JPS609715Y2 - ガス分析装置 - Google Patents

ガス分析装置

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JPS609715Y2
JPS609715Y2 JP17489079U JP17489079U JPS609715Y2 JP S609715 Y2 JPS609715 Y2 JP S609715Y2 JP 17489079 U JP17489079 U JP 17489079U JP 17489079 U JP17489079 U JP 17489079U JP S609715 Y2 JPS609715 Y2 JP S609715Y2
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gas
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芳雄 斎藤
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、分析せんとする試料ガスの濃度分析を行な
うと共に、該試料ガスの分析に先立ってその除湿を行な
う半透膜式気相除湿器等の除湿能力をも同時に測定でき
るガス分析装置に関するものである。
ガス分析装置によっては、ガス中の水分含有量が分析濃
度指示値に誤差となって現われるものがある。
例えば赤外線吸収式分析計は、双極子モーメントを有す
る分子が各分子特有の波長の赤外線を吸収して、その振
動エネルギーレベル間の遷移を生ずることを利用したも
ので、一定の長さの試料セル内に試料ガスを導き、試料
セルを透過する赤外線につき、試料ガス中の濃度測定せ
んとしている分子に吸収される波長における該赤外線の
減衰率を測定することにより濃度測定を可能とするもの
である。
ところが試料ガス中に水分が含有されていると、水分は
比較的広範囲の波長にわたって赤外線を吸収する特性を
もつから、試料ガス中の濃度測定せんとする分子に吸収
される赤外線波長と水分により吸収される赤外線波長と
が重なり易く、その場合には、当該波長の赤外線の減衰
率を測定しても、水分により吸収された分だけ誤差を含
んだ濃度測定値が得られる。
特に、SOx 。NOxなどのガス成分の低濃度測定の
場合、試料ガス中に含まれる水分による上述の如き測定
誤差をもたらす干渉作用が強いので、試料ガスは分析に
先立ち充分に除湿することが必要である。
この目的のため、近来、除湿能力の高い(露点温度で−
10〜−30℃)半透膜式気相除湿器が使用される気運
にある。
第1図は、かかる半透膜気相除湿器の断面図であり、第
1A図は第1図において線X−X’に沿って切断した断
面図である。
これらの図を参照する。
半透膜気相除湿器は、外管1と、この外管1の内部に仕
切板2,2を介して支持された多数の内管3,3.3に
よって構成され、各内管3は、イー・アイ・デュポン社
の商品名ナフィオン(NAFION)と称する化合物に
よって構成されており、その内側から外側へ管壁を通し
て水蒸気を選択透過させる機能を有している。
今、水蒸気を含んだサンプルガスを入口4よりそれぞれ
の内管3内に導入し出口5より排出させながら、他方の
入口6より出ロアに向かってパージ用乾燥ガスを内管3
の外側に通すと、サンプルガス中の水蒸気が内管3の管
壁を通過して外ヘパージされる。
半透膜気相除湿器は、上述のような構成・機能を有する
ものであり、かかる除湿器を用いたガス分析装置におい
て、除湿器に故障を生じてうまく機能しなくなった場合
、測定誤差が大きくなるので、除湿器の機能が正常であ
ることを常に確認することは重要な事柄であると云える
この点に関し、従来は除湿器として電子式ガス冷却器が
主に用いられていたので、このガス出口側に温度計を挿
入し、除湿ガスの温度を測定することにより除湿性能を
確認していた。
しかし、この方式では、本来必要な除湿ガスに含まれる
水分量(露点または濃度)が測定できず、正確さに欠け
るうらみがある。
同時に電子式ガス冷却器は、除湿能力が低く(露点温度
で+1〜+3℃程度)、冬期間におけるドレンの凍結や
測定ガスがドレンへ溶解して損失になるなどの問題があ
り、また機械的な駆動部があるため、それが故障発生要
因ともなっていた。
そこで、これらの欠点を補うため、除湿能力が高く、駆
動部分のない前述の如き半透膜式気相除湿器が採用され
る気運になって来たが、このような除湿器によって遠戚
される低露点を連続して測定できる水分計は少なく、あ
っても高価であり、また実用性に乏しく、結局、分析さ
れるべき試料ガスの測定結果である濃度指示が異常と思
われる時点で、その都度、露点計を用いて除湿器におけ
る異常の有無を確認せざるを得なく、このような状態は
分析装置のメンテナンス上、問題であった。
この考案は、上述の如き、従来技術における問題点を解
決するためになされたものであり、従ってこの考案の目
的は、半透膜式気相除湿器等を使用したガス分析装置に
おいて、除湿器の除湿能力が正常であることを常に確認
できるようなガス分析装置を提供することにある。
このような目的は、本考案によれば、被測定成分および
この被測定成分に対する干渉成分を含んだ試料ガスが導
入される試料セルと、基準ガスが封入された基準セルと
、前記両セルへ同じ強度の赤外線光線を照射する赤外線
光源と、赤外線を透過させ得るように構成され、前記試
料セルおよび基準セルを透過した赤外線光線がそれぞれ
照射される2つの検出槽より成る測定ガス用検出器と、
この検出器の各検出槽を透過した赤外線光線がそれぞれ
照射される2つの検出槽より成る干渉補償用検出器とを
備え、前記測定ガス用検出器の出力信号から前記干渉補
償用検出器の出力信号を引算することにより前記試料ガ
ス中の被測定成分濃度を測定するものにおいて、前記干
渉成分が水分である場合には、前記試料ガスが前記試料
セル中に導入される前にこの試料ガス中の水分を除去す
る除湿器を設け、かつ前記干渉補償用検出器の各検出槽
内には水分もしくはこの水分とほぼ同じ赤外線吸収波長
領域を有するガスを封入し、この干渉補償用検出器の出
力信号に基づいて前記除湿器の除湿性能を検知し得るよ
うにすることによって遠戚される。
次に図を参照してこの考案の一実施例を詳しく説明する
第2図は、この考案の一実施例を示す構成概念図である
同図において、分析されるべき試料ガスは、−次フィル
タ8を通り、ポンプ9により半透膜式気相除湿器10へ
送られ、そこで試料ガス中の水分を−10〜−30’C
露点程度にまで除去され、次に二次フィルタ11.流量
計12を経由して赤外線ガス分析装置24の試料セル1
5bへ導入される。
赤外線ガス分析装置24は次の如く構成されている。
赤外線光源(単光源)13から放射された赤外線は、図
示せざるをチョッパにより断続されて断続光となり、分
配セル14において二光束に分けられ、試料セル15b
と基準セル15aに入る。
分配セル14の中には、通常赤外線吸収のない純窒素(
N2)が封入されている。
試料セル15b中では、試料ガス中に含まれる被測定成
分により赤外線が吸収され、従って試料セル15bを透
過する光量は、その吸収された分だけ入射光量より少な
くなる。
一方、基準セル15a中には窒素または不活性ガスが封
入されているので赤外線の吸収は起きない。
2つの第1検出槽16a、16bによって測定ガス用検
出器16が構成され、試料セル15bから第1検出槽1
6bに入った赤外線は、基準セル15aから第1検出槽
16aに入った赤外線より若干弱くなっており、このた
め、図示せざるチョッパにより断続された赤外線が第1
検出槽16a、16bを照射するとき、基準側検出槽1
6aから試料側検出槽16bへ、検出槽に封入されてい
るガスが流れ、遮光されるときは平衡するようにガスが
戻る。
この微少なガスの流れをフローセンサ(熱式流量計形検
出器)17が検出して交流信号に変える。
この交流信号は、試料ガス中の被測定成分の濃度と試料
ガス中に含まれる干渉成分としての水分による干渉の度
合(測定誤差)とを表わす信号(その理由は後述)であ
り、増幅器20により増幅されて演算器23へ入力され
る。
更に、2つの第2検出槽18a、18bから水分干渉補
償用検出器18が構成され、第1検出槽16bから第2
検出槽18bへ赤外線が入射し、また基準セル側第1検
出槽16aから第2検出槽18aへも赤外線が入射する
と、先と同様にして、基準側第2検出槽18aから試料
側第2検出槽18bへ、第2検出槽に封入されているガ
スが流れる。
このガスの流れをフローセンサ(熱式流量計形検出器)
19が検出して交流信号に変える。
この交流信号は、除湿器10を通過した後の試料ガス中
に含まれる水分の濃度を表わす信号(その理由は後述)
であり、増幅器21で増幅された後、演算器23へ入力
される。
演算器21では、入力された二つの信号を演算すること
により、つまり被測定成分の濃度と水分による干渉度合
とを表わす信号から水分濃度を表わす信号を差し引くこ
とにより、被測定成分の濃度のみを表わす正確な測定値
を算出して出力する。
一方、増幅器21により増幅された信号を更に増幅器2
2で増幅して水分濃度を拡大表示すれば、半透膜式気相
除湿器10の除湿能力を知ることができる。
フローセンサ(熱式流量計形検出器)について補足説明
する。
第2A図は、第2図における要部拡大図である。
同図を参照する。赤外線を透過させる窓で密封された検
出槽16at 16bには、分析しようとするガスと
同種のガスが封入され、試料側検出槽16bと基準側検
出槽16aは微小ガス流路で連絡され、流路の途中にフ
ローセンサ17が取り付けられている。
赤外線が入射すると、検出槽内のガスは被測定成分吸収
帯の波長のみを吸収し、その吸収エネルギー量により膨
張する。
今、基準側検出槽16aに入射する赤外線が試料側検出
槽16bに入射するそれより強いと、検出槽封入ガスに
よる吸収エネルギー量も、試料側より基準側が大きくな
り、検出槽16aと16bの間で圧力差が生じる。
この圧力差で微小ガス流路に矢印の方向にガスが流れる
この流れを、ミクロンオーダの金属格子を並べた一種の
熱線風速計であるフローセンサ17によって検出し、抵
抗変化に変換するわけである。
なお、測定ガス用検出器16の各検出槽16a、16b
内には測定ガスまたはこの測定ガスとほぼ同じ赤外線吸
収領域を有する代用ガスが封入され、一方水分干渉補償
用検出器18の各検出槽18a、18b内には水分また
は水分とほぼ同じ赤外線吸収領域を有する代用ガスが封
入される。
次に、フローセンサ17から、試料ガス中の被測定成分
の濃度と試料ガス中に含まれる水分による干渉の度合と
を表わす信号が、またフローセンサ19から試料ガス中
に含まれる水分の濃度を表わす信号が得られる理由を詳
しく説明する。
第3図は、横軸に波長入をとり、縦軸に光強度Iをとり
、試料ガス中の被測定成分による赤外線の吸収帯イと、
干渉成分である水分による吸収帯口とを示しており、今
、両吸収帯が図示の如く重なっているものとする。
第4図は、第3図における各部の入射光、透過光の赤外
吸収スペクトル図である。
詳しく述べると、第4図 、 a/は、セル15b、1
5a、への入射光の赤外吸収スペクトル図であり、第4
図す、b′は、第1検出槽16b、16aへの入射光(
セル15の透過光)のそれであり、第4図C9C′は、
第2検出槽18b、18aへの入射光(第1検出槽16
の透過光)のそれであり、第4図d、d’は、第2検出
槽18b、18aの透過光のそれである。
但し、第1検出槽16a、16bには、波長入5からλ
6までの範囲の吸収帯をもつガスがそれぞれ封入されて
おり、第2検出槽18a、18bには、それより若干広
い波長入、からλ8までの範囲の吸収帯をもつガスがそ
れぞれ封入されているものとする。
さて、第4図 、 c/において、試料側第1検出槽1
6bでの吸収量はE1o1基準側第1検出槽16aでの
吸収量はK20であるので、フローセンサ17からの出
力信号S1は次の式で示される。
SL−(K20−EIO)=E2+E3 但しK2は、試料ガス中の被測定成分による吸収量を示
し、K3は試料ガス中の干渉成分(水分)による吸収量
を示す。
同様に、第4図d、d’から、第2検出槽18ai8b
におけるフローセンサ19からの出力信号S2は次の式
で与えられる。
S2へ(E21+E2゜)−(E11+E12)=E4
+E5但し、K2.K5は試料ガス中の干渉成分(水分
)による吸収量である。
吸収エネルギー量E2は、被測定成分の濃度C1に、ま
たK3.K4.K5は干渉成分(水分)濃度C2にほぼ
比例すると考えられるので、 51=KIC1+に2C2 S2=に3C2 但し、K1.に2.に3はそれぞれ比例定数となり、演
算器23においてSlとS2の電気的差演算を行なうこ
とにより、被測定成分濃度C1に比例した信号が得られ
、理論上、測定誤差(干渉誤差)をゼ申こすることがで
きる。
また、S2から水分濃度(換言すれば、半透膜式気相除
湿器の除湿能力)を求めることができる。
以上説明した通りであるから、この考案によれば、ガス
分析装置によって、誤差を含まない分析結果を得ながら
、除湿器の除湿能力をも常時連続監視できるので、高精
度で信頼性が高く、しかも安定した連続ガス分析が可能
であるという利点がある。
また、この考案によれば、半透膜式気相除湿器以外の除
湿器、例えば電子式ガス冷却器、冷媒式ガス冷却器、水
冷式ガス冷却器などの除湿性能測定にも使用できること
は勿論である。
さらに、この考案においては、干渉補償用検出器として
もともと存在する検出器18を利用して、除湿器の除湿
能力を検知するようにしたので、低価格で実用化可能で
あり、増幅器22を1個付加するだけで所期の目的を容
易に達成するとかできる。
しかも、除湿器の露点を連続測定することにより、除湿
器の故障が早期発見でき、従って故障要因の解析に有効
な情報が採取でき、メンテナンス上極めて有用である。
さらにまた、赤外線方式のため、ガス露点が一り5℃〜
+35℃程度まで測定可能であり、特に低露点が測定可
能であるという利点を有し、半透膜式気相除湿器のよう
な除湿能力の高い除湿器の露点測定に適する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、半透膜気相除湿器の断面図、第1A図は第1
図において線X−X’に沿った断面図、第2図はこの考
案の一実施例を示す構成概念図、第2A図は第2図にお
ける要部の拡大図、第3図は、被測定成分と干渉成分の
赤外吸収スペクトル図、第4図は、第3図における各部
の入射光、透過光の赤外吸収スペクトル図である。 図において、1は外管、2は仕切板、3は内管、4は入
口、5は出口、6は入口、7は出口、8は一次フィルタ
、9はポンプ、10は半透膜式気相除湿器、11は二次
フィルタ、12は流量計、13は赤外線光源、14は分
配セル、15aは基準セル、15bは試料セル、16は
測定ガス用検出器、16aは基準セル側第1検出槽、1
6bは試料セル側第1検出槽、17はフローセンサ、1
8は水分干渉補償用検出器、18aは基準セル側第2検
出槽、18bは試料セル側第2検出槽、19はフローセ
ンサ、20乃至22はそれぞれ増幅器、23は演算器、
24は赤外線ガス分析装置、を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 被測定成分およびこの被測定成分に対する干渉成分を含
    んだ試料ガスが導入される試料セルと、基準ガスが封入
    された基準セルと、前記両セルへ同じ強度の赤外線光線
    を照射する赤外線光源と、赤外線を透過させ得るように
    構成され、前記試料セルおよび基準セルを透過した赤外
    線光線がそれぞれ照射される2つの検出槽より成る測定
    ガス用検出器と、この検出器の各検出槽を透過した赤外
    線光線がそれぞれ照射される2つの検出槽より成る干渉
    補償用検出器とを備え、前記測定ガス用検出器の出力信
    号から前記干渉補償用検出器の出力信号を引算すること
    により前記試料ガス中の被測定成分濃度を測定するもの
    において、前記干渉成分が水分である場合には、前記試
    料ガスが前記試料セル中に導入される前にこの試料ガス
    中の水分を除去する除湿器を設け、かつ前記干渉補償用
    検出器の各検出槽内には水分もしくはこの水分とほぼ同
    じ赤外線吸収波長領域を有するガスを封入し、この干渉
    補償検出器の出力信号に基づいて前記除湿器の除湿性能
    を検知し得るようにしたことを特徴とするガス分析装置
JP17489079U 1979-12-19 1979-12-19 ガス分析装置 Expired JPS609715Y2 (ja)

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JP17489079U JPS609715Y2 (ja) 1979-12-19 1979-12-19 ガス分析装置

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JPS5692948U JPS5692948U (ja) 1981-07-24
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JP2012189550A (ja) * 2011-03-14 2012-10-04 Horiba Ltd ガス濃度測定装置

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