JPS6057237A - 生化学分析における反射濃度測定方法 - Google Patents
生化学分析における反射濃度測定方法Info
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- JPS6057237A JPS6057237A JP16632883A JP16632883A JPS6057237A JP S6057237 A JPS6057237 A JP S6057237A JP 16632883 A JP16632883 A JP 16632883A JP 16632883 A JP16632883 A JP 16632883A JP S6057237 A JPS6057237 A JP S6057237A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は測定素子に測光光線を照射し、これより反射
する反射光の反射濃度を測定することによって液体試料
の成分等の分析を行う生化学分析における反射濃度測定
方法に関するものである。
する反射光の反射濃度を測定することによって液体試料
の成分等の分析を行う生化学分析における反射濃度測定
方法に関するものである。
一般に、血液、血清等の液体試料について。
当該液体試料における特定の成分の含有の有無あるいは
その含有量等を知るべき場合が多く。
その含有量等を知るべき場合が多く。
このために反応試薬による化学分析が行われる。
液体試料の化学分析法としては、乾式法と湿式法とがあ
るが、このうち乾式法は、特定の試薬が含浸された薄板
をマウント間に挟み込んでなる液体試料の測定素子を用
い、この測定素子に分析すべき液体試料を滴下して供給
し、これを反応用恒温槽内に置いて液体試料と試薬とを
反応せしめ、その反応の進行状態または結果を。
るが、このうち乾式法は、特定の試薬が含浸された薄板
をマウント間に挟み込んでなる液体試料の測定素子を用
い、この測定素子に分析すべき液体試料を滴下して供給
し、これを反応用恒温槽内に置いて液体試料と試薬とを
反応せしめ、その反応の進行状態または結果を。
例えば反応による色の濃度変化を光学式濃度測定器によ
り測定する手段、その他の手段により測定検出する方法
であり、液体試料を実際上固体として取り扱うことがで
きる点で非常に便利である。
り測定する手段、その他の手段により測定検出する方法
であり、液体試料を実際上固体として取り扱うことがで
きる点で非常に便利である。
しかしながら、多数の検体を個々に測定素子に滴下し9
反応による色の濃度変化を光学式濃度測定器により測定
することは困難かつ面倒であり、従って、最近では複数
個の測定素子を同一円上の等配位置に係止したディスク
を用い。
反応による色の濃度変化を光学式濃度測定器により測定
することは困難かつ面倒であり、従って、最近では複数
個の測定素子を同一円上の等配位置に係止したディスク
を用い。
該ディスクを一定角度づつ回転できる如く設置し、順次
測定素子の測定面に所望する波長の測光光線を照射し、
該測定素子の測定面からの反射光を電気信号に変換して
反射濃度を測定するようにした生化学分析装置が開発さ
れてきたが。
測定素子の測定面に所望する波長の測光光線を照射し、
該測定素子の測定面からの反射光を電気信号に変換して
反射濃度を測定するようにした生化学分析装置が開発さ
れてきたが。
測定精度を高め、信頼性、再現性を向上させるためには
測定素子に測光光線を照射する光学系にバラツキや誤差
があってはならないし、信号処理を行う電気回路におけ
る誤差を正確に把握して補正することが肝要である。
測定素子に測光光線を照射する光学系にバラツキや誤差
があってはならないし、信号処理を行う電気回路におけ
る誤差を正確に把握して補正することが肝要である。
この発明は上記の点に鑑み、光源から発せられる測光光
線をその光路上に設けたシャ・2タ一羽を開くことによ
って測゛定素子に照射し、その反射光を第一受光素子に
伝送する一方、前記測光光線の一部をその光路より分岐
して第二受光素子にレファレンスし、これら素子反射光
及びレファレンス光を第一、第二受光素子によってそれ
ぞれ変換された両電気信号を補償回路によって差動増幅
するとともに、該補償回路の出力信号と複数の異なる値
の基準信号とをスイッチング回路を介して順次アナログ
−デジタル変換器に入力することにより、測定素子に照
射される光量の変動に基づく反射光の光量変動を補償す
る一方、ア≠ログーデジタル変換器(以下A/D変換器
と称する)における変換誤差を、基準信号を入力した際
の入出力値を用いて演算することにより除去し、システ
ム全体としての測定誤差を大幅に削減し、高精度1高信
頼性、高再現性を実現した生化学分析における反射濃度
測定方法を提供することを目的とする。
線をその光路上に設けたシャ・2タ一羽を開くことによ
って測゛定素子に照射し、その反射光を第一受光素子に
伝送する一方、前記測光光線の一部をその光路より分岐
して第二受光素子にレファレンスし、これら素子反射光
及びレファレンス光を第一、第二受光素子によってそれ
ぞれ変換された両電気信号を補償回路によって差動増幅
するとともに、該補償回路の出力信号と複数の異なる値
の基準信号とをスイッチング回路を介して順次アナログ
−デジタル変換器に入力することにより、測定素子に照
射される光量の変動に基づく反射光の光量変動を補償す
る一方、ア≠ログーデジタル変換器(以下A/D変換器
と称する)における変換誤差を、基準信号を入力した際
の入出力値を用いて演算することにより除去し、システ
ム全体としての測定誤差を大幅に削減し、高精度1高信
頼性、高再現性を実現した生化学分析における反射濃度
測定方法を提供することを目的とする。
(実施例)
次に、この発明を添付図面に示す実施例にもとづいて説
明する。
明する。
第1図は本発明に係る測定方法を実現するシステムの構
成例を示すものである。
成例を示すものである。
図において、1は測光光線2を発する光源である。測光
光線2の光路上には測光光線2を集光させる集光レンズ
3.測光光線2の照射径を一定にするための筒形スリッ
ト4.測光光線2の光路を変更させるミラー5がそれぞ
れ設置され、ミラー5によって変更された測光光線2の
光路上には、血液等の試料により反応した測定素子6が
配置されている。
光線2の光路上には測光光線2を集光させる集光レンズ
3.測光光線2の照射径を一定にするための筒形スリッ
ト4.測光光線2の光路を変更させるミラー5がそれぞ
れ設置され、ミラー5によって変更された測光光線2の
光路上には、血液等の試料により反応した測定素子6が
配置されている。
さらに、集光レンズ3と筒形スリット4との間には45
°に傾斜した透明ガラス7と、シャッター羽8が設置さ
れている。透明ガラス7は測光光線2の光量変動を把握
するために測光光線2の一部をレファレンス光として分
岐させるもめであり、シャッター羽8は測定素子6に対
して照射する測光光線2を開閉するためのものであって
、ロータリーソレノイド9によって光路上に進退自在と
なるよう回転駆動される。
°に傾斜した透明ガラス7と、シャッター羽8が設置さ
れている。透明ガラス7は測光光線2の光量変動を把握
するために測光光線2の一部をレファレンス光として分
岐させるもめであり、シャッター羽8は測定素子6に対
して照射する測光光線2を開閉するためのものであって
、ロータリーソレノイド9によって光路上に進退自在と
なるよう回転駆動される。
前記測定素子6の照射点周辺には、照射によって生じた
反射光2aを受光する複数個の受光器io−が配設され
、該受光器io−には受光・した光を第一受光素子20
へ伝送する光ファイバー11− が接続されている。こ
れと同様に透明ガラス7によって分岐したレファレンス
光2bの光路上には受光器12が配設され、該受光器′
12には受光したレファレンス光を第二受光素子21へ
伝送する光ファイバー13が接続されている。なお、前
記反射光2aを受光素子にてダイレクトに受け、光ファ
イバー11.13を省略するように構成してもよい。
反射光2aを受光する複数個の受光器io−が配設され
、該受光器io−には受光・した光を第一受光素子20
へ伝送する光ファイバー11− が接続されている。こ
れと同様に透明ガラス7によって分岐したレファレンス
光2bの光路上には受光器12が配設され、該受光器′
12には受光したレファレンス光を第二受光素子21へ
伝送する光ファイバー13が接続されている。なお、前
記反射光2aを受光素子にてダイレクトに受け、光ファ
イバー11.13を省略するように構成してもよい。
前記第一受光素子20及び第二受光素子21は測定素子
反射光2a及びレファレンス光2bを各光量に対応する
大きさの電気信号(電流値)に変換するものであり、フ
ォトダイオード等の光電素子によって構成されている。
反射光2a及びレファレンス光2bを各光量に対応する
大きさの電気信号(電流値)に変換するものであり、フ
ォトダイオード等の光電素子によって構成されている。
30は第一受光素子20で生じた第一電気信号を電圧値
V meaに変換する電流−電圧変換器。
V meaに変換する電流−電圧変換器。
31は第二受光素子21で生じた第二電気信号を電圧値
V refに変換する電流−電圧変換器である。
V refに変換する電流−電圧変換器である。
40は測定素子反射光2aの光量に対応した電圧V m
eaとレファレンス光2bの光量に対応した電圧V r
efとを差動増幅することにより。
eaとレファレンス光2bの光量に対応した電圧V r
efとを差動増幅することにより。
測光光線2の光源変動に基づく測定素子反射光2aの光
量変動を補償する補償回路である。該補償回路40は対
数変換器からなり、入力電圧Vmea 、Vrefと出
力電圧VxとはVx = Klog(Vref / V
mea ) K =定数なる関係式で表される。
量変動を補償する補償回路である。該補償回路40は対
数変換器からなり、入力電圧Vmea 、Vrefと出
力電圧VxとはVx = Klog(Vref / V
mea ) K =定数なる関係式で表される。
50はスイッチング回路、60はA/D変換器である。
スイッチング回路50はA/D変換器60の入力端子5
0aと、補償回路40の出力端子50b、一定基準電圧
Vl+に設定された基準電圧発生回路51の端子50C
及び前記基準電圧itよりも小なる値の基準電圧VLに
設定された端子50dとを順次切換え得るようになって
いる。このスイッチング回路50ばアナログスイッチに
よって構成され、各端子の切換えは選択信号発生器52
からの信号によって行われる。
0aと、補償回路40の出力端子50b、一定基準電圧
Vl+に設定された基準電圧発生回路51の端子50C
及び前記基準電圧itよりも小なる値の基準電圧VLに
設定された端子50dとを順次切換え得るようになって
いる。このスイッチング回路50ばアナログスイッチに
よって構成され、各端子の切換えは選択信号発生器52
からの信号によって行われる。
前記A/D変換器60は前記スイッチング回路50の切
換えに応じて、補償回路40の出力Vx、基準電圧V)
!、VLをそれぞれ入力してサンプリングし、各僅に対
応したデジタル変換値を出力するものである。このサン
プリングはサンプリングパルス発生器61から送出され
るパルス信号によって行われ、−回の照射にて複数のサ
ンプリングを指令できるようになってい70は基準電圧
値VH,VLと前記補償回路40の出力VxをA/D変
換器60に入力して得られる各変換出力値から、補償回
路40の出力が正しいデジタル変換値となるように演算
する演算回路である。該演算回路70はA/D変換器6
0における誤差を補正するためのものである。即ち、A
/D変換器60への入力電圧をVA、デジタル変換後の
出力電圧をVDとすると VD=aV八 十b −−−−−−一 ■なる関係式が
成立する。ここでa、bは経時変化等によって変化する
係数である。
換えに応じて、補償回路40の出力Vx、基準電圧V)
!、VLをそれぞれ入力してサンプリングし、各僅に対
応したデジタル変換値を出力するものである。このサン
プリングはサンプリングパルス発生器61から送出され
るパルス信号によって行われ、−回の照射にて複数のサ
ンプリングを指令できるようになってい70は基準電圧
値VH,VLと前記補償回路40の出力VxをA/D変
換器60に入力して得られる各変換出力値から、補償回
路40の出力が正しいデジタル変換値となるように演算
する演算回路である。該演算回路70はA/D変換器6
0における誤差を補正するためのものである。即ち、A
/D変換器60への入力電圧をVA、デジタル変換後の
出力電圧をVDとすると VD=aV八 十b −−−−−−一 ■なる関係式が
成立する。ここでa、bは経時変化等によって変化する
係数である。
従ってA、/D変換器60の入力電圧がVx。
■■t、VLである場合のデジタル変換後の出力値VD
x、VDII、VDLは VDx= a VX + b −−−−−−−−■VD
ll= a VH+ b −−−−−一 ■VDL=
a VL + b −−−−−■となる。第2図の実線
はこの状態を示しているものである。上記■、■、■式
より係数a、bを消去し、Vxに関する式をもとめれば
の基準電圧値であり、 VDII、VDL、VDxはデ
ジタル変換後の出力値であるから0式中には経時変化等
による誤差要因は含まれていない、従って、上記0式に
各値を代入して計算すれば正しいVxのデジタル変換値
がめられる。前記演算回路70は上記0式の計算を実行
するものであり、第2図の破線はこの計算の結果を示し
ているものである。
x、VDII、VDLは VDx= a VX + b −−−−−−−−■VD
ll= a VH+ b −−−−−一 ■VDL=
a VL + b −−−−−■となる。第2図の実線
はこの状態を示しているものである。上記■、■、■式
より係数a、bを消去し、Vxに関する式をもとめれば
の基準電圧値であり、 VDII、VDL、VDxはデ
ジタル変換後の出力値であるから0式中には経時変化等
による誤差要因は含まれていない、従って、上記0式に
各値を代入して計算すれば正しいVxのデジタル変換値
がめられる。前記演算回路70は上記0式の計算を実行
するものであり、第2図の破線はこの計算の結果を示し
ているものである。
以上のシステム構成を参照して、この発明に係る生化学
分析における反射濃度測定方法を説明すると。
分析における反射濃度測定方法を説明すると。
まず、シャッター羽8により測光光線2の光路を遮断さ
せた状態で光源1を点灯する。
せた状態で光源1を点灯する。
次に、測定素子6を照射位置に七ノ1−シたときの信号
によりロータリーソレノイド9を駆動し、シャッター羽
8を光路から退去させ、測光光線2を測定素子6に照射
させる。この測定素子6からの反射光2aは受光器10
−で受光され、光ファイバー11・−を介して第一受光
素子20へ伝送される。一方、測光光線2の一部はレフ
ァレンス光として透明ガラス7で分岐されて受光器12
より光ファイバー13を介して第二受光素子21へ伝送
される。
によりロータリーソレノイド9を駆動し、シャッター羽
8を光路から退去させ、測光光線2を測定素子6に照射
させる。この測定素子6からの反射光2aは受光器10
−で受光され、光ファイバー11・−を介して第一受光
素子20へ伝送される。一方、測光光線2の一部はレフ
ァレンス光として透明ガラス7で分岐されて受光器12
より光ファイバー13を介して第二受光素子21へ伝送
される。
第一受光素子20は反射光2aの光量に対応した第一電
気信号を出力し、第二受光素子21はレファレンス光2
bに対応した第二電気信号を出力する。この第一、第二
電気信号は電流−電圧変換器30.31によって、それ
ぞれ電圧Vmea 、Vrefに変換される。
気信号を出力し、第二受光素子21はレファレンス光2
bに対応した第二電気信号を出力する。この第一、第二
電気信号は電流−電圧変換器30.31によって、それ
ぞれ電圧Vmea 、Vrefに変換される。
電圧変換された信号Vmea 、Vr’efは対数変換
器からなる補償回路40に入力されて対数変換され、そ
の結果、補償回路40は Vx =に1og (Vref /Vmea )なる出
力Vにを生じる。
器からなる補償回路40に入力されて対数変換され、そ
の結果、補償回路40は Vx =に1og (Vref /Vmea )なる出
力Vにを生じる。
この式から明らかな如く、測定素子6に照射する測光光
線2が変動しても、測光光線2の一部を分岐して得たレ
ファレンス光も同一割合で変動するため、Vref /
Vmeaによって相殺され、出力Vxは液体試料の違い
に基づく反射濃度の差異を要因として変化するだけであ
り、照射光の光量変動による誤差を除去することができ
る。
線2が変動しても、測光光線2の一部を分岐して得たレ
ファレンス光も同一割合で変動するため、Vref /
Vmeaによって相殺され、出力Vxは液体試料の違い
に基づく反射濃度の差異を要因として変化するだけであ
り、照射光の光量変動による誤差を除去することができ
る。
しかして、補償回路40からの出力Vx及び基準電圧発
生回路51からの電圧Ml(、VLはスイッチング回路
50のスイッチの切換えに応じて選択的にA/D変換器
60に入力され、該A/D変換器60はデジタル変換し
、その変換値を演算回路70に伝送する。このA/D変
換器60の変換値にはA/D変換器自身による誤る。
生回路51からの電圧Ml(、VLはスイッチング回路
50のスイッチの切換えに応じて選択的にA/D変換器
60に入力され、該A/D変換器60はデジタル変換し
、その変換値を演算回路70に伝送する。このA/D変
換器60の変換値にはA/D変換器自身による誤る。
かくして得られた変換値Vχは測光光線の光量変動に基
づく誤差及びA/D変換器60による誤差を含むことな
く、測定素子6試薬に反応した成分に応じて変化する関
数となる。
づく誤差及びA/D変換器60による誤差を含むことな
く、測定素子6試薬に反応した成分に応じて変化する関
数となる。
上記の場合、シャッター羽8の一回の開放により測定素
子6の同一点より多点サンプリングを行わせるときは各
サンプリングの信号値を平均することにより、センサー
ノイズを除去できるし、シャンク−羽8を開いて測光光
線2を測定素子6に照射する前後、即ち、測定素子の反
射濃度測定前後における非照射時の測定値をめ、該測定
値に基づいて受光素子のドリフト傾向を把握して補正す
る構成を同時に組込めば。
子6の同一点より多点サンプリングを行わせるときは各
サンプリングの信号値を平均することにより、センサー
ノイズを除去できるし、シャンク−羽8を開いて測光光
線2を測定素子6に照射する前後、即ち、測定素子の反
射濃度測定前後における非照射時の測定値をめ、該測定
値に基づいて受光素子のドリフト傾向を把握して補正す
る構成を同時に組込めば。
回路の安定はより向上する。
なお、上記実施例において、演算回路70゜選択信号発
生回路52.サンプリングパルス発生器61等における
動作はマイクロコンピュータによって行わせることもで
きる。
生回路52.サンプリングパルス発生器61等における
動作はマイクロコンピュータによって行わせることもで
きる。
この発明は以上の如く、光源から発せられる測光光線を
その光路上に設けたシャッター羽を開くことによって測
定素子に照射し、その反射光を第一受光素子に伝送する
一方、前記測光光線の一部をその光路より分岐して第二
受光素子にレファレンスし、これら素子反射光およびレ
ファレンス光を第一、第二受光素子によって変換した両
電気信号を補償回路によって差動増幅するとともに該補
償回路の出方信号と複数の異なる値の基準信号とをスイ
ッチング回路を介して順次アナログ−デジタル変換器に
入力することを特徴としているから、測光光線を照射し
た際の反射光に対応する信号と、測光光線の一部を分岐
して得たレファレンス光に対応する信号とを差動増幅す
ることによって測定素子反射光の光電変動に基づく変動
誤差を相殺し、光源変動をキャンセルできる。
その光路上に設けたシャッター羽を開くことによって測
定素子に照射し、その反射光を第一受光素子に伝送する
一方、前記測光光線の一部をその光路より分岐して第二
受光素子にレファレンスし、これら素子反射光およびレ
ファレンス光を第一、第二受光素子によって変換した両
電気信号を補償回路によって差動増幅するとともに該補
償回路の出方信号と複数の異なる値の基準信号とをスイ
ッチング回路を介して順次アナログ−デジタル変換器に
入力することを特徴としているから、測光光線を照射し
た際の反射光に対応する信号と、測光光線の一部を分岐
して得たレファレンス光に対応する信号とを差動増幅す
ることによって測定素子反射光の光電変動に基づく変動
誤差を相殺し、光源変動をキャンセルできる。
また、A/D変換器におしする誤差をその入出力特性の
関係から演算することによって除去し得、システム全体
としての測定誤差を大幅に削減した高精度の測定値が得
られ、信頼性、再現性が格段に向上するというすぐれた
’JJ果を奏するものである。
関係から演算することによって除去し得、システム全体
としての測定誤差を大幅に削減した高精度の測定値が得
られ、信頼性、再現性が格段に向上するというすぐれた
’JJ果を奏するものである。
図はこの発明の実施例を示し、第1図はシステムの構成
を示すブロック図、第2図はデジタル変換後の値と、補
正後の値を示すグラフである。 1−・光源 2−光束 3−集光レンズ 4−筒形スリット 5・−反射ミラー 6−測定素子 7−透明ガラス 8−シャッター羽 9・−ロータリーソレノイド 10.12−受光器11
.13・−光ファイバー 20.21−受光素子30.
31−電流一電圧変換器 4〇−補償回路50−スイッ
チング回路 6(1−A / D変換器70−演算回路 特許出願人 小西六写真工業株式会社 第1図 52 61 第2図
を示すブロック図、第2図はデジタル変換後の値と、補
正後の値を示すグラフである。 1−・光源 2−光束 3−集光レンズ 4−筒形スリット 5・−反射ミラー 6−測定素子 7−透明ガラス 8−シャッター羽 9・−ロータリーソレノイド 10.12−受光器11
.13・−光ファイバー 20.21−受光素子30.
31−電流一電圧変換器 4〇−補償回路50−スイッ
チング回路 6(1−A / D変換器70−演算回路 特許出願人 小西六写真工業株式会社 第1図 52 61 第2図
Claims (3)
- (1)光源から発せられる測光光線をその光路上に設り
たシャッター羽を開くことによって測定素子に照射し、
その反射光を第一受光素子に伝送する一方、前記測光光
線の一部をその光路より分岐して第二受光素子にレファ
レンスし、これら素子反射光及びレファレンス光を第一
、第二受光素子によってそれぞれ変換した両電気信号を
補償回路によって差動増幅するとともに該補償回路の出
力信号と複数の異なる値の基準信号とをスイッチング回
路を介して順次アナログ−デジタル変換器に入力するこ
とを特徴とする生化学分析における反射濃度測定方法。 - (2)前記シャッター羽の開放中に、同一点での多点サ
ンプリングを行い、その平均値をとることによりセンサ
ーノイズを除去するようになっている特許請求の範囲第
1項記載の生化学分析における反射濃度測定方法。 - (3)前記シャッター羽の開閉と同期して実測定区間の
前後においてサンプリングし、受光素子のドリフト仰向
を把握できるようになっている特許請求の範囲第1項記
載の生化学分析における反射濃度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16632883A JPS6057237A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 生化学分析における反射濃度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16632883A JPS6057237A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 生化学分析における反射濃度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6057237A true JPS6057237A (ja) | 1985-04-03 |
Family
ID=15829319
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16632883A Pending JPS6057237A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 生化学分析における反射濃度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6057237A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5714743A (en) * | 1980-06-30 | 1982-01-26 | Fujitsu Ltd | System for infrared spectrochemical analysis |
-
1983
- 1983-09-09 JP JP16632883A patent/JPS6057237A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5714743A (en) * | 1980-06-30 | 1982-01-26 | Fujitsu Ltd | System for infrared spectrochemical analysis |
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