JPS6098053U - Ｘ線分析装置におけるサンプル検出器 - Google Patents

Ｘ線分析装置におけるサンプル検出器

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Publication number
JPS6098053U
JPS6098053U JP19044783U JP19044783U JPS6098053U JP S6098053 U JPS6098053 U JP S6098053U JP 19044783 U JP19044783 U JP 19044783U JP 19044783 U JP19044783 U JP 19044783U JP S6098053 U JPS6098053 U JP S6098053U
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JP
Japan
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ray analyzer
sample detector
stage
sample
photoelectric switch
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Pending
Application number
JP19044783U
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English (en)
Inventor
渡辺　忠悟
Original Assignee
セイコーインスツルメンツ株式会社
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図及び第２図は、夫々従来のサンプル検出器を備え
たＸ線分析装置を概略的に示す正面図及び側面図、第３
図及び第４図は、夫々、本考案によるサンプル検出器を
備えたＸ線分析装置を概略的に示す正面図、及び側面図
である。 １・・・Ｘ−Ｙステージ、４・・・試料台、５・・・試
料、６・・・反射型光電スイッチ、６ａ・・・投射光、
６ｂ・・・反射光、１０・・・サンプル検出器、１１・
・・反射部材。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. Ｘ線分析装置のＸ−Ｙステージ上に載置される試料の有
    無を検出するためのサンプル検出器において、前記Ｘ−
    Ｙステージの上方に配置された反射型光電スイッチと、
    該反射型光電スイッチと対向するように前記Ｘ−Ｙステ
    ージ上に設けられ前記反射型光電スイッチからの投射光
    を前記反射型充電スイッチとは異なる方向に反射せしめ
    る反射部材とを備えて成ることを特徴とするＸ線分析装
    置におけるサンプル検出器。
JP19044783U 1983-12-09 1983-12-09 Ｘ線分析装置におけるサンプル検出器 Pending JPS6098053U (ja)

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JP19044783U JPS6098053U (ja) 1983-12-09 1983-12-09 Ｘ線分析装置におけるサンプル検出器

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JPS6098053U true JPS6098053U (ja) 1985-07-04

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