JPS605560B2 - インジウムリン単結晶の鏡面エツチング方法 - Google Patents
インジウムリン単結晶の鏡面エツチング方法Info
- Publication number
- JPS605560B2 JPS605560B2 JP52078491A JP7849177A JPS605560B2 JP S605560 B2 JPS605560 B2 JP S605560B2 JP 52078491 A JP52078491 A JP 52078491A JP 7849177 A JP7849177 A JP 7849177A JP S605560 B2 JPS605560 B2 JP S605560B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- etching
- single crystal
- solution
- indium phosphide
- mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Weting (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はインジウムリン単結晶の鏡面エッチング方法に
関する。
関する。
光通信用発光素子として使用するインジウムリン単結晶
からなるゥェフアは表面をまず機械研摩する。
からなるゥェフアは表面をまず機械研摩する。
この研摩によってウェフアは表面に深さ数〆程度の加工
歪層及び深さ数仏程度の不規則な凹部を形成し、かつそ
の凹部には研摩暦およびその他の不純物が溜る。研摩に
よって生じた表面の凹部を平坦化し、かつ表面に付着し
た不純物を除去するために鏡面エッチングを行なう。イ
ンジウムリンゥェフアの鏡面エッチングには、従来エッ
チング液として、臭素を含むメタノール等を使用した。
このエッチング液はエッチング速度が2仏/minと大
きい利点があるが、得られた鏡面に微細な穴や研摩きず
が1ぴ〜1び個ノ地程度も残るので、満足な鏡面を得る
ことができない欠点がある。本発明の目的は上記欠点を
解消することである。
歪層及び深さ数仏程度の不規則な凹部を形成し、かつそ
の凹部には研摩暦およびその他の不純物が溜る。研摩に
よって生じた表面の凹部を平坦化し、かつ表面に付着し
た不純物を除去するために鏡面エッチングを行なう。イ
ンジウムリンゥェフアの鏡面エッチングには、従来エッ
チング液として、臭素を含むメタノール等を使用した。
このエッチング液はエッチング速度が2仏/minと大
きい利点があるが、得られた鏡面に微細な穴や研摩きず
が1ぴ〜1び個ノ地程度も残るので、満足な鏡面を得る
ことができない欠点がある。本発明の目的は上記欠点を
解消することである。
本発明の上記目的は、臭素を含むアルコール溶液、アセ
トン溶液または酢酸溶液でエッチングする前に、過酸化
水素を18本積%以下含む硫酸、もしくはリン酸の溶液
、または硝酸もしくは硫酸の水溶液で予めエッチングす
ることを特徴とする、インジウムリン単結晶の鏡面エッ
チング方法によって達成することができる。
トン溶液または酢酸溶液でエッチングする前に、過酸化
水素を18本積%以下含む硫酸、もしくはリン酸の溶液
、または硝酸もしくは硫酸の水溶液で予めエッチングす
ることを特徴とする、インジウムリン単結晶の鏡面エッ
チング方法によって達成することができる。
本発明で使用する過酸化水素を含む硫酸もしくはリン酸
の溶液のエッチング速度は、溶液中の過酸化水素の含有
量によって異るが、0.05〜0.2A′minの程度
に過ぎない。
の溶液のエッチング速度は、溶液中の過酸化水素の含有
量によって異るが、0.05〜0.2A′minの程度
に過ぎない。
従ってこれのみを使用する場合は、エッチング速度が遅
くてェピタキシャル成長等の結晶成長用基板としては不
充分であるが、ウェフア表面の不規則性をなくし、不純
物を除去する点では効果がある。すなわち過酸化水素を
13本積%以下含む硫酸もしくはリン酸の溶液、または
硝酸もしくは硫酸の水溶液で予めエッチングした後に、
従来使用された臭素を含むメタノール溶液、アセトン溶
液または酢酸溶液でエッチングすることによって、満足
すべき鏡面仕上げをすることができる。次に本発明によ
る過酸化水素を含む硫酸溶液で予めエッチングを行なっ
た後に、臭素を含むメタ/ール溶液でエッチングした実
施例、および臭素を含むメタノール溶液のみでエッチン
グした比較例を説明する。
くてェピタキシャル成長等の結晶成長用基板としては不
充分であるが、ウェフア表面の不規則性をなくし、不純
物を除去する点では効果がある。すなわち過酸化水素を
13本積%以下含む硫酸もしくはリン酸の溶液、または
硝酸もしくは硫酸の水溶液で予めエッチングした後に、
従来使用された臭素を含むメタノール溶液、アセトン溶
液または酢酸溶液でエッチングすることによって、満足
すべき鏡面仕上げをすることができる。次に本発明によ
る過酸化水素を含む硫酸溶液で予めエッチングを行なっ
た後に、臭素を含むメタ/ール溶液でエッチングした実
施例、および臭素を含むメタノール溶液のみでエッチン
グした比較例を説明する。
硫酸の代わりにリン酸を使用する場合、および硝酸もし
くは硫酸の水溶液の場合にも同様な結果が得られる。
くは硫酸の水溶液の場合にも同様な結果が得られる。
実施例
厚み40叱の5×5柳角の予め機械的に鏡面研摩された
(100)B面を表面とする、すずをド−フ。
(100)B面を表面とする、すずをド−フ。
したインジウム単結晶からなるウヱフアを、各30cc
のメタノール、アセトンおよびトリクロロエチレンに順
次2分間ずつ浸潰して洗浄した。このウェフアを過酸化
水素を14体積%含む硫酸溶液30ccに1分間浸潰し
て前エッチングした。次に臭素を0.3体積%含むメタ
ノール溶液30ccにウェフアを3分間浸潰してエッチ
ングした。浸潰して約10秒後にゥェフアの表面が曇り
、約6現砂後にこの曇りが消失して鏡面となった。ゥェ
フアを水洗し、顕微鏡によって観察した結果研摩による
傷および穴の残留は0〜1ぴ/淡程度に過ぎなかった。
比較例上記実施例における、過酸化水素を含む硫酸溶液
で予めエッチングを行なわなかったことの他は、実施例
と同様に行なった。
のメタノール、アセトンおよびトリクロロエチレンに順
次2分間ずつ浸潰して洗浄した。このウェフアを過酸化
水素を14体積%含む硫酸溶液30ccに1分間浸潰し
て前エッチングした。次に臭素を0.3体積%含むメタ
ノール溶液30ccにウェフアを3分間浸潰してエッチ
ングした。浸潰して約10秒後にゥェフアの表面が曇り
、約6現砂後にこの曇りが消失して鏡面となった。ゥェ
フアを水洗し、顕微鏡によって観察した結果研摩による
傷および穴の残留は0〜1ぴ/淡程度に過ぎなかった。
比較例上記実施例における、過酸化水素を含む硫酸溶液
で予めエッチングを行なわなかったことの他は、実施例
と同様に行なった。
Claims (1)
- 1 臭素を含むアルコール溶液、アセトン溶液または酢
酸溶液でエツチングする前に、過酸化水素15体積%以
下を含む硫酸もしくはリン酸の溶液、または硝酸もしく
は硫酸の水溶液で予めエツチングすることを特徴とする
、インジウムリン単結晶の鏡面エツチング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52078491A JPS605560B2 (ja) | 1977-07-02 | 1977-07-02 | インジウムリン単結晶の鏡面エツチング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52078491A JPS605560B2 (ja) | 1977-07-02 | 1977-07-02 | インジウムリン単結晶の鏡面エツチング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5413500A JPS5413500A (en) | 1979-01-31 |
| JPS605560B2 true JPS605560B2 (ja) | 1985-02-12 |
Family
ID=13663437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52078491A Expired JPS605560B2 (ja) | 1977-07-02 | 1977-07-02 | インジウムリン単結晶の鏡面エツチング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS605560B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62252140A (ja) * | 1986-04-25 | 1987-11-02 | Nippon Mining Co Ltd | InPウエ−ハの洗浄方法 |
| JPH0727881B2 (ja) * | 1986-06-10 | 1995-03-29 | 株式会社ジャパンエナジー | InPウェーハの鏡面研磨液ならびに鏡面研磨方法 |
| JP5471001B2 (ja) | 2009-04-20 | 2014-04-16 | 住友電気工業株式会社 | インジウムリン基板の製造方法、エピタキシャルウエハの製造方法、インジウムリン基板およびエピタキシャルウエハ |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4841755A (ja) * | 1971-09-28 | 1973-06-18 | ||
| FR2168936B1 (ja) * | 1972-01-27 | 1977-04-01 | Labo Electronique Physique |
-
1977
- 1977-07-02 JP JP52078491A patent/JPS605560B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5413500A (en) | 1979-01-31 |
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