JPS6070063U - 超音波探傷装置 - Google Patents

超音波探傷装置

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JPS6070063U
JPS6070063U JP16143983U JP16143983U JPS6070063U JP S6070063 U JPS6070063 U JP S6070063U JP 16143983 U JP16143983 U JP 16143983U JP 16143983 U JP16143983 U JP 16143983U JP S6070063 U JPS6070063 U JP S6070063U
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JP
Japan
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incident angle
angle
setting
target value
optimum value
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JP16143983U
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JPH0213973Y2 (ja
Inventor
帰山　悦郎
秋山　治基
Original Assignee
株式会社トキメック
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Publication date
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
、　　第１図は従来例を示したブロック図、第２図は本
考案の一実施例を示したブロック図、第３図は第２図の
コントロールユニットの具体的実施例を示したブロック
図、第４図は第２，３図の実施例による入射角の設定制
御を示したフローチャート、第５図は本考案で用いる可
変角探触子の他の実施例を示した説明図である。 １：超音波探傷機、２：同期発振部、３：送信部、４：
受信部、５：垂直偏向部、６：掃引部、８：ゲート回路
、９：ＡＤ変換器、１０：入射角制御装置、１２：入射
角制御部、１３：入射角表示部、１４：コントロールユ
ニット、１５：データ設定器、２０：可変角探触子、２
１．３２：振動子、２２：駆動装置、２３：入射角検出
器、２４：液体、２５：タイヤ、３０：検査材料、３１
：探触子ケムブル、３．５：固定シュー、３６：可変摺
動シュー、４−０：変動値設定回路、４１：減算器、４
２：加算器、４３：記憶回路、４４：スイツ′チ、４５
：最適値検出回路、４６：選択スイッチ、４７：偏差制
御部、４８：タイミング制御回路。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 モータ駆動等により入射角が変化する可変角探触子と、 該可変角探触子の入射角を検査材料に応じた目標値に設
    定する目標値設定手段と、 該目標値設定手段で設定した目標値の前後において入射
    角を変化させ、該入射角の変化で得られた基準材料より
    の反射エコーが最大となる入射角の最適値を検出す′る
    最適値検出手段と、該最適値検出手段で検出しｉコ最適
    値に前記可変角探触子の入射角を設定する入射角設定手
    段と、入射角設定指令に基づいて前記目標値設定手段、
    最適値検出手段及び入射角設定手段を順次動作させるタ
    イミング制御手段とを有することを特徴とする超音波探
    傷装置。
JP16143983U 1983-10-19 1983-10-19 超音波探傷装置 Granted JPS6070063U (ja)

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JPS6070063U true JPS6070063U (ja) 1985-05-17
JPH0213973Y2 JPH0213973Y2 (ja) 1990-04-17

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6234050A (ja) * 1985-08-06 1987-02-14 Sumitomo Metal Ind Ltd 管材の超音波探傷装置における探触子設定方法
CN113544463A (zh) * 2019-02-28 2021-10-22 瑞尼斯豪公司 超声方法和设备

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4120969B2 (ja) * 2005-07-04 2008-07-16 独立行政法人 宇宙航空研究開発機構 超音波試験方法及びこれを用いた超音波試験装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5617555U (ja) * 1979-07-19 1981-02-16

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5617555U (ja) * 1979-07-19 1981-02-16

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6234050A (ja) * 1985-08-06 1987-02-14 Sumitomo Metal Ind Ltd 管材の超音波探傷装置における探触子設定方法
CN113544463A (zh) * 2019-02-28 2021-10-22 瑞尼斯豪公司 超声方法和设备
JP2022522353A (ja) * 2019-02-28 2022-04-18 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 超音波方法および装置

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