱する前に〔穴26を通してくぼみ1
8の区域を真空にすることが望ましい。この真空化は複
数組立体10またはこれから分割された個々の圧力変換
器が入られるベルジヤー等の中で行われてもよい。いず
れの場合もこの容量形圧力変換器の各電気容量はこのj
電気コンデンサの各極板に働く1つまたはそれ以上の流
体圧の変化の関数として変化する。これらの極板の1つ
は区域19によつて定められる半導体材料を含む。第1
の極板から離れた他の極板はガラス誘電体材料14上の
導電性領域22の1つフを含む。くぼみ区域すなわち容
積18内の圧力は半導体材料の面17に作用する力に対
抗し、その力はの面がさらされている流体圧の関数であ
る。ガラス誘電体材料の表面21に作用する圧力は半導
体材料12の区域19のたわみに比べてそのたわみは非
常に少ししか生じない。
第1図は半導体材料のウェハ及びその表面の1つの上に
隔置された導電性領域をもつた誘電体材料を含む本発明
の製造方法に係る圧力変換器用複数組立体の拡大分解図
てある。 第2図は半導体材料の表面のくぼんだ区域及ひ誘電体材
料の表面との間に形成された限定された容積の各々の中
に所定の圧力が確立されるようにしたおく容器の中に置
かれた複数組立体の更に拡大した部分断面図である。第
3図は本発明の製造方法で作られた可変容量形圧力変換
器素子の1つの一部の拡大断面図である。12・・・・
・・半導体材料、14・・・・・誘電体材料、16・・
・・・・半導体材料表面、18・・・・・・くぼみ、2
0・・・・・誘電体材料表面、22・・・・・導電性材
料、26・・・・・穴、30,32・・・・・・はんだ
リング、34,36・・・・はんだバンプ。
隔置された導電性領域をもつた誘電体材料を含む本発明
の製造方法に係る圧力変換器用複数組立体の拡大分解図
てある。 第2図は半導体材料の表面のくぼんだ区域及ひ誘電体材
料の表面との間に形成された限定された容積の各々の中
に所定の圧力が確立されるようにしたおく容器の中に置
かれた複数組立体の更に拡大した部分断面図である。第
3図は本発明の製造方法で作られた可変容量形圧力変換
器素子の1つの一部の拡大断面図である。12・・・・
・・半導体材料、14・・・・・誘電体材料、16・・
・・・・半導体材料表面、18・・・・・・くぼみ、2
0・・・・・誘電体材料表面、22・・・・・導電性材
料、26・・・・・穴、30,32・・・・・・はんだ
リング、34,36・・・・はんだバンプ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 可変容量形圧力変換器の製造方法であつて、(a)
半導体材料のウェハーの一部を除去してウェハの表面上
の間隔をおいた領域に複数のくぼみをつくる工程、(b
)少くとも前記くぼみの領域に、そのような領域上のそ
の導電度を高めるため、半導体材料をドープする工程、
(c)材料の表面に、間隔をおいた導電性材料の領域を
形成する工程、(d)前記半導体材料の表面のくぼみが
前記誘電体材料上の導電性材料の領域と隣接し、間隔を
おき、かつほぼ平行に整列されるように半導体材料の表
面を誘電体材料の表面に接着して複数のコンデンサを構
成し、それによつて各コンデンサが、コンデンサの両極
板のうち少くとも1つの導電性材料領域を含む他の極板
から間隔をおいた1つの極板としてドープされた半導体
材料を有し、コンデンサの極板に働く1つまたはそれ以
上の流体圧の変化の関数としてコンデンサの容量値が変
化するようなコンデンサを形成する工程、及び(e)前
記ウェハを接着した前記誘電体材料を前記くぼみとくぼ
みとの間の位置で切断し、個別のコンデンサに分離する
工程を含むことを特徴とする製造方法。 2 特許請求の範囲第1項記載の製造法において、前記
間隔をおいた領域の半導体材料の除去をエッチングで行
うことを特徴とする方法。 3 特許請求の範囲第2項記載の方法において、前記エ
ッチングが前記間隔をおいた領域の半導体材料に対する
粒子によるボンバードによつてなされることを特徴とす
る方法。 4 特許請求の範囲第2項記載の製造方法において、前
記半導体材料がシリコンであり、前記誘電体材料がガラ
スであり、かつ前記半導体材料の間隔をおいた領域のエ
ッチングがヒドラジンで行われ、前記導電性材料の間隔
をおいた領域がガラス誘電体材料の表面に金属薄膜をつ
けることによつて形成されることを特徴とする方法。 5 特許請求の範囲第1項、第2項、第3項又は第4項
記載の方法において、前記間隔をおいた領域内の導電性
材料に対する位置に前記誘電体材料を貫通する穴をあけ
、このように誘電体材料を貫通してあけられた穴の中に
電気的導体を形成し、この製造工程が完了すると穴の中
の電気的導体が誘電体表面上の導電性材料に電気的接触
を与えることを特徴とする方法。 6 特許請求の範囲第5項記載の製造方法において、前
記穴の中の電気的導体が、その穴に金属化合物の溶液を
つけ、穴を形成する表面に金属化合物の堆積を残すため
にその溶液を乾燥し、かつ金属化合物を分解させるため
それを加熱することによつて形成され、それによつて穴
の中の金属と誘電体上料面材の導電性領域を相互接続す
る持続的な電気的導体を形成することを特徴とする方法
。 7 特許請求の範囲第5項記載の製造方法において、前
記誘電体材料の穴を封止することを特徴とする方法。 8 特許請求の範囲第5項記載の製造方法において、前
記ウェハと前記誘電体材料を切断する前に前記誘電体材
料の穴を封止することを特徴とする方法。 9 特許請求の範囲第7項記載の製造方法において、前
記誘電体材料の穴を封止する前にコンデンサの各々の極
板間に所定の圧力を確立することを特徴とする方法。 10 特許請求の範囲第7項記載の製造方法において、
前記誘電体材料の穴を封止する前にコンデンサを真空の
環境に置き、それによつてコンデンサの極板間の圧力を
減ずることを特徴とする方法。 11 特許請求の範囲第9項記載の製造方法において、
前記誘電体材料が所定の圧力を受けている間に導電性封
止剤を前記穴の各々に近接して置くこと、その導電性封
止剤を流動化し近接する穴に流れ込ませるためにそれを
加熱すること、及び穴に関連したコンデンサの極板間が
そのような穴の封止が完了するまで所定の圧力に維持さ
れている間にその導電性封止剤を穴の中で封止を作るた
めに固化することによつて誘電体材料の穴を封止すこと
を特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/072,506 US4261086A (en) | 1979-09-04 | 1979-09-04 | Method for manufacturing variable capacitance pressure transducers |
| US72506 | 1979-09-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5637682A JPS5637682A (en) | 1981-04-11 |
| JPS6050073B2 true JPS6050073B2 (ja) | 1985-11-06 |
Family
ID=22108036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55113326A Expired JPS6050073B2 (ja) | 1979-09-04 | 1980-08-18 | 可変容量形圧力変換器とその製造中間品の製造方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4261086A (ja) |
| EP (1) | EP0024946B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6050073B2 (ja) |
| CA (1) | CA1153833A (ja) |
| DE (1) | DE3070514D1 (ja) |
Families Citing this family (57)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2834211C2 (de) * | 1978-08-04 | 1982-08-05 | Klöckner-Werke AG, 4100 Duisburg | Formvorrichtung zum Herstellen von Formlingen aus wenigstens zwei miteinander verbundenen Teilformlingen aus formbarem Material, insbesondere Gummi |
| US4277814A (en) * | 1979-09-04 | 1981-07-07 | Ford Motor Company | Semiconductor variable capacitance pressure transducer assembly |
| US4386453A (en) * | 1979-09-04 | 1983-06-07 | Ford Motor Company | Method for manufacturing variable capacitance pressure transducers |
| US4332000A (en) * | 1980-10-03 | 1982-05-25 | International Business Machines Corporation | Capacitive pressure transducer |
| US4390925A (en) * | 1981-08-26 | 1983-06-28 | Leeds & Northrup Company | Multiple-cavity variable capacitance pressure transducer |
| US4384899A (en) * | 1981-11-09 | 1983-05-24 | Motorola Inc. | Bonding method adaptable for manufacturing capacitive pressure sensing elements |
| US4424713A (en) | 1982-06-11 | 1984-01-10 | General Signal Corporation | Silicon diaphragm capacitive pressure transducer |
| US4445383A (en) * | 1982-06-18 | 1984-05-01 | General Signal Corporation | Multiple range capacitive pressure transducer |
| US4558184A (en) * | 1983-02-24 | 1985-12-10 | At&T Bell Laboratories | Integrated capacitive transducer |
| DE3310643C2 (de) * | 1983-03-24 | 1986-04-10 | Karlheinz Dr. 7801 Schallstadt Ziegler | Drucksensor |
| US4524247A (en) * | 1983-07-07 | 1985-06-18 | At&T Bell Laboratories | Integrated electroacoustic transducer with built-in bias |
| JPS60138434A (ja) * | 1983-12-27 | 1985-07-23 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体形静電容量式圧力センサの製造方法 |
| US4530029A (en) * | 1984-03-12 | 1985-07-16 | United Technologies Corporation | Capacitive pressure sensor with low parasitic capacitance |
| FI75426C (fi) * | 1984-10-11 | 1988-06-09 | Vaisala Oy | Absoluttryckgivare. |
| US4732647A (en) * | 1984-10-24 | 1988-03-22 | Aine Harry E | Batch method of making miniature capacitive force transducers assembled in wafer form |
| US4602184A (en) * | 1984-10-29 | 1986-07-22 | Ford Motor Company | Apparatus for applying high frequency ultrasonic energy to cleaning and etching solutions |
| US4625561A (en) * | 1984-12-06 | 1986-12-02 | Ford Motor Company | Silicon capacitive pressure sensor and method of making |
| EP0189492B1 (de) * | 1985-01-28 | 1988-06-22 | Kristal Instrumente AG | Messwandlereinsatz, Verfahren zu seiner Herstellung und Verwendung für einen Aufnehmer zur Messung mechanischer Grössen |
| US4683758A (en) * | 1986-01-16 | 1987-08-04 | Ford Motor Company | Device for measuring stresses in vacuum deposition coatings |
| US4730496A (en) * | 1986-06-23 | 1988-03-15 | Rosemount Inc. | Capacitance pressure sensor |
| US4773269A (en) * | 1986-07-28 | 1988-09-27 | Rosemount Inc. | Media isolated differential pressure sensors |
| US4701424A (en) * | 1986-10-30 | 1987-10-20 | Ford Motor Company | Hermetic sealing of silicon |
| US4773972A (en) * | 1986-10-30 | 1988-09-27 | Ford Motor Company | Method of making silicon capacitive pressure sensor with glass layer between silicon wafers |
| US4701826A (en) * | 1986-10-30 | 1987-10-20 | Ford Motor Company | High temperature pressure sensor with low parasitic capacitance |
| US5013396A (en) * | 1987-06-01 | 1991-05-07 | The Regents Of The University Of Michigan | Method of making an ultraminiature pressure sensor |
| US5207103A (en) * | 1987-06-01 | 1993-05-04 | Wise Kensall D | Ultraminiature single-crystal sensor with movable member |
| US4881410A (en) * | 1987-06-01 | 1989-11-21 | The Regents Of The University Of Michigan | Ultraminiature pressure sensor and method of making same |
| GB8718639D0 (en) * | 1987-08-06 | 1987-09-09 | Spectrol Reliance Ltd | Capacitive pressure sensors |
| JPH0623782B2 (ja) * | 1988-11-15 | 1994-03-30 | 株式会社日立製作所 | 静電容量式加速度センサ及び半導体圧力センサ |
| US4996627A (en) * | 1989-01-30 | 1991-02-26 | Dresser Industries, Inc. | High sensitivity miniature pressure transducer |
| DE3910646A1 (de) * | 1989-04-01 | 1990-10-04 | Endress Hauser Gmbh Co | Kapazitiver drucksensor und verfahren zu seiner herstellung |
| US6314823B1 (en) * | 1991-09-20 | 2001-11-13 | Kazuhiro Okada | Force detector and acceleration detector and method of manufacturing the same |
| US5421213A (en) | 1990-10-12 | 1995-06-06 | Okada; Kazuhiro | Multi-dimensional force detector |
| DE4206675C2 (de) * | 1992-02-28 | 1995-04-27 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen von Druckdifferenz-Sensoren |
| US5365790A (en) * | 1992-04-02 | 1994-11-22 | Motorola, Inc. | Device with bonded conductive and insulating substrates and method therefore |
| US6282956B1 (en) * | 1994-12-29 | 2001-09-04 | Kazuhiro Okada | Multi-axial angular velocity sensor |
| US5744725A (en) * | 1994-04-18 | 1998-04-28 | Motorola Inc. | Capacitive pressure sensor and method of fabricating same |
| US6935002B1 (en) * | 1997-10-13 | 2005-08-30 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method of manufacturing a nonreciprocal circuit device |
| US5929497A (en) * | 1998-06-11 | 1999-07-27 | Delco Electronics Corporation | Batch processed multi-lead vacuum packaging for integrated sensors and circuits |
| US6109113A (en) * | 1998-06-11 | 2000-08-29 | Delco Electronics Corp. | Silicon micromachined capacitive pressure sensor and method of manufacture |
| MXPA01004046A (es) | 1998-10-23 | 2002-07-02 | Avery Dennison Corp | Proceso para fabricar escamas metalicas. |
| US6431003B1 (en) | 2000-03-22 | 2002-08-13 | Rosemount Aerospace Inc. | Capacitive differential pressure sensor with coupled diaphragms |
| US6962834B2 (en) | 2002-03-22 | 2005-11-08 | Stark David H | Wafer-level hermetic micro-device packages |
| US20060191215A1 (en) * | 2002-03-22 | 2006-08-31 | Stark David H | Insulated glazing units and methods |
| US6627814B1 (en) * | 2002-03-22 | 2003-09-30 | David H. Stark | Hermetically sealed micro-device package with window |
| US7832177B2 (en) * | 2002-03-22 | 2010-11-16 | Electronics Packaging Solutions, Inc. | Insulated glazing units |
| US7098117B2 (en) * | 2002-10-18 | 2006-08-29 | The Regents Of The University Of Michigan | Method of fabricating a package with substantially vertical feedthroughs for micromachined or MEMS devices |
| US20050257877A1 (en) * | 2004-04-19 | 2005-11-24 | Stark David H | Bonded assemblies |
| US7989040B2 (en) | 2007-09-14 | 2011-08-02 | Electronics Packaging Solutions, Inc. | Insulating glass unit having multi-height internal standoffs and visible decoration |
| WO2010019484A2 (en) * | 2008-08-09 | 2010-02-18 | Eversealed Windows, Inc. | Asymmetrical flexible edge seal for vacuum insulating glass |
| ES2363566T5 (es) | 2008-10-22 | 2020-04-16 | Macdermid Enthone Inc | Procedimiento para la deposición galvánica de capas de cromo duro |
| US8329267B2 (en) * | 2009-01-15 | 2012-12-11 | Eversealed Windows, Inc. | Flexible edge seal for vacuum insulating glazing units |
| US8512830B2 (en) * | 2009-01-15 | 2013-08-20 | Eversealed Windows, Inc. | Filament-strung stand-off elements for maintaining pane separation in vacuum insulating glazing units |
| US8950162B2 (en) | 2010-06-02 | 2015-02-10 | Eversealed Windows, Inc. | Multi-pane glass unit having seal with adhesive and hermetic coating layer |
| US9328512B2 (en) | 2011-05-05 | 2016-05-03 | Eversealed Windows, Inc. | Method and apparatus for an insulating glazing unit and compliant seal for an insulating glazing unit |
| TWI588918B (zh) * | 2014-04-01 | 2017-06-21 | 亞太優勢微系統股份有限公司 | 具精確間隙機電晶圓結構與及其製作方法 |
| US11378468B2 (en) | 2016-08-12 | 2022-07-05 | Brightsentinel Limited | Sensor module and process for producing same |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1138401A (en) * | 1965-05-06 | 1969-01-01 | Mallory & Co Inc P R | Bonding |
| US3417361A (en) * | 1966-03-07 | 1968-12-17 | Conrac Corp | Semiconductive pressure transducer |
| US3328653A (en) * | 1966-09-22 | 1967-06-27 | Budd Co | Thin film pressure transducer |
| US3634727A (en) * | 1968-12-03 | 1972-01-11 | Bendix Corp | Capacitance-type pressure transducer |
| US3697917A (en) * | 1971-08-02 | 1972-10-10 | Gen Electric | Semiconductor strain gage pressure transducer |
| US3858097A (en) * | 1973-12-26 | 1974-12-31 | Bendix Corp | Pressure-sensing capacitor |
| US4025942A (en) * | 1974-03-18 | 1977-05-24 | Kulite Semiconductor Products, Inc. | Low pressure transducers employing large silicon diaphragms having non-critical electrical properties |
| US3993939A (en) * | 1975-01-07 | 1976-11-23 | The Bendix Corporation | Pressure variable capacitor |
-
1979
- 1979-09-04 US US06/072,506 patent/US4261086A/en not_active Expired - Lifetime
-
1980
- 1980-07-10 CA CA000355937A patent/CA1153833A/en not_active Expired
- 1980-08-18 JP JP55113326A patent/JPS6050073B2/ja not_active Expired
- 1980-09-03 EP EP80303058A patent/EP0024946B1/en not_active Expired
- 1980-09-03 DE DE8080303058T patent/DE3070514D1/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0024946A3 (en) | 1981-12-30 |
| US4261086A (en) | 1981-04-14 |
| JPS5637682A (en) | 1981-04-11 |
| DE3070514D1 (en) | 1985-05-23 |
| EP0024946B1 (en) | 1985-04-17 |
| EP0024946A2 (en) | 1981-03-11 |
| CA1153833A (en) | 1983-09-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6050073B2 (ja) | 可変容量形圧力変換器とその製造中間品の製造方法 | |
| US4386453A (en) | Method for manufacturing variable capacitance pressure transducers | |
| JP3447295B2 (ja) | 懸架ダイアフラム圧力センサ | |
| US4625561A (en) | Silicon capacitive pressure sensor and method of making | |
| EP0074176B1 (en) | Variable capacitance pressure transducer | |
| EP0090845A1 (en) | CAPACITIVE PRESSURE TRANSDUCER WITH SILICON-GLASS-SILICON. | |
| US7057247B2 (en) | Combined absolute differential transducer | |
| US6431003B1 (en) | Capacitive differential pressure sensor with coupled diaphragms | |
| US5264075A (en) | Fabrication methods for silicon/glass capacitive absolute pressure sensors | |
| JPH0565015B2 (ja) | ||
| JPH06129933A (ja) | 過圧保護ポリシリコン容量性差圧センサー及びその製造方法 | |
| US5656781A (en) | Capacitive pressure transducer structure with a sealed vacuum chamber formed by two bonded silicon wafers | |
| US5448444A (en) | Capacitive pressure sensor having a reduced area dielectric spacer | |
| CA1154502A (en) | Semiconductor variable capacitance pressure transducer | |
| EP0339981A2 (en) | Laminated semiconductor sensor with overpressure protection | |
| JPH07169977A (ja) | 動力センサおよび該動力センサの製造法 | |
| Midtbo et al. | Fabrication and characterization of CMUTs realized by wafer bonding | |
| CN113483926B (zh) | 一种爆炸场mems压阻式压力传感器 | |
| JP3756769B2 (ja) | 静電容量式圧力センサ、センサ素子およびセンサ素子の製造方法 | |
| JP4151898B2 (ja) | 静電容量式圧力センサ | |
| US3924322A (en) | Economical pressure transducer assemblies, methods of fabricating and mounting the same | |
| JPH04249726A (ja) | 静電容量の変化を利用したセンサの製造方法 | |
| JPH09101218A (ja) | 半導体センサの製造方法 | |
| CN121894596A (zh) | 一种低温度迟滞的介质隔离硅压阻式压力传感器芯片及其制备方法 | |
| WO2000057151B1 (en) | Capacitive differential pressure sensor |