JPS6095547U - 反射率測定装置 - Google Patents

反射率測定装置

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JPS6095547U
JPS6095547U JP1983187809U JP18780983U JPS6095547U JP S6095547 U JPS6095547 U JP S6095547U JP 1983187809 U JP1983187809 U JP 1983187809U JP 18780983 U JP18780983 U JP 18780983U JP S6095547 U JPS6095547 U JP S6095547U
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JP
Japan
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light
sample
reflected
measuring device
receiving means
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Application number
JP1983187809U
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藤嶋　一郎
嵯峨　三男
宮川　亜夫
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Iseki and Co Ltd
Original Assignee
Iseki and Co Ltd
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Publication date
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は、標準物質の電圧測定値の経時変化を示す線図
、第２図は、本考案に係る試料組織の反射率測定装置の
実施例を示すプロッタ線図、第３図は、本考案の第２実
施例を示す、第２図と同様のブロック線図、第４図は、
本考案の効果を確認するための、前記第１、第２実施例
での装置を用、いて標準物質の反射率を測定したときの
経時変化を示す線図である。 １０・・・光源、１２．４０・・・照射手段、１４，４
２・・・導光手段、１６，４４・・・受光手段、１８，
４６・・・演算手段、Ａ・・・試料石炭、Ｂ・・・標準
物質、Ｌ　　。 ・・・光、ＬＡ、ＬＢ・・：分光、Ｌ−＝　Ｌｂ・・・
反射光、Ｖ　　′Ａ９　ＶＢ・・・電気信号。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 光源と、 該光源からの光を、試料及び標準物質に、同時比又は短
    い時間間隔で交互に、照射するための照射手段と、 前記試料及び標準物質から反射される反射光を、短い時
    間間隔で交互に又はそのまま、受光手段に導くための導
    光手段と、 該導光手段から短い時間間隔で交互に入射される前記試
    料からの反射光及び標準物質ｂ）らの反射光とを受光し
    て、−それぞれの反射光に比例した電気信号に変換する
    ための受光手段と、 該受光手段からそれぞれの電気信号を処理して試料の反
    射率を求めるための演算手段と、を備え、 たことを特徴とする反射率測定装置。
JP1983187809U 1983-12-05 1983-12-05 反射率測定装置 Pending JPS6095547U (ja)

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