JPS6050460A - 非破壊絶縁試験方法 - Google Patents
非破壊絶縁試験方法Info
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- JPS6050460A JPS6050460A JP16063483A JP16063483A JPS6050460A JP S6050460 A JPS6050460 A JP S6050460A JP 16063483 A JP16063483 A JP 16063483A JP 16063483 A JP16063483 A JP 16063483A JP S6050460 A JPS6050460 A JP S6050460A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、電気機器の絶縁構成および絶縁性能の良否
を体積抵抗率の測定により診断する非破壊絶縁試験方法
、特に２被試験機器を圧力容器に入れ、この圧力容器内
の圧力または気体の種類を変えることによりコロナ開始
電圧を被試験機器の定格電圧以下に引き下げておこない
よ５Ｋした非破壊絶縁試験方法に関するものである。
を体積抵抗率の測定により診断する非破壊絶縁試験方法
、特に２被試験機器を圧力容器に入れ、この圧力容器内
の圧力または気体の種類を変えることによりコロナ開始
電圧を被試験機器の定格電圧以下に引き下げておこない
よ５Ｋした非破壊絶縁試験方法に関するものである。
従来のこの種の非破壊絶縁試験方法としては。
例えば誘電ｌ接試験における誘電正接雛δと印加電圧と
の関係を調べる方法がある。第１図は、その−δ−印加
電圧特性を示したものであり、縦軸には誘電正接ｔａｎ
δ力１パーセンテージ（％）で、また横軸には印加電圧
がキロポル） （ｋＶ）でとっである。
の関係を調べる方法がある。第１図は、その−δ−印加
電圧特性を示したものであり、縦軸には誘電正接ｔａｎ
δ力１パーセンテージ（％）で、また横軸には印加電圧
がキロポル） （ｋＶ）でとっである。
高電圧の乾式絶縁に対しては、−δ−印加電圧特性の測
定が一般におこなわれており、給縁物内部にギャップ（
ボイド）がある場合等、電圧が増加するとここでコロナ
放電が発生するため、誘電正接−δが増加する。そこで
、コロナ放電が起らない従って誘電圧接ｔ−１＋′ｌδ
が一定である比較的低い電圧Ｖ、における誘電圧接の値
姉δθと、電圧Ｖｎでの電圧上昇による誘電正接の増加
分−δの値とをめ、絶縁の劣化、吸湿の度合、ボイド含
有程度およびコロナ放電の発生状態を判定する。なお、
誘電正接篩δが論δＯから所定の値、増加した時の印加
電圧ケコロナ開始電圧ｖｌとしており、また、コロナ放
電が起らない上限の電圧をｖＯｍａＸとすると、電圧Ｖ
ｎでの増加分はΔ−δ＝醜δ（Ｖ ｎ −Ｖ ｏｍａｘ
）と表わすことができる。誘電圧接ｔａｎδを測定する
装置としては、例えば第２図に示すシ、ｃ−ＩＪング・
ブリッジがある。第２図のシェージング・ブリッジに甘
いて、■は電源、ＣｘおよびＲｘはそれぞれ被試験機器
に当る測定試料の等価直列静電容量および等価直列抵抗
である。また、Ｃｓは無損失の標準コンデンサ、Ｒ３は
平衡用可変抵抗−Ｃｑは平衡用可変コンデンサ、Ｒ１１
は無誘導抵抗、そしてＧは検流器である。ブリッジの接
続点ａとｂの間には等価直列静電容量Ｃｘと等価直列抵
抗Ｒｘが直列に、接続点すとＣの間には平衡用可変抵抗
Ｒ３が、また接続点Ｃとｄの間には平衡用可変コノデン
サＣｅと無誘導抵抗Ｒ＆が並列に、そして接続点ｄとａ
の間には無損失の標準コンデンサａＳがそれぞれ接続さ
れている。また、接続点すとｄの間には検流器Ｇが接続
されている。電源■は接続点ａとＣの間に接続されてお
り、接続点Ｃはアースされている。いま、平衡用可変抵
抗Ｒ，？および平衡用可変コンデンサＣｅの値を加減し
て、ブリッジの平衡が得られたとすると、次式が成立す
る。
定が一般におこなわれており、給縁物内部にギャップ（
ボイド）がある場合等、電圧が増加するとここでコロナ
放電が発生するため、誘電正接−δが増加する。そこで
、コロナ放電が起らない従って誘電圧接ｔ−１＋′ｌδ
が一定である比較的低い電圧Ｖ、における誘電圧接の値
姉δθと、電圧Ｖｎでの電圧上昇による誘電正接の増加
分−δの値とをめ、絶縁の劣化、吸湿の度合、ボイド含
有程度およびコロナ放電の発生状態を判定する。なお、
誘電正接篩δが論δＯから所定の値、増加した時の印加
電圧ケコロナ開始電圧ｖｌとしており、また、コロナ放
電が起らない上限の電圧をｖＯｍａＸとすると、電圧Ｖ
ｎでの増加分はΔ−δ＝醜δ（Ｖ ｎ −Ｖ ｏｍａｘ
）と表わすことができる。誘電圧接ｔａｎδを測定する
装置としては、例えば第２図に示すシ、ｃ−ＩＪング・
ブリッジがある。第２図のシェージング・ブリッジに甘
いて、■は電源、ＣｘおよびＲｘはそれぞれ被試験機器
に当る測定試料の等価直列静電容量および等価直列抵抗
である。また、Ｃｓは無損失の標準コンデンサ、Ｒ３は
平衡用可変抵抗−Ｃｑは平衡用可変コンデンサ、Ｒ１１
は無誘導抵抗、そしてＧは検流器である。ブリッジの接
続点ａとｂの間には等価直列静電容量Ｃｘと等価直列抵
抗Ｒｘが直列に、接続点すとＣの間には平衡用可変抵抗
Ｒ３が、また接続点Ｃとｄの間には平衡用可変コノデン
サＣｅと無誘導抵抗Ｒ＆が並列に、そして接続点ｄとａ
の間には無損失の標準コンデンサａＳがそれぞれ接続さ
れている。また、接続点すとｄの間には検流器Ｇが接続
されている。電源■は接続点ａとＣの間に接続されてお
り、接続点Ｃはアースされている。いま、平衡用可変抵
抗Ｒ，？および平衡用可変コンデンサＣｅの値を加減し
て、ブリッジの平衡が得られたとすると、次式が成立す
る。
Ｒす
Ｃｘ＝ ＣＳ ・・・（１）
３
Ｃｑ
ＲＸ＝ Ｒ，？ ・・・（，２）
Ｃｓ
従って、測定試料の誘電圧接■δＸは
ｊａｎδＸ ＝ ωＲ４ＩＣ，Ｈ＋ −（３）となる。
そこで５印加電圧を変えながら、測定試料の静電容量変
化および抵抗変化を測定し、−δ−印加電圧特性をめる
ことにより絶縁構成および絶縁性能の試験をおこなって
いた。
化および抵抗変化を測定し、−δ−印加電圧特性をめる
ことにより絶縁構成および絶縁性能の試験をおこなって
いた。
しかし５従来の誘電正接による試験方法では、低圧機器
の場合のようにコロナ開始電圧が機器の定格電圧以上に
ある場合、第１図に示す誘電正接の増加分Δ囲δ の測
定のために印加電圧を上昇させていくと、機器自体を絶
縁破壊させる危険性があり、特に劣化後の機器の非破壊
試験方法としては不適当であった。
の場合のようにコロナ開始電圧が機器の定格電圧以上に
ある場合、第１図に示す誘電正接の増加分Δ囲δ の測
定のために印加電圧を上昇させていくと、機器自体を絶
縁破壊させる危険性があり、特に劣化後の機器の非破壊
試験方法としては不適当であった。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ためになされたもので、被試験機器を圧力容器内に入れ
、圧力容器内気体圧を減圧させるか、または、圧力容器
内の気体な空気より最小火花電圧の俄い気体にすること
により、コロナ開始電圧を定格電圧以下に引き下げた非
破壊給緑試験方法を提供することを目的としている。
ためになされたもので、被試験機器を圧力容器内に入れ
、圧力容器内気体圧を減圧させるか、または、圧力容器
内の気体な空気より最小火花電圧の俄い気体にすること
により、コロナ開始電圧を定格電圧以下に引き下げた非
破壊給緑試験方法を提供することを目的としている。
そこで、この発明の試験方法の一実施例を図について説
明する。第３図はこの発明による試験に用いた測定試料
ｉｏを示しており、ｌは導体、コは導体ｌのＰ綴物で、
芳香族ポリアミドｆｅ、維を主絶縁材料としている。ま
た３は絶縁物λの回りに密着して取り付けられた電極で
ある。第９図と第左図にそれぞれ劣化前の測定試料ｌｏ
と劣化後の測定試料ｔ ｏｆの断面図が示されており、
第９図の劣化前の測定試料１０では導体ｌと絶縁物−が
よく密差しているが一２！；０℃で９３時間加熱劣化さ
せた第９図の測定試料／ ｏｌでは導体ｌと熱劣化した
絶縁物の間に空隙ダが生じている。第６図は第５図の劣
化後の測定試料／グの長手方向の断面図を示しており、
導体／と電極３との間には電圧■が印加されている。図
中、ｄは絶縁物コの厚み５！？は空隙グの距離を示して
いる。また、第７図はｍＡ図の電気的等価回路を示して
おり、ｃａは空隙グのない部分の絶縁物コの静電容量、
Ｃｆは空隙ｌの静電容量、ＣＬは空隙グと直列の絶縁物
−の静電容量である。この時、空隙グでのコロナ開始電
圧をＶｐとすると、空隙グにコロナを発生させうる印加
電圧Ｖは、 ｇ Ｖ −、（／ ＋ −） ｖｐ ・°°（グ）ＣＬ となる。コロナ開始電圧ＶＩＩは、よく知られているパ
ッシェン（Ｐａｓｃｈｅｎ ）の法則により膠囲気の圧
力と空隙グの距離Ｊ−１の精に比例し、また、空隙グの
静電容量Ｃｇは雰囲気の比誘電率と空隙グにより決まる
。また＋ （４ｔ）式は、圧力Ｐの関数として（３）式
のよ５に表わせる。
明する。第３図はこの発明による試験に用いた測定試料
ｉｏを示しており、ｌは導体、コは導体ｌのＰ綴物で、
芳香族ポリアミドｆｅ、維を主絶縁材料としている。ま
た３は絶縁物λの回りに密着して取り付けられた電極で
ある。第９図と第左図にそれぞれ劣化前の測定試料ｌｏ
と劣化後の測定試料ｔ ｏｆの断面図が示されており、
第９図の劣化前の測定試料１０では導体ｌと絶縁物−が
よく密差しているが一２！；０℃で９３時間加熱劣化さ
せた第９図の測定試料／ ｏｌでは導体ｌと熱劣化した
絶縁物の間に空隙ダが生じている。第６図は第５図の劣
化後の測定試料／グの長手方向の断面図を示しており、
導体／と電極３との間には電圧■が印加されている。図
中、ｄは絶縁物コの厚み５！？は空隙グの距離を示して
いる。また、第７図はｍＡ図の電気的等価回路を示して
おり、ｃａは空隙グのない部分の絶縁物コの静電容量、
Ｃｆは空隙ｌの静電容量、ＣＬは空隙グと直列の絶縁物
−の静電容量である。この時、空隙グでのコロナ開始電
圧をＶｐとすると、空隙グにコロナを発生させうる印加
電圧Ｖは、 ｇ Ｖ −、（／ ＋ −） ｖｐ ・°°（グ）ＣＬ となる。コロナ開始電圧ＶＩＩは、よく知られているパ
ッシェン（Ｐａｓｃｈｅｎ ）の法則により膠囲気の圧
力と空隙グの距離Ｊ−１の精に比例し、また、空隙グの
静電容量Ｃｇは雰囲気の比誘電率と空隙グにより決まる
。また＋ （４ｔ）式は、圧力Ｐの関数として（３）式
のよ５に表わせる。
す
ｖ ＝ （／ ＋−） Ｖ１？、（Ｐ） ・・−Ｃｔ）
Ｌ （５）式より 減圧された雰囲気中ではある一定減圧値
まではコロナを発生しうる印加電圧Ｖは減少すると予想
され、誘電正接（至）δ測定時のコロナ開始電圧も当然
大気圧に比べれば小さくなることが期待できる。また、
空気よりも最小火花電圧の低い雰囲気中で同様に測定を
おこなえば、コロナを発生しうる印加電圧Ｖはさらに減
少することが期待される。
Ｌ （５）式より 減圧された雰囲気中ではある一定減圧値
まではコロナを発生しうる印加電圧Ｖは減少すると予想
され、誘電正接（至）δ測定時のコロナ開始電圧も当然
大気圧に比べれば小さくなることが期待できる。また、
空気よりも最小火花電圧の低い雰囲気中で同様に測定を
おこなえば、コロナを発生しうる印加電圧Ｖはさらに減
少することが期待される。
第５図には実際の試験装置が示されている。第３図にお
いて、１０は第３図ないし第Ｓ図に示された測定試料（
実際には１０，１０’）、２０は圧力容器、Ｕ／は圧力
容器−〇内の圧力を示す圧力計。
いて、１０は第３図ないし第Ｓ図に示された測定試料（
実際には１０，１０’）、２０は圧力容器、Ｕ／は圧力
容器−〇内の圧力を示す圧力計。
、２ユは第２図に示したシェージング・ブリッジのよう
な−δ測定器、２３は真空ポンプ、２ダは真空ポンプ２
３と圧力容器コＯとをつなぐ管に設けられたパルプ１．
２Ｓはヘリウムガスボンベ、そして、ユ６はヘリウムガ
スボンベ２ｇと圧力容器２０とをつなぐ管に設けられた
パルプである。測定試料１０は圧力容器、２０の中に入
れられ、ｔａｎδ測定器λλによって導体ｌと電極３（
第３〜６図参照）の間に電圧が印加され、その―δ−印
加電圧特λし また。空気より火路発生電圧の低い例えば、ヘリウムガ
ス中で同様な試験をおこなう時には、ヘリウムガスボン
ベ２．５′を使って圧力容器λθ内の空気をヘリウムガ
スに交換し、かつこれを所望の圧力にすることができる
。なお、ヘリウムガスは圧力容器２０の耐圧力漏れ試験
等によく用いられる。
な−δ測定器、２３は真空ポンプ、２ダは真空ポンプ２
３と圧力容器コＯとをつなぐ管に設けられたパルプ１．
２Ｓはヘリウムガスボンベ、そして、ユ６はヘリウムガ
スボンベ２ｇと圧力容器２０とをつなぐ管に設けられた
パルプである。測定試料１０は圧力容器、２０の中に入
れられ、ｔａｎδ測定器λλによって導体ｌと電極３（
第３〜６図参照）の間に電圧が印加され、その―δ−印
加電圧特λし また。空気より火路発生電圧の低い例えば、ヘリウムガ
ス中で同様な試験をおこなう時には、ヘリウムガスボン
ベ２．５′を使って圧力容器λθ内の空気をヘリウムガ
スに交換し、かつこれを所望の圧力にすることができる
。なお、ヘリウムガスは圧力容器２０の耐圧力漏れ試験
等によく用いられる。
そこで、圧力容器ユθ内に第ｑ図、第タ図に示したそれ
ぞれ劣化前、劣化後の測定試料／ ０ 、 ／ ０’を
入れ、空気圧を大気圧から減圧した場合の囮δ−印加電
圧特性、さらに、圧力容器コ０内にヘリウムガスを入れ
、そのヘリウムガス圧を減圧した場合の蜘δ−印加電圧
特性をそれぞれについてめてみた。その結果は以下の通
りである。なお、気圧はミリメートルエッチジー（ｍｍ
Ｈｇ）を単位とした。
ぞれ劣化前、劣化後の測定試料／ ０ 、 ／ ０’を
入れ、空気圧を大気圧から減圧した場合の囮δ−印加電
圧特性、さらに、圧力容器コ０内にヘリウムガスを入れ
、そのヘリウムガス圧を減圧した場合の蜘δ−印加電圧
特性をそれぞれについてめてみた。その結果は以下の通
りである。なお、気圧はミリメートルエッチジー（ｍｍ
Ｈｇ）を単位とした。
まず、第９図は空気圧を減圧した場合の−δ−δ−印加
電圧特性図０図る。曲線Ａ／ ＋ ＡＪ ＊ Ａｊは劣
化前の測定試料１０のそれぞれｑＡｊｍＨｇ（大気圧）
−ｔｏｏ門Ｈ２、ｌθ闘Ｈ１にオ６けるものであり、曲
線Ｂ ’１ ＊ Ｂ Ｊ Ｉ Ｂ ｊは劣化後の測定試
料／グのそれぞれｔｔ、！ｒｖ＋ｍＨｇ（大気圧） 、
／ ００ｍｍ Ｈｙ−／θｍＨｆにおけるものである
。ｖ１０δの立ち上がりは、？ Ａ ｓ＊ｔｘ Ｈｌ−
（大気圧）のものに比べて圧力が１００ｍｙ Ｈｇ−／
ＯｍｍＨｐと減圧されるに従い急峻となり、かつ、コ
ロナ開始電圧が減圧と共に低くなるのがわかる。また、
劣化前と劣化後の−δの曲線のパターンを比べてみると
、減圧していくに従って印加電圧軸方向に圧縮されたパ
ターンとなるが、それぞれの傾向は同じであり劣化前と
劣化後の有意差がわかる。
電圧特性図０図る。曲線Ａ／ ＋ ＡＪ ＊ Ａｊは劣
化前の測定試料１０のそれぞれｑＡｊｍＨｇ（大気圧）
−ｔｏｏ門Ｈ２、ｌθ闘Ｈ１にオ６けるものであり、曲
線Ｂ ’１ ＊ Ｂ Ｊ Ｉ Ｂ ｊは劣化後の測定試
料／グのそれぞれｔｔ、！ｒｖ＋ｍＨｇ（大気圧） 、
／ ００ｍｍ Ｈｙ−／θｍＨｆにおけるものである
。ｖ１０δの立ち上がりは、？ Ａ ｓ＊ｔｘ Ｈｌ−
（大気圧）のものに比べて圧力が１００ｍｙ Ｈｇ−／
ＯｍｍＨｐと減圧されるに従い急峻となり、かつ、コ
ロナ開始電圧が減圧と共に低くなるのがわかる。また、
劣化前と劣化後の−δの曲線のパターンを比べてみると
、減圧していくに従って印加電圧軸方向に圧縮されたパ
ターンとなるが、それぞれの傾向は同じであり劣化前と
劣化後の有意差がわかる。
次の第１０図は、ヘリウムガスの、圧力を減圧した場合
の−δ−印加電圧特性曲線図である。曲線Ａ／とＢｌは
それぞれ第９図の曲線Ａ／とＢｔと同じもの、すなわち
空気中における劣化前、劣化後の測定試料ｔｔ、ｒｗＨ
ｇ （大気中）におけるものであり５曲線Ａｈｚ 、
Ａｈコは、ヘリウムガス中での劣化前の測定試料１０の
それぞれヘリウムガス圧７Ａ、を前Ｈｆ（大気圧）、ｌ
ｏＯ關Ｈｐ、におけるものであり、また曲線Ｂｂｚ 、
Ｂｈａは劣化後の測定試料／ ｏｆのそれぞれヘリウ
ムガス圧ｑｂｓｍＨｇ（大気圧）、ｌθＯｗＨ９におけ
るものである。空気中とヘリウムガス中のコロナ開始電
圧をそれぞれの７６！ｒｍＨｆで比べてみると、ヘリウ
ムガスを使用した時はコロナ開始電圧がかなり低くなっ
ていることがわかる。また、ヘリウムガス中においても
。
の−δ−印加電圧特性曲線図である。曲線Ａ／とＢｌは
それぞれ第９図の曲線Ａ／とＢｔと同じもの、すなわち
空気中における劣化前、劣化後の測定試料ｔｔ、ｒｗＨ
ｇ （大気中）におけるものであり５曲線Ａｈｚ 、
Ａｈコは、ヘリウムガス中での劣化前の測定試料１０の
それぞれヘリウムガス圧７Ａ、を前Ｈｆ（大気圧）、ｌ
ｏＯ關Ｈｐ、におけるものであり、また曲線Ｂｂｚ 、
Ｂｈａは劣化後の測定試料／ ｏｆのそれぞれヘリウ
ムガス圧ｑｂｓｍＨｇ（大気圧）、ｌθＯｗＨ９におけ
るものである。空気中とヘリウムガス中のコロナ開始電
圧をそれぞれの７６！ｒｍＨｆで比べてみると、ヘリウ
ムガスを使用した時はコロナ開始電圧がかなり低くなっ
ていることがわかる。また、ヘリウムガス中においても
。
劣化前、劣化後のそれぞれのｔａｎδの曲線パターンは
同じ傾向である。
同じ傾向である。
また、第１／図には劣化前の測定試料１０を使って、空
気中およびヘリウムガス中においてそれぞれ気体圧を減
圧した場合の気体圧とコロナ開始電圧との関係が示され
ている。図において、縦軸にはコロナ開始電圧がキロボ
ルト（ｋ”ｆ）で、また横軸には気体圧がミリメートル
エッチジー（止Ｈｖ）でとってあり１曲線Ａは空気中の
もの１曲＆５ｊＡｈはヘリウムガス中のものである。な
お、気体圧は対数目盛でとっである。空気中の７６５１
！ＩＩＨ，ｐ （大気圧）Ｋおけるコロナ開始電圧に比
べて、空気中の１００ｒ、ｍＨｆでのコロナ開始電圧は
約％、そして、ヘリウムガス中の’ｙＡ！ｍｍＨｆでは
約４−になっていこと、或はガスの種類を変えることに
より、コロナ開始電圧を下げて−δ−印加電圧特性の測
定ができ、かつ、そのｔａｎδの曲線のパターンが空気
中の大気圧の場合のものと相似形であることから、非破
壊絶縁試験方法として利用できることが立証された。
気中およびヘリウムガス中においてそれぞれ気体圧を減
圧した場合の気体圧とコロナ開始電圧との関係が示され
ている。図において、縦軸にはコロナ開始電圧がキロボ
ルト（ｋ”ｆ）で、また横軸には気体圧がミリメートル
エッチジー（止Ｈｖ）でとってあり１曲線Ａは空気中の
もの１曲＆５ｊＡｈはヘリウムガス中のものである。な
お、気体圧は対数目盛でとっである。空気中の７６５１
！ＩＩＨ，ｐ （大気圧）Ｋおけるコロナ開始電圧に比
べて、空気中の１００ｒ、ｍＨｆでのコロナ開始電圧は
約％、そして、ヘリウムガス中の’ｙＡ！ｍｍＨｆでは
約４−になっていこと、或はガスの種類を変えることに
より、コロナ開始電圧を下げて−δ−印加電圧特性の測
定ができ、かつ、そのｔａｎδの曲線のパターンが空気
中の大気圧の場合のものと相似形であることから、非破
壊絶縁試験方法として利用できることが立証された。
なお、上記実施例では誘電正接篩δによる非破壊絶縁試
験方法について示したが、空隙内気体の放電状態を検知
する。コロナパルス検出法、 ＡＩＡ法或いは交流電流
試験法に用いても、同様な効果が得られ、また使用され
るガスもヘリウムに限られるものではない。
験方法について示したが、空隙内気体の放電状態を検知
する。コロナパルス検出法、 ＡＩＡ法或いは交流電流
試験法に用いても、同様な効果が得られ、また使用され
るガスもヘリウムに限られるものではない。
以上のよりに、この発明によれば、Ｐ緑構成おより、コ
ロナ開始電圧を被測定＃９器の定格電圧以下に下げるこ
とができ、低圧電気機器の非破壊絶縁試験を容易におこ
なうことができるという効果が得られる。
ロナ開始電圧を被測定＃９器の定格電圧以下に下げるこ
とができ、低圧電気機器の非破壊絶縁試験を容易におこ
なうことができるという効果が得られる。
第１図は論δ−印加電圧特性曲線図、第２図は１
シェージング・グリッジの回路図、第３図はこの発明に
よるＰ線試験に用いた測定試料の斜視図。 第グ図は劣化前の測定試料の断面図、第Ｓ図は劣化後の
測定試料の断面図、第６図は劣化後の測定試料の長手方
向の断面図、第７図は第６図の測定試料の電気的等価回
路図、第Ｓ図はこの発明の一実施例の試験装置の概略図
、第を図は空気中での一δ−印加電圧特性曲線図、第１
Ｑ図はヘリウムガス中でのｔａｎδ−印加電圧特性曲線
図、第１／図は気体圧とコロナ開始電圧の関係を示す線
図である。 １０・・測定試料１．２０・・圧力容器、−一・・し０
δ測定器、λ、７・・真空ポンプ、２り・・ヘリウムガ
スボンベ。 尚、図中、同一符号は、同−又は相当部分を示す・ 代理人 大 岩 増 雄 幣１図 児２図 幣６図 処７図 帛８図 ５
よるＰ線試験に用いた測定試料の斜視図。 第グ図は劣化前の測定試料の断面図、第Ｓ図は劣化後の
測定試料の断面図、第６図は劣化後の測定試料の長手方
向の断面図、第７図は第６図の測定試料の電気的等価回
路図、第Ｓ図はこの発明の一実施例の試験装置の概略図
、第を図は空気中での一δ−印加電圧特性曲線図、第１
Ｑ図はヘリウムガス中でのｔａｎδ−印加電圧特性曲線
図、第１／図は気体圧とコロナ開始電圧の関係を示す線
図である。 １０・・測定試料１．２０・・圧力容器、−一・・し０
δ測定器、λ、７・・真空ポンプ、２り・・ヘリウムガ
スボンベ。 尚、図中、同一符号は、同−又は相当部分を示す・ 代理人 大 岩 増 雄 幣１図 児２図 幣６図 処７図 帛８図 ５
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （／ｌ 電気機器の絶縁構成および絶縁性能の良否を体
積抵抗ポの測定により診断する非破壊絶縁試験方法にお
いて、被試験機器を圧力容器内に入れ。 この圧力容器内の空気の圧力を減圧するか或は前記空気
をその最小火花電圧よりも低い最小火花電圧を有する気
体に変えることによりコロナ開始電圧を前記被試験機器
の定格電圧以下に引き下げておこなう非破壊絶縁試験方
法。 （コ）空気よりも最小火花電圧ゆ−低い気体はヘリウム
ガスである特許請求の範囲第１項記載の非破壊絶縁試験
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16063483A JPS6050460A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 非破壊絶縁試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16063483A JPS6050460A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 非破壊絶縁試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6050460A true JPS6050460A (ja) | 1985-03-20 |
| JPH0412432B2 JPH0412432B2 (ja) | 1992-03-04 |
Family
ID=15719163
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16063483A Granted JPS6050460A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 非破壊絶縁試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6050460A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63257572A (ja) * | 1987-04-15 | 1988-10-25 | 北上製紙株式会社 | 脱臭芳香組成物 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50154701A (ja) * | 1974-06-03 | 1975-12-13 |
-
1983
- 1983-08-30 JP JP16063483A patent/JPS6050460A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50154701A (ja) * | 1974-06-03 | 1975-12-13 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63257572A (ja) * | 1987-04-15 | 1988-10-25 | 北上製紙株式会社 | 脱臭芳香組成物 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0412432B2 (ja) | 1992-03-04 |
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