JPS6072463A - 測定器制御方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （技ｒｌ灯分野） 本発明は電子交侠倣システムの試験糸Ｖこおける測定器
の！１ｊｌｌ側ｊ方式に１３′ｊするものである。

（従来技術シ 第１図は従来の電子交換機システムの試へ夷系を示すも
ので、１１は呼処理機能や採寸運用の機能を有する中央
処理系装置、１２−１．．１２−２．１２−３は試験制
御装置、１３−１．　。

］、　３−２　、１３−３は測定器（試験装置〕、１４
は試験スイッチ、１５は力ｎ入省（試験対象〕である。

上記中央処理系装置１１は外部より試験要求及び種別が
入力されると、その種別ＱＣ文・ｊ応フーる試験を実施
するのに測定器１３−１゜１３−２　、１’　３−３の
うち、いずれを使ノー１ｊ−ｊ−べきかを決定し、使用
すべき測定器が空き７５ユ、１史用中か、障害かを対応
する試験制御針装置ｉｃｊ　ｌ　２−１〜１２−３を介
して調べ、正常且つ空きであれば試験実行の指示を与え
る。而してへ亥＞Ｅ　ｊａ火ｆｌｊＪ　ｆｉｌｌ装置は
試験実行手順のスケジュー１ノツク゛とズ１〜する測定
器の−・−ドウニア制何は行なってＳ１人心９２を実行
する。

このように上記構成では試秋妥求力Ｓさ六４にしてから
試験制御装置１２−１〜１２−３に実イテＪ旨示を与え
る丑での作業を中火処理丞装置〜：１１ｄ；行なわなけ
ればならず、またその実行指示の制御子／［＋試験制御
装置毎に異なり、中央処理系装置１１１にかかる負担が
大きい欠点があった。

また試ＩｐＬ制’＋７４装置においても実時間性の要求
されないネケジューリングと実時間性の厳しい測定器の
／ｆ−ドウエア制御を両立しなければならず、そめプロ
グラムが複雑、大型となる欠点があった。□ （発明あ目的少 本発明も目的は上記従来の欠点を除去し、中央処理系１
装置の試験実行に関する負担が小さく１、えｔ、工。工
や１．。７．８１よ１４□工方式Ｔｈ＊′１現すること
Ｋある。

（発明の□、構成〕１、 本発明１．は上記目的全達成するため、電子交侠椋シス
テム□の保守運用の試験糸において、複数の硬ｊ定器の
制御を、谷測足器に対応してそのノ・−ドウエア制御を
行なう試験個別制御装置と、該試験個別側側１装置によ
る試験実−行のスフジューリングと監視を行なう試験共
通制御装置とによシ階層して行なうことを％徴とするも
のである。

（実施例う 第２図は本発明の一実施例を示すもので、図中従来例と
同一構成部分は同−符号全もって表わす。即ち、１ｉは
中央処理系装置、’１３−１゜１３−２　：１３−３は
測定器、１４は試験スイッチ、１５は加入者（加入省線
、加入名目路を含むう、１６は試験共通制御装置、１７
−１　。

１７−２．１７−３は試験個別制御装置、２２である。

試験共通１ｂ１」排装置１６は試験実行のスケシュ＋　
＋）ングと監視を行なうもので、使用する測定器を決定
する機能、測定器の状態、出力信号を試験個別制御装置
を介して監視する槻ＭＬ試験実行のコマンドを試験個別
制御装置に与える機能、試験スイッチ１４を制御する機
能等を有している。試験個別制御装置１７〜１．ｊ７−
’２゜１７−３は測定器１３二１　、．１３−２　、　
ｌ　３−３にそれぞれ対応し、そのノ・−ドウエア全制
御する機能を備えている。また試験共通ｆｌｊＩＩ御装
置１６と試験個別制御装置１７−１’、　１７−２　。

１７−３との間のインターフェースは全て同一のハード
シェア及びソフトウェアで構成されてい、。　：　・ 次に実１の試験処理の流れを説明する。中央処理系装置
１１は外部力・らの試験要求を受イゴすると、試験要求
種別を分析し、該試験の種別を、試験共通ｔＢｌｌ呻装
置覆装置の間で取シ決めたコマンドに変換して該試験共
通ｔｌ；ＩＪ御装置１６へ送出する。試験共通制御装置
１６は受信したコマンドを分析φ、測定器１３−１．１
３−’２．１３−３の９髭、どの測定器を使用するかを
決定し、該当測定材峠例えば６１０定器１３−１に対応
する試験個別ｆｔ（ｆ制御装ｆｆ’Ｊ１１７−１を調べ
て該測犀器１３−１が空か使用中か、並びに正常力１障
害力為を判定す地。この時、使用中もしくは障害のどち
らかであれは、中央処理系装置１１に使用中もしくは障
害を示す１ｎ報を返送し試験を終了する。　： 測定器１３＝１が空きで且つ正常であれば、試験共通ｔ
ｌｔ１１１ｉ１’ｌｌ装匝１０は試験スイッチ１４を市
１」御して試験対象の加入者１５と測定器１３−１と全
接続するとともに、試験共通制御装置１７−１を使用中
にし、これに　：験の手順を示すコ゛′）２１１・１″
°′才０２１・Ｉ ＃　ｉ　ｉｎ　ｍ””°′″０″″″″′別−〇〇”　
′−”からの試験結果の待“　態と１なシ、該試験結果
ｏｏ、エニーｒ、工ヶ１．、わ。工、；９□。イウ□ を行なう。試験個別色Ｊ□御装置１’　７−’　１は受
信したコマンドに従って　定器１’３−１のハードウェ
アを制御し指示さ　た→′ｆｔ：実行し、その試験結果
を試験共通制御　装置１′：６へ返送する。試験共通制
御装置１６は一試験竺果を受信すると時限監視全停止し
、試　スイ：イチ１４をｔ１７１Ｊ御して試験対象の加
入者１５と測繊器１３〜１．を切シ放し、中央処理系袋
−１１に試験結果を送出し、試験共通制御装ｆ、ｉ：、
ｌｚ　７−　：を空き状態にし″″ｉｘｅ＃！７ｔ６・
　□１　。

このように上記実施例ｖこよれば、中央処理系装置１１
は入力された＝験要氷の種別ｆｃ拘らず試堰指示全試験
共通勲　装置１．６へ送出し、その試験結果等を受け取
るのみで良く、試験の実行に何ら開力しないので、負担
が少なく、また制御手順が−通りで瀘み、試験に関する
プログラムを小さくできる。丑だ、試験個別制御装置１
６は実時間性の厳しいｄ４１］定器ｌ３−１〜１３−３
のハードウェアＷｊＪ御を試験個別制御装置１７−１〜
１７−３に分担させ試験実行のスケジューリングと監視
のみ全行ない、複数の試験個別？ＩｔｌＪ側］装置との
イノクーフェースを同一となしたことによシ、ズ１コグ
ラム構造を小型かつ簡明にでき、実行の際の負担を徹ら
ずことができる。更に試駆個別！ｔｉｌｌ側ｊ装置Ｊ７
−１〜１７−３は谷々、ｄ１１］定器］３−１〜］３−
３のイｊイ成に対応したバードウ仝ア制モ１１１を行な
うのみであるため、飼■のプログラムイｌｉｊ￥造が可
能であシ、そのＩ１１〕明化を図ることができる。更に
丑だ、新しい試験伝能や＋１＋１１定器金追力ＩＪする
場合でも試験共通制卸装置、試ｌｙ力１１ＭＩ　ＮＩＪ
制御装排装、の機能追加、プログラム変更等により対応
でき、中央処理系装置のプログラム変更全はとんど必要
とせず、また負担を増すこともない。

（発明の効果り 以上説明したように本発明によれば、電子交換機システ
ムの保守運用の試験系りＣおいて、複数の測定器の制御
を、各１１１ｊ］定器に対応してその・・−ドウエア制
御を行なう試験個別ｆｌｊｌｌ　ｊｉｌｉｌ装置と、該
試験個別制御装置による試験実行のスケジューリングと
監視を行なう試験共通制用ノ装置とによシ１ｖ層して行
なうので、中央処理系装置の試験実行に関する副側ｊを
何ら必要とぜず、その負担を少なくすることができると
ともに、各！１ｊｌｌ　（ｉｋｌｌ装置のプログラム構
造を小型かつｔ１＋’ｉ明にでき、試験機能の追加や変
更に容易に対処できる等の利点がある。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の説明に供するもので、第１図（は従来の
電子メ゛侯慎システムの試験系を示すブロック構成図、
第２図は本発明の御１　＞ｊｌ器匍」御力式の一実施例
全示すブロック構成図である。 ］１・・・中火処理系装置、１．３−１　、　Ｊ、　３
−２゜１３−３・・・測定器、］４・・試験スイッチ、
１５・・・加入者、」６・・・試験共通？１ｉｌＪ　？
ｔｎ、＋装置、１７−１゜１７−２．１７−３・・・試
験個別制御装置。 特許出願人　沖電気工業株式会社 日本電信電話公社 伏見１人　弁理士　吉　１）　精　孝 第１図 １１ 第２図 １

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （υ　電子交換機システムの保守運用の試験系において
   、後数の、１１１］定器の１１ｊ１ｊＩＩＩ］ｊを、各
   測定器に対応してそのハードウェア制御卸を行なう試験
   個別制御装置と、該試験１固別制側Ｊ装置による試験実
   行のスケジューリングと監視を行なう試験共通４１７１
   １１ｉ１．ｌｌ装置とによ）階層：して行なうことを特
   徴とするυ１１］：題器１１ｉｌＪ　ｉ１１方式。 （２）　試験１固別７１ｊＪ　Ｍｔｉ装置と試験共通制
   御装置との間のインターフェース全同一となしたことを
   特徴とする７１’？Ｊ’　請求の施１７１Ｊ第１項記載
   の測足器：ＩｊｌＪ俳方式。