JPS6058818B2 - 材料試験機 - Google Patents
材料試験機Info
- Publication number
- JPS6058818B2 JPS6058818B2 JP52145392A JP14539277A JPS6058818B2 JP S6058818 B2 JPS6058818 B2 JP S6058818B2 JP 52145392 A JP52145392 A JP 52145392A JP 14539277 A JP14539277 A JP 14539277A JP S6058818 B2 JPS6058818 B2 JP S6058818B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- signal
- sine wave
- output
- function generator
- Prior art date
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- Expired
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- Electrophonic Musical Instruments (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は材料試験機に関する。
従来の材料試験機は、単調に増大するランプ（傾斜）
波、単調に継続される正弦波のように専ら模型的な荷重
を加えた試験が行われていた。
波、単調に継続される正弦波のように専ら模型的な荷重
を加えた試験が行われていた。
しカル最近、材料および構造物の強度研究の急速な進歩
に伴い、実験室で実際に近い状態を再現しうる試験装置
の要請が高まりつつある。 本発明は、正弦波の繰返し
波形、１周期波形、半周期波形、又は１ハ周期波形、ラ
ンプ波形、一定保持波形、方形波、三角波、台形波など
の互に異なる種類の波形信号を任意の順序に組合せてな
る一連のプログラム波形からなる荷重を試験片に加える
ことができるように材料試験機を構成したことを特徴と
している。
に伴い、実験室で実際に近い状態を再現しうる試験装置
の要請が高まりつつある。 本発明は、正弦波の繰返し
波形、１周期波形、半周期波形、又は１ハ周期波形、ラ
ンプ波形、一定保持波形、方形波、三角波、台形波など
の互に異なる種類の波形信号を任意の順序に組合せてな
る一連のプログラム波形からなる荷重を試験片に加える
ことができるように材料試験機を構成したことを特徴と
している。
以下、本発明を実施例により説明する。
第１図に本発明の実施例の材料試験機に用いられるフ
ァンクションジェネレータの回路ブロック図を示す。
ァンクションジェネレータの回路ブロック図を示す。
設定盤１、セレクタ２ａはプログラム記憶装置３の書き
込み装置を構成しており、切換えスイッチ６を書き込み
側に投入した状態で、設定盤１上のキーからデータを入
力して、記憶装置３の内容を所望のプログラムに形成す
ることができる。操作盤４は、プログラムの書き込み、
波形発生プログラムの呻動又は停止、手動自動の切換な
どを操作するためのファンクション信号入力部、チャン
ネル制御回路５は操作盤４は各信号発生器７，８，９の
終了確認信号に従いセレクタ２ａ又は２ｂの歩進を制御
する回路である。切換スイッチ６はプログラム形成時に
はａ側に、プログラム実行時にはｂ側に投入されるもの
で、ゲート回路又はアナログスイッチ回路により構成す
ることもできる。記憶装置３はチャンネル１からチャン
ネル８までの容量を有し、書込まれるべきデータの内容
は、信号発生器の種類の指示、正弦波、方形波等の周期
関数てあればその振巾の大きさ及び平均値の絶対レベル
、周波数、繰返し回数、ランプ波形であれば、勾配、持
続時間又は到達レベル、一定保持波であれば、そのレベ
ル及び持続時間、半周期正弦波又は１１４周期正弦波て
あればその象限、振巾の大きさ、周期などてある。
込み装置を構成しており、切換えスイッチ６を書き込み
側に投入した状態で、設定盤１上のキーからデータを入
力して、記憶装置３の内容を所望のプログラムに形成す
ることができる。操作盤４は、プログラムの書き込み、
波形発生プログラムの呻動又は停止、手動自動の切換な
どを操作するためのファンクション信号入力部、チャン
ネル制御回路５は操作盤４は各信号発生器７，８，９の
終了確認信号に従いセレクタ２ａ又は２ｂの歩進を制御
する回路である。切換スイッチ６はプログラム形成時に
はａ側に、プログラム実行時にはｂ側に投入されるもの
で、ゲート回路又はアナログスイッチ回路により構成す
ることもできる。記憶装置３はチャンネル１からチャン
ネル８までの容量を有し、書込まれるべきデータの内容
は、信号発生器の種類の指示、正弦波、方形波等の周期
関数てあればその振巾の大きさ及び平均値の絶対レベル
、周波数、繰返し回数、ランプ波形であれば、勾配、持
続時間又は到達レベル、一定保持波であれば、そのレベ
ル及び持続時間、半周期正弦波又は１１４周期正弦波て
あればその象限、振巾の大きさ、周期などてある。
周波数範囲は、例えば正弦波の場合についていえば、超
低速試験の０．０００１Ｈｚから高速試験の２００Ｈｚ
まてが実用的てある。セレクタ２ｂは記憶装置３の内容
をチャンネル毎に順次読み出して指定されている信号発
生器に．導入するものて、チャンネル制御回路５にフィ
ードバックされる信号発生器７，８，９からの終了確認
信号に従いチャンネルの切換を実行する。信号発生器７
は例えは正弦波発生器で、セレクタ出力１７に従つて、
指定された振巾、指定された周！期、指定されたレベル
の正弦波信号０７を、指定された繰り返し回数又は指定
された象限のみを出力し、その出力が終了した時に終了
確認信号Ｃ７を発するよう発振器、定数切換回路、増巾
回路又は減衰回路、ゲート回路などにより構成されてい
・る。信号発生器８，９は例えばランプ波発生器、一定
保持波発生器であつて、それぞれ正弦波発生器７と類似
の回路構成により、セレクタ出力１８又はらに従い、指
定通りの波形出力０８又は０９を出力し、出力終了時に
確認信号０８又はへを発する。
低速試験の０．０００１Ｈｚから高速試験の２００Ｈｚ
まてが実用的てある。セレクタ２ｂは記憶装置３の内容
をチャンネル毎に順次読み出して指定されている信号発
生器に．導入するものて、チャンネル制御回路５にフィ
ードバックされる信号発生器７，８，９からの終了確認
信号に従いチャンネルの切換を実行する。信号発生器７
は例えは正弦波発生器で、セレクタ出力１７に従つて、
指定された振巾、指定された周！期、指定されたレベル
の正弦波信号０７を、指定された繰り返し回数又は指定
された象限のみを出力し、その出力が終了した時に終了
確認信号Ｃ７を発するよう発振器、定数切換回路、増巾
回路又は減衰回路、ゲート回路などにより構成されてい
・る。信号発生器８，９は例えばランプ波発生器、一定
保持波発生器であつて、それぞれ正弦波発生器７と類似
の回路構成により、セレクタ出力１８又はらに従い、指
定通りの波形出力０８又は０９を出力し、出力終了時に
確認信号０８又はへを発する。
加算回路１０は各信号発生器７，８，９の出力０７〜０
９をファンクションジェネレータの出力として導出する
もので、複数の信号発生器が同時に出力している時には
重畳された波形を出力する。第２図に、信号発生器７，
８，９から出力される波形を例示する。Ａは繰返し正弦
波、Ｂｌ，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４は半周期正弦波、Ｃ，，Ｃ
２，Ｃ３，Ｃ４はノ１１４周期正弦波、Ｄｌ，Ｄ２はラ
ンプ波、Ｅは一定保持波てある。また第３図に、第２図
の半周期正弦波のＢ３，Ｂ４と一定保持波の組合せによ
り得られた組合せ出力波形の一例を示す。上記ファンク
ションジェネレータにおける記憶・装置３として予めプ
ログラム内容が書き込まれたＲＯＭを用いることができ
る。
９をファンクションジェネレータの出力として導出する
もので、複数の信号発生器が同時に出力している時には
重畳された波形を出力する。第２図に、信号発生器７，
８，９から出力される波形を例示する。Ａは繰返し正弦
波、Ｂｌ，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４は半周期正弦波、Ｃ，，Ｃ
２，Ｃ３，Ｃ４はノ１１４周期正弦波、Ｄｌ，Ｄ２はラ
ンプ波、Ｅは一定保持波てある。また第３図に、第２図
の半周期正弦波のＢ３，Ｂ４と一定保持波の組合せによ
り得られた組合せ出力波形の一例を示す。上記ファンク
ションジェネレータにおける記憶・装置３として予めプ
ログラム内容が書き込まれたＲＯＭを用いることができ
る。
また、チャンネル制御部等を含めて最近発達の著しいマ
イクロプロセサを用いて構成することもできる。第４図
に本発明の実施例である引張圧縮疲労試験機の構成図を
示す。
イクロプロセサを用いて構成することもできる。第４図
に本発明の実施例である引張圧縮疲労試験機の構成図を
示す。
油ポンプ１２、サーボ弁１３油圧シリンダ１４等により
成る油圧荷重装置により試験片１１に引張圧縮荷重が加
えられ、その荷重の大きさはロードセル１５で検出され
試験片１１に生じたひずみの大きさはひずみ検出器１６
で検出される。
成る油圧荷重装置により試験片１１に引張圧縮荷重が加
えられ、その荷重の大きさはロードセル１５で検出され
試験片１１に生じたひずみの大きさはひずみ検出器１６
で検出される。
一方、本発明のファンクションジェネレータ１８、プロ
グラムコントローラ１９が予め署定された命令信号をコ
ントロールユニット２０に与えている。コントロールユ
ニット２０は、ロードセル１５、ひすみ検出器１６及ひ
変位検出器１７て検出された計測信号と命令信号とを比
較して、その偏差を連続的に零にする修正動作を行うよ
うにサーボ弁１３を制御する閉回路制御系を構成してい
る。このように構成された本発明の材料試験機によれば
静的試験から動的試験まで材料試験に必要なすべての波
形荷重を与えることができるので、材料力学、構造力学
上各種課題の解明に偉力を発揮することができる。
グラムコントローラ１９が予め署定された命令信号をコ
ントロールユニット２０に与えている。コントロールユ
ニット２０は、ロードセル１５、ひすみ検出器１６及ひ
変位検出器１７て検出された計測信号と命令信号とを比
較して、その偏差を連続的に零にする修正動作を行うよ
うにサーボ弁１３を制御する閉回路制御系を構成してい
る。このように構成された本発明の材料試験機によれば
静的試験から動的試験まで材料試験に必要なすべての波
形荷重を与えることができるので、材料力学、構造力学
上各種課題の解明に偉力を発揮することができる。
第１図は本発明実施例である材料試験機に用いられるフ
ァンクションジェネレータの回路ブロック図、第２図は
ファンクションジェネレータの信号発生器の出力波形の
一例を示す図、第３図はフアンクシヨンジエネレータの
出力波形の一例を示す図、第４図は本発明の実施例を示
す材料試験機の構成図てある。 ３・・・・・・記憶装置、５・・・・・・チャンネル制
御回路、７，８，９・・・・・・信号発生器。
ァンクションジェネレータの回路ブロック図、第２図は
ファンクションジェネレータの信号発生器の出力波形の
一例を示す図、第３図はフアンクシヨンジエネレータの
出力波形の一例を示す図、第４図は本発明の実施例を示
す材料試験機の構成図てある。 ３・・・・・・記憶装置、５・・・・・・チャンネル制
御回路、７，８，９・・・・・・信号発生器。
Claims (1)
- １ 試験片に荷重を加える油圧荷重装置と、試験状況を
検出するためのロードセル、ひずみ検出器、変位検出器
を有する検出系と、試験内容を設定するプログラムコン
トローラ及びファンクションジェネレータと、前記検出
系からの計測信号を前記プログラムコントローラ及びフ
ァンクションジェネレータからの命令信号と比較すると
共にその偏差を連続的に零にするよう前記油圧荷重装置
のサーボ弁を制御するコントロールユニットとを有し、
且つ前記ファンクションジェネレータは正弦波の繰返し
波形、正弦波の１周期波形、正弦波の半周期波形、正弦
波の１／４周期波形、ランプ波形、一定保持波形などの
互に異なる種類の波形信号を発生する複数個の信号発生
器と、上記波形の種類、波形の大きさ、波形の時間的要
素を内容とする情報を所定の順序に従つて記憶する記憶
装置と、上記記憶装置から出力信号に従つて上記信号発
生器の出力を出力端子に導く回路手段と、上記いずれか
の信号発生器からの終了信号に従つて上記記憶装置のス
テップを所定の順序に従つて歩進させる手段とを有し、
上記信号発生器の出力波形を組合せてなる複合波形を命
令信号として前記コントロールユニットに出力するよう
構成されていることを特徴とする材料試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52145392A JPS6058818B2 (ja) | 1977-12-02 | 1977-12-02 | 材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52145392A JPS6058818B2 (ja) | 1977-12-02 | 1977-12-02 | 材料試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5478052A JPS5478052A (en) | 1979-06-21 |
| JPS6058818B2 true JPS6058818B2 (ja) | 1985-12-21 |
Family
ID=15384187
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52145392A Expired JPS6058818B2 (ja) | 1977-12-02 | 1977-12-02 | 材料試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6058818B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH024919U (ja) * | 1988-06-22 | 1990-01-12 | ||
| JPH027317U (ja) * | 1988-06-29 | 1990-01-18 | ||
| JPH0212021U (ja) * | 1988-07-05 | 1990-01-25 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6017503A (ja) * | 1983-07-08 | 1985-01-29 | Sony Corp | 自動調整検査装置 |
| JPS62209599A (ja) * | 1986-03-11 | 1987-09-14 | 株式会社 エツチエ−エル | 音声デ−タ圧縮方法 |
-
1977
- 1977-12-02 JP JP52145392A patent/JPS6058818B2/ja not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH024919U (ja) * | 1988-06-22 | 1990-01-12 | ||
| JPH027317U (ja) * | 1988-06-29 | 1990-01-18 | ||
| JPH0212021U (ja) * | 1988-07-05 | 1990-01-25 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5478052A (en) | 1979-06-21 |
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