JPS6091668A - 受光集積素子 - Google Patents
受光集積素子Info
- Publication number
- JPS6091668A JPS6091668A JP58200158A JP20015883A JPS6091668A JP S6091668 A JPS6091668 A JP S6091668A JP 58200158 A JP58200158 A JP 58200158A JP 20015883 A JP20015883 A JP 20015883A JP S6091668 A JPS6091668 A JP S6091668A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- diode
- light receiving
- receiving integrated
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/103—Integrated devices the at least one element covered by H10F30/00 having potential barriers, e.g. integrated devices comprising photodiodes or phototransistors
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、任意の成長の元のみに敏感な受光集積素子に
関するものである。
関するものである。
任意の波長の元のみに敏感な受光素子に関しては、従来
より可視光カットフィルターを外付けしたフォトダイオ
ード等の方法が知られているが、次のような欠点を有し
ている。
より可視光カットフィルターを外付けしたフォトダイオ
ード等の方法が知られているが、次のような欠点を有し
ている。
可視光カットフィルターを外付けしなければならず、実
装面積が大きくなる。又、可視)゛0カットフィルタは
赤外ブ0も一部吸収し、フォトダイオードへの入射光量
が小さくなる。あるいは、赤外光をほとんど吸収しない
フィルターは可視光も一部透過させる。本発明はかかる
欠点を除去したものである。
装面積が大きくなる。又、可視)゛0カットフィルタは
赤外ブ0も一部吸収し、フォトダイオードへの入射光量
が小さくなる。あるいは、赤外光をほとんど吸収しない
フィルターは可視光も一部透過させる。本発明はかかる
欠点を除去したものである。
本発明は、半導体基板内に形成した受光素子及び集積回
路自体に、光学フィルターとしての特性をもたせること
により実装面積が小さくなり、低価格化、高信頼性化で
きる受光集積素子を提供することにある。
路自体に、光学フィルターとしての特性をもたせること
により実装面積が小さくなり、低価格化、高信頼性化で
きる受光集積素子を提供することにある。
以下′A施例に基づいて本発明の詳細な説明する第1図
に赤外光に敏感な受光集積素子を実現する本発明による
フォトダイオード断uIJ図を示す。
に赤外光に敏感な受光集積素子を実現する本発明による
フォトダイオード断uIJ図を示す。
n型半棉体基板1上に形成されたP″″拡散領域2.P
+拡散領域3は、接合深さが異なるため、分光愚直が、
第2図に示すように異なっている。
+拡散領域3は、接合深さが異なるため、分光愚直が、
第2図に示すように異なっている。
すなわぢ、接合の深い1−2間ダイオードの分光感度曲
線4と、接合の浅い1−3間ダイオードの分光IFA度
曲線曲線では明らかに異なる。そのため、1−2間ダイ
オード出力電流工凰と1−3間ダイオード出力篭流工、
との差(工1−工? ンをとれば赤外9°0のみに鋭敏
な受光集積素子となる。第3図に前記回路の実現例を示
す。ここでフォトダイオード6は接合の浅いダイオード
、フォトダイオード7は接合の深いダイオードである。
線4と、接合の浅い1−3間ダイオードの分光IFA度
曲線曲線では明らかに異なる。そのため、1−2間ダイ
オード出力電流工凰と1−3間ダイオード出力篭流工、
との差(工1−工? ンをとれば赤外9°0のみに鋭敏
な受光集積素子となる。第3図に前記回路の実現例を示
す。ここでフォトダイオード6は接合の浅いダイオード
、フォトダイオード7は接合の深いダイオードである。
0MO8集積回路におけるPWKLL−N基板間ダイオ
ードを7に、P+拡散−N基板間ダイオードを6にすれ
ば、0M0EI集積回TkIM造プロセスで不回路は実
現できる。このような概念で実際の回路としたものが第
4図である。ここでは、7のダイオードに比ベロのダイ
オードの容量が大きく、出力′屯j+ii;能力が少さ
いため、7のダイオード出力電流を増幅したのち、遅延
回路8で信号を遅らせ、位相を整合させ、又、6のダイ
オードの出力電流を2回増幅し、絶対値を7の出方電流
とあわせている。この両者の信号を減算することにより
螢光灯等の外来ノイズに対しては、不感性となり8 /
N比が改善される。又、より外来ノイズ等に対して強
くさらに位相の微妙な不整台分を除失するために、シュ
ミット・トリガー回路を経て出力している。
ードを7に、P+拡散−N基板間ダイオードを6にすれ
ば、0M0EI集積回TkIM造プロセスで不回路は実
現できる。このような概念で実際の回路としたものが第
4図である。ここでは、7のダイオードに比ベロのダイ
オードの容量が大きく、出力′屯j+ii;能力が少さ
いため、7のダイオード出力電流を増幅したのち、遅延
回路8で信号を遅らせ、位相を整合させ、又、6のダイ
オードの出力電流を2回増幅し、絶対値を7の出方電流
とあわせている。この両者の信号を減算することにより
螢光灯等の外来ノイズに対しては、不感性となり8 /
N比が改善される。又、より外来ノイズ等に対して強
くさらに位相の微妙な不整台分を除失するために、シュ
ミット・トリガー回路を経て出力している。
また、第4図の減算・シュミット・トリガー回路10に
、比較回路を設け、正負を判別することにより、赤外、
赤外色と黄色、緑色との判別をすることが可能となる。
、比較回路を設け、正負を判別することにより、赤外、
赤外色と黄色、緑色との判別をすることが可能となる。
本発明は、同一基板上に形成した検数のフォトダイオー
ドと、その出力電流を増幅・演算専行なう回路を同時に
形成することが出来、任慧の波長依存性を有し、El/
N比の改善部品点数の減少、実装面積の減少、低価格化
、高信頼性などすぐれた効果を有する。
ドと、その出力電流を増幅・演算専行なう回路を同時に
形成することが出来、任慧の波長依存性を有し、El/
N比の改善部品点数の減少、実装面積の減少、低価格化
、高信頼性などすぐれた効果を有する。
また本発明で、MOB集’$ 11!l路のみならず、
バイポーラ集積回路等に於ても同様に作成するととがで
きる。
バイポーラ集積回路等に於ても同様に作成するととがで
きる。
又、本発明に於て、外来元等雑音に強い耐性を有した赤
外受光電子となり、赤外1.KD等を光源とした、外来
光に影響されにくいフォト・インタラプタ、フォト・す
7レクタ等を可視光カットフィルタ等を付加することな
しに、容易に形成できる。
外受光電子となり、赤外1.KD等を光源とした、外来
光に影響されにくいフォト・インタラプタ、フォト・す
7レクタ等を可視光カットフィルタ等を付加することな
しに、容易に形成できる。
第1図は本発明による複数のフォトダイオード断聞図。
第2図は、第1図フォトダイオードの分光感度曲線。
第6図は、本発明回路の概念図。
第4図は、本究明回路の一実施例。
以 上
出願人 株式会社諏訪精工菅
先 源
第2肥
Claims (2)
- (1) 元の波長に対し感度の異なる複数のフォトダイ
オードを同一基板上に形成し、それぞれのフォトダイオ
ード出力電流を信号処理することにより、任意の波長の
光のみに敏感な素子として用いることを特徴とする受う
°C集積系子。 - (2)ouosプロセスを用い、受光素子として、?I
型基板−P型WELL間ダイオードと%型基板−P型関
濃度拡散間ダイオードを用いることを特徴とする符it
’f 請求の軛囲第1項記載の受光集積素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58200158A JPS6091668A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | 受光集積素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58200158A JPS6091668A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | 受光集積素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6091668A true JPS6091668A (ja) | 1985-05-23 |
Family
ID=16419750
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58200158A Pending JPS6091668A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | 受光集積素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6091668A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5506430A (en) * | 1992-03-03 | 1996-04-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid state image pick-up device with differing capacitances |
| US8330090B2 (en) | 2007-05-07 | 2012-12-11 | Nxp, B.V. | Photosensitive device and method of manufacturing a photosensitive device using nanowire diodes |
-
1983
- 1983-10-26 JP JP58200158A patent/JPS6091668A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5506430A (en) * | 1992-03-03 | 1996-04-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid state image pick-up device with differing capacitances |
| US8330090B2 (en) | 2007-05-07 | 2012-12-11 | Nxp, B.V. | Photosensitive device and method of manufacturing a photosensitive device using nanowire diodes |
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