JPS6087379A - 電子写真用感光体の特性評価装置 - Google Patents
電子写真用感光体の特性評価装置Info
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- JPS6087379A JPS6087379A JP19647783A JP19647783A JPS6087379A JP S6087379 A JPS6087379 A JP S6087379A JP 19647783 A JP19647783 A JP 19647783A JP 19647783 A JP19647783 A JP 19647783A JP S6087379 A JPS6087379 A JP S6087379A
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- Japan
- Prior art keywords
- photoreceptor
- probe
- exposure
- light source
- drum
- Prior art date
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G21/00—Arrangements not provided for by groups G03G13/00 - G03G19/00, e.g. cleaning, elimination of residual charge
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は例えば半導体レーザを光源とする電子写真装置
に用いられるような円筒状電子写真用感光体の特に特定
の波長の光に対する感度を評価する特性評価装置に関す
る。
に用いられるような円筒状電子写真用感光体の特に特定
の波長の光に対する感度を評価する特性評価装置に関す
る。
電子写真用感光体の特性評価方法としては、帯電電位、
電位保持率（または暗減衰率）、半減衰露光量および残
留電位の４項目の特性値を得るための電位測定方法が知
られている。これらの特性のうち光に対する応答速度、
すなわち感度を知るための半減衰露光量が最も重要であ
る。
電位保持率（または暗減衰率）、半減衰露光量および残
留電位の４項目の特性値を得るための電位測定方法が知
られている。これらの特性のうち光に対する応答速度、
すなわち感度を知るための半減衰露光量が最も重要であ
る。
この半減衰露光量を測定するため、感光体を帯電させた
直後に感光体の回転を停止し、一定光量の照射による光
減衰曲線の測定を行なっている。
直後に感光体の回転を停止し、一定光量の照射による光
減衰曲線の測定を行なっている。
この方法では、通常一つの感光体に対して１〜３点の測
定により感光体全領域を代表させているため評価精度は
劣る。才た、実際の電子写真装置のプロセスにおいては
、帯電、露光、現像、転写。
定により感光体全領域を代表させているため評価精度は
劣る。才た、実際の電子写真装置のプロセスにおいては
、帯電、露光、現像、転写。
除電の各工程が連続的に行なわれており、上記の測定方
法のように静止した感光体に露光することはなく、感光
体の光の受け方の点で相違があるため、測定結果と出力
画像との相関が厳密にとれにくい原因となっている。こ
れらの欠点を補う方法として、上記の実際の電子写真装
置のプロセスと同様のプロセスで、露光後の電位をプロ
ーブの６を感光体表面を走査することにより測定する方
法が行なわれる。しかしながら、この方法においては露
光が感光体の軸方向に均一であることが必要であり、そ
の均一性が感光体の感度測定の精度を決める大きな要因
である。また最近はレーザプリンタ％ＬｈｉＤアレイプ
リンタの様な単色光の露光に対する感度測定に対しては
この露光の均一性は大きな課題である。
法のように静止した感光体に露光することはなく、感光
体の光の受け方の点で相違があるため、測定結果と出力
画像との相関が厳密にとれにくい原因となっている。こ
れらの欠点を補う方法として、上記の実際の電子写真装
置のプロセスと同様のプロセスで、露光後の電位をプロ
ーブの６を感光体表面を走査することにより測定する方
法が行なわれる。しかしながら、この方法においては露
光が感光体の軸方向に均一であることが必要であり、そ
の均一性が感光体の感度測定の精度を決める大きな要因
である。また最近はレーザプリンタ％ＬｈｉＤアレイプ
リンタの様な単色光の露光に対する感度測定に対しては
この露光の均一性は大きな課題である。
本発明は、露光条件の感光体全領域にわたって均一性を
保証し、かつ、電子写真装置プロセスと良い相関がある
電子写真用感光体の特性評価を行なえる装置を提供する
ことを目的とする。
保証し、かつ、電子写真装置プロセスと良い相関がある
電子写真用感光体の特性評価を行なえる装置を提供する
ことを目的とする。
本発明による電子写真用感光体特性評価装置は。
回転可能の円筒状被評価感光体の円周に沿って、感光体
表面の全長に対向する帯１ト１器、感光体表面の小さい
領域を露光する光源、感光体表面の小さな領域の電位を
測定する表面俄位測定グローブおよび感光体表面の全長
に対向する除電器をこの順で配置し、光源およびプロー
ブは感光体の軸方向に可動であって感光体の回転時に光
源による露光領域の軌跡が表面電位測定プローブにより
追尾されるように制御することによって下記の目的を達
成する。
表面の全長に対向する帯１ト１器、感光体表面の小さい
領域を露光する光源、感光体表面の小さな領域の電位を
測定する表面俄位測定グローブおよび感光体表面の全長
に対向する除電器をこの順で配置し、光源およびプロー
ブは感光体の軸方向に可動であって感光体の回転時に光
源による露光領域の軌跡が表面電位測定プローブにより
追尾されるように制御することによって下記の目的を達
成する。
第１図は本発明の一実施例を示すもので、評価すべき感
光体１は円筒状の感光ドラムである。感光ドラム１の円
周に沿って帯電器２．露光ユニット３９表面電位測定プ
ローブ７、除電用光源８が配置されている。帯電器２は
直流高圧電源９に接続されてドラム１の全長にわたって
帯電でき、グローブ７は表面電位計１０に接続されてい
る。露光光源６より出射した光はフィルター５で光量調
整あるいは波長領域選択が行なわれた後、光ファイバー
４により露光部ユニット３に導かれ、感光ドラム１の表
面上に光スポットを形成する。
光体１は円筒状の感光ドラムである。感光ドラム１の円
周に沿って帯電器２．露光ユニット３９表面電位測定プ
ローブ７、除電用光源８が配置されている。帯電器２は
直流高圧電源９に接続されてドラム１の全長にわたって
帯電でき、グローブ７は表面電位計１０に接続されてい
る。露光光源６より出射した光はフィルター５で光量調
整あるいは波長領域選択が行なわれた後、光ファイバー
４により露光部ユニット３に導かれ、感光ドラム１の表
面上に光スポットを形成する。
露光ユニット３およびグローブ７は例えばパルスモータ
を用いてドラム表面を軸方向に走査できる。これらの走
査は、一定の回転数で回転している感光ドラム１に対し
て、露光ユニット３がドラム表面につくる光スポットを
グローブ６が追尾するように制御して行われる。ずなわ
ぢ感光ドラムの表面の展開図である第２図が示すように
、露光スポット２１とグローブ７による測定領域２２０
）ドラム表面に沿った間隔ｄに対して、グローブ７を露
光ユニット３に距離ｔだけ遅らせて同じ速度で走査させ
れば対角線２３上の露光後の表面電位が測定できる。プ
ローブ７が露光スポット２１を正確に追尾しているかど
うかは、走査を逆方向にして対角線２４の上の表面電位
を測定して対角線２３上の表面電位と比較することによ
り知ることができ、パルスモータに与えるパルスを調整
することにより正確な追尾ができる。この方法により測
定を行えば、光量の均一な光スポットにより光減衰した
表面電位の測だをドラムの全表面にわたって行うことが
できる。
を用いてドラム表面を軸方向に走査できる。これらの走
査は、一定の回転数で回転している感光ドラム１に対し
て、露光ユニット３がドラム表面につくる光スポットを
グローブ６が追尾するように制御して行われる。ずなわ
ぢ感光ドラムの表面の展開図である第２図が示すように
、露光スポット２１とグローブ７による測定領域２２０
）ドラム表面に沿った間隔ｄに対して、グローブ７を露
光ユニット３に距離ｔだけ遅らせて同じ速度で走査させ
れば対角線２３上の露光後の表面電位が測定できる。プ
ローブ７が露光スポット２１を正確に追尾しているかど
うかは、走査を逆方向にして対角線２４の上の表面電位
を測定して対角線２３上の表面電位と比較することによ
り知ることができ、パルスモータに与えるパルスを調整
することにより正確な追尾ができる。この方法により測
定を行えば、光量の均一な光スポットにより光減衰した
表面電位の測だをドラムの全表面にわたって行うことが
できる。
フィルタ５に干渉フィルタを用いることにより単色光感
度の測定を何うことができ、フィルタにより任意の波長
領域に対する感度の評価が可能である。さらにこのフィ
ルタに加えて遮蔽板（透過率０）、ＮＤフィルタｌ（透
過率ｂ）、ＮＤフィルタｎ（透過率ａ）ｂ）、干渉フィ
ルタのみの四つの光源に対して測定を行うことにより、
第３図に示す電位パターンが得られる。この時の露光量
をそれぞれ０．Ａ、Ｂ、Ｃ（μＪ ／ｄ ）または〔ｌ
ｘ ｊ ｌ１ｅＣ） （！：し、このときの電位をそ
れぞれｖＩ＋Ｖ２．Ｖｓ、Ｖ、とする。感度は初期電位
ｖｏからの半減衰露光量Ｊ４で評価する。Ｅ］７をめる
手続きは、（露光量Ｘ、電位Ｖ）の関係を（０、Ｖ＋
） 、 （Ａ。
度の測定を何うことができ、フィルタにより任意の波長
領域に対する感度の評価が可能である。さらにこのフィ
ルタに加えて遮蔽板（透過率０）、ＮＤフィルタｌ（透
過率ｂ）、ＮＤフィルタｎ（透過率ａ）ｂ）、干渉フィ
ルタのみの四つの光源に対して測定を行うことにより、
第３図に示す電位パターンが得られる。この時の露光量
をそれぞれ０．Ａ、Ｂ、Ｃ（μＪ ／ｄ ）または〔ｌ
ｘ ｊ ｌ１ｅＣ） （！：し、このときの電位をそ
れぞれｖＩ＋Ｖ２．Ｖｓ、Ｖ、とする。感度は初期電位
ｖｏからの半減衰露光量Ｊ４で評価する。Ｅ］７をめる
手続きは、（露光量Ｘ、電位Ｖ）の関係を（０、Ｖ＋
） 、 （Ａ。
Ｖ２）、（Ｂ、ｖ３）ノ３点ヲ通ル２次関数ｖ＝αＸ２
＋βｘ −４−ｖ、 奪当てはめる。この方程式をＶ
＝ ｖｏとするときのＸ （Ｖｏ ）とＶ ＝ ｖｏ／
２とするときのＸ（Ｖｏ／ ２ ）の場合について解
くことにより、ＥＨ＝Ｘ（Ｖｏ）−Ｘ（ｖｏ／２ ）か
らめることができる。また（ Ｃ９Ｖ４ ）においては
残留電位の評価を行う。
＋βｘ −４−ｖ、 奪当てはめる。この方程式をＶ
＝ ｖｏとするときのＸ （Ｖｏ ）とＶ ＝ ｖｏ／
２とするときのＸ（Ｖｏ／ ２ ）の場合について解
くことにより、ＥＨ＝Ｘ（Ｖｏ）−Ｘ（ｖｏ／２ ）か
らめることができる。また（ Ｃ９Ｖ４ ）においては
残留電位の評価を行う。
第４図は、２５本の正常な感光ドラムにつき波長７８０
ｎ１１１の単色光に対する半減衰露光量を本発明による
装置を用いて上記の方法で測定した結果と従来装置を用
いて半減衰曲線を測定する事により測定した結果との相
関関係を示している。
ｎ１１１の単色光に対する半減衰露光量を本発明による
装置を用いて上記の方法で測定した結果と従来装置を用
いて半減衰曲線を測定する事により測定した結果との相
関関係を示している。
本発明は帯電された感光体表面を走査してスポット状の
光を露光し、その領域の電位を追尾するグローブによっ
て測定するもので、電子写真応用装置に用いられる感光
体の露光に対する特性について装置の条件に近似した条
件で測定でき、しかも感光体全面について露光むら等の
精度の高い感度特性に対する情報が得られるので、特に
広い領域に対する均一な露光の困難な単色光に対する特
性評価に有効に適用できる。また表面電位を相異なる二
つ以上の露光量で感光体全面にわたって測定できるため
、半減衰露光量の測定が簡単に精度よくでき、装置の必
要とする露光量を精度よくめることができる。
光を露光し、その領域の電位を追尾するグローブによっ
て測定するもので、電子写真応用装置に用いられる感光
体の露光に対する特性について装置の条件に近似した条
件で測定でき、しかも感光体全面について露光むら等の
精度の高い感度特性に対する情報が得られるので、特に
広い領域に対する均一な露光の困難な単色光に対する特
性評価に有効に適用できる。また表面電位を相異なる二
つ以上の露光量で感光体全面にわたって測定できるため
、半減衰露光量の測定が簡単に精度よくでき、装置の必
要とする露光量を精度よくめることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す配［ｌｌ！１図、第２
図は本発明による装置を用いての展開された感光ドラム
表面の露光スポットおよび表［１［ｉ１！位測定憤域の
走査軌跡図、第３図は本発明による装置を用いて得られ
た表面電位パターン図、第４図は本発明による装置を用
いて得られた半減衰露光量と従来装置を用いて得られた
半減衰露光量との相関図である。 １ ・感光ドラム、２・帯電器、３ 露光ユニット、６
・光源、７・・・プローブ、８・・・除或光源、１０
第１図 ３ 第２図 →走査方向 第８図 ＯＬ夫１＆ｆ＋：Ｊ＆澹１１（１（ＨＪ／ｃｍ２）第４
図
図は本発明による装置を用いての展開された感光ドラム
表面の露光スポットおよび表［１［ｉ１！位測定憤域の
走査軌跡図、第３図は本発明による装置を用いて得られ
た表面電位パターン図、第４図は本発明による装置を用
いて得られた半減衰露光量と従来装置を用いて得られた
半減衰露光量との相関図である。 １ ・感光ドラム、２・帯電器、３ 露光ユニット、６
・光源、７・・・プローブ、８・・・除或光源、１０
第１図 ３ 第２図 →走査方向 第８図 ＯＬ夫１＆ｆ＋：Ｊ＆澹１１（１（ＨＪ／ｃｍ２）第４
図
Claims (1)
- １）回転可能の円筒状被評価感光体の円周に沿って、感
光体表面の全長に対向する帯・ｋ器、感光体表面の小さ
い領域を露光する光源、感光体表面の小さい領域の電位
を測定する表面電位測定グローブおよび感光体表面の全
長に対向する除電器が順に配置され、前記光源および表
面電位測定グローブは感光体の軸方向に可動であって感
光体の回転時に光源による露光領域の軌跡がプローブに
よって追尾されるように制御されることを特徴とする電
子写真用感光体の特性評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19647783A JPS6087379A (ja) | 1983-10-20 | 1983-10-20 | 電子写真用感光体の特性評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19647783A JPS6087379A (ja) | 1983-10-20 | 1983-10-20 | 電子写真用感光体の特性評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6087379A true JPS6087379A (ja) | 1985-05-17 |
| JPS6411946B2 JPS6411946B2 (ja) | 1989-02-27 |
Family
ID=16358444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19647783A Granted JPS6087379A (ja) | 1983-10-20 | 1983-10-20 | 電子写真用感光体の特性評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6087379A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5181071A (en) * | 1991-12-02 | 1993-01-19 | Yamanashi Electronics Co., Ltd. | Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0611633U (ja) * | 1992-02-25 | 1994-02-15 | 京浜ビル管理株式会社 | 簡易飲料煎出容器 |
-
1983
- 1983-10-20 JP JP19647783A patent/JPS6087379A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5181071A (en) * | 1991-12-02 | 1993-01-19 | Yamanashi Electronics Co., Ltd. | Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6411946B2 (ja) | 1989-02-27 |
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