JPS6056201A - 可変ブロックゲ−ジ - Google Patents

可変ブロックゲ−ジ

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Publication number
JPS6056201A
JPS6056201A JP16576583A JP16576583A JPS6056201A JP S6056201 A JPS6056201 A JP S6056201A JP 16576583 A JP16576583 A JP 16576583A JP 16576583 A JP16576583 A JP 16576583A JP S6056201 A JPS6056201 A JP S6056201A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
block
movable block
micrometer
measurement
movement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16576583A
Other languages
English (en)
Inventor
Shunji Shioi
塩井 俊二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP16576583A priority Critical patent/JPS6056201A/ja
Publication of JPS6056201A publication Critical patent/JPS6056201A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/30—Bars, blocks, or strips in which the distance between a pair of faces is fixed, although it may be preadjustable, e.g. end measure, feeler strip
    • G01B3/303—Bars, blocks, or strips in which the distance between a pair of faces is fixed, although it may be preadjustable, e.g. end measure, feeler strip pre-adjustable, e.g. by means of micrometerscrew
    • G01B3/306—Bars, blocks, or strips in which the distance between a pair of faces is fixed, although it may be preadjustable, e.g. end measure, feeler strip pre-adjustable, e.g. by means of micrometerscrew with inclined slide plane

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、可変ブロックゲージに関し、詳しくは、端面
間の長さを容易に変化させることができるとともに、そ
の変化量を容易に読み取れるようにし、他の適当な呼び
寸法のブロックゲージと組み合せての精密測定を容易に
行なえるようにしたものに関する。
ブロックゲージは、厚みや長さの異なった長方形断面を
持った焼入れ鋼で作成された端度器で、呼び寸法を表す
両端面は、ランプ加工で正しく平行かつ平面状に仕上げ
られ、その端面間の寸法精密度は非常によい。このブロ
ックゲージはまた、色々な寸法のものを組み合わせて一
組としてあり、2個以上のゲージの呼び寸法の端面を互
いに密着させると、殆ど全ての寸法を作りだすことがで
きるようになっている。
このような従来Ωブロックゲージを用いて、たとえば、
第3図に示すような、精度の必要な溝の幅を測定する場
合、いくつかの呼び寸法のブロックゲージを互いに密着
させ、これを溝内にはめてみて測定することになる。こ
のとき、溝の対向壁にぴったりとはまりこむように組み
合わせたいくつかのブロックゲージの呼び寸法の合計が
その溝の幅の寸法となる。
しかしながら、このような従来の測定方法では、測定の
際、その都度適当な呼び寸法のブロックゲージを組み合
せなければならず、測定に非常に時間がかかるという欠
点がある。すなわち、1 / 100 mm刻みの合計
呼び寸法をブロックゲージの組合せを変更することによ
り作り出さなければならないからである。
本発明は、上記のような事情のもとで考え出されたもの
で、その目的は、端面間の寸法を容易に変化させること
ができ、かつその変化量を容易に読み取れるように構成
した、可変ブロックゲージを提供し、ブロックゲージに
よる測定を容易化することである。
このような目的を達成するため、本発明では、次のよう
な技術的手段を講じている。
すなわち、−側面を測定端面とした本体ブロックの他側
部に、上記測定端面に対して傾斜するスライド面を設け
、上記測定端面と平行な測定端面を有する可動ブロック
を上記スライド面上に摺動可能に取付けたこと、上記可
動ブロックの、測定面方向の移動量を上記本体ブロック
に支持させたマイクロメータにより読み取るようにした
こと、である。
本体ブロックの測定端面と可動ブロックの測定端面に垂
直な方向をX方向、この方向と直角に交差する方向をY
方向とすると、上記可動ブロックがスライド面上を移動
するとき、この可動ブロックは、X方向とY方向に同時
に移動することになる。X方向の移動により、本体ブロ
ックの測定端面と可動ブロックの測定端面間の寸法が変
化させられる。たとえば、上記のスライド面の傾斜角を
45度に定めておくと、可動ブロックのY方向の移動量
をマイクロメータによって読み取ると、この移動量がそ
のまま上記測定端面間の寸法変化量に相当する。したが
って、本発明の可動ブロックゲージは、その可動ブロッ
クをスライド移動させ、かつその移動量を本体ブロック
に付設したマイクロメータによって読み取るだけで、従
来のように複数のプロ、クゲージを細かく組み合すこと
なく所望の測定対象物の精密測定をすることができ、こ
の種のブロックゲージを用いた精密測定を飛R,i的に
簡略化することができる。
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ、具体的に説
明する。
第1図に本発明の一実施例の全体を示す。
図から明らかなように、この例の可変ブロックゲージ1
は、全体として直方体状を呈する本体ブロック2を有し
ており、この本体ブロック2の一側面を精密な平面に仕
上げて測定端面3とするとともに、この測定端面3と反
対側の側面を直角三角形状に切り欠いてこの部に傾斜状
のスライド面4を形成している。このスライド面4には
、上記測定端面3と正確に平行な測定端面5を有する可
動ブロック6が、そのスライド面方向に摺動可能に取付
けられている。なお、図示例では、上記スライド面4に
アリ溝7を設けるとともに可動ブロック6にこのアリ溝
7に対して摺動可能に係合しうる突起8を設けることに
より、可動ブロック6の方向性を一定にしてこれが平行
移動しうるようにしている。
一方、直方体のブロックに上記のように直角三角形状の
切り欠きを設りたことにより形成された、本体ブロック
2の上面壁9には、マイクロメータヘッド10が、その
スピンドル11が上下方向を向くように固定されている
。このマイクロメータヘッド10のスピンドル11の先
端部は、上記可動ブロック6の上面に当接し、この可動
プロ・ツク6の上下方向、すなわち、第1図Y方向の変
位量を精密に測定しうるようになっている。
第1図から明らかなように、可動ブロック6が本体ブロ
ック2のスライド面4上を移動すると、この可動ブロッ
ク6は、X方向およびY方向に同時に移動することにな
る。スライド面4の水平方向に対する傾斜角αをたとえ
ば45度に設定しておくと、」二記X方向の移動量とY
方向の移動量は等しいから、可動ブロック6のY方向の
移動量をマイクロメータ10aによって測定すると、そ
の測定の読みがそのまま可動プロ・ツク2のX方向の移
動量、すなわち、この可変プロ・ツクゲージの両測定端
面3,5間の寸法の変化量となる。
次に、この可変ブロックゲージ1を使用した溝幅の測定
方法の例を説明する。
まず、第1図に仮想線で示すように、可動ブロック6を
最大限後退させたときの両測定端面3゜5間の寸法を確
定しておき、かつこのときのマイクロメータ10aの読
みを記録しておく。そして、第3図に示すように、測定
すべき溝A内にこの可変ブロックゲージ1を他の適当な
呼び寸法の従来のブロックゲージa、b・・・とともに
縦列させる。
この場合、上記のように最大限後退させた可動ブロック
6の淘1定端面5と溝への内壁Bには、適当な隙間があ
くようにしておく。次に、可動ブロック6をスライドさ
せ、その測定端面5を上記内壁Bに密着させ、その際の
可動ブロック6のY方向の移動量をマイクロメータ10
aによって読み取る。可動ブロックゲージの最初の測定
端面3,5間の寸法およびこれに縦列させたブロックゲ
ージa、b・・・の呼び寸法は分かっているから、これ
らの和にマイクロメータによって読み取った可動ブー 
ロック6の移動量を加えたものが、溝幅の正確な寸法と
なる。
このように、本発明の可変ブロックゲージを用いた測定
方法では、従来においての、ブロックゲージの組合せを
変更することにより1 / 100 mm刻みの呼び寸
法の和を作るという作業が、可動ブロック6をその測定
端面が測定対象に密着するように移動させ、かつその移
動量を付設のマイクロメータで読み取るというきわめて
簡単な作業に置き替えられる。マイクロメークは、通常
1 / 100 tnmまで測定できるので、測定結果
の正確さは、ブロックゲージのみを用いた従来の測定方
法に比べC何ら遜色ない。
以上のように、本発明の可変ブロックゲージは、ブロッ
クゲージによる測定をきわめて簡単なものとするという
特有の効果を有する画期的なものである。
なお、本発明の範囲は図面に示した実施例に限定されな
いことは勿論である。
たとえば、図示例では、本体ブロックのスライド面に設
けたガイド溝に可動ブロックを摺動可能にはめこんであ
るが、このようにする必要はとくになく、本体ブロック
と可動ブロックとを基本的に別体とし、使用に際して可
動ブロックをその摺動面が本体ブロックのスライド面に
密着すようにして組み合せてもよい。また、スライド面
の水平面に対する傾斜角αは45度にする必要はなく、
どのような角度に設定してもよい。この場合、可動ブロ
ックのY方向の移動量にtan αを乗じると、可動ブ
ロックのY方向の移動量を算出することができる。また
、この場合、傾斜角αを90度に近付けると、可動ブロ
ックのX方向の変位が拡大されてY方向の変位となるの
で、δlす定の精度を上げることができるので好都合で
ある。
【図面の簡単な説明】 図面は、本発明の実施例を示し、第1図は、一実施例の
全体斜視図、第2図は、第1図のu−n線断面図、第3
図は、本発明の可変ブロックゲージを用いた測定方法の
一例を示す断面図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. fl) −側面を測定端面とした本体ブロックの他側部
    に、上記測定端面に対して傾斜する。スライド面を設け
    、上記測定端面と平行な測定端面を有する可動ブロック
    を上記スライド面上に摺動可能に取付ける一方、上記可
    動ブロックの、測定面方向の移動量を上記本体ブロック
    に支持させたマイクロメータにより読み取るようにした
    ことを特徴とする、可変ブロックゲージ。
JP16576583A 1983-09-07 1983-09-07 可変ブロックゲ−ジ Pending JPS6056201A (ja)

Priority Applications (1)

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JP16576583A JPS6056201A (ja) 1983-09-07 1983-09-07 可変ブロックゲ−ジ

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JP16576583A JPS6056201A (ja) 1983-09-07 1983-09-07 可変ブロックゲ−ジ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6056201A true JPS6056201A (ja) 1985-04-01

Family

ID=15818613

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16576583A Pending JPS6056201A (ja) 1983-09-07 1983-09-07 可変ブロックゲ−ジ

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JP (1) JPS6056201A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6370108A (ja) * 1986-09-11 1988-03-30 Miyagawa Kasei Kogyo Kk 隙間測定器
JPS63238208A (ja) * 1987-03-27 1988-10-04 Nippon Steel Corp 鋳床溶銑予備処理法
CN115655070A (zh) * 2022-12-27 2023-01-31 湖南省特种设备检验检测研究院 一种电梯层门滑块啮合深度测量尺

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5117032B1 (ja) * 1970-07-14 1976-05-29

Patent Citations (1)

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