JPS6097268A - 超音波顕微鏡の合焦装置 - Google Patents
超音波顕微鏡の合焦装置Info
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- JPS6097268A JPS6097268A JP58206764A JP20676483A JPS6097268A JP S6097268 A JPS6097268 A JP S6097268A JP 58206764 A JP58206764 A JP 58206764A JP 20676483 A JP20676483 A JP 20676483A JP S6097268 A JPS6097268 A JP S6097268A
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- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 25
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/30—Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、超音波顕微鏡の合焦装置に係り、試料からの
最大反射波が得られる焦点位置への位置合わせが容易に
行い得るとともに、超音波走査子としての音響レンズと
試料との接触防止機能も備えた超音波顕微鏡の合焦装置
に関する。
最大反射波が得られる焦点位置への位置合わせが容易に
行い得るとともに、超音波走査子としての音響レンズと
試料との接触防止機能も備えた超音波顕微鏡の合焦装置
に関する。
超音波顕微鏡は、原理的には細く絞った超高周波超音波
ビームによって試料面を機械的に走査し、その試料によ
り散乱された超音波を集音して電気信号に変換し、その
信号を陰極線管の表示面に二次元的に表示し、顕微鏡像
を得るのであり、その構成から透過型と反射型とに分け
られる。
ビームによって試料面を機械的に走査し、その試料によ
り散乱された超音波を集音して電気信号に変換し、その
信号を陰極線管の表示面に二次元的に表示し、顕微鏡像
を得るのであり、その構成から透過型と反射型とに分け
られる。
第1図は反射型の超音波顕微鏡の原理図で、高周波発振
器1からの信号は方向性結合器2により上部及び下部電
極3a、3b及び圧電体3Cから成る送受兼用トランス
ジューサ3へ供給される。
器1からの信号は方向性結合器2により上部及び下部電
極3a、3b及び圧電体3Cから成る送受兼用トランス
ジューサ3へ供給される。
この信号は超音波に変換されてこれが貼着された送受波
兼用のサファイア等の超音波伝搬媒体材から成る音響レ
ンズの平面状の一面より内部に放射される。該音響レン
ズ4の離面は球面状にえぐられて球面レンズ部4aとさ
れ、球面レンズ部4aと対向して試料台5が配される。
兼用のサファイア等の超音波伝搬媒体材から成る音響レ
ンズの平面状の一面より内部に放射される。該音響レン
ズ4の離面は球面状にえぐられて球面レンズ部4aとさ
れ、球面レンズ部4aと対向して試料台5が配される。
音響レンズ4と前記試料台5との間には水等の音場媒体
6が介在され、前記球面レンズ部4aの焦点において試
料Tが試料台5に取付けられる。試料台5は走査装置8
でX及びY方向に移動させる。勿論、試料台5の代わり
に音響レンズ4をX及びY方向に移動したり、音響レン
ズ4と試料台5を別々に所定方向に動かすことも可能で
ある。走査装置8は走査信号発生回路9により制御され
る。そこで、前記トランスジューサ3より音響レンズ4
内に入射された平面状の超音波は前記球面レンズ部4a
に伝播し、該球面レンズ部4aにより集束されて試料7
へ到達する。その反射波は再び音響レンズ4で集音され
、トランスジューサ3で電気信号に変換されて、前記方
向性結合器2を通って表示装置10へ供給される。
6が介在され、前記球面レンズ部4aの焦点において試
料Tが試料台5に取付けられる。試料台5は走査装置8
でX及びY方向に移動させる。勿論、試料台5の代わり
に音響レンズ4をX及びY方向に移動したり、音響レン
ズ4と試料台5を別々に所定方向に動かすことも可能で
ある。走査装置8は走査信号発生回路9により制御され
る。そこで、前記トランスジューサ3より音響レンズ4
内に入射された平面状の超音波は前記球面レンズ部4a
に伝播し、該球面レンズ部4aにより集束されて試料7
へ到達する。その反射波は再び音響レンズ4で集音され
、トランスジューサ3で電気信号に変換されて、前記方
向性結合器2を通って表示装置10へ供給される。
上記超音波顕微鏡において、超音波が音響レンズ4によ
って最も集束される位置(この位置を以下焦点という)
を、観察しようとする試料7の所定部位に合わせる必要
がある。従来、このような合焦操作は、試料台5或は、
音響レンズ4を手動により移動させて試料Tから反射波
が得られる位置を探し、そのうちの最大の反射波が得ら
れる位置を合焦位置としていた。
って最も集束される位置(この位置を以下焦点という)
を、観察しようとする試料7の所定部位に合わせる必要
がある。従来、このような合焦操作は、試料台5或は、
音響レンズ4を手動により移動させて試料Tから反射波
が得られる位置を探し、そのうちの最大の反射波が得ら
れる位置を合焦位置としていた。
しかしながら、焦点距離(音響レンズ4の球面レンズ部
4aから試料7の観察部位迄の距離)はマイクロ単位の
値(例えば数100〔μm] ”)であり、手動で行っ
た場合、試料Tを損傷したり、ときには音響レンズ4が
傷付けられたりすることが多々あった。特に、図示しな
いが、音響レンズ4およびトランスジューサ3を加振器
に一体に取り付け、この加振器を音響レンズ4の軸方向
に振らせて断層像を得る場合(試料台5を軸方向に移動
させてもよい)には、試料7と音響レンズ4の距離が更
に小さくなり、試料7と音響レンズ4との衝突(接触)
は避は難いものであった。
4aから試料7の観察部位迄の距離)はマイクロ単位の
値(例えば数100〔μm] ”)であり、手動で行っ
た場合、試料Tを損傷したり、ときには音響レンズ4が
傷付けられたりすることが多々あった。特に、図示しな
いが、音響レンズ4およびトランスジューサ3を加振器
に一体に取り付け、この加振器を音響レンズ4の軸方向
に振らせて断層像を得る場合(試料台5を軸方向に移動
させてもよい)には、試料7と音響レンズ4の距離が更
に小さくなり、試料7と音響レンズ4との衝突(接触)
は避は難いものであった。
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、測距センサ
を用いることにより、試料および音響レンズを損傷する
ことなく合焦操作を容易に行ない得るようにした超音波
顕微鏡の合焦装置を提供することを目的とする。
を用いることにより、試料および音響レンズを損傷する
ことなく合焦操作を容易に行ない得るようにした超音波
顕微鏡の合焦装置を提供することを目的とする。
本発明は、音響レンズ又は試料台の初期位置を設定し、
この初期位置から前記音響レンズ又は試料台を移動して
両者の間隔が音響レンズの焦点距離になった時の合焦位
置を測距情報として記憶する一方、試料を載置した際の
前記音響レンズ又は試料台の移動量を前記試料の厚さ情
報と前記測距情報とから演算してめ、この演算結果に応
じた距離だけ前記音響レンズ又は試料台を移動して合焦
を行うようにしたものである。
この初期位置から前記音響レンズ又は試料台を移動して
両者の間隔が音響レンズの焦点距離になった時の合焦位
置を測距情報として記憶する一方、試料を載置した際の
前記音響レンズ又は試料台の移動量を前記試料の厚さ情
報と前記測距情報とから演算してめ、この演算結果に応
じた距離だけ前記音響レンズ又は試料台を移動して合焦
を行うようにしたものである。
以下、本発明を図示の実施例について具体的に説明する
。第2図ないし第4図は本発明の第1実施例に係る図面
であり、第2図は同実施例に係る超音波顕微鏡の合焦装
置を示し、第3図は合焦検出駆動部を示す回路ブロック
図、第4図は動作説明図である。なお、第2図は第1図
と同一要素には同一符号を記し、第2図ないし第4図の
同一要素は同一符号を記す。
。第2図ないし第4図は本発明の第1実施例に係る図面
であり、第2図は同実施例に係る超音波顕微鏡の合焦装
置を示し、第3図は合焦検出駆動部を示す回路ブロック
図、第4図は動作説明図である。なお、第2図は第1図
と同一要素には同一符号を記し、第2図ないし第4図の
同一要素は同一符号を記す。
先ず、第3図において符号1は高周波発振器、2は方向
性変換器、3はトランスジューサ、4は音響レンズであ
り、この音響レンズ4の側部には、測距センサとしての
光電センサ11を取り付けたレバー12が固定されてい
る。この光電センサ11は試料台5の側面に対向して配
設されており、同試料台5の側面には測距目盛5aが形
成されている。また、光電センサ5は、第4図に示す合
焦演算駆動部13に接続され、この接続路に光電変換さ
れた電気信号を試料台5の泗Vヒ情報Stとして導出す
るようになっている。この合焦演算駆動部13は、図示
しないインプット装置から端子14に試料7の厚さ情報
Stが入力されているとともに、合焦駆動信号Syを導
出するようになっている。一方、前記試料台5は、前記
音響レンズ4の軸方向に移動自在となるように、例えば
昇降用モータ15の軸に取り付けられた昇降螺子16に
螺合されている。前記昇降用モータ15は、前記合焦演
算駆動部13からの合焦駆動信号SFによって駆動され
るようになっている。そして、試料台5に載置された試
料7は、対音響レンズ4の球面レンズ部4aとの間に満
たされた音場媒体としての水6によって包囲されている
。また、前記方向性変換器2は、トランスジューサ3に
よって電気信号に変換された超音波受波信号を表示装置
10に入力し、この受波信号は同表示装置10に走査信
号発生器9から供給されるX−Y方向の走査信号によっ
て画面表示されるようになっている。さらに、走査信号
発生器9は、走査装置8に前記X・Y方向の走査信号を
供給し、同走査装置8は、前記試料台5をX−Y方向に
機械走査するように構成されている。
性変換器、3はトランスジューサ、4は音響レンズであ
り、この音響レンズ4の側部には、測距センサとしての
光電センサ11を取り付けたレバー12が固定されてい
る。この光電センサ11は試料台5の側面に対向して配
設されており、同試料台5の側面には測距目盛5aが形
成されている。また、光電センサ5は、第4図に示す合
焦演算駆動部13に接続され、この接続路に光電変換さ
れた電気信号を試料台5の泗Vヒ情報Stとして導出す
るようになっている。この合焦演算駆動部13は、図示
しないインプット装置から端子14に試料7の厚さ情報
Stが入力されているとともに、合焦駆動信号Syを導
出するようになっている。一方、前記試料台5は、前記
音響レンズ4の軸方向に移動自在となるように、例えば
昇降用モータ15の軸に取り付けられた昇降螺子16に
螺合されている。前記昇降用モータ15は、前記合焦演
算駆動部13からの合焦駆動信号SFによって駆動され
るようになっている。そして、試料台5に載置された試
料7は、対音響レンズ4の球面レンズ部4aとの間に満
たされた音場媒体としての水6によって包囲されている
。また、前記方向性変換器2は、トランスジューサ3に
よって電気信号に変換された超音波受波信号を表示装置
10に入力し、この受波信号は同表示装置10に走査信
号発生器9から供給されるX−Y方向の走査信号によっ
て画面表示されるようになっている。さらに、走査信号
発生器9は、走査装置8に前記X・Y方向の走査信号を
供給し、同走査装置8は、前記試料台5をX−Y方向に
機械走査するように構成されている。
次に、第3図に示す合焦演算駆動部13は、第1、第2
メモリ1γ、18、演算器19、比較器20、モータ制
御部21とから構成されている。
メモリ1γ、18、演算器19、比較器20、モータ制
御部21とから構成されている。
そして、第1メモリ17は前記端子14からの厚さ情報
Stが試料側に読み込みされるようになっており、同第
1メモリ17で読み出される厚さ情報Stとしてのデー
タ17aは演算器19の一方の入力部に導出されるよう
になっている。また、前記第2メモリ18は、光電セン
サ11からの試料台ミl’+ 2情報SI!を例えば手
動の第1切換スイツチ22を介して書き込みされるよう
になっている。
Stが試料側に読み込みされるようになっており、同第
1メモリ17で読み出される厚さ情報Stとしてのデー
タ17aは演算器19の一方の入力部に導出されるよう
になっている。また、前記第2メモリ18は、光電セン
サ11からの試料台ミl’+ 2情報SI!を例えば手
動の第1切換スイツチ22を介して書き込みされるよう
になっている。
この第1切換スイツチ22は前記511’+ HE情報
Stを比較器20にも選択的に導出できるようになって
おり、かつ前記第2メモリ18と演算器19の他方の入
力部との間に設けられた第2切換スイツチ23と連動し
、同第2スイツチ23は第3図に示すように第1切換ス
イツチ22が第2メモリ18側に導通している時、開放
され、第1切換スイツチ22が比較器20(llIIに
導通している時、閉路されるようになっている。そして
、前記比較器20は、前記演算器19の演算値データ1
9aと、前記第1切換スイツチ22からの殖圧情報sr
とを入力し、両者を比較してその差に応じた誤差信号2
0aを前記モータ制御部21に印加するようになってい
る。この誤差信号20aはモータ制御部21で電力増幅
され、合焦駆動信号Svとしてモータ15に印加されて
いる。これにより、試料台5は合焦位置すに導びかれる
ようになっている。
Stを比較器20にも選択的に導出できるようになって
おり、かつ前記第2メモリ18と演算器19の他方の入
力部との間に設けられた第2切換スイツチ23と連動し
、同第2スイツチ23は第3図に示すように第1切換ス
イツチ22が第2メモリ18側に導通している時、開放
され、第1切換スイツチ22が比較器20(llIIに
導通している時、閉路されるようになっている。そして
、前記比較器20は、前記演算器19の演算値データ1
9aと、前記第1切換スイツチ22からの殖圧情報sr
とを入力し、両者を比較してその差に応じた誤差信号2
0aを前記モータ制御部21に印加するようになってい
る。この誤差信号20aはモータ制御部21で電力増幅
され、合焦駆動信号Svとしてモータ15に印加されて
いる。これにより、試料台5は合焦位置すに導びかれる
ようになっている。
次に、上記実施例から成る合焦装置の動作を第4図を参
照して説明する。第4図において、aは音響レンズ4の
球面レンズ部4aの下端位置を示し、bは合焦位置、C
は試料台5の初期位置、fは、焦点圧#肴・示す。
照して説明する。第4図において、aは音響レンズ4の
球面レンズ部4aの下端位置を示し、bは合焦位置、C
は試料台5の初期位置、fは、焦点圧#肴・示す。
今、試料台5が第4図aに示すごとく初期位置Cに設定
されているものとする。このとき、合焦位置すとの距@
iはb −c = lであり、この距離lたけ、試料台
5を音響レンズ4の軸方向に例えば手動により上昇させ
る。なお、音響レンズ4は固定であり、したがって光電
センサ11は初期位置Cの位置情報S/ (例えば零値
信号)を検出している。さて、前記初期位置Cの位置か
らlたけ試料台5を上昇させると、光電センサ11は、
lの距離に対応した間隔の間に目盛られている測距目盛
5aを検出する。この検出動作は、測距目盛5aに対向
して相対的に光電センサ11が移動することにより、測
距目盛5aからの光情報が変化情報5IAllI15力
されるものである。そして、表示装置10の表示が最も
鮮明になったとき(反射波の最大時)、試料台5は音響
レンズ4に対して合焦位置すにあり、この時の測距情報
SI!を第1スイツチ22を通して第1メモリ18に書
き込む。この測距情報SI!は焦点距離fの異る音響レ
ンズごとに記憶しておくものである。この後、試料台5
は初期位置Cに戻しておくとともに、厚さを測定した試
料7を載置する。
されているものとする。このとき、合焦位置すとの距@
iはb −c = lであり、この距離lたけ、試料台
5を音響レンズ4の軸方向に例えば手動により上昇させ
る。なお、音響レンズ4は固定であり、したがって光電
センサ11は初期位置Cの位置情報S/ (例えば零値
信号)を検出している。さて、前記初期位置Cの位置か
らlたけ試料台5を上昇させると、光電センサ11は、
lの距離に対応した間隔の間に目盛られている測距目盛
5aを検出する。この検出動作は、測距目盛5aに対向
して相対的に光電センサ11が移動することにより、測
距目盛5aからの光情報が変化情報5IAllI15力
されるものである。そして、表示装置10の表示が最も
鮮明になったとき(反射波の最大時)、試料台5は音響
レンズ4に対して合焦位置すにあり、この時の測距情報
SI!を第1スイツチ22を通して第1メモリ18に書
き込む。この測距情報SI!は焦点距離fの異る音響レ
ンズごとに記憶しておくものである。この後、試料台5
は初期位置Cに戻しておくとともに、厚さを測定した試
料7を載置する。
次に、第1.第2切換スイッチ22.23を切り換え、
光電センサ11の測距情報SI!は比較器20に供給し
、第1メモリ18から読み出される測距データ5l(b
)は演算器19の他方の入力部に読み出すようにする。
光電センサ11の測距情報SI!は比較器20に供給し
、第1メモリ18から読み出される測距データ5l(b
)は演算器19の他方の入力部に読み出すようにする。
そして、図示しないインプット装置から、端子14を介
して観察しようとする試料7の厚さ情報Stを第2メモ
リ17に書き込み、演算器19の一方の入力部に厚さデ
ータ17a(t)として読み出す。この演算器19は、
両データ17a(t)とS/(b)との差、すなわち、
演算l−1を行い、その演算値データ19a(J−t)
を比較器20の一方の入力部に導出する。この時、同比
較器20の他方の入力部には、光電センサ11からの測
距情報Stが入力されているので、比較器20は、前記
演算値データ19a(l−t)と測距情報S/との比較
を行い、同19a(l−t)と(Sz)とが等しくなる
まで誤差信号20aを次段のモータ制御部21に導出す
る。これにより、モータ15は、試料7の観察面(例え
ば表面)が焦点位置すに上昇する迄駆動される。すなわ
ち、試料台5が距離(7!−1)だけ移動すると測距情
報S、cは5ICI−t)となるため、比較器20は、
演算値データ19a<t−t)と測距情報5pat−t
)とを等しいと判定してモータ15を一時停止させるも
のである。こうして、合焦操作が自動的に完了される。
して観察しようとする試料7の厚さ情報Stを第2メモ
リ17に書き込み、演算器19の一方の入力部に厚さデ
ータ17a(t)として読み出す。この演算器19は、
両データ17a(t)とS/(b)との差、すなわち、
演算l−1を行い、その演算値データ19a(J−t)
を比較器20の一方の入力部に導出する。この時、同比
較器20の他方の入力部には、光電センサ11からの測
距情報Stが入力されているので、比較器20は、前記
演算値データ19a(l−t)と測距情報S/との比較
を行い、同19a(l−t)と(Sz)とが等しくなる
まで誤差信号20aを次段のモータ制御部21に導出す
る。これにより、モータ15は、試料7の観察面(例え
ば表面)が焦点位置すに上昇する迄駆動される。すなわ
ち、試料台5が距離(7!−1)だけ移動すると測距情
報S、cは5ICI−t)となるため、比較器20は、
演算値データ19a<t−t)と測距情報5pat−t
)とを等しいと判定してモータ15を一時停止させるも
のである。こうして、合焦操作が自動的に完了される。
なお、比較器20は1以上の比較誤差(スレショールド
レベルの変動)を持たないようにしであるため、試料台
5は7!−t+f以上は上昇しない。
レベルの変動)を持たないようにしであるため、試料台
5は7!−t+f以上は上昇しない。
これにより、音響レンズ4の球面レンズ部4aに試料7
が衝突することがなくなり、接触防止を行うことができ
る。
が衝突することがなくなり、接触防止を行うことができ
る。
次に、第5図は本発明の第2実施例に係る超音波顕微鏡
の合焦装置を示す説明図である。なお、第2図と同一要
素には同一符号を記す。第5図において、音響レンズ4
は加振器24に軸方向移動自在に取り付けられている。
の合焦装置を示す説明図である。なお、第2図と同一要
素には同一符号を記す。第5図において、音響レンズ4
は加振器24に軸方向移動自在に取り付けられている。
この加振器24は支持棒25に支持され、かつ同支持棒
に沿って試料台5の試料7載置面に略水平に移動可能に
構成されている。また、この加振器24の側部には、磁
気テープ5 a/が音響レンズ4の軸方向に貼着等の手
段で形成されている。この磁気テープ5a/は、前実施
例の測距目盛5aに相当するものであって、同磁気テー
プ5 a/には測距目盛5aに対応する磁気パターンが
記録されている。また、この磁気テープ5 a/は測1
1Eセンサとしての磁気センサ11′が対接されている
。この磁気センサ11′は、固定された試料台5から延
設されたレバー12′に取り付けられている。さらに、
この磁気センサ11′は、合焦演算駆動部13に接続さ
れ、前記磁気テープ5 a/から読み取った測距情報s
rを同駆動部13に導出するようになっている。この合
焦演算駆動部13の出力である合焦駆動信号Svをモー
タ15に印加するようになっている。このモータ15は
前記加振器24を支持棒25と一緒に音響レンズ4の軸
方向に移動するように構成されている。
に沿って試料台5の試料7載置面に略水平に移動可能に
構成されている。また、この加振器24の側部には、磁
気テープ5 a/が音響レンズ4の軸方向に貼着等の手
段で形成されている。この磁気テープ5a/は、前実施
例の測距目盛5aに相当するものであって、同磁気テー
プ5 a/には測距目盛5aに対応する磁気パターンが
記録されている。また、この磁気テープ5 a/は測1
1Eセンサとしての磁気センサ11′が対接されている
。この磁気センサ11′は、固定された試料台5から延
設されたレバー12′に取り付けられている。さらに、
この磁気センサ11′は、合焦演算駆動部13に接続さ
れ、前記磁気テープ5 a/から読み取った測距情報s
rを同駆動部13に導出するようになっている。この合
焦演算駆動部13の出力である合焦駆動信号Svをモー
タ15に印加するようになっている。このモータ15は
前記加振器24を支持棒25と一緒に音響レンズ4の軸
方向に移動するように構成されている。
以上の構成は、特に試料7の断層像を得る場合に好適な
ものである。この場合、加振器24は図示しない駆動手
段によって支持棒25に沿って移動されることにより、
試料7の観察しようとする断層面を表示画面上の水平方
向に走査することになる。そして、音響レンズ4をその
軸方向に移動(加振)することにより表示画面上の垂直
方向が走査され、断層像が得られる。さて、本実施例は
、音響レンズ4すなわち、加振器22をその軸方向に移
動して前実施例と同様の合焦操作を行うものであり、試
料7を例えばその表面から内部の所定深さの断層部位ま
で走査するものとすると、音響レンズ4の初期位置Oの
設定は、その球面レンズ部4aが試料台5に対してl+
fの距離だけ離間するように加振器22を移動させる。
ものである。この場合、加振器24は図示しない駆動手
段によって支持棒25に沿って移動されることにより、
試料7の観察しようとする断層面を表示画面上の水平方
向に走査することになる。そして、音響レンズ4をその
軸方向に移動(加振)することにより表示画面上の垂直
方向が走査され、断層像が得られる。さて、本実施例は
、音響レンズ4すなわち、加振器22をその軸方向に移
動して前実施例と同様の合焦操作を行うものであり、試
料7を例えばその表面から内部の所定深さの断層部位ま
で走査するものとすると、音響レンズ4の初期位置Oの
設定は、その球面レンズ部4aが試料台5に対してl+
fの距離だけ離間するように加振器22を移動させる。
この時、磁気テープ5 a /の情報を読み出す磁気セ
ンサ11′の測距情報Sl!は5lto)となる。この
初期位置Oから試料台5に向って音響レンズ4を近ずけ
る。次に、音響レンズ4が距離lたけ移動した時の測距
情報Szを第2メモリ18に書き込み、演算器19の他
方の入力部に測距データSI!(p’)として読み出す
一方で、第1メモリ1Tに試料7の厚さ情報Stを書き
込み、それを厚さデータ17a(t)として読み出し、
各読み出されたデータ5z(p’+ 、 17a(t)
を演算器19に入力し、この演算器19でAI−tの演
算を行う。この演算結果としての演算値データ19a(
t−t)は、磁気センサ11′からの測距情報Sl!(
A’−1)とともに比較器20で比較され、同比較器2
0から誤差信号20aが出力される。この誤差信号20
aはモータ制御部21を介して合焦駆動信号SFとして
モータ15を駆動する。これにより音響レンズ4、すな
わち加振器4は距離1−tだけ移動して停止する。こう
して合焦が行なわれる。なお、この場合にも、比較器2
0はf以上は比較誤差のないように設定しであるため、
試料7に衝突することはない。
ンサ11′の測距情報Sl!は5lto)となる。この
初期位置Oから試料台5に向って音響レンズ4を近ずけ
る。次に、音響レンズ4が距離lたけ移動した時の測距
情報Szを第2メモリ18に書き込み、演算器19の他
方の入力部に測距データSI!(p’)として読み出す
一方で、第1メモリ1Tに試料7の厚さ情報Stを書き
込み、それを厚さデータ17a(t)として読み出し、
各読み出されたデータ5z(p’+ 、 17a(t)
を演算器19に入力し、この演算器19でAI−tの演
算を行う。この演算結果としての演算値データ19a(
t−t)は、磁気センサ11′からの測距情報Sl!(
A’−1)とともに比較器20で比較され、同比較器2
0から誤差信号20aが出力される。この誤差信号20
aはモータ制御部21を介して合焦駆動信号SFとして
モータ15を駆動する。これにより音響レンズ4、すな
わち加振器4は距離1−tだけ移動して停止する。こう
して合焦が行なわれる。なお、この場合にも、比較器2
0はf以上は比較誤差のないように設定しであるため、
試料7に衝突することはない。
こうして本発明は、合焦操作を容易に行うとともに、音
響レンズ4等を損傷することがない。なお、測距センサ
は上記光電センサ、磁気センサ11.11′以外にもギ
ャップを検出するギャップセンサとして静電容量の検出
子等を用いることができる。この静電容量検出子によれ
ば、例えば試料台5の側部に測距情報Szに対応した情
報が記録された一方の導体面を形成し、他方に静電容量
検て音響レンズ4と試料台5で構成するようにしてもよ
い。すなわち、超音波を用いる場合、音響レンズ4から
本来の走査用超音波以外に測距用超音波を出射し、その
反射波の強度に応じて測距するものである。また、静電
容量検出法は、試料台7Gこ一方の導体層を形成してお
き、これに対向して音響レンズ4のテーパ面4C(第2
図参照)に電極を形成する。そして、この電極と前記導
体層との静電容量を電気信号として検出する回路手段を
例えば音響レンズ4に付設すればよい。さらには、測距
センサは一次元位置検出器を用いてもよい。
響レンズ4等を損傷することがない。なお、測距センサ
は上記光電センサ、磁気センサ11.11′以外にもギ
ャップを検出するギャップセンサとして静電容量の検出
子等を用いることができる。この静電容量検出子によれ
ば、例えば試料台5の側部に測距情報Szに対応した情
報が記録された一方の導体面を形成し、他方に静電容量
検て音響レンズ4と試料台5で構成するようにしてもよ
い。すなわち、超音波を用いる場合、音響レンズ4から
本来の走査用超音波以外に測距用超音波を出射し、その
反射波の強度に応じて測距するものである。また、静電
容量検出法は、試料台7Gこ一方の導体層を形成してお
き、これに対向して音響レンズ4のテーパ面4C(第2
図参照)に電極を形成する。そして、この電極と前記導
体層との静電容量を電気信号として検出する回路手段を
例えば音響レンズ4に付設すればよい。さらには、測距
センサは一次元位置検出器を用いてもよい。
この場合、例えば試料台5の側部に発光ダイオードを取
り付け、このダイオードの光を前記位置検出器で検出す
る。また、反射型と透過型のいずれに適用してもよい。
り付け、このダイオードの光を前記位置検出器で検出す
る。また、反射型と透過型のいずれに適用してもよい。
以上説明したように本発明によれば、試料を載置した際
の必要な移動量を演算によりめ合焦を行うようにしたの
で、合焦操作を手動によることなく自動的に行うことが
でき、また、試料に音響レンズを当来させるといった不
都合を防止できるという効果がある。
の必要な移動量を演算によりめ合焦を行うようにしたの
で、合焦操作を手動によることなく自動的に行うことが
でき、また、試料に音響レンズを当来させるといった不
都合を防止できるという効果がある。
第1図は超音波顕微鏡の原理図、第2図は本発明の一実
施例に係る超音波顕微鏡の概略図、第3図は同実施例に
係る超音波顕微鏡の合焦演算駆動部を示す回路ブロック
図、第4図は同実施例の動作説明図、第5図は他の実施
例に係る超音波顕微鏡を示す概略図である。 4・・・音響レンズ、 5・・・試料台、7・・・試料
、 11.11’・・・測距センサ、13・・・合焦演
算駆動部、 15・・・モータ、16・・・昇降螺子、
17.18・・・メモリ、19・・・演算器、 20
・−・比較器、21・・・モータ制御部、22.23・
・・切換スイッチ、24・−・加振器、 第3図 第4図 (a) (b) 第5図
施例に係る超音波顕微鏡の概略図、第3図は同実施例に
係る超音波顕微鏡の合焦演算駆動部を示す回路ブロック
図、第4図は同実施例の動作説明図、第5図は他の実施
例に係る超音波顕微鏡を示す概略図である。 4・・・音響レンズ、 5・・・試料台、7・・・試料
、 11.11’・・・測距センサ、13・・・合焦演
算駆動部、 15・・・モータ、16・・・昇降螺子、
17.18・・・メモリ、19・・・演算器、 20
・−・比較器、21・・・モータ制御部、22.23・
・・切換スイッチ、24・−・加振器、 第3図 第4図 (a) (b) 第5図
Claims (3)
- (1)試料台に設置した試料を音響レンズから出射され
る超音波で走査することにより顕微鏡像を得る超音波顕
微鏡において、前記試料台又は音響レンズに取り付けら
れ5、前記試料台に対する音響レンズの位置を検出する
測距センサ手段と、この測距センサ手段からの測距情報
を入力するとともに、厚みが測定された前記試料の厚み
情報を入力し、み情報と予め設定された音響レンズ対試
料台間合焦距離の測距情報とから演算してめ、試料を設
置した際、前記演算結果に応じた距離だけ前記音響レン
ズ又は試料台を移動する合焦演算駆動部とを具備し、前
記試料対音響レンズ間の合焦を行うようにしたことを特
徴とする超音波顕微鏡の合焦装置。 - (2)前記合焦演算駆動部は、前記測距センサ手段の測
距情報が入力される第1メモリと、前記厚み情報が入力
される第2メモリと、前記第1および第2メモリから読
み出された測距データおよび厚みデータをそれぞれ入力
し、両データの差情報を演算する演算器と、この差情報
と前記測距情報とを比較する比較器と、この比較器から
の比較情報を駆動信号としてモータに印加する制御部と
を具備し、前記差情報と測距情報とが一致した時、合焦
動作を完了することを特徴とする特許請求の範囲第1項
に記載の超音波顕微鏡の合焦装置。 - (3)前記測距センサ手段は磁気センサ或いは光電セン
サを用いたことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載の超音波顕微鏡の合焦装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58206764A JPS6097268A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 超音波顕微鏡の合焦装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58206764A JPS6097268A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 超音波顕微鏡の合焦装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6097268A true JPS6097268A (ja) | 1985-05-31 |
Family
ID=16528697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58206764A Pending JPS6097268A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 超音波顕微鏡の合焦装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6097268A (ja) |
-
1983
- 1983-11-01 JP JP58206764A patent/JPS6097268A/ja active Pending
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