JPS6053405B2 - 高誘電率を有する誘電体薄体の製造方法 - Google Patents

高誘電率を有する誘電体薄体の製造方法

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JPS6053405B2
JPS6053405B2 JP52118358A JP11835877A JPS6053405B2 JP S6053405 B2 JPS6053405 B2 JP S6053405B2 JP 52118358 A JP52118358 A JP 52118358A JP 11835877 A JP11835877 A JP 11835877A JP S6053405 B2 JPS6053405 B2 JP S6053405B2
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明はLiNb039LiTaO39NaTa03
、W03、NaNO2、BaTi03、Pb(Zr、T
i)Osなど、またはこれらの特性を改善するための元
素を添加した結晶性高誘電率物質、たとえばLiNb0
。
を熔融させて単相となつた熔融体化合物を回転している
冷却体にて急冷することにより、この熔融体とほぼ同一
組成のアモルファス(非晶質)誘電体を面積比にて少な
くとも50%以上含む誘電体薄倖を製造する方法に関す
るものである。
従来、熔融体を冷却してアモルファス状態になることが
知られている誘電体物質としては、たとえば誘電体ガラ
スがある。
これには熔融ガラスを一対のロール間で挾み上げて得ら
れる板状ガラスや、熔融ガラスをノズルから吹き出させ
て巻き取ることにより得られるガラスファイバーなどが
ある。しカル誘電体ガラスそのものの誘電率は、たとえ
ばBi。
O、、CdO、SiO。系で16〜32の範囲であり、
高誘電率のものは得られていなかつた。また機械的に弱
いため耐衝撃性に劣つており、さらに加工が困難である
、あるいは熱に対して弱いなどの問題があつた。また高
誘電性化合物を基板上に蒸着、電着、スパッタリングな
どの方法でこれらを部分的にアモルファス状態にした薄
体を得る技術が知られてい’る。
しカル基板に付着していないアモルファス状態を含む薄
片、薄体のような誘電体薄倖を製造する方法はまだ見い
出されていない。この発明は少なくとも一部がアモルフ
ァス状態を含む誘電体薄倖を製造する方法に関し、その
要・旨とするところは、熔融させた結晶性高誘電率物質
をノズルから噴出させ、これを回転体の回転面上で急冷
することにより、面積比にて少なくとも50%以上のア
モルファス状態を含む誘電体薄倖を形成することを特徴
とするものである。
結晶性高誘電率物質としては、BaTiO3,PbTl
O3,Pb(Ti,Zr)03,LiNb03,LiT
a03,NaNb03,NaTa03,AgNb03な
どのペロブスカイト型のもの、Pb(Znll3Nbl
l3)03,Pb(Fell2Nbll2)03などの
複合ペロブスカイト型のもの、Ba2Nb2O7,Ca
2Nb2O7,Ba2Ta2O,などのパイロクロア型
のもの、BaBi2Ta2O9などのビスマス層状型の
もの、KXWO3(0.43≦×≦0.51)、Pl)
N■06などのタングステンブロンズ型のものがある。
この発明方法により、これらの結晶性高誘電率物質から
誘電体薄体が得られるが、この誘電体薄体を作る結晶性
高誘電率物質の熔融体には多くの元素を固溶させ得る。
まず、結晶状態において広範囲にわたつて固溶する同じ
結晶形を示す複合の化合物を溶融させた熔融体から急冷
することにより誘電体薄体が得られる。この例としては
例えば(Ba,TO)TiO3系がある。次に固溶させ
ることのできる添加可能な元素としては、添加元素その
ものあるいはその化合物があり、たとえは酸化物、混合
体単体あるいはそれらの複合体として添加でき、またP
bO,NaCO3等のようなフラックスとして添加でき
る。
さらに、他の添加元素としては、原結晶が含有する金属
元素と結晶状態において一部置換可能な元素、たとえば
遷移金属元素がある。
これらの元素の誘電体薄体に対する添加可能な範囲は普
通結晶状態の固溶限界よりは広い。
また、この他に添加可能な元素は熔融体にその熔融状態
で溶解しうるすべての元素である。上記に詳述したすべ
ての元素は添加することにより構成された誘電体薄体の
電気的性質等を必要に応じて変化させるのに役立つもの
である。結晶性高誘電率物質を熔融させる場合には次の
ような点に注意を払わなければならない。つまり、熔融
した結晶性高誘電率物質をノズルから噴出させることが
できる粘調度であることが必要であり、結晶性高誘電率
物質の融点より高くなりすぎると粘調度が低くなりすぎ
るため、熔融体がノズルより自発的に滲出して液滴状に
近くなる。さらにそれ以上の温度で熔融させると自発的
に流下し、良好な熔融体が得られず、結果的には良質な
誘電体薄体が得られなくなる。したがつて、結晶性高誘
電率物質はその物質自体の融点または融点を越えた付近
で熔融されていることを要する。結晶性高誘電率物質を
熔融させるには抵抗加熱法、高周波加熱法があるが、熔
融させることができればその他任意の手段を採りうる。
熔融された結晶性高誘電率物質はノズルから噴出される
が、噴出させる時点は回転面の直上にノズルが達したと
きに行えばよく、これにはマイクノロスイツチなどを用
いればよい。
また良質な誘電体薄体を得るために、ノズルには特に白
金、白金・ロジウムからなるものがよい。またノズルの
先端形状としては円形状、だ円形状などであるが、得よ
うとする誘電体薄体の大きさに合わせて・選択すればよ
い。ノズルの内面をライニング加工すれば熔融した結晶
性高誘電率物質が噴出しやすくなり、製造が容易に行え
る。ノズルから噴出する熔融した結晶性高誘電率物質の
噴出圧は高すぎても低すぎても誘電体薄体中・に占める
結晶質の割合が増加するため、0.1〜1.0の気圧の
範囲にあることが望ましい。
良質な誘電体薄体を得るには、回転体の回転面上に噴出
させて急冷させるが、この場合回転体としては熱伝導の
よいものを用いる。
たとえばこれには銅、アルミニウム、鉄などの材質から
なる回転体がある。この回転体の回転速度は遅すぎると
誘電体薄体の膜厚が厚くなり、鱗片状になると同時に結
晶質部分が多くなるため、回転速度としては1400r
pm以上が好ましい。
回転体の直径は上記した結晶性高誘電率物質の熔融温度
、回転体の回転速度、およびノズルからの噴出圧の各条
件に適合した大きさがあり、たとえば回転体の回転面の
線速度が同一であつても、回転体の直径が大きい場合に
は、小さい場合にくらべて回転体が受ける遠心力が小さ
いので、回転面との付着力が大きい材料では良好な誘電
体薄体が得られず、また付着力の小さい材料では冷却さ
れる時間が短かすぎるため、アモルファス状態を少なく
とも一部含む良質な誘電体薄体が得られない。
たとえばその大きさとしては50〜350T!Rlnφ
程度のものである。回転体としてはたとえば円板状ある
いはドラム状のものがあり、円板状の場合には冷却面と
して側面の平滑な回転面上を用いればよい。
またドラム状のものは冷却面として平滑な内側面を用い
ればよい。以下この発明の実施例を図面とともに詳細に
説明する。
実施例1第1図において、1は容器でLiNbO3から
なる熔融した結晶性高誘電率物質2が入つている。
この容器1は結晶性高誘電率物質2と反応しないもの、
たとえば白金、白金・ロジウムなどからなる。この容器
1の先端に0.1〜0.5wnφのノズル3を有してい
る。容器1内の熔融した結晶性高誘電率物質2は抵抗体
4の加熱により1250〜1300℃に保持されている
。5はノズル3付近に配置された熱電対てある。
6は回転体て熱伝導のよい銅よりなる。
この回転体6の大きさを直径300w1nφとし、平滑
な回転面上を有する円板状のものを用いて3800rp
mの回転数で回転させておき、ノズル3を回転体6の平
滑な回転面上に近接させ、容器1内のLiNbO3をノ
ズル3より噴出圧を0.1〜1.0気圧に変化させなが
ら回転面上へ噴出させ、熔融体を回転面上で急冷して誘
電体薄体を得た。得られた誘電体薄体は厚み5〜30μ
m、幅0.1〜0.87mのものであつた。
これを鉱物顕微鏡で測定したところ、全体あるいは相当
部分にわたつてアモルファス状態であることが確認でき
た。またこの薄体のうち厚み7μm1幅0.5順、長さ
5wInのものについて誘電率を測定した。つまり、第
2図に示すように、この薄体11を一対の平行電極12
,13間に挾んでコンデンサ4を構成し、変成器ブリッ
ジ15を用いて誘電率を測定したところ75てあり、従
来のLiNbO3単結晶にくらべて大きな値を示すこと
が確認できた。なお、16,17は同軸ケーブルである
。また、自由に振動し得る状態で薄体を保持し、動イン
ピーダンスを測定したところ、電気振動が機械的振動に
変換されることも確認され、電気一機械変換器として利
用できることが判明した。
実施例2結晶性高誘電率物質としてPbTiO3を用い
、1300〜1350゜Cで熔融さぜ、第1図に示す装
置にて、製造条件を回転数3000rpm1噴出圧0.
8気圧として誘電体薄体を得た。
得られた薄体は厚み10〜20pm1幅0.3〜0.6
TmInのもので、X線および鉱物顕微鏡で測定したと
ころ、ほとんど全体がアモルファス状態であることが確
認できた。また実施例1と同様にその特性を測定したと
ころ、きわめて大きな誘電率が検出され、また電気一機
械変換器として利用できることが判明した。
上記したほか、得られた誘電体薄体についての特徴的な
性質について以下に説明する。機械的強度として、曲げ
に対する強度は同一の厚さの同一寸法の導体て帯面を湾
曲させると、結晶質のものと比較した場合、破壊に至る
抗折力強度は5〜6倍と大きな値を示す。
すなわちこの発明によるもののほうが圧倒的に強い。ま
た、光の透過性は、多結晶質の導体とこの発明の薄体と
くらべた場合、顕微鏡観測によると前者が白濁状態であ
るにも拘わらず、後者は平行ニコルの状態で極めて光の
透過性が高く、クロスニコルの状態では暗黒状態にあり
、薄体の境界線のみが可視化される。
さらに上記した各実施例で作成したコンデンサについて
静電容量の測定中に直流バイアス電圧を加えた。
この電圧を変化させて測定した絶縁破壊電圧は多結晶質
の薄体にくらべて10f9以上であつた。このことはこ
の発明による誘電体薄体のほうが多結晶質の薄体にくら
べ、絶縁耐力がはるかに高いことを示している。また、
誘電率については上記した各実施例て説明したが、別の
例ては誘電体薄体を作成するにあたり、原料として用い
た単結晶そのものから切出した薄片の誘電率にくらべ、
この発明による誘電・体薄体のそれは約1咋であつた。
これは誘電体薄体では結晶構造がないため、あるいは存
在していたとしても面積比にて50%未満であるため、
高誘電率発生の起因となるべき電界印加による各原子あ
るいはイオンの分極に方向性・が本質的に依存しないこ
とによるためであろうと考えられる。
また、分極の存在と関係する誘電体率の電界依存性に対
しては、印加バイアス電圧の上昇に伴つていくらかの誘
電率の低下が認められる。
このこ)とは誘電体薄体の誘電率に非線形が伴つている
か、あるいは誘電ヒステリシスに伴う抗電力が極めて小
さい強誘電性に基くものかどちらかである。なお、誘電
体薄体中に含まれるアモルファス状態は面積比にして少
なくとも50%以上の範囲にあることが望まれる。
これは50%未満になると機械的強度が弱くなり、薄体
状態で保持することが困難になるからである。また、装
置全体を真空中に設置すると空気抵抗がなくなり、さら
に良質な誘電体薄体を得ることができる。
以上のようにこの発明によれば、熔融させた結晶性高誘
電率物質をノズルから噴出させ、これを回転面上で急冷
することにより、面積比にて少なくとも50%以上のア
モルファス状態を含む誘電体薄体が得られ、従来のアモ
ルファス状態の誘電体にくらべて大きな誘電率が得られ
るとともに、任意の大きさに切断して電極を付与するだ
けでチップ状のコンデンサが得られる。
またそのほかにトランスデューサ、振動子、光導行路、
光モジュレータ、圧電、光電記録、熱記録、光検出、誘
電体増幅、発振子、静電リレー、静電変圧器などの用途
があり、工業的利用価値の大きなものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明を実施するための装置を示す概略図、
第2図は誘電率を測定する回路図てある。 1一容器、2一熔融させた結晶性高誘電率物質、3−ノ
ズル、6一回転体、7一誘電体薄体。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 熔融させた結晶性高誘電率物質をノズルから噴出さ
    せ、これを回転体の回転面上で急冷することにより、面
    積比にて少なくとも50%以上のアモルファス状態を含
    む誘電体薄体を形成することを特徴とする高誘電率を有
    する誘電体薄体の製造方法。 2 結晶性高誘電率物質はその融点または融点を越えた
    付近で熔融していることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の高誘電率を有する誘電体薄体の製造方法。 3 ノズルは白金または白金・ロジウムよりなることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の高誘電率を有す
    る誘電体薄体の製造方法。 4 回転体は熱伝導の良好なものからなることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の高誘電率を有する誘電
    体薄体の製造方法。 5 回転体は銅または銅・ベリリウムよりなることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項または第4項記載の高誘
    電率を有する誘電体薄体の製造方法。
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FR2467116A1 (fr) * 1979-10-12 1981-04-17 Sodex Magister Perfectionnements aux antivols pour vehicules automobiles
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JPS57145255A (en) * 1981-03-03 1982-09-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Flat type pyroelectricity element and manufacture thereof
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