JPS6062460A - 非接触研摩装置 - Google Patents

非接触研摩装置

Info

Publication number
JPS6062460A
JPS6062460A JP58169887A JP16988783A JPS6062460A JP S6062460 A JPS6062460 A JP S6062460A JP 58169887 A JP58169887 A JP 58169887A JP 16988783 A JP16988783 A JP 16988783A JP S6062460 A JPS6062460 A JP S6062460A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
holder
magnet
processing table
workpiece
wafer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58169887A
Other languages
English (en)
Inventor
Takayuki Minamiyama
南山 隆幸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58169887A priority Critical patent/JPS6062460A/ja
Publication of JPS6062460A publication Critical patent/JPS6062460A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
    • B24B37/07Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool
    • B24B37/10Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for single side lapping
    • B24B37/105Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for single side lapping the workpieces or work carriers being actively moved by a drive, e.g. in a combined rotary and translatory movement

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、例えば半導体ウェハを鏡面加工する非接触研
摩装置の改良に関する。
〔発明の技術的背景〕
従来、例えば半導体ウェハ全鏡面加工する装置としては
、回転加工台に貼着された研摩布に被加工物としての半
導体ウェハを押し伺けることにより加工するものが知ら
れている。しかし、この種の装置は、ウェハを研摩布に
機械的な力で強性的に押しく=jけることによシ加工を
行なうものであるため、加工中にウェハに無理な力が印
加されて表面にスクラッチ等の損傷が発生し易い欠点が
ある。
そこで、近年でtよ、ウェハ奮加工台や研摩布にIk接
接触させずに非接触で加工を行なう装置が提唱されてお
り、その−例として次のようなものが知られている。
(1) ポリウレタン球を砥粒に加え、このxl?リウ
レタン球でウェハを支持することによりウェハを加工台
に接触させずに加工を行なうもの。
(11) 研摩布を貼着した加工台を高速で回転させ、
この時に発生ずる流体状砥粒の動圧によシウエハを研摩
布表面から浮上させて上記流体状は粒の接触により加工
を行なうもの。
OIυ 加工台表面に断面が鉱山状をlす多数の溝を放
射状に設け、この加工台に01し棒状砥粒を供給して加
工台を高速回転させた際に生じる流体状砥粒の動圧によ
りウニ・・を加工台から浮上させ、加=[を行なうもの
〔背景技術の問題点〕
ところが、これらの非接触研摩装置は、それぞれ 中 +J?リウレタン球でウニ・・を支持するものであ
るため確かに加工t>との接触e」、防けるが、月?リ
ウレタン球との接触により微少ながらもスクラッチが発
生ずることがあり、完全には損傷を防き得ない。
(11)研摩布を貼着して流体状砥粒の動圧を得るもの
では、ウェハの(′l土量が安定せず、またウェハが加
工台から均一に浮」二し難いため、加工むらが生じ易い
010 加工台に多数の放射状?′IIlγを設りたも
のでは、上記(11)に比べてウニ・・のtY上状態を
容易に制御し得るが、加工開始時や加工終了時における
ウェハが浮上していない状態において、ウェハにスクラ
ッチが発生)7易く、このためそれ以上の歩留υ向上を
望めない。
等の各種欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明は、被加工物を加工開始時および加工終了時であ
っても確実に浮上させ得、しかも加工中−貫して安定な
浮上状態が?Uられるようにし、損傷や加工むらの発生
を大幅に低減して高品質で歩留りの高い鏡面加工を行な
い得る非接触研摩装置を提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明は、上記目的を達成するために、加工台表面に任
意の極を露出させた状態で第1の磁石を埋設するととも
に、被加工物を保持する加工物ホルダの保持面に上記第
】のイ灘石の露出極と同極の部分を露出させた状態で第
2の磁石を埋設し、これら第1および第2の各磁石の反
発力により被加工物を加工台から浮−ヒさせて加工を行
なうようにしたものである。
〔発明の実施例〕
第1図は、本発明の一実施例&llおける非接触研摩装
置の構成を示すもので、1は加工台を示している。この
加]二台I IJl、円板体の周面に枠体2を取着して
この枠体2の内周面に内歯車2aを設け/こもので、図
示しない回転駆動機構により回転動作するように〃っで
いる。−また、加工台1の中心部には、加−11ffJ
とは逆回転する平歯車3が配設されでいる。−力、4は
ホルダで、このホルダ4は、円筒体の−1・部外周面に
フランジ5を一体に設けてその周面に外歯車5aを設け
たものとなっている。そして、このホルダ4は、その外
歯車5aが前記加工台Jの内歯車2aおよび平歯車3に
ぞれぞれ歯台し/こ状態で、加工台1上に載IKtされ
ている。なお、第】図では、ホルダイを4個載1Nシた
例を示している。′また、これらの各ホルダ4内には、
円柱体からなる加工物ボルダ6がそれぞれ遊嵌されてお
り、この加工物ホルダ6の底面に被加」−物としての半
導体ウェハが保持されるようになっている。
ところで、前n己加工台1のホルダ4載置而には、リン
グ状をなす複数の溝1aが同心円状に即設されており、
これらの溝1aにはそれぞれ1Ji磁石7が埋設されで
いる。これらの電磁石7は、第1図に示ず如く露出端1
1flllがS極となるように設定され、図示しない励
磁回路により励磁されるようになっている。−力、加工
物ホルダ6の底面には、リング状をなす複数の溝6aが
同心円状に9設してるり、これらの溝6aには第2図に
示す如く永久磁石8がそれぞれ埋設されている。これら
の永久tlL、、石8t」、露出端(1111が前記電
磁石7と同じS極となるように設定されている。
1だ、ホルダ4の内周面および加工物ホルダ6の外周面
には、それぞれ複数灸の溝が形成され、これらの溝にそ
れぞれ永久磁石9,10が埋設しである。これらの永久
磁石9,10は、それぞれその露出端τlが同極となる
ように設定されている。
次に、以上のように構成された装置の作用を加工手順に
従って説す」する。先ず、加工物ホルダ6を外し−Cそ
の底面部に被加工物としての半導体ウェハを保持させ、
この状態で加工物ホルダ6をホルダ4内に挿入する。そ
して、この状態で励磁回路により電磁石7を励磁してそ
の露出側をS極とする磁界を発生させる。そうすると、
この電磁石7と」二記つニノ・を保持した加工物ボルダ
6の永久磁石8(S極)とが互いに反発し、その反発力
により加工物ホルダ6が加工台1から浮上する。このと
き、この加工物ホルダ6の浮上量Vi電磁石7に9(給
する電流値によって制御する。
そして、この状態で、加工台)および平歯車3をそれぞ
れ回転させ、同時に図示しない研摩旧供給部力・ら、油
または水に砥粒を混合させた流体状砥粒を加工台1上に
イj(給する。そうすると、ホルダ4および加工物ホル
ダtIが自転し、それ(伴!って回転するウニノ・と加
]二台ノとの間に上記流体状砥粒が加に台ノの回転に伴
Iつて高速に入り込み、こJLによりウー】二ノ・の研
摩が行なわれる。この11」」、ウニノー・t、1.1
11記電磁石7と永久磁石8との反発Qこよシ一定尺浮
」ニした状態を保つ。またこのとき、電碌イー17およ
び永久磁石8は複数のリング体を均一に配したものであ
るため、加工物ボルダ6にtま均一な浮上刃が加わって
ウェハの浮上状態は常に水平に保たれる。さらに、上記
浮上中に加工物ホルダ6には水平方向へ振動させようと
する力が働くが、ホルダ4および加工物ボルダ6には永
久磁石9゜10が設けられているので、その反発力によ
り上記加工物ホルダ6の振動は防止され、ウニノ・の浮
上状態は安定に保持される。
一方、加工を終了し、加工台10回転が低速になったと
きにも、ウェハの浮上状態は各磁石7.8の反発力によ
シその″′!、筐保持され、加工台に接触することはな
い。
このように本実施例によjlJ:、加工台ノおよび加工
物ホルダ6にそれぞれ磁石f:設り−Cその反発力によ
りウェハを浮上さぜるようにしたので、加工開始時およ
び加工終了時における加工台1の低速回転領域におい−
Cも、ウェハは確実に浮上して加工台1に接触すること
r土ない。したがって、スクラッチ等の損傷の発生を大
幅に低減することができ、この結果歩留りを向上させる
ことができる。また、加工台1の高速回転中においても
、ウェハの浮」二状態は流体状砥粒の動圧に関係なく各
磁イー17と8および9と10により規定されるので、
安シyに水平に保持され、この結果加工むらを太111
j、lに低減して高品質の加工を行なうことができる。
なお、本発明は、上記実施例VC限定されるものではな
い。例えば、前n[シ実施例では加工台1に設けた磁石
を電磁石としA二が加工物ホルダt; (IQの磁石を
電(磁石にしても」、い。その他、〃11100構成、
ホールダおよび加工物ホルダの構成、各磁石の配設状態
(例えばリング状ではなく、多数の磁石片を散在さ姓/
C−もの)へ1上りヒついても、本発明の要旨を逸脱し
一/i′□い範囲で種々鉄形して実施できる。
〔発明の効果〕
以上詳述したように木兄り」によ肛ば、加工台および加
工物ホルダにそれぞれ同極を対向さ(ξた状態で磁石を
設け、これらの磁石の反発力によシウエハを浮上させる
ようにしたので、被加工物を加工開始時および加工終了
時であっても確実に浮上させ得、しかも加工中通して安
定な浮上状態を得ることができ、これによシ損傷や加工
むらの発生を大幅に低減することができて、高品質で歩
留シの高い鏡面加工を行なうことができる非接触研摩装
置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発す」の一実施例にお&−Jる非接触研摩装
置の構成を一部断面にして示した斜視図、第2図は同装
置における加工物ホルダの構成を示す斜視図である。 1・・・加工台、2・・・枠体、2a・・・内歯車、3
・・・平歯車、4・・・ホルダ、5・・・7ランノ、5
a・°・外歯車、6・・・加工物ホルダ、7・・・電(
磁石、8・・・永久磁石、9,10・・・永久磁石。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) 円板状をなし回転tjJ能に支持された加工台
    と、この加工台上に載置され加工台の回転動作に応じて
    加工台上で自転する筒状のホルダと、このボルダ内に遊
    嵌され前記加工台との間で板状をなす被加工物全保持す
    る加」二物ホルダと、前記加工台のホルダ載置面に任意
    の4仇を露出させた状態で埋設された第1の磁石ど、前
    記加工物ホルダの被加工物保持面に前記第1の磁石と同
    極部を露出させた状態で埋設され第1の磁石と協働して
    被加工物を前記加工台上から浮上せしめる第2の磁石と
    、前記加工台と前記浮上した被加工物との間に流体状の
    研摩インを供給する研摩I供給部とを具備したことを特
    徴とする非接触研摩装置。
  2. (2) ホルダおよび加工物ホルダは、相互に対向する
    内周面および外周面にそれぞれ互いに同極性となる磁石
    を埋設し、これらの磁石の反発力により加工物ホルダの
    水平位16を規定するように構成したことを特徴とする
    ’l’l’許i青求の範囲第1項記載の非接触研摩装置
  3. (3) 第1および第2の磁石(よ、同心円状に配設し
    たリング状をなす複数の磁石からなるものである特許請
    求の範囲第1項記載の非接触研摩装置。
  4. (4)第1の磁石もしくは第2の磁石のいずれか一方を
    電磁石よシ構成し/こことをtp¥徴とする特許請求の
    範囲第1項あるいは第3項記載の非接触研摩装置。
JP58169887A 1983-09-14 1983-09-14 非接触研摩装置 Pending JPS6062460A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58169887A JPS6062460A (ja) 1983-09-14 1983-09-14 非接触研摩装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58169887A JPS6062460A (ja) 1983-09-14 1983-09-14 非接触研摩装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6062460A true JPS6062460A (ja) 1985-04-10

Family

ID=15894794

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58169887A Pending JPS6062460A (ja) 1983-09-14 1983-09-14 非接触研摩装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6062460A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5213658A (en) * 1990-10-26 1993-05-25 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Plasma processing method
US5228940A (en) * 1990-10-03 1993-07-20 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Fine pattern forming apparatus
US5246532A (en) * 1990-10-26 1993-09-21 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Plasma processing apparatus
JP2011143501A (ja) * 2010-01-14 2011-07-28 Disco Abrasive Syst Ltd 研削装置
CN104842253A (zh) * 2014-02-19 2015-08-19 中国科学院上海硅酸盐研究所 用于碳化硅晶体的光学级平面加工的抛光装置及加工方法
CN110614543A (zh) * 2019-10-16 2019-12-27 浙江工业大学 一种利用液态金属进行导电工件盲孔抛光的装置及其方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5228940A (en) * 1990-10-03 1993-07-20 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Fine pattern forming apparatus
US5292401A (en) * 1990-10-03 1994-03-08 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of forming a fine pattern
US5213658A (en) * 1990-10-26 1993-05-25 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Plasma processing method
US5246532A (en) * 1990-10-26 1993-09-21 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Plasma processing apparatus
JP2011143501A (ja) * 2010-01-14 2011-07-28 Disco Abrasive Syst Ltd 研削装置
CN104842253A (zh) * 2014-02-19 2015-08-19 中国科学院上海硅酸盐研究所 用于碳化硅晶体的光学级平面加工的抛光装置及加工方法
CN110614543A (zh) * 2019-10-16 2019-12-27 浙江工业大学 一种利用液态金属进行导电工件盲孔抛光的装置及其方法
CN110614543B (zh) * 2019-10-16 2024-04-09 浙江工业大学 一种利用液态金属进行导电工件盲孔抛光的装置及其方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW393369B (en) A wafer processing machine and a processing method thereby
Umehara et al. Magnetic fluid grinding–a new technique for finishing advanced ceramics
CN113579987A (zh) 一种曲率自适应集群磁流变抛光自由曲面的方法及装置
US6213855B1 (en) Self-powered carrier for polishing or planarizing wafers
WO2011112927A1 (en) Three-point spindle-supported floating abrasive platen
JPH0950975A (ja) ウェーハ研磨装置
KR900001663B1 (ko) 반도체 웨이퍼의 표면 연마방법
JP2024081698A (ja) 加工装置
US20100006081A1 (en) Method for manufacturing silicon matter for plasma processing apparatus
JP2010214550A (ja) シリコンインゴットの面取り加工装置およびそれを用いる角柱状シリコンインゴットの面取り加工方法
JPS6062460A (ja) 非接触研摩装置
US6146245A (en) Method of and device for machining flat parts
JP5316237B2 (ja) 円筒研削機
JP2004098264A (ja) 研磨布のドレッシング方法及びワークの研磨方法
US6537139B2 (en) Apparatus and method for ELID grinding a large-diameter workpiece to produce a mirror surface finish
JP2018094636A (ja) 研削装置
KR101014299B1 (ko) 웨이퍼 슬라이싱 장치
JP2010023122A (ja) 保持装置および研磨装置
JPH09262747A (ja) 高脆性材の両面研削装置
GB2149330A (en) Machining of workpieces consisting of brittle/friable materials
JP4781654B2 (ja) 研磨クロス及びウェーハ研磨装置
KR100806949B1 (ko) 직진형 연마방법 및 장치
JPS62162455A (ja) ウエハ研削方法
JP2002283226A (ja) 研磨装置
JPS6322257A (ja) 平坦な加工片を加工するための正面研削方法とこの方法を実施する装置