JPS6065438A - 電子ビ−ム熱処理装置 - Google Patents

電子ビ−ム熱処理装置

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Publication number
JPS6065438A
JPS6065438A JP58173466A JP17346683A JPS6065438A JP S6065438 A JPS6065438 A JP S6065438A JP 58173466 A JP58173466 A JP 58173466A JP 17346683 A JP17346683 A JP 17346683A JP S6065438 A JPS6065438 A JP S6065438A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
deflection angle
electron beam
beam current
deflection
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58173466A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichi Tsukamoto
塚本 清一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP58173466A priority Critical patent/JPS6065438A/ja
Publication of JPS6065438A publication Critical patent/JPS6065438A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/304Controlling tubes by information coming from the objects or from the beam, e.g. correction signals

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、電子ビームを偏向走査して、金属。
半導体等の表面を熱処理する装置の走査面内における、
ビーム熱入力密度の均一性の改善に関するものである。
電子ビームを5°以上の大角度で偏向すると、偏向角θ
°の場合と比較して、集束レンズからビーム被照射物ま
でのビームの軌道が偏向角θの増加につれてsecθの
割合で増加するため、ビームの焦点がずれるいわゆる″
偏向ボケ″′が生じ、偏向角0°のとき、最大ビーム熱
入力密度となるように焦点を合わせても、偏向角の増加
と共に、ビーム熱入力密度が減少する。さらには、走査
角速度を走査曲内で一定とするとビーム被照射物上での
走査線速度は偏向角0の増加と共にtanθに比例して
増加するため、偏向角σの増加につれて線速度が増加し
、単位面積あたりのビーム照射量すなわち、ビーム電力
×照躬時間が減少し、ビーム熱入力密度が減少する。
以上の二つはビーム発生の電子光学系に収差がないとし
てもビームを偏向走査する場合の走査面内ビーム熱入力
密度の均一性を悪化させる要因として残る事が知られて
いる。従来eよ、この二つの要因を少なくするため、ビ
ーム集束レンズから被照射物までの距離を大きくとり偏
向角を少なくする方法又は、集束レンズコイルに流す電
流を偏向角に連動して変化させる等の方法をとっ′Cい
たが、前者では副作用として電子光学系の収差が増加す
るため、最大ビーム熱入力密度が走査面内全域で減少す
る欠点を有し、後者では、レンズコイルが、その大きな
インダクタンスのため速い偏向走査に追従できないため
、最大偏向走査速度が制限される欠点を有していた。
この発明は、かかる不具合ケなくすべく考案されたもの
で、偏向角度の増加に伴って、ビーム熱入力密度が低下
して来る事に対し°C、ビーム電流値を増加して、その
ビーム熱入力密度の低下を軸止しようとするものでをす
る。
図は本発明の一実施例であって、lは熱11Ginで、
加熱電源8により加熱電流を供給され′Cいる。2は制
御格子で、高圧絶縁型バイアス電ω、25よりバイアス
電圧を供給され、電子と一ムロのビーム電流値を制御す
る。3は加速′l]、極、4はレンズコイルで図示され
ない励磁電源により所要の(1■に励磁されている。5
は偏向コイルで、偏向電源30によシ鋸歯状波電流が供
給され、電子ビームを偏向走査する。7はビーム被照射
物である。10は以上の電子ビーム発生系を収容する真
空室で図示されない真空ポンプにより所要の真空度に抽
気されている。26はビーム電流をクローズトループ制
御するサーボアンプで乗算器27からのビーム電流指令
信号と、加速電源21の接地側に挿入されたビーム電流
検出抵抗24からのビーム電流検出信号を比較し′C1
常にビーム電流が指令信号どおりとなるよう絶縁型バイ
アス電源25を駆動する。32は偏向角度の演算器で、
倍率抵抗22と加速電圧検出器23からの加速電圧信号
の平方根と、偏向コイル電流検出器31からの電流信号
の絶対値の積より偏向角度をめるものである。33はビ
ーム電流の補正係数Koの演算器で、偏向角θと1対1
に対応して、ビーム熱入力密度を一定にするため、基準
電源29とビーム電流設定器28で設定した設定値に対
してビーム電流値を補正する係数K。を演算する。すな
わち前述したとおり偏向角度O0の点でビーム集束が完
全に行なえるよう調整しであるものとすると、偏向角の
増大による集束のズレのビーム電流による補正係数KF
は次式となる。
したがって、KFは常に1より大となる。
偏向角の増大による線速度の補正係数Kyはtanθの
導関数より Ky = 5ec2θ (180°〉θ≧0°)したが
ってKvも割に1より大となる。
この両者の積KO−KF−Kvをめるものが、演算器3
3である。27は乗規、器で、ビーム電流設定器28で
設定した値に補正係数KOを来して補正を含んだビーム
電流設定信号を作るものである。以下動作をIIに追っ
て説明する。ビーム照射開始時に偏向角度が06だった
とすると補正係数演算器33の出力けパ1”となるので
ビーム電流は、設定器28で設定された(+V+がその
ままサーボアンプ26に供給されるのでビーム電流も設
定値とIT5]じでビーム照射が開始される。つづいて
偏向角θが序々に大きくなっていくと補正係数K。=K
F・Kvも序々に大きくなり、偏向角度の増大に伴う・
Cビーム熱入力密度が低下するのを補正してゆくわけで
ある。図では、偏向コイルを1軸だけ示しCあるが、複
数軸となっても、それらの合成偏向角度により補正動作
をするわけで、基本的な構成要素は同じである。
以上説明したように、走査面内のビーム熱入カフ1′;
度の均一化を図る手段としてビーム電流のみを変えるわ
けであるから、ビーム集束レンズから被照射物捷での距
離を大きくとって偏向角ケ小きく抑える方法と異なり、
電子光学系の収差を増大させるような欠点を有する事な
く、ビーム熱入力密度の均一化を図る事が出来る。さら
には、ビーム集束レンズに流す電流を変化させて熱入力
密度を均一化する方法と異なるため、その補正作用の応
答速度は、ビーム電流制御の応答速度により決定され、
きわめて高速な補正を行う事が出来る。よっ“C偏向走
査周波数を上げる事が出来る。総ずれば、きわめて大角
度な偏向角度すなわち走査面内全きわめて尚速に偏向走
査する事が出来るため熱処理のスピードを上昇する事が
出来る。これは単に作業能率の向上たけてなく非常にW
」秋の小石な所を熱拡散領域を薄くし”C熱地理葡じた
い様な用途に最適てめ9、特に半導体1y、I係の熱地
5を、旨品質かつ、高能率でjゴうのに進する。
【図面の簡単な説明】
図は、この発明の一実施例を示す図である。 1・・・・・・熱陰極、2・・・・・・グリッド、3・
・・・・加速電極、4・・・・・・集束レンズコイル、
5・・・・・偏向コイル、6・・・・・・電子ビーム、
7・・・・・・ビーム被照射物、8・・°゛°熱陰極加
熱電源、10・パ・・・兵窒室、21・・・・・加速電
源、22・・・・・・倍率器、23・・・・・・加速電
圧検出抵抗、24・°・・°・ビーム電流検出抵抗、2
6°°°°゛ビーム電流をクローズトループ制御するサ
ーボアンプ、27・・・・・・乗算器、28・・・・・
・ビーム電流設定器、29・・・・・・基準電源、30
・・・・・飼向電詠、31・・・・・偏向電流検出器、
32・・・・・・偏向角度秋>1.器、33・・・・・
・補正係舷演算器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 電子ビームを偏向する手段と、その偏向角に比例する信
    号を検出する手段と、ビーム電流値を制御する手段と、
    前記偏向角信号を受け、その値より走査面内のビーム熱
    入力密度を一定にすべくあらかじめ定めた比例定数によ
    りビーム電流値の偏向角に対する補正係数を算出する手
    段を備え、偏向角の増減に伴ってビーム電流値を前記補
    正係数に従って補正することe%徴とする電子ビーム熱
    処理装置。
JP58173466A 1983-09-20 1983-09-20 電子ビ−ム熱処理装置 Pending JPS6065438A (ja)

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JP58173466A JPS6065438A (ja) 1983-09-20 1983-09-20 電子ビ−ム熱処理装置

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JP58173466A JPS6065438A (ja) 1983-09-20 1983-09-20 電子ビ−ム熱処理装置

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JPS6065438A true JPS6065438A (ja) 1985-04-15

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ID=15960995

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JP58173466A Pending JPS6065438A (ja) 1983-09-20 1983-09-20 電子ビ−ム熱処理装置

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