JPS606370A - イオンビ−ム加工用マニピユレ−タ - Google Patents
イオンビ−ム加工用マニピユレ−タInfo
- Publication number
- JPS606370A JPS606370A JP11273683A JP11273683A JPS606370A JP S606370 A JPS606370 A JP S606370A JP 11273683 A JP11273683 A JP 11273683A JP 11273683 A JP11273683 A JP 11273683A JP S606370 A JPS606370 A JP S606370A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum chamber
- ion beam
- manipulator
- surface plate
- beam processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Welding Or Cutting Using Electron Beams (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、イオンビーム加工機においテ真空チャンバー
内に設けた試料台を直交6軸方向に駆動するマニビーレ
ータに関するものである。
内に設けた試料台を直交6軸方向に駆動するマニビーレ
ータに関するものである。
この種のマニビーレータは、定盤に対して固定的に支承
された真空チャンバー内に設けた試料台を支承して、こ
れをX、Y、Zの直交6軸方向に駆動し得る機能を8賛
とする。
された真空チャンバー内に設けた試料台を支承して、こ
れをX、Y、Zの直交6軸方向に駆動し得る機能を8賛
とする。
上記のような機能を発揮させるため、従来のマニビーレ
ータは、一般に定盤の下方にX、Y。
ータは、一般に定盤の下方にX、Y。
Zテーブルを設け、とのX、Y、Zテーブルと真空チャ
ンバーとの間を複数個のベローズを介してシールする構
造が用いられている。
ンバーとの間を複数個のベローズを介してシールする構
造が用いられている。
上記のごとく、定盤上に真空チャンバーを固定すると共
に該定盤の下方にX、Y、Zテーブルを設けると、必然
的に試料台を支承する腕の長さが長くなって剛性に乏し
くなり、まだ、複数個のベローズを組合せ−ご用いると
漏洩発生の率が太きいという欠点を伴う。
に該定盤の下方にX、Y、Zテーブルを設けると、必然
的に試料台を支承する腕の長さが長くなって剛性に乏し
くなり、まだ、複数個のベローズを組合せ−ご用いると
漏洩発生の率が太きいという欠点を伴う。
第1図は従来のマニピュレータの構造を示す断面図であ
り、第2図は第1図の@11面図である。
り、第2図は第1図の@11面図である。
このイオンビーム加工機は、定盤1の上にサポート2を
介して真空チャンバー5を固定し、真空チャンバー6内
の試料台4に取付けられている被加工物5をX、Y、Z
方向に動かして極微小径にしぼられたイオンビームを、
ビーム発振器6より発振して加工する装置である。
介して真空チャンバー5を固定し、真空チャンバー6内
の試料台4に取付けられている被加工物5をX、Y、Z
方向に動かして極微小径にしぼられたイオンビームを、
ビーム発振器6より発振して加工する装置である。
まず第1図において、試料台4の位置は真空機器(主に
真空引込み口)の取付位置関係よりチャンバーフランジ
7より相当能れた、はぼ真空チャンバー3の中央に設け
なければならず、さらに本装置のビーム径は、1μm以
下の極微小径であるから被加工物5には振動を極カ与え
ないようにする事が重要である。そのためチャンバー3
は、剛性を高めるため板厚が厚い定盤1に設置されてお
り、チャンバー6の底面に設けているチャンバーフラン
ジ7には被加工物5をX、Y、Z方向に動かすためにク
ロスローラガイド11を用いたXYテーブル12とZテ
ーブル13ヲ、定盤1との干渉を避ける為のカラー9と
、XYテーブル12を取付けているテーブル取付板25
ヲボスト8でつないでいる。
真空引込み口)の取付位置関係よりチャンバーフランジ
7より相当能れた、はぼ真空チャンバー3の中央に設け
なければならず、さらに本装置のビーム径は、1μm以
下の極微小径であるから被加工物5には振動を極カ与え
ないようにする事が重要である。そのためチャンバー3
は、剛性を高めるため板厚が厚い定盤1に設置されてお
り、チャンバー6の底面に設けているチャンバーフラン
ジ7には被加工物5をX、Y、Z方向に動かすためにク
ロスローラガイド11を用いたXYテーブル12とZテ
ーブル13ヲ、定盤1との干渉を避ける為のカラー9と
、XYテーブル12を取付けているテーブル取付板25
ヲボスト8でつないでいる。
また、ボスト8の中心部には1端がカラー9に固定され
、他端がXY方向に動(XYテーブル12との間を高真
空度を保持しながら、XY方向に7レキシピリテイを持
ったX、Yベローズ1oを固定真空度を保持し、かつ、
上下方向にフレキシビリティを持ったZベローズ14を
取付けている。
、他端がXY方向に動(XYテーブル12との間を高真
空度を保持しながら、XY方向に7レキシピリテイを持
ったX、Yベローズ1oを固定真空度を保持し、かつ、
上下方向にフレキシビリティを持ったZベローズ14を
取付けている。
Zテーブル16は、XYテーブル12とベースプレート
15とをつないでいるガイド・バー16をベアリング1
7を介してスムーズに上下方向に摺動できるように構成
されている。
15とをつないでいるガイド・バー16をベアリング1
7を介してスムーズに上下方向に摺動できるように構成
されている。
一方、真空チャンバー3内の被加工物5をセットする試
料台4は、Zテーブル16上に固定されている細長形状
の軸20の先端に調整リング21を挟んでネジ22で固
定されている。
料台4は、Zテーブル16上に固定されている細長形状
の軸20の先端に調整リング21を挟んでネジ22で固
定されている。
次に被加工物5をXYZ 方向に動かす操作は、テーブ
ル取付板26に固定されているネジブラケッ) 24
、26のネジ25をまわしてXY方向に動かしまた、Z
方向はペースプレート15に取付けてい:るネジ18を
まわしてZテーブル13を上げ、逆に下げる時はネジ1
8を逆にまわせば圧縮コイルバネ19の力で下げる構造
になっている。
ル取付板26に固定されているネジブラケッ) 24
、26のネジ25をまわしてXY方向に動かしまた、Z
方向はペースプレート15に取付けてい:るネジ18を
まわしてZテーブル13を上げ、逆に下げる時はネジ1
8を逆にまわせば圧縮コイルバネ19の力で下げる構造
になっている。
以上述べたように被加工物5を載置している試料台4を
支持している軸20の長さへ寸法が非。
支持している軸20の長さへ寸法が非。
常に長い細長形状になるので剛性不足となυ、振動の影
響を受け易い構造であることと、XYテブル12と2テ
ーブル16とに夫々1個ずつベローズを使用するため高
真空度を要求する装置の構造としては、真空度を保持す
るうえにおいて大きな欠点である。
響を受け易い構造であることと、XYテブル12と2テ
ーブル16とに夫々1個ずつベローズを使用するため高
真空度を要求する装置の構造としては、真空度を保持す
るうえにおいて大きな欠点である。
本発明は、上述の事情に鑑みて為され、試料台の支持構
造の剛性が大きくて振動に関する信頼性が高く、しかも
真空チャンバーの漏洩を生じる虞れの無いイオンビーム
加工用のマニピュレータを提供することを目的とする。
造の剛性が大きくて振動に関する信頼性が高く、しかも
真空チャンバーの漏洩を生じる虞れの無いイオンビーム
加工用のマニピュレータを提供することを目的とする。
本発明の基本的原理は、
(a) 試料台支持構造の剛性を高くするために、支持
部材の腕の長さを短かくする。このためにはx、y、z
テーブルをX2−1−ヤンハーの近くに設ける。
部材の腕の長さを短かくする。このためにはx、y、z
テーブルをX2−1−ヤンハーの近くに設ける。
(b) 真空の漏洩を防止するため、真空チャンバーと
x 、y、zテーブルとの間のシールを1個のベローズ
で行なう。
x 、y、zテーブルとの間のシールを1個のベローズ
で行なう。
上記の原理に基づいて、前記の目的を達成するため、本
発明のイオンビーム加工用マニピュレータは、定盤に対
して固定的に支承した真空チャンバー内に設けた試料台
を直交3軸方向に駆動するイオンビーム加工用マニビー
レータニおいて、定盤と真空チャンバーとの間に直交6
軸方向の駆動装置を設け、がっ、直交3軸方向に駆動さ
れるテーブルと真空チャンバートノ間を直交5軸方向の
フレキシビリティを有する1個のベローズによってシー
ルしたことを特徴とする。
発明のイオンビーム加工用マニピュレータは、定盤に対
して固定的に支承した真空チャンバー内に設けた試料台
を直交3軸方向に駆動するイオンビーム加工用マニビー
レータニおいて、定盤と真空チャンバーとの間に直交6
軸方向の駆動装置を設け、がっ、直交3軸方向に駆動さ
れるテーブルと真空チャンバートノ間を直交5軸方向の
フレキシビリティを有する1個のベローズによってシー
ルしたことを特徴とする。
〔発明の実施例〕
本発明の実施例を第3図、第4図を用いて説明する。
チャンバー3の底面に設けているチャンバーフランジ7
にダイプレート65をネジ58で固定し、ダイグレート
35の下面にはブロック36を狭んでクロスローラガイ
ド11を用いたXYテーブル12をネジ37 、59で
取付けている。
にダイプレート65をネジ58で固定し、ダイグレート
35の下面にはブロック36を狭んでクロスローラガイ
ド11を用いたXYテーブル12をネジ37 、59で
取付けている。
XYテーブル12の中心部には、試料台4を支持する中
軸29を上下方向に滑らせるガイドプツシ−28をネジ
41で固定している。
軸29を上下方向に滑らせるガイドプツシ−28をネジ
41で固定している。
まだ、中軸29の上下の動きはガイドプツシ−28にネ
ジ42で固定したハウジング4oにベアリング易で軸受
部を、構成したネジシャフト62のネジ部を、中軸29
の下部に設けているネジにかみ合わせ、ネジシャフト6
2にナツト43で固定されている回転ドラムを手でまゎ
すことによって、ネジシャフト32に回転を伝達し、回
転運動をネジシャフト32で直線運動に変えて中軸29
を上下方向に動かすものである。
ジ42で固定したハウジング4oにベアリング易で軸受
部を、構成したネジシャフト62のネジ部を、中軸29
の下部に設けているネジにかみ合わせ、ネジシャフト6
2にナツト43で固定されている回転ドラムを手でまゎ
すことによって、ネジシャフト32に回転を伝達し、回
転運動をネジシャフト32で直線運動に変えて中軸29
を上下方向に動かすものである。
本実施例は、上記のようにして定盤1と真空チャンバー
6との間にXYテーブル12と、Z方向の駆動手段(ネ
ジシャ7 ) 52 )を設けて直交3軸方向の駆動装
置を構成しである。
6との間にXYテーブル12と、Z方向の駆動手段(ネ
ジシャ7 ) 52 )を設けて直交3軸方向の駆動装
置を構成しである。
本例においては、上記の直交3軸方向駆動装置と定盤1
との干渉を防止するため、定盤1に開口状の切欠1aを
形成しである。
との干渉を防止するため、定盤1に開口状の切欠1aを
形成しである。
本発明を実施する場合、本例の如く直交3軸方向の駆動
装置の下面が定盤の上面よシも下方に入シ込むことを妨
げるものではない。
装置の下面が定盤の上面よシも下方に入シ込むことを妨
げるものではない。
従って、本発明において定盤と真空チャンバーとの間に
駆動装置を設けるとは、駆動装置を真空チャンバーに対
して、定盤よりも近くに設けることを意味するものであ
る。
駆動装置を設けるとは、駆動装置を真空チャンバーに対
して、定盤よりも近くに設けることを意味するものであ
る。
即ち、真空チャンバーを基準として見た場合、定盤まで
の最短距離よりも直交3軸駆動装置までの最短距離の方
が小さいことを意味するものである。
の最短距離よりも直交3軸駆動装置までの最短距離の方
が小さいことを意味するものである。
一方、本実施例においては、真空チャンバー6の高真空
を維持するだめのシール手段としてダイプレート35と
、中軸29をネジ31で固定しているホルダー44との
間に、高真空度を保持し、かつ、xyz方向にフレキシ
ビリティを持ったベローズ30を溶接で接合し、ホルダ
ー44に調整リング21を挟んで試料台4を固定してい
る。
を維持するだめのシール手段としてダイプレート35と
、中軸29をネジ31で固定しているホルダー44との
間に、高真空度を保持し、かつ、xyz方向にフレキシ
ビリティを持ったベローズ30を溶接で接合し、ホルダ
ー44に調整リング21を挟んで試料台4を固定してい
る。
上述の実施例のマニピュレータで、第3図に示す試料台
4を支持している中軸29の下面より被加工物5までの
距離8寸法が従来装置におけるへ寸法(第1図)に比べ
て約T程度まで短縮する事が可能となシ、しかもガイド
ブツシュ28の中を中軸29を滑らせる2重管方式にし
ただめ更に剛性を高めることができた。
4を支持している中軸29の下面より被加工物5までの
距離8寸法が従来装置におけるへ寸法(第1図)に比べ
て約T程度まで短縮する事が可能となシ、しかもガイド
ブツシュ28の中を中軸29を滑らせる2重管方式にし
ただめ更に剛性を高めることができた。
またA壁シール面においても、1個のベローズでXYZ
を共通化したため、高真空度を要求する装置の構造とし
ては大きな利点である。
を共通化したため、高真空度を要求する装置の構造とし
ては大きな利点である。
以上詳述したように、本発明のマニビーユレータは試料
台の支持構造の剛性が大きくて振動に関する信頼性が高
く、しかも真空チャンバーの漏洩を生じを虞れが無い。
台の支持構造の剛性が大きくて振動に関する信頼性が高
く、しかも真空チャンバーの漏洩を生じを虞れが無い。
第1図は、従来のイオンビーム加工機のマニピユレータ
の概略を示す断面図、第2図は第1図の側面図、第3図
は本発明の一実施例のイオンビーム加工機のマニピュレ
ータの概略を示す断面図、第4図は第3図の側面図であ
る。 1・・・・・・定盤、 2・・・・・パ丈ボート、 3・・・・・・真空チャンバー、 4・・・・・・試料台、 5・・・・・・被加工物、 6・・・・・・ビーム発振器、 7・・・・・・チャンバーフランジ、 8・・・・・・ポスト、 9・・・・・・カラー、 10・・・・・・XYベローズ 11・・・・・・クロスローラガイド、12・・・・・
・XYテーブル 15・・・・・・Zテーブル 14・・・・・・Zベローズ 16・・・・・・ガイド・バー、 19・・・・・・バネ、 20・・・・・・軸、 21・・・・・・調整リング、 28・・・・・・ガイドブツシュ、 29・・・・・・中軸、 30・・・・・・ベローズ 32・・−・・ネジシャフト、 34・・・・・・回転板。
の概略を示す断面図、第2図は第1図の側面図、第3図
は本発明の一実施例のイオンビーム加工機のマニピュレ
ータの概略を示す断面図、第4図は第3図の側面図であ
る。 1・・・・・・定盤、 2・・・・・パ丈ボート、 3・・・・・・真空チャンバー、 4・・・・・・試料台、 5・・・・・・被加工物、 6・・・・・・ビーム発振器、 7・・・・・・チャンバーフランジ、 8・・・・・・ポスト、 9・・・・・・カラー、 10・・・・・・XYベローズ 11・・・・・・クロスローラガイド、12・・・・・
・XYテーブル 15・・・・・・Zテーブル 14・・・・・・Zベローズ 16・・・・・・ガイド・バー、 19・・・・・・バネ、 20・・・・・・軸、 21・・・・・・調整リング、 28・・・・・・ガイドブツシュ、 29・・・・・・中軸、 30・・・・・・ベローズ 32・・−・・ネジシャフト、 34・・・・・・回転板。
Claims (1)
- 定盤に対して固定的に支承した真空チャンバー内に設け
た試料台を直交3軸方向に駆動するイオンビーム加工用
マニピュレータにおいて、定盤と真空チャンバーとの間
に直交6軸方向の駆動装置を設け、かつ、直交3軸方向
に駆動されるテーブルと真空チャンバーとの間を直交3
軸方向のフレキシビリティを有する1個のベローズによ
ってシールしたことを特徴とするイオンビーム加工用マ
ニピュレータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11273683A JPS606370A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | イオンビ−ム加工用マニピユレ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11273683A JPS606370A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | イオンビ−ム加工用マニピユレ−タ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS606370A true JPS606370A (ja) | 1985-01-14 |
Family
ID=14594256
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11273683A Pending JPS606370A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | イオンビ−ム加工用マニピユレ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS606370A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6384046A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-14 | Tokyo Electron Ltd | 半導体装置の修復方法 |
-
1983
- 1983-06-24 JP JP11273683A patent/JPS606370A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6384046A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-14 | Tokyo Electron Ltd | 半導体装置の修復方法 |
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