JPS61102974U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS61102974U JPS61102974U JP18922584U JP18922584U JPS61102974U JP S61102974 U JPS61102974 U JP S61102974U JP 18922584 U JP18922584 U JP 18922584U JP 18922584 U JP18922584 U JP 18922584U JP S61102974 U JPS61102974 U JP S61102974U
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- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を示す側面図、第２
図および第３図は従来例を示す正面図と側面図で
ある。 １１……テストクリツプ、１２……検出用端子
、１３……外部機器接続用リード端子、１５……
頂辺部、１６，１７……側辺部。
図および第３図は従来例を示す正面図と側面図で
ある。 １１……テストクリツプ、１２……検出用端子
、１３……外部機器接続用リード端子、１５……
頂辺部、１６，１７……側辺部。
Claims (1)
- 外部機器接続用のリード端子をテストクリツプ
本体の頂辺部および側辺部に分散して配置すると
ともに、各リード端子間の間隔を被測定Ｄ．Ｉ．
Ｐ集積回路のピン間隔より大きくしたことを特徴
とするＤ．Ｉ．Ｐ集積回路用テストクリツプ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18922584U JPS61102974U (ja) | 1984-12-12 | 1984-12-12 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18922584U JPS61102974U (ja) | 1984-12-12 | 1984-12-12 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61102974U true JPS61102974U (ja) | 1986-07-01 |
Family
ID=30746677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18922584U Pending JPS61102974U (ja) | 1984-12-12 | 1984-12-12 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61102974U (ja) |
-
1984
- 1984-12-12 JP JP18922584U patent/JPS61102974U/ja active Pending