JPS6063406A - 放射線厚さ計 - Google Patents

放射線厚さ計

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Publication number
JPS6063406A
JPS6063406A JP58171521A JP17152183A JPS6063406A JP S6063406 A JPS6063406 A JP S6063406A JP 58171521 A JP58171521 A JP 58171521A JP 17152183 A JP17152183 A JP 17152183A JP S6063406 A JPS6063406 A JP S6063406A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
time
radiation
output
moving average
Prior art date
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Pending
Application number
JP58171521A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsu Hiraga
平賀 龍
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58171521A priority Critical patent/JPS6063406A/ja
Publication of JPS6063406A publication Critical patent/JPS6063406A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、高温?高速で走行する鋼板などの厚さを放射
線を用いて測定する放射線厚さ1[に関するものである
〔発明の技術的背景とその問題点〕
放射線厚さ計は、線源から放射され、被測定材を透過し
た放射線を放射線検出器によシ検出し、入射線と透過線
の比率から被測定材の厚さを算出するものであ多、被測
定材に接触することなくその厚さを測定できるため、圧
延設備において高温・高速で走行する鋼板の板厚測定に
使用されている。
その場合、平均演算を行って板厚をめているが、従来は
第1図に示すように測定開始から平均演算時間T′4に
達するまでは設定された基準計数時間a毎、つまシ時間
Tl # T2 e I’3rT4のデータを累積平均
し、平均演算時間゛riに達した後は基準計数時間a毎
の移動平均で平均演算を行うようにしている。
しかし、このような方式では、鋼板の先端部は累積平均
による板厚算出となるため、板厚の変化量を判別するこ
とができないという欠点がある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、被測定材先端部の板厚の変化量をも適
確に判別できる放射線厚さ計を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、線源を収容した線源容器と、線源から放射さ
れた放射線を検出する検出器と、この検出器の出力をそ
のアナログ量に応じた周波数のパルス信号に変換するv
−r変換器と、基準時間信号を発生する基準時間発生器
と、この基準時間発生器の出力信号をトリガ信号として
基準計数時間毎に前記V−F変換器の出力をサンシリン
グして積分する積分器と、前記線源容器と検出器の間を
走行する被測定材を検出する被測定材検出器と、前記積
分器の出力から被測定材の板厚を算出する演算処理装置
と、移動平均時間を設定する移動平均時間設定器とを備
え、測定開始から平均演算時間に達するまでは前記演算
処理装置から基準計数時間毎のデータ(生データ)を出
力し、その後は基準計数時間毎の移動平均で平均演算し
た値を出力するようにしたことを特徴とする放射線厚さ
計である。
〔発明の実施例〕
第2図は本発明の一実施例を示すもので、1は線源容器
、2はこの容器1内に収容した線源で、放射線3を放射
している。4は被測定材としての鋼板、5は放射線検出
器であり、この検出器5と前記線源容器1の間を前記鋼
板4が走行するようになっている。
6は前記検出器5の出力を増幅する増幅器、7は、この
増幅器6の出力をその電圧値に応じた周波数のノ母ルス
信号に変換するV−F変換器、8は積分器、9は基準時
間発生器であシ、前記積分器8は基準時間発生器9の出
力をトvir信号として前記V−F変換器7の出力をサ
ンシリングして積分する。
10は演算処理装置、11は表示・記録装置、12はプ
ロセスコンピュータ、13は前記鋼板4を検出する鋼板
検出器、14は移動平均時間設定器でおる。前記演算処
理装置10は、前記銅板検出器13の検出信号を受けて
測定に切り替わ)、前記積分器8の出力(基準計数時間
毎のデータ)と移動平均時間設定器14の設定値より銅
板4の板厚を計算してその結果(偏差、絶対値)を前記
表示・記録装置11及びプロセスコンピュータ12へ出
力f7:、。
この場合、第3図に示すように測定開始から平均演算時
間TI4に達するまでは基準計数時間a毎の生データを
出力し、その後は基準計数時間a毎の移動平均で平均演
算を行ってその結果を出力するようにしている。
次に、動作について述べる。線源2から放射された放射
線3は検出器5に入る。この場合、容器lと検出器5の
間を鋼板4が走行すると放射線3の一部が鋼板4に吸収
され、減辰した放射線(透過線)が検出器5に入る。こ
の検出器5の出力は増幅器6で増幅された後、V−F変
換器1で・母ルス信号に変換され、積分器8の入力デー
タとなる。また、図示イ方向に走行する鋼板4が鋼板検
出器13により検出されると、演算処理装置10は自動
的に測定に9J!D替わる。
積分器8では、基準時間発生器9からのトリガによシ基
準計数時間毎に入力データがサンシリングされ、積分さ
れる。この出力は演算処理装置10に入力され、移動平
均時間設定器14の設定値とともに移動平均での平均演
算に用いられる。
この演算処理装置10からは、移動平均時間に達するま
では移動平均時間設定器14の設定値とは無関係に基準
計数時間毎の測定値が出力され、その後は移動平均で平
均演算が行われ、その結果が出力される。
例えば、第4図(、)に示すように鋼板4の先端部の板
厚が厚さT、2T、3T、4T、3T。
2T、Tと順次変化する場合は、第4図(、)のように
T 、2T 、3Tと基準計数時間a毎の測定値が出力
され、板厚変化が測定値に忠実に反映される。
ちなみに、従来の累積平均では、第4図(b)のように
測定値はT、1.5T、2T、3Tとなシ、変化量を適
確に判別できない。
々お、図示例では基準計数時間をaに固定しているが、
適宜変更可能である。同様に、移動平均時間の設定値も
任意である。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、測定開始から平均演算時
間に達するまでは基準計数時間毎の生データを出力し、
その後は移動平均の平均演算結果を出力するようにした
ので、被測定材先端部の板厚の変化を適確に判別できる
ようになシ、圧延設備のAGC(自動板厚制御)の精度
などの正否を適確に判断できるといった利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は放射線厚さ計を用いて走行する銅版の板厚を測
定する場合の演算方式の従来例を説明するための図、第
2図は本発明に係る放射線厚さ計の一実施例を示すプロ
、り図、第3121は同実施例の演算例を示す説明図、
第4 tA (a) −(b) p(、)は同実施例の
動作説明図である。 1・・・線源8器、2・・・線源、4・・・銅板(被測
定材)、5・・・放射線検出器、7・・・V−F変換器
、8・・・積分器、9・・・基準時間発生器、10・・
・演算処理装置、11・・・表示・記録装置、12・・
・ノロセスコンピュータ、13・・・銅板検出器、14
・・・移動平均時間設定器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 線源が収容された線源容器と、線源から放射された放射
    線を検出する放射線検出器と・′、前記容器と検出器の
    間を走行する被測定材を検出する被測定材検出器と、前
    記放射線検出器の出力をその値に応じた周波数のノクル
    ス信号に変換するV−F変換器と、基準時間発生器と、
    この基準時間発生器の出力をトリが信号として前記V−
    F変換器の出力をサンプリングして積分する積分器と、
    移動平均時間設定器と、前記被測定材検出器の検出信号
    を測定開始信号として受け、前記積分器の出力、前記移
    動平均時間設定器の設定値よシ被測定材の板厚を計算し
    、測定開始から平均演算時間に達するまでは基準計数時
    間毎の生データを出力し、その後は基準計数時間毎の移
    動平均で平均演算を行った結果を出力する演算処理装置
    とを備えてなる放射線厚さ計。
JP58171521A 1983-09-17 1983-09-17 放射線厚さ計 Pending JPS6063406A (ja)

Priority Applications (1)

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JP58171521A JPS6063406A (ja) 1983-09-17 1983-09-17 放射線厚さ計

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JP58171521A JPS6063406A (ja) 1983-09-17 1983-09-17 放射線厚さ計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6063406A true JPS6063406A (ja) 1985-04-11

Family

ID=15924654

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JP58171521A Pending JPS6063406A (ja) 1983-09-17 1983-09-17 放射線厚さ計

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JP (1) JPS6063406A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04131713U (ja) * 1991-03-20 1992-12-04 横河電機株式会社 放射線を用いたシ―ト状物質の特性測定装置
JP2009108804A (ja) * 2007-10-31 2009-05-21 Komatsu Ltd ウォータセパレータ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04131713U (ja) * 1991-03-20 1992-12-04 横河電機株式会社 放射線を用いたシ―ト状物質の特性測定装置
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