JPS607375A - 強磁性体試験片の保磁力測定方法および装置 - Google Patents
強磁性体試験片の保磁力測定方法および装置Info
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- JPS607375A JPS607375A JP11657783A JP11657783A JPS607375A JP S607375 A JPS607375 A JP S607375A JP 11657783 A JP11657783 A JP 11657783A JP 11657783 A JP11657783 A JP 11657783A JP S607375 A JPS607375 A JP S607375A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は１強磁性体試験片の保磁力測定方法およびこ
れを実施するための装置に関するものである。
れを実施するための装置に関するものである。
強磁性体特性を示す鉄その他の金属素材は、工場出荷に
先立ち磁性材料としての磁気的性質を検査するために、
該金属素材の試験片をサンプル抽出して磁化特性を測定
することが一般に行われている。この磁化特性は、第１
図に示すように磁性材料中の横軸に磁界の強さ■１をと
り縦軸に磁束密度Ｂをとった場合に、磁界の強さが０−
） ａ→１〕→（二の如く変化した後、０点で磁気飽和
する磁化曲線として示される。なお磁気飽和点Ｃから磁
界を弱めていくと、磁化の強さはＣ→ｄ→ｅ→ｆの径路
をたどってｆ点で飽和し１次いで再び磁界を強めていく
と磁化はｆ→ｇ−＋に一＋Ｃの径路をたど−〕て環状に
変化し、いわゆるヒステリシスループ曲線を描く、この
ときＯｄの大きさを残留磁束密度Ｂｒといい、Ｏｅの大
きさを保磁力１−１ ｃという。そして工場から出荷さ
れる金属素材の磁束密率、保磁力等の磁化特性の測定は
、従来環状試料を用いる環状鉄心法によったり、自記磁
束計、ＮＳ透磁率計を用いて行ったりしている。これら
各種磁化特性の測定方法のうち、特にＮＳ透磁率ａ１に
よる棒状試験片の保磁力測定は、作業手順が複雑で時間
が掛り、しかも熟練を要する等の難点があった。
先立ち磁性材料としての磁気的性質を検査するために、
該金属素材の試験片をサンプル抽出して磁化特性を測定
することが一般に行われている。この磁化特性は、第１
図に示すように磁性材料中の横軸に磁界の強さ■１をと
り縦軸に磁束密度Ｂをとった場合に、磁界の強さが０−
） ａ→１〕→（二の如く変化した後、０点で磁気飽和
する磁化曲線として示される。なお磁気飽和点Ｃから磁
界を弱めていくと、磁化の強さはＣ→ｄ→ｅ→ｆの径路
をたどってｆ点で飽和し１次いで再び磁界を強めていく
と磁化はｆ→ｇ−＋に一＋Ｃの径路をたど−〕て環状に
変化し、いわゆるヒステリシスループ曲線を描く、この
ときＯｄの大きさを残留磁束密度Ｂｒといい、Ｏｅの大
きさを保磁力１−１ ｃという。そして工場から出荷さ
れる金属素材の磁束密率、保磁力等の磁化特性の測定は
、従来環状試料を用いる環状鉄心法によったり、自記磁
束計、ＮＳ透磁率計を用いて行ったりしている。これら
各種磁化特性の測定方法のうち、特にＮＳ透磁率ａ１に
よる棒状試験片の保磁力測定は、作業手順が複雑で時間
が掛り、しかも熟練を要する等の難点があった。
本発明は、従来技術に係る試験片の保磁力測定手段に内
在している前記欠点に鑑み、これを解決するべく案出さ
れたものであって、その試験片保磁力測定方法は、ソレ
ノイド中に配設した強磁性体の試験片に磁化コイルによ
る磁界を加えて該試験片を磁化し、この磁化された試験
片を同じくソレノイド中に配設した検出コイルに対し相
対的に回転させて該検出コイル中に誘起電圧を発生させ
、更に減磁コイルにより前記誘８電圧を打ち消すに必要
な外部磁界を加えて当該誘起電圧を雲にする前記外部磁
界の強さをもって保磁力として算出することを特徴とす
る。
在している前記欠点に鑑み、これを解決するべく案出さ
れたものであって、その試験片保磁力測定方法は、ソレ
ノイド中に配設した強磁性体の試験片に磁化コイルによ
る磁界を加えて該試験片を磁化し、この磁化された試験
片を同じくソレノイド中に配設した検出コイルに対し相
対的に回転させて該検出コイル中に誘起電圧を発生させ
、更に減磁コイルにより前記誘８電圧を打ち消すに必要
な外部磁界を加えて当該誘起電圧を雲にする前記外部磁
界の強さをもって保磁力として算出することを特徴とす
る。
またこの測定方法を実施するのに好適に使用される本願
の別の発明に係る保磁力測定装置は、磁化コイルと減磁
コイルとを同心配置してソレノイドを構成し、前記ソレ
ノイド中に強磁性体の試験片を装着するための試験片ホ
ルダと誘起電圧検出用の検出コイルとを所定距離離間さ
せて対向配置し、前記試験片ホルダを検出コイルに列し
相対的に回転させ得るよう構成したことを１、〒徴とす
る。
の別の発明に係る保磁力測定装置は、磁化コイルと減磁
コイルとを同心配置してソレノイドを構成し、前記ソレ
ノイド中に強磁性体の試験片を装着するための試験片ホ
ルダと誘起電圧検出用の検出コイルとを所定距離離間さ
せて対向配置し、前記試験片ホルダを検出コイルに列し
相対的に回転させ得るよう構成したことを１、〒徴とす
る。
次に本発明に係る保磁力測定方法につき、当該方法を実
施するための保磁力測定装置との関係において、以下詳
細に説明する。
施するための保磁力測定装置との関係において、以下詳
細に説明する。
第２図は本発明に係る保磁力測定装置の概１１１８１１
６成を示すものであって、参照符号１０は所定直径のソ
レノイド、すなわち円筒状の空芯を示す。前記ソレノイ
ド１０は、図示しないボビンにｆｉ・Ｕ線を所定回数巻
回してなる磁化コイル１２と、同しく図示しないボビン
に巻回され該磁化コイル１２の内方に密着的に同心配置
された減磁コイル１４どから基本的に構成されている。
６成を示すものであって、参照符号１０は所定直径のソ
レノイド、すなわち円筒状の空芯を示す。前記ソレノイ
ド１０は、図示しないボビンにｆｉ・Ｕ線を所定回数巻
回してなる磁化コイル１２と、同しく図示しないボビン
に巻回され該磁化コイル１２の内方に密着的に同心配置
された減磁コイル１４どから基本的に構成されている。
また前記ソレノイド１０の外側円周部には、円筒形の金
属製磁気シールド板１６が密着配置されている。
属製磁気シールド板１６が密着配置されている。
前記ソレノイド１０は当該測定装置の筐体（図示せず）
内に収納配置されており、前記ソレノイドに構成する磁
化コイル１２および減磁コイル１４がらは夫々電源供給
ライン１８．２０が導出され、専用直流電源２２および
２４に接続されている。
内に収納配置されており、前記ソレノイドに構成する磁
化コイル１２および減磁コイル１４がらは夫々電源供給
ライン１８．２０が導出され、専用直流電源２２および
２４に接続されている。
また前記ソレノイド１０の空洞内には、当該ソレノイド
の中心軸線に各軸線を整列させて、試験片ホルダ２６お
よび検出コイル２８が所定距離離間して対向配置されて
いる（この詳細については、第３図に関連して後述する
）。前記試験片ホルダ２Ｇは、第２図に示すようにソレ
ノイド１０の軸線方向外方に延在する回転軸３０の一端
部に固着され、該回転軸３０は前記筐体（図示せず）内
に配設した支持台３２に設けた一対の軸受３４に、回転
自在に水平１ｔ＋Ｉ＋支されている。また前記回転軸３
０の他端部は、その回転数を無段階に調節し得る直流モ
ータ３６の回転軸にカンプリング接続されている。
の中心軸線に各軸線を整列させて、試験片ホルダ２６お
よび検出コイル２８が所定距離離間して対向配置されて
いる（この詳細については、第３図に関連して後述する
）。前記試験片ホルダ２Ｇは、第２図に示すようにソレ
ノイド１０の軸線方向外方に延在する回転軸３０の一端
部に固着され、該回転軸３０は前記筐体（図示せず）内
に配設した支持台３２に設けた一対の軸受３４に、回転
自在に水平１ｔ＋Ｉ＋支されている。また前記回転軸３
０の他端部は、その回転数を無段階に調節し得る直流モ
ータ３６の回転軸にカンプリング接続されている。
また前記検出コイル２８は、金属製の中空パイプ３８の
一端部に取付けられており、この中空バイブ３８も前記
回転軸３０と同じくソレノイ１く１０の中心軸線に整列
して水平に延在し、該中空バイブ３８の他端部は前記ソ
レノ′イｌ＜ Ｉ Ｏの外方において、前記筐体に適宜
の手段により固定さＡしている。なお前記検出コイル２
８がらは、ツー１−線４０が中空パイプ３８に治って導
出され、適宜の測定回路に接続されている。この測定回
路は、例えば第２図に示すように、検波増幅器１１２．
コンデンサ４４．交流電圧Ｈ１４６およびＸ−Ｙレコー
ダ４８から爪木的に構成され、前記Ｘ−Ｙレコーダ４８
のＸ端子は、前記減磁コイル１４とその直流電源２４を
結ふ電源供給ライン２ｏに介挿した標準抵抗器５０に中
間タップ接続されている。
一端部に取付けられており、この中空バイブ３８も前記
回転軸３０と同じくソレノイ１く１０の中心軸線に整列
して水平に延在し、該中空バイブ３８の他端部は前記ソ
レノ′イｌ＜ Ｉ Ｏの外方において、前記筐体に適宜
の手段により固定さＡしている。なお前記検出コイル２
８がらは、ツー１−線４０が中空パイプ３８に治って導
出され、適宜の測定回路に接続されている。この測定回
路は、例えば第２図に示すように、検波増幅器１１２．
コンデンサ４４．交流電圧Ｈ１４６およびＸ−Ｙレコー
ダ４８から爪木的に構成され、前記Ｘ−Ｙレコーダ４８
のＸ端子は、前記減磁コイル１４とその直流電源２４を
結ふ電源供給ライン２ｏに介挿した標準抵抗器５０に中
間タップ接続されている。
次に第２図において符号へで示す円形部分の拡大図を、
第３図に示す。すなわち第３図は、前記試験片ホルダ２
６および検出コイル２８の訂Ａ・１■な構成を示すもの
であって、前記ボルダ２６は円循ｊ部材で構成され、回
転軸３ｏの端部にねし込み固定されるようになっている
。そして鉄等の金属素材からなる強磁性体試験片５２は
、前記ボルタ２６の端面に偏心的に所定深度て穿設さｉ
ｃた収納孔に挿入さ九、適宜の固定手段により着脱自在
に取付けられるようになっている。前記試験片５２は後
述する如く外部磁界により磁化されるが、その磁束発生
方向は、前記ホルダ２６の中心軸線と平行になるような
姿勢で取付けられるものとする。
第３図に示す。すなわち第３図は、前記試験片ホルダ２
６および検出コイル２８の訂Ａ・１■な構成を示すもの
であって、前記ボルダ２６は円循ｊ部材で構成され、回
転軸３ｏの端部にねし込み固定されるようになっている
。そして鉄等の金属素材からなる強磁性体試験片５２は
、前記ボルタ２６の端面に偏心的に所定深度て穿設さｉ
ｃた収納孔に挿入さ九、適宜の固定手段により着脱自在
に取付けられるようになっている。前記試験片５２は後
述する如く外部磁界により磁化されるが、その磁束発生
方向は、前記ホルダ２６の中心軸線と平行になるような
姿勢で取付けられるものとする。
前記試験片２Ｇの軸方向前方に所定の空隙を保持して対
向的に配設される検出コイル２８は、第４図に示すよう
に１例えば２つのアクリル製ボビン５４ａ、５４ｂに銅
線を巻回されて構成され、かつ前記２つのボビンの中心
は中空パイプ３８の軸線に対し、夫々若干偏位している
。なお前記２つのボビンの銅線は、前記磁化コイル１２
を励磁した際に生ずる印加磁界を打ち消すために、ボビ
ン５４ａおよび５４ｂでは夫々反対方向に巻かれている
。また検出コイル２８の検出ヘッドとホルダ２６に取付
けられた試験片５２との間隔は、最も適切な寸法が実験
的に決定されるが、一般には１．０ｍａｒ−２，０ｎｏ
ｎとするのが好ましい。
向的に配設される検出コイル２８は、第４図に示すよう
に１例えば２つのアクリル製ボビン５４ａ、５４ｂに銅
線を巻回されて構成され、かつ前記２つのボビンの中心
は中空パイプ３８の軸線に対し、夫々若干偏位している
。なお前記２つのボビンの銅線は、前記磁化コイル１２
を励磁した際に生ずる印加磁界を打ち消すために、ボビ
ン５４ａおよび５４ｂでは夫々反対方向に巻かれている
。また検出コイル２８の検出ヘッドとホルダ２６に取付
けられた試験片５２との間隔は、最も適切な寸法が実験
的に決定されるが、一般には１．０ｍａｒ−２，０ｎｏ
ｎとするのが好ましい。
第２図および第３図において参照符号５６で示すコイル
は、試験片５２を加熱して該試験片の温度上昇に伴う磁
化特性の述遷を経時的に測定するためにオプションとし
て設けられるものである。
は、試験片５２を加熱して該試験片の温度上昇に伴う磁
化特性の述遷を経時的に測定するためにオプションとし
て設けられるものである。
すなわち前記中空パイプ３８の端部に、図示しない支持
部材髪介して磁気透過性の耐熱磁器からなるボビン５８
が取付けられ、該ボビン５８の外周にニクロム線等の電
気抵抗の大きい線材かｌらなるコイル５６が巻かわでい
て、前記ホルタ２６内に位置する試験片５２を所定温度
にまで加熱するようになっている。なおこの加熱用コイ
ル５６を配設する場合は、前記検出コイル２８のボビン
５４８゜５４ｂの材質を前記アクリル樹脂に替えて耐熱
性＄４料、例えば非磁性の銅に変換する必要がある。ま
た検出コイル２８が受ける熱影響を最小限に止めるため
、第３図に示すように、パイプ３８の中空部に冷却水を
強制的に循環させて検出コイル２８を冷却するよう構成
してお（のがａｆましい。
部材髪介して磁気透過性の耐熱磁器からなるボビン５８
が取付けられ、該ボビン５８の外周にニクロム線等の電
気抵抗の大きい線材かｌらなるコイル５６が巻かわでい
て、前記ホルタ２６内に位置する試験片５２を所定温度
にまで加熱するようになっている。なおこの加熱用コイ
ル５６を配設する場合は、前記検出コイル２８のボビン
５４８゜５４ｂの材質を前記アクリル樹脂に替えて耐熱
性＄４料、例えば非磁性の銅に変換する必要がある。ま
た検出コイル２８が受ける熱影響を最小限に止めるため
、第３図に示すように、パイプ３８の中空部に冷却水を
強制的に循環させて検出コイル２８を冷却するよう構成
してお（のがａｆましい。
なお第２図および第３図に示す実施例では、試験片ホル
ダ２６がモータ３６により駆動されて回転し、検出コイ
ル２８は定位置に静止している構造となっているが、逆
に検出コイル２８を回転させて、試験片ホルダ２６は静
止固定しておく構造としてもよい。従って、試験片ホル
ダ２６と検出コイル２８との回転関係は、互いに相対的
なものとなっている。
ダ２６がモータ３６により駆動されて回転し、検出コイ
ル２８は定位置に静止している構造となっているが、逆
に検出コイル２８を回転させて、試験片ホルダ２６は静
止固定しておく構造としてもよい。従って、試験片ホル
ダ２６と検出コイル２８との回転関係は、互いに相対的
なものとなっている。
次にこのように構Ｉ戊した本発明に係る保磁力測定装置
を使用して、強磁性体試験片の保磁力を測定する方法に
つき説明する。測定開始に先立ち、鉄その他の強磁性体
からなる金属素材より、所定寸法の棒状試験片５２（例
えば直径５ｍｍ、最大長さ３０ ｎｕｎ）を得、この試
験片５２を前述の構成に係るホルダ２６に取イ４ける。
を使用して、強磁性体試験片の保磁力を測定する方法に
つき説明する。測定開始に先立ち、鉄その他の強磁性体
からなる金属素材より、所定寸法の棒状試験片５２（例
えば直径５ｍｍ、最大長さ３０ ｎｕｎ）を得、この試
験片５２を前述の構成に係るホルダ２６に取イ４ける。
この取付作業に際して試験片ホルダ２Ｇは、図示しない
スライド機構により前記支持台３２と共に軸方向に後退
して該ホルダ２６を前記ソレノイド１０の外方に位置さ
せ、この状態で試験片５２の取付けがなされるようにな
っている。次いて試験片ホルダ２６をスライドさせてソ
レノイド１０中に挿入し、前記検出コイル２８ど試験片
５２との間に所定の空隙が得ら；１シるよう位置設定を
行う。
スライド機構により前記支持台３２と共に軸方向に後退
して該ホルダ２６を前記ソレノイド１０の外方に位置さ
せ、この状態で試験片５２の取付けがなされるようにな
っている。次いて試験片ホルダ２６をスライドさせてソ
レノイド１０中に挿入し、前記検出コイル２８ど試験片
５２との間に所定の空隙が得ら；１シるよう位置設定を
行う。
このように試験片５２の七ッ１−が完了した後。
前記磁化コイル１２を直流電源２２により励磁し、ソレ
ノイド１０の内部空間に磁界を印加する。（・ｊｙ用す
る直流電源の電流は例えば１５Δで、最大印加磁界は８
６００ｅである。この開力１１磁界中に強（ｉ、＋、）
性体からなる試験ハ５２がおかれることによ−）℃該試
験片は磁化され、第１図′のグラフ図に示ｔＪ、うに０
点において磁気飽和に達する。そしにの磁気飽和点Ｃに
至ってから、前記磁化コ・ｒル１２により形成される磁
界を弱めていくと、磁化の強さは減少し磁界零で残留磁
化４点に到り、１点て飽和する。この時点で磁化コイル
１２の励磁を（・：１止する。
ノイド１０の内部空間に磁界を印加する。（・ｊｙ用す
る直流電源の電流は例えば１５Δで、最大印加磁界は８
６００ｅである。この開力１１磁界中に強（ｉ、＋、）
性体からなる試験ハ５２がおかれることによ−）℃該試
験片は磁化され、第１図′のグラフ図に示ｔＪ、うに０
点において磁気飽和に達する。そしにの磁気飽和点Ｃに
至ってから、前記磁化コ・ｒル１２により形成される磁
界を弱めていくと、磁化の強さは減少し磁界零で残留磁
化４点に到り、１点て飽和する。この時点で磁化コイル
１２の励磁を（・：１止する。
次いで第２図に示すモータ３Ｇをｆｊｌ勢し、回！、＋
：軸３０およびその先端に取伺（Ｊた試験片ホルタ、２
Ｇを回転させる（回転数は、例えば１００〜７ （，１
（＋ｒｐｍの範囲で選択される）。こわにより既に磁化
された前記試験片５２は、同しくツレノー（Ｆ Ｉ Ｏ
ｌ＋に配設した検出コイル２８の検出ヘン１−前方にお
いて回転し、第５図に示すように試験片５２から発生す
る磁束６０は検出コイル２８を周期的に通過する。すな
わち試験片５２は、検出コイル２８の前方を偏心的に回
転する結果として、゛前記検出コイルを通過する磁束を
変化させ、電磁誘導の原理より該検出コイル中に誘起電
圧ｅを発生させる。
：軸３０およびその先端に取伺（Ｊた試験片ホルタ、２
Ｇを回転させる（回転数は、例えば１００〜７ （，１
（＋ｒｐｍの範囲で選択される）。こわにより既に磁化
された前記試験片５２は、同しくツレノー（Ｆ Ｉ Ｏ
ｌ＋に配設した検出コイル２８の検出ヘン１−前方にお
いて回転し、第５図に示すように試験片５２から発生す
る磁束６０は検出コイル２８を周期的に通過する。すな
わち試験片５２は、検出コイル２８の前方を偏心的に回
転する結果として、゛前記検出コイルを通過する磁束を
変化させ、電磁誘導の原理より該検出コイル中に誘起電
圧ｅを発生させる。
また試験片ホルダ２６の回転開始と略同期させて、前記
減磁コイル１４を直流電源２４（例えば電流ＩＡ）によ
り励磁し、ソレノイド１０中に新たに外部磁界を印加す
る。この減磁コイル１４により印加される磁界は、磁化
コイル１２によって印加された磁界方向ど逆方向とし、
またその強さは例えば最大印加磁界２００ｅであって、
前記検出コイル２８中に誘導された試験片の磁化を打ち
消すに充分な程度とする。こ、ｔシにより試験片の残留
磁化が減少し、それに伴い誘起電圧も減少する。この減
磁コイル１４に流す電流と誘起電圧の関係を、前記Ｘ−
■レコーダ４８により指示し、当該誘起電圧ｅが零にな
る値から適宜の演算回答により磁界をめ、この外部磁界
の強さをもって保磁力とする。
減磁コイル１４を直流電源２４（例えば電流ＩＡ）によ
り励磁し、ソレノイド１０中に新たに外部磁界を印加す
る。この減磁コイル１４により印加される磁界は、磁化
コイル１２によって印加された磁界方向ど逆方向とし、
またその強さは例えば最大印加磁界２００ｅであって、
前記検出コイル２８中に誘導された試験片の磁化を打ち
消すに充分な程度とする。こ、ｔシにより試験片の残留
磁化が減少し、それに伴い誘起電圧も減少する。この減
磁コイル１４に流す電流と誘起電圧の関係を、前記Ｘ−
■レコーダ４８により指示し、当該誘起電圧ｅが零にな
る値から適宜の演算回答により磁界をめ、この外部磁界
の強さをもって保磁力とする。
なおオプションとして配設した加熱用コイル５６を使用
して保磁力の測定を行う場合は、当該コイル５Ｇにより
試験片５２を所定温度にまでＬ昇させつつ、その温度変
ｆヒに伴う経時的な磁化’ｌ’ｌ’性の変遷を容易に測
定することができろ。
して保磁力の測定を行う場合は、当該コイル５Ｇにより
試験片５２を所定温度にまでＬ昇させつつ、その温度変
ｆヒに伴う経時的な磁化’ｌ’ｌ’性の変遷を容易に測
定することができろ。
このように本発明に係る試験片の保磁カｉｉｌ’ｌ定方
法および装置によれば、試験片を磁化コイルによりソレ
ノイ１−中で磁化し、この磁（ヒされた１７Ａ’、 ’
ｆｆｈ Ｊ ’ｌを検出コイルのヘッド前方で回転させ
ろことに上り、その磁束を該検出コイルに２１ Ｌ、て
直角方向に ゛横切らせ、電磁誘導の原理で４４起電圧
Ｑｑ発牛させる。そして、この誘起電圧Ｃを打ち消すの
に必要な磁界を減磁コイルにより新たに外部から加え、
前記誘起電圧ｅを零にするに必要なｉ’＋ｉｉ記外γ！
ｌｉ ｆｉＲ”１１′の強さをもって保磁力どして算出
するものひ、１ろる。
法および装置によれば、試験片を磁化コイルによりソレ
ノイ１−中で磁化し、この磁（ヒされた１７Ａ’、 ’
ｆｆｈ Ｊ ’ｌを検出コイルのヘッド前方で回転させ
ろことに上り、その磁束を該検出コイルに２１ Ｌ、て
直角方向に ゛横切らせ、電磁誘導の原理で４４起電圧
Ｑｑ発牛させる。そして、この誘起電圧Ｃを打ち消すの
に必要な磁界を減磁コイルにより新たに外部から加え、
前記誘起電圧ｅを零にするに必要なｉ’＋ｉｉ記外γ！
ｌｉ ｆｉＲ”１１′の強さをもって保磁力どして算出
するものひ、１ろる。
従って本発明により、極めて筒４１な作渚手順Ｃ簡単に
、精度のよい試験片の保磁ツノ測″、ｊユがｊ完成さ、
ｌする。このように、従来保磁力の測定にはス（〜棟と
１−２時間とを要していたが、本発明によればこのよう
な難点を完全に克服することができ、また丸（４状その
他環状試験片に限ることなく異形４，４才１．１１から
なる試験片の保磁力測定も可能になる等、゛多くの有益
な効果を奏するものである。
、精度のよい試験片の保磁ツノ測″、ｊユがｊ完成さ、
ｌする。このように、従来保磁力の測定にはス（〜棟と
１−２時間とを要していたが、本発明によればこのよう
な難点を完全に克服することができ、また丸（４状その
他環状試験片に限ることなく異形４，４才１．１１から
なる試験片の保磁力測定も可能になる等、゛多くの有益
な効果を奏するものである。
第１図は磁性材料中の磁界の強さＩ４と磁束密度Ｂとの
関係を示す磁１ヒ曲線図、第２図は本発明に係る試験片
の保磁力測定装置の概略構成図、第３図は、第２図にお
いて符号Ａで示す円形部分の拡大図、第４図は検出コイ
ルの一実施例の斜視図、第５図は試験片を検出コイルに
対して４・■対的に回転させた場合の磁束の変化を示す
説明図である。 １０・・・・ソレノイド １２・・・・磁化コイル１４
・・・・減磁コイル ２Ｇ・・・・試験片ホルダ２８・
・・・検出コイル 特許出願人 大同特殊鋼株式会社
関係を示す磁１ヒ曲線図、第２図は本発明に係る試験片
の保磁力測定装置の概略構成図、第３図は、第２図にお
いて符号Ａで示す円形部分の拡大図、第４図は検出コイ
ルの一実施例の斜視図、第５図は試験片を検出コイルに
対して４・■対的に回転させた場合の磁束の変化を示す
説明図である。 １０・・・・ソレノイド １２・・・・磁化コイル１４
・・・・減磁コイル ２Ｇ・・・・試験片ホルダ２８・
・・・検出コイル 特許出願人 大同特殊鋼株式会社
Claims (2)
- （１）ソレノイド中に配設した強磁性体の試験片に磁化
コイルによる磁界を加えて該試験片を磁化し、この磁化
された試験片を同じくソレノイド中に配設した検出コイ
ルに対し相対的に回転させて該検出コイル中に誘起電圧
を発生させ、更に減磁コイルにより前記誘起電圧を打ち
消すに必要な外部磁界を加えて当該誘起電圧を零にする
前記外部磁界の強さをもって保磁力として算出すること
を特徴とする強磁性体試験片の保磁力測定方法。 - （２）磁化コイルと減磁コイルとを同心配置してソレノ
イドを構成し、前記ソレノイド中に強磁性体の試験片を
装着するための試験片ホルダと誘起電圧検出用の検出コ
イルとを所定層ＲＩＧ １１間させて対向配置し、前記
試験片ホルダを検出コイルに対し相対的に回転させ得る
よう構成したことを特徴とする強磁性体試験片の保磁力
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11657783A JPS607375A (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | 強磁性体試験片の保磁力測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11657783A JPS607375A (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | 強磁性体試験片の保磁力測定方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS607375A true JPS607375A (ja) | 1985-01-16 |
Family
ID=14690558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11657783A Pending JPS607375A (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | 強磁性体試験片の保磁力測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS607375A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0247587U (ja) * | 1988-09-26 | 1990-03-30 | ||
| CN104081218A (zh) * | 2012-01-26 | 2014-10-01 | Tdk株式会社 | 磁测量装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5146432A (en) * | 1974-10-18 | 1976-04-20 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Nenshosochi |
| JPS538274B1 (ja) * | 1964-09-26 | 1978-03-27 | ||
| JPS5653472A (en) * | 1979-10-08 | 1981-05-13 | Tdk Corp | Continuously-measuring device for magnetic prpperty of belt-conveyor type |
| JPS5813339U (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-27 | 東日本鉄工株式会社 | 仮設通路の構造 |
-
1983
- 1983-06-27 JP JP11657783A patent/JPS607375A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS538274B1 (ja) * | 1964-09-26 | 1978-03-27 | ||
| JPS5146432A (en) * | 1974-10-18 | 1976-04-20 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Nenshosochi |
| JPS5653472A (en) * | 1979-10-08 | 1981-05-13 | Tdk Corp | Continuously-measuring device for magnetic prpperty of belt-conveyor type |
| JPS5813339U (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-27 | 東日本鉄工株式会社 | 仮設通路の構造 |
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| JPH0247587U (ja) * | 1988-09-26 | 1990-03-30 | ||
| CN104081218A (zh) * | 2012-01-26 | 2014-10-01 | Tdk株式会社 | 磁测量装置 |
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